spc精進(jìn)教育教材(存儲版)
【正文】 在下.—點(diǎn)在其數(shù)值之位置並以直線連接之.—流程圖.計(jì)量值管制圖分析流程全距均在管制界限內(nèi)嗎?是否只有一或二個點(diǎn)在管制界限外?否是是計(jì)算平均值的管制界限重新收集資料停止計(jì)算平均值的管制界限找出亦修正非機(jī)遇原因計(jì)算平均值的管制圖.全距失控3個以上的點(diǎn)在管制界限外全距值均在控制中.否是其餘的全距值均在管制界限內(nèi)嗎?剔除這一或二個全距值的樣本.重新計(jì)算X、R的全距管制界限.是建立『製程管制用』管制圖步驟.XR Chart適用製程：l 與XR Chart,但檢出力較差,故多以XR Chart取代之。25% P(1P)管制上限(UCL)=P+3 n P(1P)管制下限(LCL)=P3 n l 當(dāng)樣組樣本n超過177。6. 點(diǎn)子的分佈不呈隨機(jī)分佈。l 爭取時效性。 % % % % % % % % μ3σ μ2σ μσ μ μ+σ μ+2σ μ+3σ%% % CL LCL UCL 規(guī)格範(fàn)圍數(shù)據(jù) 計(jì)量值:一種品質(zhì)特性之?dāng)?shù)值，可用連 續(xù)量計(jì)量者數(shù)值數(shù)據(jù) 計(jì)數(shù)值:一種品質(zhì)特性之?dāng)?shù)值，可用以 計(jì)數(shù)者管制圖的種類l 計(jì)量值管制圖XR Chart (平均值與全距管制圖)XR Chart (中位數(shù)與全距管制圖)XRm Chart (個別值與移動全距管制圖)XS Chart (平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖) l 計(jì)數(shù)值管制圖pChart (不良率管制圖)nPChart (不良數(shù)管制圖)CChart (缺點(diǎn)數(shù)管制圖)UChart (單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖)XR Chart適用製程：l 可用以管制分組之計(jì)量數(shù)據(jù),即每次同時取得幾個數(shù)據(jù)之工程。4σ) PPM PPM(177。 mm177。3σ=748177。延長管制界限作為製程之繼續(xù)管制SPC的應(yīng)用步驟(圖解) Ca、Cp、CpkCpk1管制條件變動時Cpk≧1五、製程能力調(diào)查製程能力定義使製程標(biāo)準(zhǔn)化，除去異常因素，當(dāng)製程維持在穩(wěn)定狀態(tài)時，所實(shí)現(xiàn)的品質(zhì)程度。繪製製造流程圖 3σ範(fàn)圍內(nèi),抽到的機(jī)率符號認(rèn)識 母體(群體) 樣本平均值 μ X標(biāo)準(zhǔn)差 σ
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