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統(tǒng)計(jì)過程控制培訓(xùn)課件-全文預(yù)覽

2025-05-08 08:28 上一頁面

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【正文】 0)/6*=(3)計(jì)算CPK指數(shù) X平均值X接近TU,故臨界距離計(jì)算如下: Δ臨界距離=TU-X=310-=CPK=Δ臨界距離/3*σs =(3*)=。因此該指數(shù)對于作結(jié)論尤為重要。改進(jìn)過程:不斷研究過程,減少普通原因變差,提高質(zhì)量,降低成本。過程控制圖的目的不是追求“完美”,而是保持合理、經(jīng)濟(jì)的控制狀態(tài)。按以下順序查找原因:――有否記錄、計(jì)算和描點(diǎn)的錯(cuò)誤?――測量系統(tǒng)是否有問題?――人、機(jī)、料、法、環(huán)各輸入因素。均值圖示例極差圖示例(5) 分析極差圖和均值圖分別分析極差圖和均值圖,找出特殊原因變差數(shù)據(jù)。計(jì)算每組樣本的均值X和極差R。b) 控制用控制圖:經(jīng)過上述分析證實(shí)過程穩(wěn)定并能滿足質(zhì)量要求,此時(shí)的控制圖可以用于現(xiàn)場對日常的過程質(zhì)量進(jìn)行控制。單元不合格數(shù)U圖適用于與C圖相同的數(shù)據(jù),但不同時(shí)期的樣本容量不同時(shí),必須采用U圖。單值-移動(dòng)極差圖X-MR用單值代替均值,用MR(相鄰數(shù)值之差)代替極差。廣泛均值-標(biāo)準(zhǔn)差圖X-SS較R更準(zhǔn)確有效,尤其在大樣本容量時(shí)。l 對已達(dá)到統(tǒng)計(jì)受控的過程采取措施,不斷減少普通原因變差,以達(dá)到提高質(zhì)量,降低成本和提高生產(chǎn)率的改進(jìn)目標(biāo)。例:某電器廠生產(chǎn)小型變壓器,規(guī)定其初次級線圈間的擊穿電壓不得低于1000伏,隨機(jī)抽樣60個(gè)變壓器,試驗(yàn)結(jié)果計(jì)算平均擊穿電壓X=1460 伏,S=93,求CP?解:由題知TL=1000,X=1460,S=93CP=(1460-1000)/(3*93)=工序能力指數(shù)的評定標(biāo)準(zhǔn)CP值范圍 級別 指數(shù)評價(jià)CP≥ I 過高 CP≥ Ⅱ 充分 CP≥ Ⅲ 尚可CP≥ Ⅳ 不足 CP Ⅴ 嚴(yán)重不足根據(jù)CP值與K值求不合格品率P的數(shù)值表(%) K PCP*此表對有偏移情況的工序能力指數(shù)CPK也是同樣適用的。當(dāng)μ=M,即分布中心公差中心重合無偏移時(shí),K=0,CPK=CP,而當(dāng)μ=Tu或μ=TL時(shí),K=1 CPK=0表示工序能力由于偏移而嚴(yán)重不足,需要采取措施。b) 當(dāng)T=6σ時(shí),Cp=1,從表面上看,似乎這是滿足技術(shù)要求又很經(jīng)濟(jì)的情況,但由于生產(chǎn)總是波動(dòng)的,分布中心一有偏移,不合格品率就要增加,因此通常Cp值大于1。 兩種過程狀態(tài)僅存在普通原因變差* 分布穩(wěn)定的 過程是可預(yù)測的 過程是統(tǒng)計(jì)受控的 存在特殊原因變差 * 分布不穩(wěn)定的 過程是不可預(yù)測的 過
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