【正文】 ?當(dāng) ≦ Cpk≦ ,該過(guò)程基本滿(mǎn)足客戶(hù)要求。 3 C 7 過(guò)程控制解釋?zhuān)ㄍ?P管制圖） 8 過(guò)程能力解釋 固定樣本容量為 n 的過(guò)程能力為其不合格數(shù)的平均值 c. 08815 50 單位不合格（缺陷）數(shù)的 u圖 1 u圖用來(lái)測(cè)量具有不同的樣本（受檢材料的量不同）的子組 內(nèi)每檢驗(yàn)單位產(chǎn)品之內(nèi)的不合格數(shù)量（可以用 不良率 表示） . 2 數(shù)據(jù)的收集 各子組樣本容量彼此不必都相同，盡量使它的容量在其平均值的正負(fù)擔(dān)過(guò)重 25%以?xún)?nèi)，可以簡(jiǎn)化控制限的計(jì)算 . 3 記錄并描繪每個(gè)子組內(nèi)的單位產(chǎn)品不合格數(shù)（ u） u=c / n 式中 : C為發(fā)現(xiàn)的不合格數(shù)量， n為子組中樣本的容量。 3 受檢驗(yàn)的樣本的容量必須相同，樣本容量足夠大使每個(gè)子組內(nèi)都有幾個(gè)不良品并在。 子組數(shù)量： 收集的時(shí)間足夠長(zhǎng) ， 使得可以找到所有可能影響 過(guò)程的變差源 。 注： s 圖的刻度尺寸應(yīng)與相應(yīng)的 X圖的相同。 08815 34 XMR圖 — 單值和移動(dòng)極差圖 1 計(jì)算控制限 X=（ X1+X2+…+Xk ） / K R= (MR1+MR2+…+MRk)/ (K 1) UCLMR=D4R LCLMR=D3R UCLX=X+E2R LCLX=XE2R 08815 35 XMR圖 — 單值和移動(dòng)極差圖 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 * * * * * E2 樣本容量小于 7時(shí)，沒(méi)有極差的控制下限。目的是確定甚至不使用控制圖時(shí)就能且應(yīng)糾正的明顯問(wèn)題。 確定待控制的特性 應(yīng)考慮到： 顧客的需求 當(dāng)前及潛在的問(wèn)題區(qū)域 特性間的相互關(guān)系 確定測(cè)量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測(cè)的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設(shè)備或量具。普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)系統(tǒng)的偶然原因。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。 08815 8 08815 9 七、 SPC控制圖定義 什么是控制圖 ? 對(duì)過(guò)程質(zhì)量加以測(cè)定、記錄并進(jìn)行控制管理的一種用統(tǒng)計(jì)方法設(shè)計(jì)的圖。 08815 5 四、 SPC的作用 從數(shù)據(jù)到圖形應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)可以反饋生產(chǎn)或服務(wù)過(guò)程性質(zhì)變化的信息。 08815 2 二、 SPC的產(chǎn)生 工業(yè)革命以后， 隨著生產(chǎn)力的進(jìn)一步發(fā)展，大規(guī)模生產(chǎn)的形成， 如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量 成為一個(gè)突出問(wèn)題，單純依靠事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法已不能適應(yīng)當(dāng)時(shí)經(jīng)濟(jì)發(fā)展的要求，必須改進(jìn)質(zhì)量管理方式。而非倚靠最后的品質(zhì)各站點(diǎn)檢出潛伏的次品。 強(qiáng)調(diào)應(yīng)用統(tǒng)計(jì)技術(shù)來(lái)保證預(yù)防原則的實(shí)現(xiàn)。 C. 留意制定之次品分析表，關(guān)心主要之次品并向主管反映次品之成因，協(xié)助有關(guān)人員減低主要次品的形成。 08815 11 名稱(chēng) 解釋 中心線(xiàn)（ Central Line） 控制圖上的一條線(xiàn)，代表所給 數(shù)據(jù)平均值 。 過(guò)程能力 (Process Capability) 是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來(lái)描述的過(guò)程均值和規(guī)格界限的距離，用 Z來(lái)表示。 預(yù)測(cè) 時(shí)間 范圍 目標(biāo)值線(xiàn) 如果存在變差的特殊 原因，隨著時(shí)間的推 預(yù)測(cè) 移，過(guò)程的輸出不 穩(wěn)定。 ? 當(dāng)前的潛在問(wèn)題區(qū)域：考慮現(xiàn)在的浪費(fèi)或性能不好的證據(jù)（如廢品，返工，與目標(biāo)不符等）以及存在風(fēng)險(xiǎn)的區(qū)域（如：對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)或服務(wù)，或過(guò)程中任意要素即將進(jìn)行變化。 23 單值圖 （ X） 圖的刻度按下列最大者選取： a 產(chǎn)品規(guī)范容差加上允許的超出規(guī)范的讀數(shù) 。 b 使用的子組樣本容量較大 ， 更有效的變差量度是合適的 c 由于容量大 ， 計(jì)算比較方便時(shí) 。 4 將每個(gè)子組的中位數(shù) ?X和極差 R填入數(shù)據(jù)表 . 5 控制限的計(jì)算 ? 08815 41 51 計(jì)算子組中位數(shù)的均值，并在圖上畫(huà)上這條線(xiàn)作為中位線(xiàn)， 將其記為 ?X ； 52 計(jì)算極差的平均值，記為 R； 53 計(jì)算極差和中位數(shù)的上下控制限 ： USLR=D4R USL X = X + A2 R LSLR=D3R LSL X = X A2 R 式中： D D4 和 A2 是隨樣本容量變化的常數(shù)，見(jiàn)下表： ? ? ? ? ? ? n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 * * * * * A2 08815 42 P管制圖 P圖是用來(lái)測(cè)量在一批檢驗(yàn)項(xiàng)目中不合格品（缺陷）項(xiàng)目的百分?jǐn)?shù)。 b 在控制圖的 “ 備注 ” 部分記錄過(guò)程的變化和可能影響過(guò)程的異常情況 。 4 檢驗(yàn)樣本的容量（零件的數(shù)量，織物的面積，電線(xiàn)的長(zhǎng)度等）要求相同，這樣描繪的 C值將反映質(zhì)量性能的變化而不是外觀(guān)的變化，在數(shù)據(jù)表上記錄樣本容量。 必要時(shí) ， 對(duì)超出控制限的點(diǎn)確定為特殊原因引起的 ， 必須對(duì)該點(diǎn)加以刪除 ， 重新修訂控制圖 ， 重新計(jì)算控制限 。 ?采這么好果子大容易了！樹(shù)又不高，不必用梯子！ 08815 61 十九、控制圖作圖應(yīng)用的八步曲 收集數(shù)據(jù)、計(jì)算 X和 R值； 作原始控制圖； 作初始能力分析（ CPK、 PPK的計(jì)算）； 計(jì)算上、下限，作控制圖（空白）； 現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用，取數(shù)描點(diǎn)； 動(dòng)態(tài)監(jiān)控，報(bào)警分析； 制定糾正措施并實(shí)施； 將糾正措施文件化。 3 u / n 式中： n 為平均樣本容量。 計(jì)算上下控制限 UCLnp=np + 3 np(1p) LCLnp=np 3 np(1p) p 為過(guò)程不良品率 , n 為子組的樣本容量。 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 4 選擇控制圖的坐標(biāo)刻度 一般不良品率為縱坐標(biāo) ， 子組別 （ 小時(shí) /天 ） 作為橫坐標(biāo) ,縱坐標(biāo)的刻度應(yīng)從 0到初步研究數(shù)據(jù)讀讀數(shù)中最大的不合格率值的 2倍 。 c 刻度應(yīng)與量具一致。控制限是由子組的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的