【正文】 于分析的每一個(gè)控制統(tǒng)計(jì)量描點(diǎn)的部分 通?？v坐標(biāo)表示控制統(tǒng)計(jì)量的值，橫坐標(biāo)表示時(shí)間的順序。 79 控制圖制作步驟 記錄每一個(gè)單值并每一個(gè)子組的編號。 數(shù)據(jù)一旦收集后就應(yīng)該進(jìn)行評估以識別出潛在的問題。由于它們是由不同的零件計(jì)算出來的，故這兩個(gè)均值不一定是相同的，但由于隨機(jī)性，也會(huì)對它們被期望的差別有一個(gè)限值。 統(tǒng)計(jì)過程控制研究中分兩個(gè)階段： ，以期讓過程穩(wěn)定。 82 控制圖制作步驟 ——建立控制限 確定控制圖的中心線和控制限 為有助于對所描點(diǎn)的控制統(tǒng)計(jì)量進(jìn)行圖形 分析，可以在圖上畫線以西安市估計(jì)的位 置（中心線）和控制統(tǒng)計(jì)量的控制限。 ? 首先分析變差的控制統(tǒng)計(jì)量。如上。 ? 明顯非隨機(jī)模式 87 定義不受控信號 ? 點(diǎn)超出控制限舉例 UCL CL LCL 異常 異常 88 定義不受控信號 ? 點(diǎn)超出控制限表明 ? 控制限發(fā)生計(jì)算錯(cuò)誤或描點(diǎn)錯(cuò)誤。 ? 分布的寬度已經(jīng)較小 ? 測量系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)生變化 ? 極差及均值 ? 極差受控，均值受控時(shí)，均值的變差與系統(tǒng)的普通原因引起大變差有關(guān)。 測量系統(tǒng)的變化（如新的檢驗(yàn)員或量具） ? 在極差均值下方的鏈或下降的鏈，表明： 輸出值的分布寬度減小，這通常是一種好的狀況，應(yīng)研究推廣應(yīng)用和過程改進(jìn)。 UCL CL LCL 94 定義不受控信號 ? 如果明顯大于 2/3的點(diǎn)落于中間 1/3的區(qū)域。則需調(diào)查： 控制限或描點(diǎn)已計(jì)算錯(cuò)誤或描錯(cuò)。 若過程受控，可由 /d2或 /c2來估計(jì)。 可由樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 S來估計(jì)。當(dāng)兩者的 6 間存在較大差別時(shí)表示有特殊原因存在。 ? Cp是不受過程位置的影響，這個(gè)指數(shù)只針對雙邊公差而計(jì)算的。反映了過程是否能夠很好地滿足變化要求 .不受過程位置影響 . SLSLUSLLSLUSLPpp 33?????107 可預(yù)測過程的過程測量 —— 雙邊公差 ? Ppk 性能指數(shù)。該指數(shù)對于單邊公差沒有意義。單邊公差， Cpk可以小于、等于或大于 Cp。它把過程性能與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。 ? Cpk還可以用來確定一個(gè)過程是否有能力滿足顧客的需要。 強(qiáng)烈推薦用相同數(shù)據(jù)集，計(jì)算四個(gè)指數(shù)（ Cp,Cpk,Pp,Ppk）。這種分析的例子包括控制圖、過程分布圖及損失函數(shù)圖。 Sp 66 ??115 建議使用的過程測量 ? 注意： 過程測量的目標(biāo)應(yīng)是使“過程的聲音”滿足“顧客的聲音”。kσ 在內(nèi)的概率 在外的概率 μ177。2σ % % μ177。 ? 連續(xù)的 17點(diǎn)中至少有 14點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) 。3σ % % 117 % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 正態(tài)分布概率 118 控制圖的觀察分析 ? 從概率的計(jì)算中 , 得出結(jié)論 : ? 點(diǎn)出在中心線一側(cè)的概率 A1=1/2 ? 點(diǎn)連續(xù)出現(xiàn)在中心線一側(cè)的概率 A1=(1/2)7 = 1/128 (%)即在 128次中才發(fā)生一次 , 如果是在穩(wěn)定生產(chǎn)中處于控制狀態(tài)下 , 這種可能性是極小的 . 因此 , 可以認(rèn)為這時(shí)生產(chǎn)狀態(tài)出現(xiàn)異常 . ? 偏離 : 較多的點(diǎn)間斷地出現(xiàn)在中心線的一側(cè)時(shí)偏離 . 如有以下情況則可判斷為異常狀態(tài) . ? 連續(xù)的 11點(diǎn)中至少有 10點(diǎn)出現(xiàn)在一側(cè)時(shí) 。1σ % % μ177。從來就不適合將幾個(gè)過程的能力或性能的結(jié)果組合或平均成一個(gè)指數(shù)。通常，這個(gè)差距的大小表示特殊原因?qū)^程的影響程度。如較低的 Cp,Cpk可能顯示出子組內(nèi)的變差有問題，而較低的 Pp,Ppk可能顯示出總變差有問題。性能指數(shù) Ppk表示過程性能是否實(shí)際上滿足了用戶的需求。但這個(gè)數(shù)值與 Ppk沒有處在雙邊公差情況下的那種相同的關(guān)系。等于 CPU或 CPL。 110 可預(yù)測過程的過程測量 —— 單邊公差 ? Cpk 這是能力指數(shù)。 雙邊公差， SXUSLXUSLPPUp 33????? SLSLXLSLXPPLP 33?????108 可預(yù)測過程的過程測量 —— 雙邊公差 109 可預(yù)測過程的過程測量 —— 單邊公差 ? Cp是能力指數(shù)。它考慮了過程的位置和能力。它把過程能力與由公差表示的最大可允許的變差進(jìn)行比較。 ? 過程性能 過程總變差的 6σ范圍，式中 通常用樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 S來估計(jì)。 102 過程術(shù)語的定義 ? 總過程變差 ( total process variation) 由子組內(nèi)變差和子組之間的變差共同造成的變差。 96 定義不受控信號 ? 特殊原因識別準(zhǔn)則 97 各類控制圖計(jì)算公式 見 SPC第二版資料 98 第三章 認(rèn)識計(jì)量型數(shù)據(jù)的過程能力和過程特性 99 過程術(shù)語的定義 ? 變差 (variation) 過程的單個(gè)輸出之間所不可避免的差異。 過程或取樣方法出現(xiàn)分層：每個(gè)子組系統(tǒng)地包含了來自不同過程均值的兩個(gè)或多個(gè)過程的測量值（如，零件來自幾個(gè)型芯軸，抽樣時(shí)，每個(gè)型芯軸抽取一件）。 92 定義不受控信號 ? 與過程均值相關(guān)的鏈通常表明： 過程的均值已變化 ——并可能仍然在變化。 90 定義不受控信號 ? 控制限內(nèi)的趨勢或模式 鏈 ——下列情況表明過程變化或趨勢已經(jīng)發(fā)生： 連續(xù) 7點(diǎn)位于平均值的一側(cè)。 ? 測量系統(tǒng)已經(jīng)發(fā)生變化（如不同的測量者或量具） ? 測量系統(tǒng)缺乏適當(dāng)?shù)姆直媛省? 一個(gè)點(diǎn)超出任一控制限通常是過程在那一點(diǎn)或作為一種趨勢的一部分已發(fā)生變化。 84 控制圖制作步驟 ——統(tǒng)計(jì)受控的解釋 ? 分析極差圖上的點(diǎn) ? 識別并標(biāo)識特殊原因（極差圖） ? 重新計(jì)算控限限（極差圖） ? 識別和處理特殊原因（均值圖） ? 重新計(jì)算控限限（均值圖） 85 控制圖制作步驟 ? 為持續(xù)控制延長控制限 子組樣本容量發(fā)生變化，將對用于極差圖和均值圖的預(yù)期的極差的均值和控制限產(chǎn)生影響。 ? 分析控制圖的目的在于識別過程變差或過程均值沒有處于恒定的水平的證據(jù) ——即其中之一或兩者均不統(tǒng)計(jì)受控 ——進(jìn)而采取措施。實(shí)時(shí)消除特殊原因。 81 控制圖制作步驟 ——建立控制限 控制圖技術(shù)基礎(chǔ) 如果過程是穩(wěn)定的（只存在普通原因的變差），則對于任何子組樣本，本計(jì)算的統(tǒng)計(jì)控制量落在控制限內(nèi)的概率很高。他們定義了一個(gè)只存在變差的普通原因時(shí)，控制統(tǒng)計(jì)量能夠隨機(jī)落入的一個(gè)數(shù)值范圍。如均值、中位數(shù)、極差、標(biāo)準(zhǔn)差等。應(yīng)該保持刻度足夠?qū)?，以確保包含控制統(tǒng)計(jì)量的所有變差。即總體中的每一個(gè)樣本點(diǎn)（合理子組）都有相同的機(jī)會(huì)（概率）被選到。 應(yīng)該在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間足夠頻繁地收集子組， 才能反映潛在的變化。 75 控制圖制作步驟 過程變化相對小，子組容量相對較大?！昂侠碜咏M”指的是選擇樣本以使得在一個(gè)子組內(nèi)出現(xiàn)特殊原因變差的機(jī)會(huì)最小，而在子組間出現(xiàn)特殊原因變差的機(jī)會(huì)最大。 ? 確保抽樣方案對于探測期望的特殊原因是適合的。 ? 先期的信息收集盡可能完善。 66 控制圖的要素 F、事件日志 ? 收集額外的支持信息：變差的潛在來源及任何措施。 65 控制圖的要素 D、子組順序 /時(shí)間線 保持?jǐn)?shù)據(jù)被收集時(shí)的順序，顯示“何時(shí)”發(fā)生了特殊原因及特殊原因是否是時(shí)間導(dǎo)向的。 ? R是每個(gè)子組的極差（最大值 最小值） ——對過