【正文】 和過程寬度的改變 . 35 控制圖 ——過程控制和改進(jìn)的工具 過程位置改變的表征 — 樣本的均值 注意 :樣本的均值不一定等于分布的均值 . 樣本的均值只是過程均值的估計(jì)。 Cp小，即 （ σ）大，表示過程控制的變異太大； Cp不好多為過 程條件不佳造成。 E、不受控的點(diǎn)的識(shí)別 不受控的點(diǎn)應(yīng)該在控制圖上被識(shí)別出來。 67 控制圖的要素 成為報(bào)告或需人工維護(hù)的控制圖還需包含的“標(biāo)題”信息： ? 什么：零件 /產(chǎn)品 /服務(wù)的名稱和編號(hào) /標(biāo)識(shí)。 連續(xù)取樣形成的子組，過程變化最小，子組內(nèi)的變差也最小。 76 控制圖制作步驟 為建立控制限所建立的原則：應(yīng)該收集足夠的子組以確保影響過程變差的主要原因有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。一個(gè)有用的指導(dǎo)是：最初所建立的刻度范圍應(yīng)該至少設(shè)置成最大值與最小值之差的兩倍。 如果計(jì)算來自于同一過程的兩個(gè)不同子組的均值，我們希望它們具有大致相同的值。過程一旦穩(wěn)定，過程便能夠被分析是否有能力滿足顧客的要求。 ? 計(jì)算方法 估計(jì)過程的標(biāo)準(zhǔn)差（利用現(xiàn)有子組容量計(jì)算）： ? 為持續(xù)控制延長控制限 利用新子組容量的常數(shù)計(jì)算新的極差和控制限。 89 定義不受控信號(hào) ? 對(duì)于監(jiān)控寬度的圖，點(diǎn)抵于控制限表明 ? 控制限或描點(diǎn)錯(cuò)誤。 測量系統(tǒng)已變化（漂移、偏倚、靈敏度等） 93 定義不受控信號(hào) ? 明顯的非隨機(jī)圖形：應(yīng)依正態(tài)分布來判定圖形，正常應(yīng)是有 2/3的點(diǎn)落于中間 1/3的區(qū)域。 變差的來源：普通原因和特殊原因 ? 固有變差 (inherent variation) 僅由普通原因引起的過程變差 100 過程術(shù)語的定義 ? 子組內(nèi)變差 ( withinsubgroup variation) 僅由于子組內(nèi)的變差所造成的變差。 R S ? 如果過程統(tǒng)計(jì)受控，過程能力將非常接近過程性能。 雙邊公差， ? Cpk,Cp應(yīng)該一起進(jìn)行評(píng)價(jià)和分析 . ? ?233 dRXUSLXUSLCPUc????? ? ?233 dRLSLXLSLXCPLc?????106 可預(yù)測過程的過程測量 —— 雙邊公差 ? Pp 性能指數(shù)。它考慮了過程的位置和能力。 112 條件描述 ? Cp,Cpk,Pp,Ppk可用于如下場合： 用隨時(shí)間變化的趨勢來測量持續(xù)的改進(jìn) 決定需要改進(jìn)的過程的有限次序。 ? 圖形分析應(yīng)該與過程測量結(jié)合使用。 116 控制圖原理 μ177。 ? 連續(xù)的 14點(diǎn)中至少有 12點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) 。 % % μ177。即使沒有使用過程指數(shù)，這種圖形分析還是能很好地幫助認(rèn)識(shí)過程。 113 建議使用的過程測量 ? 沒有單個(gè)指數(shù)或比值可以用來描述一個(gè)過程。取決于公差是 USL或 LSL. ? ?23 dRXUSLCPU??? ?23 dRLSLXCPL??111 可預(yù)測過程的過程測量 —— 單邊公差 ? Pp 性能指數(shù)。它把過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。該指數(shù)反映了過程是否能夠很好地滿足變化要求。 若過程受控，變差來自普通原因和特殊原因。 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編排（極差遠(yuǎn)離均值的子組被更改或剔除） 95 定義不受控信號(hào) ? 如果明顯小于 2/3的點(diǎn)落于中間 1/3的區(qū)域。 連續(xù) 7點(diǎn)上升（ =）或者下降 UCL CL LCL 91 定義不受控信號(hào) ? 在極差均值上方的鏈或上升的鏈，表明： 輸出值的分布寬度增加，可能是無規(guī)律的原因（如工裝松動(dòng)），或某個(gè)過程要素變化（如一批新的、不一直的原料）引起。 ? 控制限內(nèi)的趨勢或模式 當(dāng)出現(xiàn)不正常的模式或趨勢，即使所有的極差都在控制限范圍內(nèi)，也表明在模式或者趨勢發(fā)生的時(shí)期內(nèi)有特殊原因產(chǎn)生影響。 ? 除非兩個(gè)圖都沒有不受控的情形，否則一個(gè)過程是不能被稱為穩(wěn)定的（統(tǒng)計(jì)受控）。如果超過了控制限，則出現(xiàn)了特殊原因。 描點(diǎn)后，相鄰點(diǎn)用直線連接起來，以顯示趨勢。 數(shù)據(jù)收集前，所有樣本點(diǎn)應(yīng)該被確定。 子組容量應(yīng)保持恒定。 72 控制圖制作步驟 收集數(shù)據(jù) 建立控制限 統(tǒng)計(jì)上受不受控的解釋 為了持續(xù)控制延長控制限 73 控制圖制作步驟 收集數(shù)據(jù) 以子組的形式收集樣本。記錄在事件日志上。 X X ? 它們并不適合所有的情形 59 計(jì)數(shù)型控制圖 舉例 60 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) ? 存在于任何技術(shù)或行政管理過程中 ? 很多情況下已有計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù)，僅分析制成控制圖即可 ? 不需專門測量技術(shù)，很快獲得數(shù)據(jù) ? 很好地運(yùn)用在管理報(bào)告的總結(jié)上 61 控制圖的要素 A、適當(dāng)?shù)目潭? B、 UCL、 LCL C、中心線 D、子組順序 /時(shí)間線 E、不受控的點(diǎn)的識(shí)別 F、事件日志 62 控制圖要素舉例 63 控制圖的要素 A、適當(dāng)?shù)目潭? ? 刻度應(yīng)使過程的自然變差很容易被觀察到 64 控制圖的要素 B、 UCL、 LCL 控制圖要求有基于樣本分布的控制限。 解析用 穩(wěn)定 控制用 47 控制圖的益處 ? 合理使用控制圖能 ? 供正在進(jìn)行過程控制的操作者使用 ? 有助于過程表現(xiàn)一致并可預(yù)測 ? 使過程達(dá)到 ? 更高的質(zhì)量 ? 更低的單件成本 ? 更高的有效能力 ? 為討論過程的性能提供共同的語言 ? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。 重復(fù)此三階段，持續(xù)不斷地改進(jìn)過程。 ? 過程指數(shù)分類 使用子組內(nèi)的變差估計(jì)進(jìn)行計(jì)算； 使用子組間的變差估計(jì)進(jìn)行計(jì)算。 過程性能 過程總的輸出滿足顧客要求 (定義為規(guī)范 )的能力。 如果系統(tǒng)內(nèi)存在變差的特殊原因，隨時(shí)間的推移，過程的輸出將不穩(wěn)定。 9 過程控制系統(tǒng)的四個(gè)要素 優(yōu)點(diǎn)：經(jīng)濟(jì)；確保輸出穩(wěn)定性；確保變差保持在可接受范圍。 對(duì)過程的本身及內(nèi)在的變化的研究獲得的一些過程特性。只有變差的普通原因存在且不改變時(shí)，過程的輸出才可以預(yù)測。 作為評(píng)估工具；作為持續(xù)改進(jìn)的工具。 4類，必須減少變差的普通原因和特殊原因。 ，而不關(guān)注這些指標(biāo)所代表的東西。 36 控制圖 ——過程控制和改進(jìn)的工具 中心線 =分析的統(tǒng)計(jì)量的均值 UCL=上控制限 =中心線 +3 X 均值的標(biāo)準(zhǔn)差 LCL=下控制限 =中心線 3 X 均值的標(biāo)準(zhǔn)差 37 控制圖 ——過程控制和改進(jìn)的工具 假設(shè)過程統(tǒng)計(jì)受控，則： ，則相信有特使原因存在 （隨機(jī)）樣本在這些控制限之間顯示隨機(jī)的分布。 Cpk:綜合評(píng)價(jià)指標(biāo)（望大） Cpk=Cp X (1Ca) ?? 6T6LSLUSLCp ??56 Ca與 Cp的判定及代表意義 表示 Ca佳 ,Cp佳 表示 Ca差 ,Cp佳 表示 Ca佳 ,Cp差 表示 Ca差 ,Cp差 平均值接近規(guī)格 中心且變異小 平均值偏離規(guī)格 中心且變異大 平均值偏離規(guī)格 中心但變異小 平均值接近規(guī)格 中心但變異大 57 計(jì)量型數(shù)據(jù)優(yōu)點(diǎn) ? 量化的值包含的信息更多（如直徑 ) ? 較少的樣本就能得出結(jié)論，使總