x射線光電子能譜(xps)---課件(存儲版)
【正文】 PS spectra of untrea ted( A) and treated( B) carbon films 碳膜修飾前后的 XPS表征 ? 未經(jīng)處理的碳膜主要是由 C ( % )及O(% )元素組成 [圖 (A) ] , 其特征結(jié)合能分別為 eV. 經(jīng) FAS17處理后碳膜表面的 XPS譜圖 [圖 (B) ]中出現(xiàn)了明顯的 F1s及 Si2p的特征峰 , 分別位于 eV處 .此時 C, F, O和 Si原子的質(zhì)量分?jǐn)?shù)分別為 %, % , %及 % , 可見 , 經(jīng)過氟硅烷修飾后的碳膜表面主要由 C及 F元素組成 , 表明碳膜表面經(jīng)過處理具有氟硅烷這樣的低表面能物質(zhì) , 因而此時碳膜為一個疏水表面 . 碳膜修飾前后的 XPS表征 同時 ,由于表面為粗糙孔狀納米結(jié)構(gòu) ,即表面具有較大的粗糙度 , 這樣的結(jié)構(gòu)增強(qiáng)了表面疏水性 , 使具有納米級粗糙度的碳膜成為了超疏水表面 , 因此經(jīng)過氟硅烷修飾后的碳膜接觸角比修飾前明顯增大 . 謝謝觀看 /歡迎下載 BY FAITH I MEAN A VISION OF GOOD ONE CHERISHES AND THE ENTHUSIASM THAT PUSHES ONE TO SEEK ITS FULFILLMENT REGARDLESS OF OBSTACLES. BY FAITH I BY FAITH 。 ? 作為深度分析的離子槍，一般采用 KeV的 Ar離子源。 為了保證樣品表面不被氧化，一般采用自然干燥。在普通的實驗過程中，一般采用膠帶法制樣。主要包括樣品的大小，粉體樣品的處理 , 揮發(fā)性樣品的處理，表面污染樣品及帶有微弱磁性的樣品的處理。例如，對不溶于溶劑的陶瓷或金屬試樣，用乙醇或丙酮擦洗，再用蒸餾水洗掉溶劑，最后吹干或烘干試樣，達(dá)到去污的目的。 檢測器 ? 檢測器通常為單通道電子倍增器和多通道倍增器。例如：利用 XPS鑒定 維生素 B12中的少量的 Co ?？梢愿鶕?jù)能譜圖中出現(xiàn)的特征譜線的位置鑒定除 H、 He以外的所有元素。 XPS的用途 ? 元素的定性分析。 ? 分子生物學(xué)中的應(yīng)用。它必須在高真空條件下工作即壓力要低于 103帕，以便
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