【正文】 ?當 ≦ Cpk≦ ,該過程基本滿足客戶要求。 3 C 7 過程控制解釋（同 P管制圖） 8 過程能力解釋 固定樣本容量為 n 的過程能力為其不合格數(shù)的平均值 c. 08815 50 單位不合格（缺陷）數(shù)的 u圖 1 u圖用來測量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組 內(nèi)每檢驗單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用 不良率 表示） . 2 數(shù)據(jù)的收集 各子組樣本容量彼此不必都相同，盡量使它的容量在其平均值的正負擔過重 25%以內(nèi)，可以簡化控制限的計算 . 3 記錄并描繪每個子組內(nèi)的單位產(chǎn)品不合格數(shù)（ u） u=c / n 式中 : C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量， n為子組中樣本的容量。 3 受檢驗的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個子組內(nèi)都有幾個不良品并在。 子組數(shù)量： 收集的時間足夠長 ， 使得可以找到所有可能影響 過程的變差源 。 注： s 圖的刻度尺寸應與相應的 X圖的相同。 08815 34 XMR圖 — 單值和移動極差圖 1 計算控制限 X=（ X1+X2+…+Xk ） / K R= (MR1+MR2+…+MRk)/ (K 1) UCLMR=D4R LCLMR=D3R UCLX=X+E2R LCLX=XE2R 08815 35 XMR圖 — 單值和移動極差圖 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 * * * * * E2 樣本容量小于 7時，沒有極差的控制下限。目的是確定甚至不使用控制圖時就能且應糾正的明顯問題。 確定待控制的特性 應考慮到： 顧客的需求 當前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關系 確定測量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設備或量具。普通原因表現(xiàn)為一個穩(wěn)系統(tǒng)的偶然原因。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。 08815 8 08815 9 七、 SPC控制圖定義 什么是控制圖 ? 對過程質量加以測定、記錄并進行控制管理的一種用統(tǒng)計方法設計的圖。 08815 5 四、 SPC的作用 從數(shù)據(jù)到圖形應用統(tǒng)計技術可以反饋生產(chǎn)或服務過程性質變化的信息。 08815 2 二、 SPC的產(chǎn)生 工業(yè)革命以后， 隨著生產(chǎn)力的進一步發(fā)展，大規(guī)模生產(chǎn)的形成， 如何控制大批量產(chǎn)品質量 成為一個突出問題，單純依靠事后檢驗的質量控制方法已不能適應當時經(jīng)濟發(fā)展的要求，必須改進質量管理方式。而非倚靠最后的品質各站點檢出潛伏的次品。 強調應用統(tǒng)計技術來保證預防原則的實現(xiàn)。 C. 留意制定之次品分析表，關心主要之次品并向主管反映次品之成因，協(xié)助有關人員減低主要次品的形成。 08815 11 名稱 解釋 中心線（ Central Line） 控制圖上的一條線，代表所給 數(shù)據(jù)平均值 。 過程能力 (Process Capability) 是指按標準偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離，用 Z來表示。 預測 時間 范圍 目標值線 如果存在變差的特殊 原因，隨著時間的推 預測 移，過程的輸出不 穩(wěn)定。 ? 當前的潛在問題區(qū)域：考慮現(xiàn)在的浪費或性能不好的證據(jù)（如廢品，返工，與目標不符等）以及存在風險的區(qū)域（如：對產(chǎn)品設計或服務，或過程中任意要素即將進行變化。 23 單值圖 （ X） 圖的刻度按下列最大者選?。? a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) 。 b 使用的子組樣本容量較大 ， 更有效的變差量度是合適的 c 由于容量大 ， 計算比較方便時 。 4 將每個子組的中位數(shù) ?X和極差 R填入數(shù)據(jù)表 . 5 控制限的計算 ? 08815 41 51 計算子組中位數(shù)的均值，并在圖上畫上這條線作為中位線， 將其記為 ?X ； 52 計算極差的平均值，記為 R； 53 計算極差和中位數(shù)的上下控制限 ： USLR=D4R USL X = X + A2 R LSLR=D3R LSL X = X A2 R 式中： D D4 和 A2 是隨樣本容量變化的常數(shù)，見下表： ? ? ? ? ? ? n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 * * * * * A2 08815 42 P管制圖 P圖是用來測量在一批檢驗項目中不合格品（缺陷）項目的百分數(shù)。 b 在控制圖的 “ 備注 ” 部分記錄過程的變化和可能影響過程的異常情況 。 4 檢驗樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線的長度等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質量性能的變化而不是外觀的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 必要時 ， 對超出控制限的點確定為特殊原因引起的 ， 必須對該點加以刪除 ， 重新修訂控制圖 ， 重新計算控制限 。 ?采這么好果子大容易了！樹又不高，不必用梯子！ 08815 61 十九、控制圖作圖應用的八步曲 收集數(shù)據(jù)、計算 X和 R值； 作原始控制圖； 作初始能力分析（ CPK、 PPK的計算）； 計算上、下限，作控制圖（空白）； 現(xiàn)場應用，取數(shù)描點； 動態(tài)監(jiān)控，報警分析； 制定糾正措施并實施； 將糾正措施文件化。 3 u / n 式中： n 為平均樣本容量。 計算上下控制限 UCLnp=np + 3 np(1p) LCLnp=np 3 np(1p) p 為過程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 選擇控制圖的坐標刻度 4 選擇控制圖的坐標刻度 一般不良品率為縱坐標 ， 子組別 （ 小時 /天 ） 作為橫坐標 ,縱坐標的刻度應從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍 。 c 刻度應與量具一致。控制限是由子組的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的