【正文】 00 3941 % D 41000 6135 15% A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 4321Sample NumberSample CountU Chart for DU===用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 所有點(diǎn)都超出置信區(qū) ，故拒絕零假設(shè)，即以 95％置信度認(rèn)為各工位產(chǎn)生的缺陷比率存在顯著不同。 P A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 4）多個(gè)比例的檢驗(yàn) 例：我司某單板，同時(shí)使用 4種器件，為確認(rèn)是否各器件對(duì)產(chǎn)品過(guò)熱缺陷有無(wú)顯著不同，收集了一個(gè)月的生產(chǎn)數(shù)據(jù)如下： 問(wèn)是否某種器件對(duì)過(guò)熱缺陷的影響與其他器件不同？ ? 建立假設(shè)： H0： PA=PB=PC=PD Ha：至少一個(gè)比例與其他存在明顯差異 ? 確定置信度水平為 95％ ? Minitab： Control Charts P 器件類別 檢查數(shù) “過(guò)熱”不良數(shù) 不良率 A 15600 291 % B 21000 315 % C 5600 76 % D 900 21 % A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 4321Sample NumberProportionP Chart for C2P=== 用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 PA超出置信區(qū)間，故拒絕零假設(shè)，即以 95％置信度認(rèn)為器件 A對(duì)產(chǎn)品過(guò)熱缺陷的影響與其他器不同，比其他器件影響大。s Test (normal distribution) Test Statistic: PValue : Levene39。 ? 建立假設(shè)： H0：設(shè)備 A加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差＝設(shè)備 B加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差 Ha：設(shè)備 A加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差 ≠設(shè)備 B加工電阻阻值標(biāo)準(zhǔn)差 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù)， α＝ ? 用 Minitab進(jìn)行 F檢驗(yàn) 。（未知總體標(biāo)準(zhǔn)差） A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 例： 某 IC供應(yīng)商改進(jìn)其生產(chǎn)工藝，測(cè)得內(nèi)部鍵合拉力數(shù)據(jù)如下： A（改進(jìn)前）： B（改進(jìn)后）： 問(wèn)改進(jìn)后 鍵合拉力是否有顯著改進(jìn) 。 ? 建立假設(shè)： H0：該批物料阻值均值 μ ＝ 500 Ha：該批物料阻值均值 μ ≠500 ? 確定可接受的 α風(fēng)險(xiǎn)系數(shù) 一般 α＝ ? 選擇假設(shè)檢驗(yàn)類別 因是確定總體均值是否偏離目標(biāo)，因樣本容量較小，故選用 t檢驗(yàn)法 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 502501500499498497C2Boxplot of C2(with Ho and 95% tconfidence interval for the mean)[ ]X_Ho用 MINITAB計(jì)算結(jié)果 OneSample T: C2 Test of mu = 500 vs mu not = 500 Variable N Mean StDev SE Mean C2 20 Variable % CI T P C2 ( , ) P= ，無(wú)法拒絕零假設(shè)，即以 95％置信度認(rèn)為該批電阻的阻值的均值 未偏離目標(biāo)?？傮w標(biāo)準(zhǔn)差已知。 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 假設(shè)檢驗(yàn)的兩類錯(cuò)誤及 α、 β風(fēng)險(xiǎn) 1) Ⅰ 類錯(cuò)誤和 Ⅱ 類錯(cuò)誤 Ⅰ 類錯(cuò)誤為當(dāng) H0實(shí)際為真而被拒絕所產(chǎn)生的錯(cuò)誤 Ⅱ 類錯(cuò)誤為當(dāng) H0為假而沒(méi)有被拒絕所產(chǎn)生的錯(cuò)誤 例：比較兩個(gè)供應(yīng)商提供的放大器增益均值是否有差異？ H0：均值無(wú)差異 Ha：均值存在差異 如果實(shí)際兩家放大器增益均值并無(wú)差異，而我們得出存在差 異的結(jié)論，這就是犯了 Ⅰ 類錯(cuò)誤 如果兩家放大器增益均值確實(shí)有差異，而我們得出沒(méi)有差異 的結(jié)論，這就是犯了 Ⅱ 類錯(cuò)誤 正確 Ⅰ 類錯(cuò)誤 Ⅱ 類錯(cuò)誤 正確 實(shí)際 H0為真 H0為假 接受 H0 拒絕 H0 決定 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 2) α風(fēng)險(xiǎn)、 β風(fēng)險(xiǎn) ? α風(fēng)險(xiǎn)：出現(xiàn) Ⅰ 類錯(cuò)誤的最大風(fēng)險(xiǎn)，又叫 Ⅰ 類錯(cuò)誤概率，常稱廠家風(fēng)險(xiǎn)。確定數(shù)據(jù)收集方法，抽樣計(jì)劃設(shè)計(jì)、α、 β 風(fēng)險(xiǎn)選定 H0： μ A＝ μ B Ha： μ A≠μ B 六西格瑪系統(tǒng)對(duì)實(shí)際問(wèn)題的解決思路： A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 統(tǒng)計(jì)結(jié)論 再認(rèn)識(shí) 實(shí)際結(jié)論 判斷 新的認(rèn)識(shí) 選擇樣本數(shù) n，收集數(shù)據(jù)，計(jì)算統(tǒng)計(jì)輸出 t、 p、 r等值，評(píng)估差異，據(jù)采用統(tǒng)計(jì)方法相對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)的自由度設(shè)置置信區(qū)間、對(duì)統(tǒng)計(jì)參數(shù)下結(jié)論。 ? 已知樣本均值等于總體均值 ? 未知總體均值 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 3) 對(duì)兩個(gè)正態(tài)總體均值差的區(qū)間估計(jì)。 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 二、主要工具 圖形分析工具 1) 過(guò)程圖分析 2) 直方圖分析 3) 箱圖分析 4) 時(shí)序圖分析 5) 因果圖分析 6) 失效模式和影響分析 7) 質(zhì)量功能展開(kāi) 8) 故障樹(shù)分析 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 通用分析工具 1) 參數(shù)估計(jì)和置信區(qū)間分析 2) 假設(shè)檢驗(yàn) 3) 方差分析 4) 相關(guān)和回歸分析 5) 試驗(yàn)設(shè)計(jì)分析 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 三、參數(shù)估計(jì)和置信區(qū)間 置信區(qū)間 在分析和解決實(shí)際問(wèn)題時(shí)，要取得分析對(duì)象的全部數(shù)據(jù) 是非常困難的，有時(shí)也是不現(xiàn)實(shí)的，為此需從總體中抽 取一定數(shù)量的樣本，取得樣本的測(cè)量數(shù)據(jù)，再通過(guò)樣本 數(shù)據(jù)對(duì)總體數(shù)據(jù)進(jìn)行估計(jì)。 分析階段的作用 采用嚴(yán)密、科學(xué)的分析工具進(jìn)行定量或定性分析，最終篩選出關(guān)鍵影響因素 x’s。 1) 過(guò)程流程圖 2) 過(guò)程輸出的量化指標(biāo)，即項(xiàng)目 y 3) 對(duì)項(xiàng)目 y及其影響因素 x’s的數(shù)據(jù)有效性驗(yàn)證結(jié)果 4) 對(duì)當(dāng)前過(guò)程能力的準(zhǔn)確評(píng)估 5) 改進(jìn)目標(biāo) A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 分析階段的輸出 1) 影響項(xiàng)目 y的所有 x’s 分析階段主要目標(biāo)是發(fā)現(xiàn)影響項(xiàng)目 Y的主要因素，但首先是要找出所有可能的因素，特別注意不能漏掉可能的影響因素。 A分析（ Analyze） 內(nèi)部資料 注意保密 區(qū)間估計(jì)概念 設(shè) θ1(x x ? 、 xn)及 θ 2(x x ? 、 xn)是由樣本觀測(cè)值確定的兩個(gè)統(tǒng)計(jì)量，如對(duì)給定概率 1α ，有P(θ 1θ θ 2)= 1α ，則隨機(jī)區(qū)間 (θ1,θ 2)叫做參數(shù) θ的對(duì)應(yīng)與置信概率 1α 的置信區(qū)間， θ1叫置信下限 ,θ 2叫置信上限。 在六西格瑪?shù)姆治鲭A段（確定某種原因是否確定