【正文】 → 制程控制 不受控 (存在了非機遇原因 ) 制作 :品管部 受控，能力符合要求 (機遇原因造成的變異已減少 ) 制程能力 ← 規(guī)格上限 規(guī)格下限 → 範圍 → 受控，能力不符合要求 (機遇原因造成的變異太大 ) 制作 :品管部 制程改善循環(huán) P D A C P D A C P D A C 制作 :品管部 ： 本制程應(yīng)該做什麼？ ● 會出現(xiàn)什麼問題？ ─本制程會有哪些變化？ ─我們已經(jīng)知道本制程的什麼全距 (全距 )？ ─哪些參數(shù)受全距 (全距 )的影響最大？ ● 本制程正在做些什麼？ ─本制程是否在生產(chǎn)廢品及需要返工的產(chǎn)品？ ─本制程生產(chǎn)的產(chǎn)品是否處於受控狀態(tài)？ ─本制程是否有能力？ ─本制程是否可靠？ 制作 :品管部 (控制 )制程： ● 制程是動態(tài)的，並且會隨時間而變化。 制作 :品管部 常用管制圖之管制上 / 下限 類型 CL UCL LCL X R X X + A2R X – A2R R D4R D3R X S X X + A3S X – A3S S B4S B3S P P P + 3 P ( 1 – P ) / ni P –3 P ( 1 – P ) / ni nP nP nP + 3 nP ( 1 – P ) nP – 3 nP ( 1 – P ) C C C + 3 C C 3 C U U U + 3 U / ni U 3 U / ni 制作 :品管部 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 ＊ 能及時并正確地找出不良原因 ,可使品質(zhì)穩(wěn)定 ,為最優(yōu)良之管制工具 . ? 缺點 : ＊ 在制造過程中 ,需要經(jīng)常抽樣并予以測定以及計算 ,后需點上管制圖 ,較為麻煩而費時間 . 制作 :品管部 計數(shù)值管制圖之優(yōu)缺點 ? 優(yōu)點 : ＊ 只在生產(chǎn)完成后 ,才抽取樣本 ,將區(qū)分為良品與不良品 ,所需數(shù)據(jù)能以簡單方法獲得之 . ＊ 對于工廠整個品質(zhì)情況了解非常方便 . ? 缺點 : ＊ 只靠此種管制圖 ,有時無法尋求不良之真正原因 ,而不能及時采取處理措施 ,而延誤時機 . 制作 :品管部 管制圖之繪制流程 搜集數(shù)據(jù) 繪制解析用管制圖 穩(wěn)定狀態(tài)？ 繪制直方圖 → 分布 → 層別研究 滿足規(guī)格？ 制程能力研究 管制用管制圖 Yes 消除非機遇原因 No 滿足 減少機遇原因 4M、 1E 分析 不滿足 提升製程能力 Z value 制作 :品管部 管制圖 ─ 制程控制的工具 ： ● 收集資料並畫在圖上 ： ● 監(jiān)控是否超出『管制上、下限』 → 非機遇原因 ● 計算所收集的資料，作為分析之用 ● 觀察『全距』的變化 ： ● 依所計算之結(jié)果，評估制程能力指數(shù) ● 監(jiān)控在『受控』狀態(tài)資料的變化，確定『機遇原因』『全距』 的變化，並採取措施 必要時，可修改『管制上、下限』，持續(xù)不斷的改善 解析用管制圖 管制用管制圖 制作 :品管部 第四章 : SPC管制圖 結(jié)合本公司實際情況 ,本教材只講解 P chart , U chart , Xbar – R chart 三種管制圖 制作 :品管部 一 . P chart不良率管制圖 (要 20組以上 ,檢驗數(shù)可不相同 ) : 制作 :品管部 2. 計算 CL=P=∑di / ∑ ni =(5+6+6+……7) / (200+230+220+….210) = 3. 計算 UCL與 LCL (本例各檢驗數(shù)均在檢驗數(shù)總平均數(shù) +25%之內(nèi) ) UCL=P+3* P*(1P)/ni =+3* *()/ n = LCL=P3* P*(1P)/ni =* *()/ n = =0 注 : ni表示第 i…… 組之檢驗數(shù) ,本例為 : 200,230,220…………, 但如所有檢驗均在檢 驗數(shù)總總平均數(shù) +25%之內(nèi) ,該 ni則可用 n代替 (若否則做出的圖下頁圖 2). n=(n1+n2+n3+…….)/K (K= 檢驗組數(shù) ) 該例 n= (200+230+220+….210) / 20 = 203 當管制下限計算出來是負數(shù)時 ,必須將其改為“ 0” 制作 :品管部 圖 1 圖 2 制作 :品管部 二 . C chart缺點數(shù)管制圖 (要 20組以上 ,檢驗數(shù)需相同 ) : 組 數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 檢驗數(shù) 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 200 缺點數(shù) 5 6 9 5 6 7 8 6 9 7 5 4 2. 計算 CL=C=(C1+C2+C3+…….Ck)/k k= 組數(shù) CL=C=(5+6+9+……..4) / 12 = 3. 計算 UCL=C+3* C =+3* = 4. 計算 LCL=C3* C =* = 0 制作 :品管部 5. 圖示 制作 :品管部 三 . U chart單位缺點數(shù)管制圖 (要 20組以上 ,檢驗數(shù)可不相同 ) : 組 數(shù) 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 檢驗數(shù) 400 375 365 420 405 410 360 350 400 400 440 450 430 470 410 缺點數(shù) 23 19 18 26 20 18 12 10 18 22 28 20 19 31 17 單位 U 2. 計算 CL=U=(C1+C2+C3+…….Ci) / (N1+N2+N3+…..Ni) CL=U=(23+19+18+……17) / (400+375+365+……410) = 3. 計算 UCL=U+3* U / Ni 4. 計算 LCU=U3* U / Ni 注 : 如所有 N均在 N的 +25%之內(nèi) ,則 Ni=N 本例 Ni=N(因為所有 Ni均在 N+25%內(nèi) ) 若否則做出圖如下下頁圖 2 制作 :品管部 N= (400+375+365+……410) / 15 = UCL=U+3* U / N = + 3* / = LCL=U3* U / N = 3* / = 制作 :品管部 圖 1 圖 1 制作 :品管部 四 . XR chart (一般要有 25子組以上的數(shù)據(jù)才有分析價值 ) : 50+10 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 NO1 51 53 51 50 48 47 50 49 50 49 50 50 50 52 49 55