x射線衍射儀與能譜儀綜合介紹(存儲版)
【正文】 面間距 = d hkl 當(dāng) X射線照射到晶體上時，每個原子都散射 X射線：相干散射和不相干散射 如左圖：產(chǎn)生衍射的條件是兩層的光程差是波長的整數(shù)倍 2d hkl ? sin ?＝ n ? 布拉格公式 晶體有不同的晶面，不同的晶面有不同的晶面間距，如左圖的 d1， d2， d3，各自的衍射角不同，各自的衍射強(qiáng)度也不同。 全反射 X射線能譜 ? 分析應(yīng)用的特點(diǎn) 樣品量示意～全反射能譜與普通 X射線能譜儀 X射線衍射儀 晶體：原子在三維空間中長程有 。單個的微量樣品（顆粒，長條等）也可以用類似的方法直接制樣。 X射線 X射線與物質(zhì)的相互作用 北京普析 X射線分析儀器 ? 兩大類： ? X射線衍射儀 ? 多晶： XD XD XD6 ? 單晶：無 ? X射線熒光分析儀 ? 能譜色散： XRF XRF XRF9 ? 波長色散：無 X射線能譜儀產(chǎn)品系列 XRF9 XRF8 ?XRF7便攜能量色散 X射線熒光分析儀 ?XRF9能量色散 X射線熒光分析儀 ?XRF8全反射 X射線熒光分析儀 XRF7 X射線熒光激發(fā)原理 X射線熒光激發(fā)原理 ? 基本原理： 原 子在受到 X射線源照射作用時，某層軌道上飛行的電子如果被 X射線束打中，該電子會向更低能級軌道發(fā)生躍遷，能級差造成的多余能量被釋放出來，以電磁波的形式發(fā)出。 由于 X射線具有波長短光子能量大這個基本特性 ， 所以 ， X射線光學(xué) (幾何光學(xué)和物理光學(xué) ) 雖然具有和普通光學(xué)一樣的理論基礎(chǔ) ， 但兩者的性質(zhì)卻有很大的區(qū)別 ， X射線與物質(zhì)相互作用時產(chǎn)生的效應(yīng)和可見光迥然不同 。g ）的樣品到樣品架上。如果是由不規(guī)則固體樣品轉(zhuǎn)換制備的液體樣品，前處理過程必須確保樣品的代表性以保證結(jié)果準(zhǔn)確。 簡單正交 體心正交 底心正交 面心正交 a ? b ? c ? = ? = ? = 90176。與標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫對比。經(jīng)實(shí)際檢測，散射 X射線劑量≤，且未未扣除天然本底，扣除會更小。 平行光狹縫） 膜及多層膜的物相分析 入射光束以較低掠射角入射，可使薄膜衍射 強(qiáng)度 增大， 而本底反射最小。 多種資質(zhì)認(rèn)證 教育部科技成果鑒定 教 SSW2022第 003號 多種資質(zhì)認(rèn)證 放射工作許可認(rèn)證 京衛(wèi)放證字 2022第 C742號 應(yīng)用支持強(qiáng)大 ? 北大、清華的專家教授做為應(yīng)用技術(shù)顧問 ? 公司提供專業(yè)應(yīng)用技術(shù)人員的應(yīng)用支持和專業(yè)使用培訓(xùn) ? 我們的專業(yè)分析網(wǎng)站和論壇：微構(gòu)分析實(shí)驗(yàn)室（ ） ? ICDD機(jī)構(gòu)成員，中國唯一衍射儀生產(chǎn)廠家成員 附件齊全 旋轉(zhuǎn)樣品臺 （多樣品臺） 平行光薄膜附件 壓樣器 高溫附件 纖維附件 多功能測量附件 （織構(gòu)極圖、應(yīng)力、 Φ掃描） 附件 樣品片 類型：玻璃或鋁基體 通孔型樣品片 盲孔型樣品片 微量型樣品片 冷卻循環(huán)水裝置 型號： CW2F 由于 X光管工作時 99%以上的能量以熱量的形式釋放，所以必須對 X光管通冷卻循環(huán)水，冷卻受擊靶面，保證 X光管的正常使用。測量各物相的衍射線的強(qiáng)度比，求出各物相的百分含量。在材料科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、 石油化工催化劑、地質(zhì)、礦物、冶金、鋼鐵、陶瓷、建材、電子、土壤、環(huán)保、藥物、醫(yī)學(xué)， 以至考古、刑偵、商檢等眾多學(xué)科、相關(guān)的工業(yè)、行業(yè)中都有重要的應(yīng)用，是理工科院校和涉及材料研究、生產(chǎn)的研究部門、廠礦實(shí)驗(yàn)室的重要的、不可缺少的大型分析設(shè)備。 A
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