spc的基礎(chǔ)知識與數(shù)據(jù)整理(文件)
【正文】 計方法。 —— 統(tǒng)計方法：分類 SS 統(tǒng)計推斷： ? 通過對數(shù)據(jù)的分析和統(tǒng)計運(yùn)算所得到的 特性值 ， 對事物的狀態(tài)和發(fā)展趨勢進(jìn)行 預(yù)測和推斷 。 ?推斷性：通過研究事物的一部分 ， 來推斷事物總體的狀況 。 ?降低檢驗成本 。 ? 任何過程、階段 —— 包括需求調(diào)研、產(chǎn)品設(shè)計，制 造控制、顧客滿意度評價等。 —— 關(guān)系企業(yè)生存、發(fā)展。 —— 統(tǒng)計方法應(yīng)用條件 SS 結(jié)論： ? 統(tǒng)計方法所表達(dá)的觀點(diǎn) ， 以及統(tǒng)計方法的應(yīng)用 ，深刻影響了對全面質(zhì)量管理的整個領(lǐng)域 。 反映事物或產(chǎn)品質(zhì)量特性和狀態(tài)的數(shù)字。 ?質(zhì)量特性：產(chǎn)品、過程或體系與要求有關(guān)的固有特性。 —— 數(shù)據(jù)：產(chǎn)品特性值 SS 產(chǎn)品特性值分類： ? 按種類分類 ? 按屬性分類 ? 按定性、定量分類 —— 數(shù)據(jù)：產(chǎn)品特性值分類 SS 按種類分類： ?理化特性：機(jī)械，理化 ， 電，光，聲等； ?感官特性：嗅覺，聽覺，視覺，觸覺等； ?行為特性：禮貌，誠實(shí)，正直等； ?時間特性：準(zhǔn)時，可靠性，可用性等； ?功能特性：制冷，制熱，切割，粉碎等； —— 數(shù)據(jù)：產(chǎn)品特性值分類 —— 尚有人體工效、經(jīng)濟(jì)、社會、心理等特性。 —— 數(shù)據(jù)：產(chǎn)品特性值分類 SS 按定量、定性分類： ?定量數(shù)據(jù)：定量可測 —— 計量型數(shù)據(jù)。過程因素是動態(tài)、 變化的。 ?容 差：允許偏離的范圍。 SPC SS 統(tǒng)計特性值 —— 數(shù)據(jù)：統(tǒng)計特性值 SS —— 計量值統(tǒng)計量的計算（能連續(xù)測量的統(tǒng)計量） 反映質(zhì)量集中程度 均值： X = ? X I / n 中位數(shù)： 按大小先排隊 后取中 n為奇數(shù)時，直接取中。 ?排列圖 —— 把握關(guān)鍵的少數(shù)。 特點(diǎn)：過程中存在許多波動源，每個波動源對質(zhì)量特性 X的影響都是很小的，通常 X服從正態(tài)分布，且其分布不隨時間的變化而改變。 SPC 過程控制 （ in contral） —— 概述 SS 過程不處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，也稱為失控狀態(tài)。 SPC —— 概述 SS SPC 不可預(yù)測 過程失控 （ out of contral） 當(dāng)異常波動出現(xiàn)時，過程輸出的分布是隨時間而變化的，不穩(wěn)定的，從而是不可預(yù)測的。 波動在公差范圍內(nèi)是允許的，不需減小波動 波動超過公差允許的范圍，要設(shè)法減小波動 【有時需要對整個生產(chǎn)系統(tǒng)作改造】 ——采取系統(tǒng)措施 SPC SS SPC 受 控 （正常波動源減弱 ） 上規(guī)格限 下規(guī)格限 受 控 （正常波動源過大 ） x SS 第二節(jié) 常規(guī)控制圖分析 控制圖是一個簡單的過程控制系統(tǒng)。假如一個統(tǒng)計量 T (x1,x2,……x n)服從正態(tài)分布或近似正態(tài)分布，即 T~N (?T， ?2) T 其中 ?T是 T的均值， ?T是 T的標(biāo)準(zhǔn)差，根據(jù) 3?原理有 P (?T3?T T ?T+ 3?T) = SPC —— 控制圖的原理 SS 控制上限 (記為 UCL) 為 ?T+ 3?T 控制下限 (記為 LCL)為 ?T 3?T 控制中心線 (記為 CT)為 ?T SPC —— 控制圖的原理 SS 構(gòu)造 將這三條水平線畫在一張坐標(biāo)紙上，其橫軸為時間或樣本序號，縱軸為 T的觀察值這就形成了一張控制圖。 UCL CL LCL A上 B上 C B下 A下 —— 控制圖的原理 SS SPC UCL CL LCL 序號 1 2 6 3 4 5 X 圖 控制圖的示意圖 X —— 控制圖的原理 SS SPC 實(shí)際中 ?T 與 ?T 常是未知的，需收集一定數(shù)量的樣本作出估計。 兩張圖一起用，稱為均值 SPC SS SPC 控制線如下： CL X S UCL X + A3S B4S LCL X A3S B3S R圖 X 圖 適用樣本容量 n 10 = = = SS 單值 移動極差控制圖 (xRs圖 ) 在一些場合取一個子組不可能或不實(shí)際 : ? 測單個值需要很長時間 ? 用破壞性試驗方法獲得測量值 ? 任一時刻質(zhì)量相對是均勻的 ? 有時一次僅能獲得一個觀察值，如 原材料的性能、儀表讀數(shù)等 SPC SS SPC 控制線如下： CL X RS UCL X + E2RS D4RS LCL X E2RS D3RS 其中 E2=3/d2 X 圖 RS 圖 SS 中位數(shù) 極差控制圖 (XR圖 ) 中位數(shù)控制圖主要用于判斷生產(chǎn)過程的均值是否處于或保持在所要求的統(tǒng)計控制狀態(tài)。 常用的控制圖是 : 不合格品率控制圖 (p圖 ) 不合格品數(shù)控制圖 (np圖 ) 它基于二項分布，僅有一個參數(shù)。 SPC SS (二 )控制圖的兩種錯誤 過程實(shí)際上沒有失控而虛報失控，這類錯誤發(fā)生的概率記為 ? 。 SPC SS 常見的異常情況與模式有如下八種 14點(diǎn)交替上升下降 A上 或 A下 區(qū) C區(qū)之外 15點(diǎn)在中心線附近的 c區(qū)內(nèi) 8點(diǎn)在中心線兩側(cè)而無一點(diǎn)在 C區(qū) SPC SS (五 )合理子組原則 “組內(nèi)差異只由偶因造成，組間差異主 要由異因造成”。 SPC SS ? R(或 s)圖保持在統(tǒng)計控制狀態(tài) ——偶然波動。 ?再進(jìn)一步考察均值的受控狀態(tài)。 SPC SS R圖，將各樣本點(diǎn)與控制限進(jìn)行比較， 檢查數(shù)據(jù)點(diǎn)有無失控或異常模式。 R圖處于統(tǒng)計控制狀態(tài)時，認(rèn)為過程 的波動是穩(wěn)定的。 SPC SS 采用常規(guī)控制圖應(yīng)該考慮的問題 （ 1） 控制圖用于何處 ? （ 2） 如何選擇控制對象
環(huán)評公示相關(guān)推薦
鄂ICP備17016276號-1