【正文】 3因 2人 (因 另外，測量方法或測量用表讀數(shù)有問題時也容易出現(xiàn)此型。高端型。由于某種因素使上限受到限制時多出現(xiàn)此型。h一般取整數(shù)? 確定組邊界? 計算頻數(shù)，例如唱票法? 計算頻率? 繪制頻數(shù)分布表? 繪制頻數(shù)直方圖，縱軸為頻數(shù)? 繪制頻率直方圖，縱軸為頻率? 進行分析第一步：收集數(shù)據(jù)共 100個數(shù)據(jù)某規(guī)格帶束層寬度，公差 177。過程能力(Process鏈（ Run）控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的 點 。表示。過程能力為 n844177。式中： n本容量 /記錄并描繪每個子組內(nèi)的單位產(chǎn)品不合格數(shù)（ u） 數(shù)據(jù)的收集8421u圖用來測量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組(C1+C2+…+Ck)在單個的產(chǎn)品檢驗中可能發(fā)現(xiàn)不同原因造成的不合格。不合格分布在連續(xù)的產(chǎn)品流上（如：每條尼龍上的瑕疵，玻不合格（缺陷）數(shù)的 8231計算控制限 圖相同）8221821初次研究，應(yīng)排除有變差的子組，重新計算控制限。希望操作者和檢驗員有能力發(fā)現(xiàn)變差原因并糾正。再發(fā)生，由于控圖發(fā)現(xiàn)的變差一般是由特殊原因引起的，當(dāng)有任何變差時，應(yīng)立即進行分析，以便識別條件并防止 b過程性能已惡化過程惡化?？刂葡抻嬎沐e誤或描點時描錯 3P=n變化。從上述公式看出，凡是各組容量不一樣，控制限隨之=nUCLp分別為每個子組內(nèi)的不合格的數(shù)目 P=（ n1p1+n2p2+…+ nkpk） /將不合格品率描繪在控制圖上 /n子組數(shù)量： 收集的時間足夠長，使得可以找到所有可能影響子組容量 ：子組容量足夠大（最好能恒定），并包括幾個不收集數(shù)據(jù)8111n 2 3 4 5 6 7 8 9 10d2 8式中： Rn 2 3 4 5 6 7 8 9 10D4 D3 * * * * * E2 樣本容量小于 7時，沒有極差的控制下限。R5 5注：式中 USLMR=D4RK24的差值 固定子組b單值性質(zhì)比較一致時（例如：化學(xué)溶液的 PH值）。56找出超過極差控制限的點15 /?A2USLR=D4RXRσ* * * * A3 C4=估計過程標(biāo)準(zhǔn)差： 注： 在樣本容量低于 6時，沒有標(biāo)準(zhǔn)差的下控制限。LSLS12–=出 如果原始數(shù)據(jù)量大，常將他們記錄于單獨的數(shù)據(jù)表，計算caLCLXUCLXb當(dāng)子組容量變化時，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率）制限，將其作為將來的一段時期的控制限。識別并標(biāo)注所有特殊原因（均值圖） 注：如果存在幾個過程流，應(yīng)分別識別和追蹤。過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或 7點在平均值一側(cè)或 7點連續(xù)上升或下降受控制的過程的均值UCLLCLa3過程已更改，或是在當(dāng)時的那一點（可能是一件獨立的34X使所有點均處于受控狀態(tài)。a識別并標(biāo)注所有特殊原因（極差圖）a25子組，如果有 40%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進行調(diào)查：數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除）。軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)）。過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或多控制限計算錯或描點已描錯 R一般情況，各點與 R性增加，則 8點或更多點組成的鏈才能表明過程變差減小。測量系統(tǒng)的改好。輸出值的分布寬度減小，好狀態(tài) a2連續(xù) 7點連續(xù)上升或下降；連續(xù) 鏈 c超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種：出現(xiàn)一個或多個點超出任何控制限是該點處于失控狀態(tài)的主要31的特殊原因。 UCLX? 在這種情況下沒有下控制限，這意味著對于一個樣本數(shù)為 6的子組， 6個 “同樣的 ”測量結(jié)果是可能成立的。9 224 確保所畫的 XR1個刻度代表 ）1將均值和極差畫到控制圖上 （ 圖的刻度值設(shè)置為 兩個控制圖的縱坐標(biāo)分別用于 ?生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生產(chǎn)流。a特性間的相互關(guān)系接上頁 確定測量系統(tǒng)因素。設(shè)備URβ越小1% 5% 10%合理使用控制圖的益處? 供正在進行過程控制的操作者使用? 有助于過程在質(zhì)量上和成本上能持續(xù)的、可預(yù)測的保持下去? 使過程達到：– 更高的質(zhì)量– 更低的單件成本– 更高的有效能力? 為討論過程的性能提供共同的語言? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南使用控制圖的基本步驟收集收集數(shù)據(jù)并畫在圖上控制通常采用 αα0σ）兩類錯誤控制圖設(shè)計思想●先確定 σx+X? 上控制線 /限（ UCL):3中心限 無缺點考慮降低成本 措施 查找變差的特殊原因并（普通原因造成的變差太大）時間 過程能力局部措施? 通常用來消除變差的特殊原因? 通常由與過程直接相關(guān)的人員實施? 通?？杉m正大約 15%的過程問題? 對系統(tǒng)采取措施? 通常用來消除變差的普通原因? 幾乎總是要求管理措施，以便糾正? 大約可糾正 85%的過程問題過度調(diào)整? 過度調(diào)整是把每一個偏離目標(biāo)的值當(dāng)作過程中特殊原因處理的作法。時間 形狀有時被稱為可查明原因，存在它的信號是：存在超過控制線的點或存在在控制線之內(nèi)的鏈或其他非隨機性的情形。由于過程波動具有統(tǒng)計規(guī)律性，當(dāng)過程受控時，過程特性一般服從穩(wěn)定的隨機分布；而失控時，過程分布將發(fā)生改變。正常波動是偶然性原因（不可避免因素）造成的。如何做？（方法 /程序 /技術(shù)）按程序（不合格品控制）；不合格品評審；返工 /返修指導(dǎo)書； SPC圖；分隔 /追溯性；標(biāo)準(zhǔn)樣品。過 SPC(Statistical Process Control)統(tǒng)計過程控制新進員工培訓(xùn)之clownyhe xxxxxxxxxxxx有限公司品保部要求課堂紀律? 手機：關(guān)機或打震動? 討論：人多，不便進行? 發(fā)言：允許，但請不要起哄? 睡覺：請自便，但是要考試? 總原則：請不要影響他人課程要求? 關(guān)于 SPC的基本概念：過程、變差、 SPC、過度調(diào)整? XR圖的繪制與使用? 一些常見的統(tǒng)計工具過程? 一組將輸入轉(zhuǎn)化為輸出的相互關(guān)聯(lián)或相互關(guān)系的活動，就過程。使用的關(guān)鍵準(zhǔn)則是什么？（測量 /評估）反應(yīng)速度、時間；內(nèi)外顧客反饋； PPm下降程度；質(zhì)量成本；退貨分析。它對產(chǎn)品質(zhì)量影響較小，在技術(shù)上難以消除，在經(jīng)濟上也不值得消除。 SPC正是利用過程波動的統(tǒng)計規(guī)律性對過程進行分析控制的。樣本標(biāo)準(zhǔn)差 普通原因造成變差的一個原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機過程變差的一部分。預(yù)測移，過程的輸出不穩(wěn)定。?如果根據(jù)每一次所做的測量結(jié)果來調(diào)整一個穩(wěn)定的過程，則調(diào)整本身就成了一個變差源。計劃 實施研究USL范圍LSL ≦ Cpk≦ σ的概率是 %。X+3α根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算實驗控制限應(yīng)用控制圖時，首先將非穩(wěn)態(tài)的過程調(diào)整到穩(wěn)態(tài)，用分析控制圖判斷是否達到穩(wěn)態(tài)。等過程調(diào)整到穩(wěn)態(tài)后，延長控制圖的控制線作為控制用控制圖。中位值極差圖 chartR圖接上頁測量方法必須保證始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果不精密 abc根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關(guān)系，分析每個階段的影響確定待控制的特性注： 應(yīng)在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) ）反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人次等。用管制圖選用 35X=（ X1+X2+…+Xn ） /?為子組內(nèi)的每個測量值。XX例如：平均值圖上 1個刻度代表 ，則在極差圖上圖上的點描好后及時用直線聯(lián)接，瀏覽各點是否和 R點在縱向是對應(yīng)的。注： 對于還沒有計算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明 “初始研究 ”字樣。UCLR=D4RLCLR=D3R16 LCLX）? 注 1： R9 分析極差圖上的數(shù)據(jù)點311控制限計算錯誤或描點時描錯 有一點位于控制限之下，說明存在下列情況的一種或多種測量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換） 有下列之現(xiàn)象表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢：7點在平均值一側(cè)；a輸出值的分布寬度增加，原因可能是無規(guī)律的（例如：設(shè)備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜樱┗蚴怯捎谶^程中的某要素變化（如使用新 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部：注 2： 標(biāo)注這些使人們作出決定的點，并從該點做一條參考線延伸明顯的非隨機圖形a的距離：大約 2/3的描點應(yīng)落在控制限的中間 1/3的區(qū)域內(nèi)，大約 1/3的點落在其外的 2/3的區(qū)域。很近之處（對于 25子組，如果超過 90%的點落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進行調(diào)查： 淆）。b由于出現(xiàn)特殊原因而從 R可用于重新計算均值的試驗控制限， X超出控制限的點： a1XLCLUCL控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。控制限計算錯或描點描錯d1UCLa始分析過程原因。在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn)