顯微鏡的stm原理與afm基本原理介紹-wenkub.com
2024-08-30 03:50 本頁面
【正文】 為了區(qū)分這二者，通常LFM圖像和AFM圖像應(yīng)該同時獲得。一般來說，激光位置探測器所探測到的垂直方向的變化，反映的是樣品表面的形態(tài)，而在水平方向上所探測到的信號的變化，由于物質(zhì)表面材料特性的不同，其摩擦系數(shù)也不同，所以在掃描的過程中，導(dǎo)致微懸臂左右扭曲的程度也不同。在大氣環(huán)境中，當(dāng)針尖與樣品不接觸時，微懸臂以最大振幅自由振蕩；當(dāng)針尖與樣品表面接觸時，盡管壓電陶瓷片以同樣的能量激發(fā)微懸臂振蕩，但是空間阻礙作用使得微懸臂的振幅減小，反饋系統(tǒng)控制微懸臂的振幅恒定，針尖就跟隨樣品表面的起伏上下移動獲得形貌信息。同時，由于作用力是垂直的，表面材料受橫向摩擦力、壓縮力和剪切力的影響較小。 輕敲模式 這種模式雖然增加了顯微鏡的靈敏度，但當(dāng)針尖與樣品之間的距離較長時，分辨率要比接觸模式和輕敲模式都低，而且成像不穩(wěn)定，操作相對困難，通常不適用于在液體中成像，在生物中的應(yīng)用也比較少。如果為了保護樣品，在掃描過程中將樣品和針尖之間的作用力減弱的話，圖像可能會發(fā)生扭曲或得到偽像。在接觸模式中，針尖始終與樣品保持輕微接觸，以恒高或恒力的模式進行掃描。 AFM三種操作模式的比較點擊此處查看全部新聞圖片Mode)、側(cè)向力(LateralHeight這種工作模式被稱為“恒力”模式（Constant之間遵循虎克定律：F=k*x當(dāng)樣品表面起伏較大時，由于針尖離樣品表面非常近，采用恒高模式掃描容易造成針尖與樣品表面相撞，導(dǎo)致針尖與樣品表面的破壞。ST
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