顯微鏡的stm原理與afm基本原理介紹-免費閱讀
【正文】 激光檢測器可以實時分別測量并記錄形貌和橫向力數(shù)據(jù)。 由于輕敲模式能夠避免針尖粘附到樣品上，以及在掃描過程中對樣品幾乎沒有損壞。 非接觸模式 通常情況下，接觸模式都可以產(chǎn)生穩(wěn)定的、高分辨率的圖像。Mode)模式。Mode），是使用最廣泛的掃描方式。當(dāng)針尖和樣品表面的距離非常接近時，針尖尖端的原子與樣品表面的原子之間存在極微弱的作用力（1012~106N），此時，微懸臂就會發(fā)生微小的彈性形變。STM是繼高分辨透射電子顯微鏡，場離子顯微鏡之后，第三種在原子尺度觀察物質(zhì)表面結(jié)構(gòu)的顯微鏡，它的出現(xiàn)標志著納米技術(shù)研究的一個最重大的轉(zhuǎn)折，甚至可以標志著納米技術(shù)研究的正式起步，這是因為STM具有原子和納米尺度的分析和加工的能力。顯微鏡的STM原理與AFM基本原理介紹1982年，國際商業(yè)機器公司蘇黎世實驗室的G..Binnig和HeinrichRohrer及其同事們共同研制成功了世界上第一臺新型的表面分析儀器—掃描隧道顯微鏡(ScanningTunnelingMicroscope，簡稱STM)。使用STM，在物理學(xué)和化學(xué)領(lǐng)域，可用于研究原子之間的微小結(jié)合能，制造人造分子；在生物學(xué)領(lǐng)域，可用于研究生物細胞和染色體內(nèi)的單個蛋白質(zhì)和DNA分子的結(jié)構(gòu)，進行分子切割和組裝手術(shù)；在材料學(xué)領(lǐng)域，可以用于分析材料的晶格和原子結(jié)構(gòu)，考察晶體中原子尺度上的缺陷；在微電子領(lǐng)域，則可以用于加工小至原子尺度的新型量子器件。從上式可知，隧道電流與針尖樣品
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