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spc培訓(xùn)講義-1-文庫吧在線文庫

2025-03-13 12:34上一頁面

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【正文】 512 14. 9 0. 8 0. 8 0. 7 5. 8 54 . 1 0. 8 2. 1 5. 7 5. 8 0. 7 5. 8 0. 6 53 . 7 5. 7 5. 1 56 1 28. 7 5. 7 0. 8 5. 7 0. 8 03 . 8 0. 7 6. 1 510 12. 7 5. 7 0. 6 0. 7 0. 6 03 . 3 5. 6 7. 1 514. 6 5. 6 5. 8 5. 6 5. 7 03 . 5 0. 7 0. 2 0. 6 0. 6 0. 6 5. 6 0. 6 53 . 1 0. 6 2. 0 56 1 58. 5 0. 5 5. 6 5. 8 0. 8 03 . 3 0. 6 6. 3 010. 6 0. 8 0. 6 5. 6 5. 7 53 . 4 5. 6 9. 2 0 . 1 512. 8 0. 6 5. 7 5. 6 5. 6 53 . 5 0. 7 014. 6 5. 6 0. 6 5. 6 0. 7 03 . 2 0. 6 4. 1 06 1 68. 6 5. 7 0. 7 0. 6 0. 6 53 . 3 0. 6 6A 5 步驟. 1 0A5將均值和極差畫到控制圖上 29 XbarR圖 B計(jì)算控制限 B1計(jì)算平均極差及過程平均值 B2計(jì)算控制限 B3在控制圖上作出平均值和極差 控制限的控制限 30 平均極差及過程平均值、控制限 計(jì)算公式 1 2 312+ .... ......kkx x x xxkR R RRk+ + +=+ + +=平 均 值 管 制 圖全 距 管 制 圖2243=XXXRRRCL XU CL X A RL CL X A RCL RU CL D RL CL D R=+====過程平均值 極差平均值 平均值控制限 極差控制限 k為子組的數(shù)量 31 3 D 4 2 * 3 * 4 .73 * 5 .58 * 6 .48 * 7 .42 .08 8 .37 .14 9 .34 .18 10 .31 .22 對(duì)特殊原因采取措施的說明 ? 任何超出控制限的點(diǎn) ? 連續(xù) 7點(diǎn)全在中心線之上或 之下 ? 連續(xù) 7點(diǎn)上升或下降 ? 任何其它明顯非隨機(jī)的圖 形 采取措施的說明 1 不要對(duì)過程做不必要的改 變 2 在此表后注明在過程因素 (人員、設(shè)備、材料、方 法、環(huán)境或測(cè)量系統(tǒng))所 做的調(diào)整。 ? 控制圖上的點(diǎn)的排列分布沒有缺陷。 ? Cpk:過程均值 X與規(guī)范中值不一致時(shí)的過程能力指數(shù) 。? ^ 42 過程能力計(jì)算 Cp= USLLSL 6?R/d ? Cpk= USLLSL2? 6?R/d ? ?: X與規(guī)范中值之差; USLLSL表示公差帶 = Pp= USLLSL 6?s ? Ppk= USLLSL2? 6?s ? 43 過程能力計(jì)算 ? 特殊情況:不對(duì)稱公差或單邊公差 Ppk1= USLX 3?s ? = Ppk2= XLSL 3?s ? = Cpk1= USLX 3?R/d ? = Cpk2= XLSL 3?R/d ? = Ppk取兩值之中較小者 Cpk取兩值之中較小者 44 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖( Xbar- s圖) ? 使用時(shí)機(jī)或場(chǎng)合: ? 使用的子組樣本容量較大,更有效的變差量度是合適的 ? 數(shù)據(jù)是同計(jì)算機(jī)按實(shí)時(shí)時(shí)序記錄、描圖的,則 S的計(jì)算程序容易集成化 ? 有方便適用的袖珍計(jì)算器使 S的計(jì)算能簡(jiǎn)單按程序算出 ? 收集數(shù)據(jù):計(jì)算各個(gè)子組的平均數(shù)和標(biāo)準(zhǔn)差,其公式分別如下 : 2()=1ixxsn229。移動(dòng)極差的個(gè)數(shù)會(huì)比單值讀數(shù) 少一個(gè) ,在很少的情況下,可在 較大的移動(dòng) 組或 固定的子組 的基礎(chǔ)上計(jì)算極差。 ? 分組頻率:應(yīng)根據(jù)產(chǎn)品的周期確定分組的頻率,以便幫助分析、糾正發(fā)現(xiàn)的問題。229。 69 控制限運(yùn)用說明 收集數(shù)據(jù) 繪圖及計(jì)算 控制限 是否異常 延伸控制限 N 找出異常點(diǎn)原因并 提出相應(yīng)措施 制成有變化 人機(jī)料法環(huán)測(cè)量 Y 70 建立 P圖的控制步驟 D D過程能力解釋 D1計(jì)算過程能力 D2評(píng)價(jià)過程能力 D3改進(jìn)過程能力 D4繪制并分析修改后的過程控制圖 71 過程能力解釋 偶因和異因并存 找出異因 只剩偶因 運(yùn)用控制圖 過程穩(wěn)定 (連續(xù) 25點(diǎn)不超限) 計(jì)算過程能力 72 D1計(jì)算過程能力 ? 對(duì)于 P圖,過程能力是通過 p來表示,如需要,還可以用符合規(guī)范的比率( 1- p)來表示; ? 對(duì)過程能力的初步估計(jì)值應(yīng)使用歷史數(shù)據(jù),但應(yīng)剔除與特殊原因有關(guān)的數(shù)據(jù)點(diǎn); ? 當(dāng)正式研究過程能力時(shí),應(yīng)使用新的數(shù)據(jù),最好是 25個(gè)或更多時(shí)期子組,且所有的點(diǎn)都受同級(jí)控制。控制圖成為驗(yàn)證措施有效性的一種途徑。 p 圖表示不合格品的樣本比率。 ? 主要不同之處如下: 82 A數(shù)據(jù)收集 ? 檢驗(yàn)樣本的容量要求相等,這樣描繪的 c值將反映質(zhì)量性能的變化(缺陷的發(fā)生率)而不是外觀的變化(樣本容量 n),在數(shù)據(jù)表中記錄樣本容量; ? 記錄并描繪每個(gè)字組內(nèi)的缺陷數(shù)( c) 83 B計(jì)算控制限 12.....=33kccccc c cckCCL CkU CL C CL CL C CCs+ + +===+==229。229。 U圖和 c圖適用于相同的數(shù)據(jù)狀況,但如果樣本含有多余一個(gè) “ 單位產(chǎn)品 ” 的量,為使報(bào)告值更有意義時(shí),可以使用 “ u”圖,并且在不同時(shí)期內(nèi)樣本容量不同時(shí)必須使用 “ u”圖。 ? 記錄并描繪每個(gè)字組內(nèi)的不合格品數(shù)( np) 78 B計(jì)算控制限 12.....=3 ( 1 )3 ( 1 )( 1 )knpnpnpnpnp np npnpkdCL n p dkU CL n p n p pL CL n p n p pn p ps+ + += = == + = =229。這個(gè)新的均值反映了受控制狀態(tài)下的性能。有必要使用長(zhǎng)期的解決問題的方法來糾正造成長(zhǎng)期不合格原因。可利用諸如排列圖分析和因果分析等解決問題技術(shù)。 劃圖區(qū)域 61 A4將不合格品率描繪在控制圖上 ? 描繪每個(gè)字組的 P值,將這些點(diǎn)連成線通常有助于發(fā)現(xiàn)異常圖形和趨勢(shì)。 ? 可用單值圖分析超出控制限的點(diǎn)、在控制限內(nèi)點(diǎn)的分布、以及趨勢(shì)或圖形。 ? 如果過程的分布是不對(duì)稱的,則在解釋單值控制圖時(shí)要非常小心。 ? 過程性能指數(shù)表述,存在普通原因變差和特殊原因變差。 ? 當(dāng)出現(xiàn) 7點(diǎn)鏈時(shí) ,判定為有異常 ,應(yīng)采取措施。LCLR=NONE 步驟 B3 32 XbarR圖 C過程控制解釋 C1分析極差圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) C2識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 (極差圖 ) C3重新計(jì)算控制限 (極差圖 ) C4分析均值圖上的數(shù)據(jù)點(diǎn) 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 超出控制限的點(diǎn) 鏈 明顯的非隨機(jī)圖形 C5識(shí)別并標(biāo)注特殊原因 (均值圖 ) C6重新計(jì)算控制限 (均值圖 ) C7為了繼續(xù)進(jìn)行控制延長(zhǎng)控制限 33 控制圖的判斷 ? 超出控制限的點(diǎn):出現(xiàn)一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出任何一個(gè)控制限使該點(diǎn)處于失控狀態(tài)的主要證據(jù) UCL CL LCL 異常 異常 異常 34 控制圖的判斷 ? 鏈 : 有下列現(xiàn)象之一表明過程已改變 ? 連續(xù)點(diǎn)位于平均值的一側(cè); ? 連續(xù)點(diǎn)上升(后點(diǎn)等于或大于前點(diǎn))或下降。 Xbar圖:坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值( Xbar)的最大值與最小值差的 2倍。 數(shù)據(jù)欄應(yīng)包括每個(gè)讀數(shù)的空間。圖中 UCL= ? +3?為上控制限, CL= ?為中心線, LCL= ? 3?為下控制限。 英、美等國(guó)開始著手研究用統(tǒng)計(jì)方法代替事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法。 滿足要求 受控 不受控 可接受 1類 3類 不可接受 2類 4類 10 如果僅存在變差的普通原因,隨著時(shí)間的推移,過程的輸出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可預(yù)測(cè)。 ? 變差的普通原因: 指的是造成隨著時(shí)間的推移具有 穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布作用在過程 的許多變差的原因 , 即常規(guī)的 、 連續(xù)的 、 不可避免的影響產(chǎn)品特性不一致的原因 。 6 普通原因和特殊原因變差的分析 ? 當(dāng)過程僅存在變差的普通原因時(shí) , 過程處于受控狀態(tài) , 這個(gè)過程處于穩(wěn)定過程 , 產(chǎn)品特性服從特定分布 。 ? 為討論過程的性能提供共同的語言 ,為過程分析提供依據(jù) 。 ? 休哈特正是據(jù)此發(fā)明了控制圖。X=讀數(shù)數(shù)量和R = 最高 最低R
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