【正文】 編號、形狀、尺寸、材質(zhì)及熱處理狀態(tài)；b) 檢測部位、檢測比例、滲透劑牌號；c) 檢測方法，包括滲透劑類型、顯像方式；d) 操作條件，包括滲透溫度、滲透時間、干燥溫度和時間、顯像時間；e) 操作方法，包括清洗方法、滲透劑施加方法、清洗方法、顯像劑施加方法；f) 檢測結(jié)果及缺陷等級評定、檢測標準名稱；g) 缺陷示意圖；h) 檢測人員、責任人員簽字及其技術(shù)資格；i) 檢測日期。當設(shè)備進行重要電氣修理或大修后應(yīng)進行校驗。磁粉檢測前，應(yīng)進行磁懸液潤濕性能檢驗。為使試片與被檢面接觸良好，可用透明膠帶將其平整粘貼在被檢面上，并注意膠帶不能覆蓋試片上的人工缺陷。 磁軛的磁極間距控制在75～200mm之間，檢測的有效區(qū)域為兩極連線兩側(cè)各50mm的范圍內(nèi)，磁化區(qū)域每次應(yīng)有不少于15mm的重疊。濕法主要用于連續(xù)法檢測。 磁痕的顯示要分清相關(guān)顯示與非相關(guān)顯示和偽顯示。 除能確認磁痕是由于工件材料局部磁性不均或操作不當造成的之外，其他磁痕顯示均應(yīng)作為缺陷處理。 受壓加工部件和材料磁粉檢測質(zhì)量分級，見表2壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC25—D/02012題 目磁粉檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D/ 0第 5 頁共 6 頁表2等級線性缺陷磁痕圓形缺陷磁痕（評定框尺寸為2500mm2，其中一條矩形邊長最大為150mm）I不允許d≤,且在評定框內(nèi)不大于1個II不允許d≤,且在評定框內(nèi)不大于2個IIIL≤d≤,且在評定框內(nèi)不大于4個Ⅳ注：L表示線性缺陷磁痕長度，mm；d表示圓形缺陷磁痕長徑mm在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在多種缺陷時，應(yīng)進行綜合評級?！?0MHz，儀器至少在熒光屏滿刻度的80%范圍內(nèi)呈線性顯示。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 2 頁共 40 頁177。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺和污物等都應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。 b)衰減補償?！碧筋^系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定前沿距離、K值和主聲束偏離，調(diào)節(jié)或復(fù)核掃描量程和掃查靈敏度。、復(fù)核的有關(guān)注意事項 校準、復(fù)核和對儀器進行線性檢測時，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或濾波開關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。：工件名稱、編號、探傷部位、檢驗范圍、探傷比例、驗收標準、缺陷情況、返修情況、探傷結(jié)論、檢驗人員、審核人員等。，CB II標準試塊應(yīng)符合圖2和表2的規(guī)定。耦合方式可采用直接接觸法。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度，探頭中心即為缺陷的邊界點。 b)多個缺陷相鄰間距小于100mm或間距小于相鄰較小缺陷的指示長度（取其較大值）時，以各缺陷面積之和作為單個缺陷指示面積。，可采用橫波檢測。 雙晶直探頭的公稱頻率應(yīng)選用5MHz。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 10 頁共 40 頁 b）CSⅡ試塊的形狀和尺寸應(yīng)符合圖5和表5的規(guī)定。(5)用充水探頭探測鋼板時應(yīng)考慮到介面波與鋼板底面重合，即重合波探傷發(fā)，因此超聲充水探頭層高度的調(diào)節(jié)甚為重要，并應(yīng)有自動控制水層高度的裝置，這樣介面波與底面波才能有效重合，其計算公式如下：h=CL水/CL鋼δ h 層高度，δ 鋼板厚度，CL水水中縱波聲速，CL鋼鋼中縱波聲速若探測厚度較小的鋼板，考慮到探頭盲區(qū)影響，可提高水層高度h，因此用下式計算：h=CL水/CL鋼nδ n:（即一次、二次、三次、四次重合法） 本條適用于碳鋼和低合金鋼鍛件的超聲檢測和質(zhì)量分級。（板厚大于100mm時，以板厚的一半為準）內(nèi)，缺陷的指示長度大于或等于50mm時，應(yīng)評為Ⅴ級。若單個缺陷的指示長度小于40mm時，可不作記錄。兩種方法測得的結(jié)果以較嚴重者為準。 可選鋼板的任一軋制表面進行檢測。壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC26—D/02012題 目超聲波檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 5 頁共 40 頁 表1 板材超聲檢測探頭選用板厚，（mm）采用探頭公稱頻率，MHZ探頭晶片尺寸6～20雙晶直探頭5晶片面積不小于150mm220～40單晶直探頭5φ14～φ20mm40～250單晶直探頭φ20～φ25mm（規(guī)范性附錄）的要求。，并應(yīng)經(jīng)計量部門檢定合格。一般對距離－波幅曲線的校核不應(yīng)少于3點。 新購探頭應(yīng)有探頭性能參數(shù)說明書，新探頭使用前應(yīng)進行前沿距離、K值、主聲束偏離、靈敏度余量和分辨力等主要參數(shù)的測定。 a)耦合補償。，應(yīng)保證工件被檢部分均能得到充分檢查。，主聲束垂直方向不應(yīng)有明顯的雙峰。2. 規(guī)范性引用文件固定式壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程—2011 鋼制壓力容器JB/—2005 承壓設(shè)備無損檢測 第一部分：通用要求 JB/—2005 承壓設(shè)備無損檢測 第三部分：超聲檢測JB/T7913 1995 超聲波檢測用鋼制對比試塊的制作與校驗方法JB/T9214 1999 A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能 測試方法JB/T10061 1999 A型脈沖反射式超聲波探傷儀通用技術(shù)條件JB/T10062 1999 超聲探傷用探頭性能測試方法JB/T10063 1999 超聲探傷用1號標準試塊技術(shù)條件3. 一般要求超聲檢測人員應(yīng)按照《特種設(shè)備無損檢測人員考核與監(jiān)督管理規(guī)則》的要求取得UTI級以上資格的人員，只能從事初探工作，取得Ⅱ級資格的人員方能復(fù)探和出超聲檢測報告，編制超聲波檢測工藝。 退磁方法 退磁方法參照JB/ 條執(zhí)行15. 磁粉檢測質(zhì)量分級a)不允許存在任何裂紋和白點；b)緊固件和軸類零件不允許任何橫向缺陷顯示。 缺陷磁痕長軸方向與工件軸線或母線的夾角大于或等于300時，按橫向缺陷處理，其他按縱向缺陷處理。使用交叉磁軛裝置時，四個磁極端面與檢測面之間應(yīng)盡量貼合，連續(xù)拖動檢測時，檢測速度應(yīng)盡量均勻，一般不應(yīng)大于4m/min。對有延遲裂紋傾向的材料，磁粉檢測應(yīng)安排壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC25—D/02012題 目磁粉檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 3 頁共 6 頁在焊接完成24小時后進行，除非另有要求對緊固件和鍛件的磁粉檢測應(yīng)安排在最終熱處理之后進行。當檢測焊縫坡口等狹小部位，由于尺寸關(guān)系A(chǔ)1型標準試片使用不便時，一般可選用C—15/50型標準試片。磁懸液濃度應(yīng)根據(jù)磁粉種類、粒度、施加方法和被工件表面狀態(tài)等因素來確定。本規(guī)程使用XDYY—II 型多用磁粉探傷儀。表2焊接接頭和坡口的質(zhì)量分級等級線性缺陷圓形缺陷 （評定框尺寸35mm100mm）I不允許d ≤,且在評定框內(nèi)少于或等于1個II不允許d ≤,且在評定框內(nèi)少于或等于4個IIIL≤4d ≤8 ,且在評定框內(nèi)少于或等于6個Ⅳ大于III級注：L為線性缺陷長度，mm；d 為圓形缺陷在任何方向上的最大尺寸，mm。8．后處理檢測結(jié)束后，為防止殘留的顯像劑腐蝕被檢工件表面或影響其使用，應(yīng)清除被檢工件表面殘余顯像劑，清洗方法可用刷洗、水洗、布或紙擦等方法。C~50186。多余滲透劑被清除之后，應(yīng)自然干燥?？捎萌軇?、洗滌劑進行清洗。，氧化皮、焊接飛濺、毛刺以及各種防護層。16附表射線探傷專用工藝卡 焊縫射線檢測報告無損檢測送檢單 焊縫射線檢測底片評定表原始評片記錄 RT位置示意圖探傷結(jié)果通知單 一次探傷合格率返修通知單 射線探傷原始記錄壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC23—D/02012題 目射線照相檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 19 頁共 19 頁RT操作流程圖工 件持證焊工根據(jù)返修工藝返修外觀檢查合格后方可送探傷委托書X光機訓(xùn)練人員資格象質(zhì)計選擇增感屏、暗袋檢查探傷前準備工作儀器檢查編RT工藝RT實施按工藝要求進行透照工作表面復(fù)查評片人員出具返修單顯、定、影（溫度，新、舊）復(fù)驗、擴探暗室處理沖洗（水流、時間）評片環(huán)境評片消泡、干燥工序報告不合格熟悉標準合格底片質(zhì)量認定資料整理、簽發(fā)總報告監(jiān)檢底片質(zhì)量合格率、評片準確率、擴探率和探傷比例執(zhí)行率達標存檔壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC24—D/02012題 目滲透檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 1 頁共 4 頁《承壓設(shè)備無損檢測》制定、適用于金屬材料制的壓力容器焊縫、受壓元件及其零部件表面開口性缺陷的滲透檢測方法及質(zhì)量分級。、鎳、銅制承壓設(shè)備熔化焊對接接頭射線檢測質(zhì)量分級按JB/。，評片人應(yīng)依照底片對照該片在容器相應(yīng)部位仔細觀察分析，并請示RTⅢ級人員進行裁定，否則應(yīng)重新拍片。12．評片要求。 升高壓前應(yīng)預(yù)熱燈絲至少2分鐘。 所選用的射線源至工件表面的距離f應(yīng)滿足下述要求：A級射線檢測技術(shù)：f≥?b2/3 AB級射線檢測技術(shù)：f≥10d?b2/3 注：d—有效焦點尺寸B 級射線檢測技術(shù)：f≥15d?b2/3 b—工件表面至膠片距離有關(guān)的f值也可查閱JB/ ，圖圖3確定焦點至工件表面距離的若由于結(jié)構(gòu)原因不能進行多次透照時，可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次。 對外徑D0100mm的環(huán)向?qū)雍附咏宇^進行100%檢測，所需的最少透照次數(shù)與透照方式和透照厚度比有關(guān)，～。檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。對比試驗方法是在射源側(cè)和膠片側(cè)各放一個像質(zhì)計，用與工件相同的條件透照，測定出像質(zhì)計放置在源側(cè)和膠片側(cè)的靈敏度差異，以此修正應(yīng)識別像質(zhì)計絲號，以保證實際透照的底片靈敏度符合要求。c)底片上像質(zhì)計及各種標記的擺放結(jié)構(gòu)示意圖（2）壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC23—D/02012題 目射線照相檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D / 0第 5 頁共 19 頁搭接標記 工作令號 焊縫編號及號片 增拍編號標記中心標記 返修編號及次數(shù) 搭接標記② ③ ① ④ ⑤ ②98╳╳╳ 1A2 Rn Z⑥ ⑦年 月 日 ⑧ F拍片日期 像質(zhì)計像質(zhì)計放膠片側(cè)標記圖（2）d)采用鉛質(zhì)標記，所有標記擺放均應(yīng)放置在焊縫邊緣至少5mm以外的部位，且不干擾有效評定范圍內(nèi)的影像。，以便將射線束限制在所需透照的部位，以減少散射線來源。AB級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T3類或更高類別的膠片，B級射線檢測技術(shù)應(yīng)采用T2類或更高類別的膠片。圖17曝光曲線的制作 制作曝光曲線應(yīng)考慮的參數(shù)由于標稱相同千伏值和毫安值相同的X射線機透照能力存在差異，因此，曝光曲線應(yīng)按每臺X射線機繪制，并且在每次主要零件（如X射線管、高壓變壓a)射線機型號b)工件材質(zhì)c)工件厚度d)膠片類型e)底片黑度f)射線源到膠片的距離g)增感屏類型及厚度h)毫安值i) 曝光時間j) 暗室處理時間和溫度器等）更換后及時對曝光曲線進行校正，制作曝光曲線應(yīng)確定如下參數(shù)：k)暗室處理用化學(xué)藥品名稱和牌號制備鋼制的階梯試塊，曝光量選用不低于15毫安分，固定曝光量改變管電壓，在曝光曲線中只需表示管電壓（KVP）和穿透厚度（TA）之間的關(guān)系。否則探傷室可拒絕拍片并通知焊接檢驗員加以清除至符合要求。一次返修:焊接檢驗員 焊接工藝員 焊工 焊接檢驗員 探傷人員 評片員二次返修:焊接檢驗員 焊接質(zhì)控責任人 指定焊工 焊接檢驗員 探傷人員 評片員壓力容器制造通用工藝規(guī)程QB/GC23—D/02012題 目射線照相檢測工藝規(guī)程版次 / 修訂號：D/ 0第 10頁共 10 頁三次返修:焊接檢驗員 焊接質(zhì)控責任人 公司技術(shù)總負責人 指定焊工 焊接 檢驗員 探傷人員 評片員。，從陽光下進入評片室的暗適應(yīng)時間一般為510min。，測量的誤差應(yīng)不超過177。檢測作業(yè)時應(yīng)圍繞控制區(qū)邊界測定輻射水平，檢測工作人員應(yīng)佩帶個人劑量計，并攜帶劑量報警儀。：“X射線機安全操作規(guī)程”做好開