粒子圖象測(cè)試技術(shù)下(存儲(chǔ)版)
【正文】 富、可靠的試驗(yàn)依據(jù)。脈沖寬度和脈沖間隔由開(kāi)孔的直徑和碼盤(pán)的轉(zhuǎn)速來(lái)決定。粒子的折射率和介質(zhì)的折射率之比在散射光中是一個(gè)重要的參數(shù)。 – PIV的基本原理是測(cè)量圖像的位移 Δ X,Δ y, 使 Δ t小到可以與受精度約束的拉格朗日速度場(chǎng)的泰勒微尺度比較的程度。 – 轉(zhuǎn)鏡旋轉(zhuǎn)時(shí)的平穩(wěn)性和鏡面的平行度是此方法的關(guān)鍵問(wèn)題。 220 4 MdZCN es???20 24IldN C ZM???6 PIV的定義 ? PIV(Particle Image Velocimetry)用于測(cè)量二維平面整個(gè)速度場(chǎng)上的速度矢量。1 粒子圖象測(cè)試技術(shù) (PIV) 2 利用粒子的成象來(lái)測(cè)量流體速度的這一類(lèi)方法均可稱(chēng)為粒子圖象測(cè)速技術(shù)。像密度用來(lái)區(qū)分 粒子跡線法 和 粒子圖像 測(cè)速方法。 – 調(diào)整轉(zhuǎn)鏡轉(zhuǎn)速可改變脈沖間隔，具有靈活性。 13 14 診斷處理方法可分為： ? 光學(xué)方法 – 測(cè)量干涉
范文總結(jié)相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號(hào)-1