【正文】 PV= σ 偏倚及變差示意圖 測(cè)量系統(tǒng)的基本要求： （ discrimination） 指測(cè)量系統(tǒng)檢出并如實(shí)指示被測(cè)特性中極小變化的能力 。 4． 數(shù)據(jù)收集要真實(shí) 、 適時(shí) 。 ， 做出的圖形只是一種擺設(shè) 。 （ 二 ） 、 制程能力指數(shù)與不良率的對(duì)應(yīng)關(guān)系 第五部分： SPC之應(yīng)用 一 、 如何選擇 SPC控制圖： 確定要制定控制圖的特性 使用單值圖 XMR 是計(jì)量型數(shù)據(jù)嗎？ 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣一例如：化學(xué)槽液批量油漆等？ 關(guān)心的是不合格品率 — 即“壞”零件的百分比嗎？ 關(guān)心的是不合格數(shù)即單位零件不合格數(shù)嗎？ 樣本容量是否恒定？ 樣本容量是否恒定？ 使用 p圖 使用 u圖 使用 np或 p圖 使用 c或 u圖 子組均值是否能很方便地計(jì)算？ 是不能方便地計(jì)算每個(gè)子組的 S值？ 子組容量是否大于或等于 9？ 使用中位數(shù)圖 使用 XR圖 使用 XR圖 使用 XS圖 是 是 是 是 是 是 是 是 是 否 否 否 否 否 否 否 否 注：本圖假設(shè)測(cè)量系統(tǒng)已經(jīng)過評(píng)價(jià)并且是適用的 二 . SPC運(yùn)作流程 繼續(xù)生產(chǎn) 描點(diǎn)繪圖 該批生產(chǎn)完成入庫(kù) QE、生產(chǎn)主管、工程師分析 QC抽樣檢驗(yàn)產(chǎn)品，并記錄數(shù)據(jù) QE分析品質(zhì)狀態(tài)圖及指標(biāo) 繼續(xù)嚴(yán)密監(jiān)控并提醒生產(chǎn)部門 管制圖異常 該批第一組否 連續(xù) 5~10組否 狀態(tài)圖異常否 該批完成否 是否超出要求 檢看原始數(shù)據(jù) 問題嚴(yán)重否 通知產(chǎn)品工程師和生產(chǎn)部 停止生產(chǎn)調(diào)整或整頓 緊急研究對(duì)策及方案 如有可能，填寫制程標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)記錄表 是 是 是 是 是 是 否 否 否 否 否 否 否 是 三、 SPC運(yùn)作相關(guān)人員權(quán)責(zé) ： 職位權(quán)責(zé) 所需看和分析的圖形 分析頻率品質(zhì)副總核準(zhǔn) SPC 推行方案 , 協(xié)調(diào)各部門關(guān)系 , 監(jiān)督 SPC 運(yùn)作成效PPM/ 不良率推移圖、柏拉圖、 CPK 推移圖、直方圖、每月或重要客戶或產(chǎn)品多看幾次客服人員了解各批次品質(zhì)狀態(tài) P C h a r t 每一批次分析一次采購(gòu)了解進(jìn)料部份品質(zhì)狀況進(jìn)料 P C h a r t 、進(jìn)料柏拉圖每一批次分析一次 職位 權(quán)責(zé) 所需看和分析的圖形 分析頻率PPM/ 不良率推移圖、柏拉圖、CPK 推移圖、直方圖每 2 至 3 天分析一次品質(zhì)經(jīng)理審核 SPC 推行計(jì)劃，定時(shí)看圖分析品質(zhì)狀態(tài)，界定品管部?jī)?nèi)部關(guān)系，指導(dǎo) SPC 系統(tǒng)運(yùn)作，安排今后的 SPC 培訓(xùn)動(dòng)作。 CPK推移圖需要設(shè)定一 CPK目標(biāo)值 。 c. 因果圖又叫魚刺圖，用來羅列問題的原因， 并將眾多的原因分類、分層的圖形 X X X X Y=f(x) Y 案例：某車間生產(chǎn)效率一直偏低，連續(xù)三個(gè)月均在定額指標(biāo) 65%— 75%之間。 注： 同 Pchart一樣 ， 不需要檢驗(yàn)數(shù)相同 。 7）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在中心線兩側(cè)之 1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi) 此狀況也是用來表明一個(gè)狀態(tài)，出現(xiàn)此狀況是一件好事，表明制程相對(duì)較穩(wěn)定，如成本不是很高或不能接受，可以繼續(xù)保持 。 3）連續(xù)幾點(diǎn)上升或下降 這表明制程有一種趨勢(shì)發(fā)生，分向上和向下兩種。 特點(diǎn) ： ①可以掌握某產(chǎn)品或類別或生產(chǎn)線等取樣母體的不良率狀況，了解本系統(tǒng)在正常情況下的不良狀況，有助于做成本分析； ②對(duì)于突發(fā)事件（特殊原因）影響程度及時(shí)了解； ③便于預(yù)測(cè)下一階段的不良率。 ： ① XRm在檢查過程變化時(shí)不如 XbarR圖敏感 ② XRm圖不能區(qū)分過程的零件間重復(fù)性，因此在很多情況下最好還是使用 常規(guī)的了組樣本容量較?。?24）的 XbarR圖。 4)所有圖形分析，都需要同以前在相同條件下做比較分析，并盡可能尋找可能的周期性變化趨勢(shì)，同時(shí)去驗(yàn)證一到兩次。 此種狀況反應(yīng)出制程能力開始下降，一般屬于系統(tǒng)問題，但暫時(shí)還不算嚴(yán)重，要多多注意監(jiān)控， ： 8）連續(xù)幾點(diǎn)中有幾點(diǎn)在 1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi) 一般為連 5點(diǎn)中有 3點(diǎn)在 1倍標(biāo)準(zhǔn)差以內(nèi)，但有時(shí)候也可根據(jù)產(chǎn)品特性可能有周期性而設(shè)更多點(diǎn)。 計(jì)算過程能力指數(shù)并檢驗(yàn)其是否滿足技術(shù)要求 。 ：包含 100個(gè)或更多單值讀數(shù)的 25個(gè)或更多子組的數(shù)據(jù) 2） 將數(shù)據(jù)列表 ， 并計(jì)算各組數(shù)據(jù)的平均數(shù)及全距 Xi= Ri=每組中最大 每組中最小值 3） 計(jì)算出平均數(shù)和全距的中心線與管制上下線： XCL= RCL= 每組量測(cè)數(shù)值總和 每組樣本數(shù) X1+X2+…+X K R1+R2+…+Rt K ： 管制上下限有兩種算法 : 第一種 :計(jì)算法 :(嚴(yán)格按照管制圖的原理來做 ) a 計(jì)算出標(biāo)準(zhǔn)差 : 、 下限 Xб = XUCL=XCL+3Xб XLCL=XCL3Xб Rб = RUCL=RCL+3Rб RLCL=RCL3Rб 第二種 :查表法 : XUCL= XLCL= RUCL= RLCL= 案例 1 經(jīng)過計(jì)算出每組數(shù)據(jù)的平均值和全距列表如下 （注意四舍五入）序號(hào) 檢驗(yàn)時(shí)間 NO1 NO2 NO3 NO4 NO5 XB a r R1 200 1/ 10 /1 PM 0 5: 08 :5 8 10 7 10. 05 8 10. 03 10. 01 82 200 1/ 10 /2 PM 0 5: 09 :2 0 10. 02 10. 01 10 10. 03 8 10. 01 53 200 1/ 10 /3 PM 0 5: 09 :3 3 8 6 10. 02 5 10. 02 9 74 200 1/ 10 /4 PM 0 5: 09 :5 1 10 10. 05 10 6 5 9 05 200 1/ 10 /5 PM 0 5: 10 :0 3 6 10. 02 8 10 10. 07 10. 01 16 200 1/ 10 /6 PM 0 5: 10 :1 6 10. 09 10. 06 10. 1 10. 12 10. 02 10. 08 07 200 1/ 10 /7 PM 0 5: 14 :2 1 10 10 10. 09 8 7 9 08 200 1/ 10 /8 PM 0 5: 10 :5 0 10. 05 10. 02 10. 02 10. 04 10. 09 10. 04 79 200 1/ 10 /9 PM 0 4: 34 :4 0 10 10 2 210 200 1/ 10 /1 0 P M 04 :3 5: 58 10 10 4 111 200 1/ 10 /1 1 P M 04 :3 5: 27 10 10. 1 10. 1 10. 00 212 200 1/ 10 /1 2 P M 04 :3 5: 37 10 10. 2 10 8 413 200 1/ 10 /1 3 P M 04 :3 6: 33 10 10. 02 10. 03 10. 01 10 10. 01 314 200 1/ 10 /1 4 P M 04 :3 6: 44 8 7 10 10. 02 10. 01 10. 00 515 200 1/ 10 /1 5 P M 05 :0 2: 15 10 10. 01 10. 01 10 9 10. 00 2案例 1 4） 制作圖形： 圖形分四個(gè)部分： 一個(gè)品質(zhì)記錄說明區(qū)； 一個(gè)品質(zhì)指標(biāo)說明區(qū)； 一個(gè)平均數(shù)管制圖區(qū)； 一個(gè)全距管制圖區(qū) 。 可以使我們很好地了解制程 品質(zhì)的進(jìn)展?fàn)顟B(tài) （ 發(fā)展趨勢(shì) ） 。 ： ： 1). 均值 （ 數(shù)學(xué)期望 ） ：平均值 離散型變量均值： 連續(xù)型變量均值： 2).方差 : 3).標(biāo)準(zhǔn)差： 4).全距 ： 5).中位數(shù) : M 6).眾數(shù)： M0 7).不良率： P 8).不良數(shù)： NP 9).缺點(diǎn)數(shù)： C 10).單位缺點(diǎn) (缺點(diǎn)率 )： U 11). 百萬分之不良 ： PPM ： 12).管制上限 (控制上限 ): UCL 13).管制中心線 (控制中心線 )： CL 14).管制下線 (控制下限 )： LCL 15).規(guī)格上限： USL 16).規(guī)格中心線： SL 17).規(guī)格下限： LSL 18).偏移度 ： Ca ： 19).制程能力指數(shù) : Cp 表示制程特性的一致性程度 。 ： 就是利用統(tǒng)計(jì)的工具，識(shí)別企業(yè)生產(chǎn)過程中的變差，從而消除機(jī)遇性變差（特殊原因引起），采取系統(tǒng)的管理措施消除變差的普通原因來改進(jìn)過程的能力。 ◆ 變 異 產(chǎn)生的原因 ：普通原因和特殊原因 普通原因： （ 共同原因 /非機(jī)遇性原因 Common Cause)