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smt控制策略(全)(文件)

2025-03-02 12:44 上一頁面

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【正文】 u 貼片質(zhì)量的監(jiān)控u 特征缺陷的識別及分析二、元件 貼 片關(guān) 鍵 控制點(diǎn):SMT貼裝技術(shù)控制策略 一些外部的物體會被吸入。)u如果某一個被堵的吸嘴導(dǎo)致了吸取不良,用如下圖所示的小鉆頭插入并左右轉(zhuǎn)動,清除異物 .三、元件 貼 片 —設(shè)備 的保養(yǎng)及 維護(hù) (包括 Nozzle, Feeder)SMT貼裝技術(shù)控制策略 )216。如果異物難以清除,更換反光面。檢查拋料盒并清除拋料。)u 廢料箱料帶被切斷并通過管子吸到廢料帶箱中。 當(dāng)料帶被切斷后,將通過真空管道吸入廢料箱。216。3IPC610D。216。 漏貼的元器件不允許手工補(bǔ)貼到線路板上。 雜質(zhì)和散落的元器件必須用吸錫器從印刷線路板上清除。必須弄清缺陷的原因,并采取糾正措施。n 質(zhì)量監(jiān)控 216。part, PD程序錯誤 ?修改程序?2。板子的極性標(biāo)識錯誤 ?檢查裝配圖五、元件 貼 片 —特征缺陷的 識別 及分析SMT貼裝技術(shù)控制策略 元件在 Feeder中的 混料 ?換料?4。程序錯誤 ?修改程序?3。n元件錯位n元件損壞?機(jī)器 /工藝方面?可能原因 ?改進(jìn)措施?1。機(jī)器精度不夠 ?換機(jī)器?1。 PCB彎曲 ?篩選 PCB板, 回流焊控制策略一、工藝概述二、溫度對焊接的影響三、控制方法回流 焊 就是通過大量加熱,使錫膏受熱融化從而讓表面貼裝元器件和 PCB焊盤通過焊錫膏合金可靠地結(jié)合在一起的制程。回流控制策略 爐溫曲線:按照溫度 時間的變化規(guī)律,并結(jié)合焊料的變化階段,可以將爐溫曲線分解為:預(yù)熱區(qū)、保溫區(qū)、熔融區(qū)、冷卻區(qū)第四部分 因?yàn)樯郎剡^快可能導(dǎo)致 PCB或零件因熱應(yīng)力損壞,還可能使稀釋劑急速的揮發(fā)造成四濺。保溫區(qū):保溫的目的在保證 PCB上的各部位到達(dá)尖峰融錫區(qū)前的溫度。而保溫區(qū)的溫度應(yīng)按照 PCB設(shè)計(jì)的復(fù)雜性及回焊爐的熱傳導(dǎo)性能而定。熔融區(qū):溫度曲線的峰值溫度是使 PCB高于錫膏熔化的溫度,峰值溫度的選擇為溫度曲線中的核心過程。錫膏熔化后的黏滯度和表面張力隨溫度升高而降低,可使?jié)櫇裥Ч隹?。冷卻速率慢會使較多基材物質(zhì)熔入錫膏中,產(chǎn)生粗糙或空焊點(diǎn)。關(guān)鍵控制點(diǎn): 冷卻速率第四部分 回流焊控制策略二、爐溫 對焊 接的影響:對爐溫的監(jiān)控體現(xiàn)在設(shè)備的參數(shù)控制、爐溫曲線的采樣、評判。三、控制方法:第四部分 u 測溫點(diǎn)要盡量均勻分布u 測溫點(diǎn)的布置要考慮關(guān)鍵元器件對焊接溫度的特殊要求(如 IC等精密元件)u 對于雙面板,需要考慮在另一面布置足夠的測溫點(diǎn),或單獨(dú)準(zhǔn)備另一塊測溫板u 測溫板必須定期進(jìn)行校驗(yàn)第四部分 回流焊控制策略Thank You!第四部分 AOI設(shè)備全稱自動光學(xué)檢測 (AutomatedAOI控制策略 第五部分 第五部分 AOI控制策略 三、 AOI設(shè)備過 程控制關(guān)注點(diǎn):確認(rèn) AOI設(shè)備是正常運(yùn)行狀態(tài),并經(jīng)過定期保養(yǎng)的,設(shè)備鏡頭是經(jīng)過校準(zhǔn)的 :? 一般通過日保養(yǎng),月保養(yǎng),年保養(yǎng)進(jìn)行確認(rèn);? 日保養(yǎng)的一般工作是設(shè)備清潔及開停機(jī)操作; 三、 AOI設(shè)備過 程控制關(guān)注點(diǎn):在設(shè)備自動判別缺陷后需要進(jìn)行人工目檢 :? 設(shè)置上的焊接缺陷是否能夠被 AOI設(shè)備識別出來;人工目檢是從兩個方面進(jìn)行考量的:? 第一個方面是判斷產(chǎn)品? 另一個方面是確認(rèn)設(shè)備識別的焊接缺陷是否真的是焊接缺陷,排除誤判;? 焊接缺陷的判斷依據(jù)是 IPC610標(biāo)準(zhǔn),此標(biāo)準(zhǔn)最新的一版是IPC610E;? 人工目檢是需要 100%進(jìn)行的;? 產(chǎn)品如有焊接缺陷需要記錄在一般稱之為 “ 產(chǎn)品缺陷記錄卡” 的文件上,并在缺陷位置貼上標(biāo)識。AOI控制策略 一、 ICT工藝概述三、 ICT測試盲點(diǎn) 四、 ICT五、 ICT六、評價(jià) ICT七、 ICT八、 ICT九、 ICT針床式在線測試儀優(yōu)點(diǎn)是測試速度快,適合于單一品種民用型家電線路板及大規(guī)模生產(chǎn)的測試,而且主機(jī)價(jià)格較便宜。一、工 藝 概述: Functional—Circuit—Tester (FCT)功能測試ICT能夠有效地查找在 SMT組裝過程中發(fā)生的各種缺陷和故障,但是它不能夠評估整個線路板所組成的系統(tǒng)在時鐘速度時的性能。這種方法簡單、投資少,但不能自動診斷故障。Okano(日本)、系統(tǒng)(臺灣)、JET(捷智)、 Tr(德泰 )、 SRC星河、安碩( ANSO)、 Concord、 RohdeTestICT控制要求 layout出來的測試點(diǎn)來檢測: PCBA的線路開路,短路電阻測試(歐姆定律 可測試出 IC保護(hù)二極體是否完好,被測試 IC是否極反,移位。IC空焊測試 TEST系統(tǒng)由測試點(diǎn)送一個 200mV的 做選擇和放大信號的工作,最后接到系統(tǒng)的 TestJet 電解電容三端測試測量電容外殼對電容正極和負(fù)極阻抗不同。當(dāng)大電阻與大電容并聯(lián)時,大電阻無法被準(zhǔn)確測量當(dāng)小電感同二極管并聯(lián)時,二極管無法準(zhǔn)確測量對于性能良好的 ICT,且針床制作及保養(yǎng)良好的條件下, ICT的測試容許誤差的上下限可以設(shè)定為:精密電阻( 1%的標(biāo)稱誤差)設(shè)為 3%至 5%;一般電阻( 5%的標(biāo)稱誤差)設(shè)為 7%至 10%;精密電容( 5%的標(biāo)稱誤差)設(shè)為 10%15%;一般電容( 20%的標(biāo)稱誤差)設(shè)為 25%30%;電感可在標(biāo)稱誤差的基礎(chǔ)上再加 3%至 10%;二極管一般設(shè)定為 30%50%;三極管的飽和壓降一般只須比較上限,實(shí)際上由標(biāo)準(zhǔn)值決定,上限誤差設(shè)為 1%即可。另外,在進(jìn)行二極管測試時,不管是真正的二極管,還是三極管的 BE及 BC結(jié),或是 IC的保護(hù)二極管,以及其它有源器件可以使用單向?qū)щ娞匦匀蓽y器件的好壞及方向是否放反的,我們建議都使用正反向雙重測試,雖然增加了一個步測試步,但能保證測試是真測。第六部分 天板:固定于 ICT機(jī)臺氣缸上壓合治具和被測試 PCBA。感應(yīng)板要小于零件本體表面面積 ,但不能小于零件本體的 2/,以測量值最大為最佳 ICT的測試內(nèi)容需覆蓋 85%以上的電路。載板是否對零件引腳及 PCBA上突起部分銑深度,寬度是否足夠,保證測試時不至于對 PCBA零件造成可能的損傷。第六部分 盲點(diǎn)。、 PCB上測試點(diǎn) /裸銅板 /有機(jī)可焊保護(hù)劑 /助焊劑 /label/過穿孔綠油未打開 /吃錫不良 、壓床行程不夠。第六部分 、所有零件的標(biāo)稱數(shù)值與實(shí)際是否一致:對于有并聯(lián)的零件做好相應(yīng)標(biāo)識說明,便于對程序的讀解3八、 ICT軟 件程序 驗(yàn) 收 審 核 標(biāo) 準(zhǔn):Thank You!第六部分 波峰焊控制要求一、工藝概述第七部分 波峰焊控制要求 若波峰焊過程中經(jīng)常在 PCB板上留有濺落的錫渣,則可以考慮在治具上增加防護(hù)罩。波峰焊控制要求 當(dāng)助焊劑的涂布量過大時,會使 PCB焊后殘留物過多,影響外觀,甚至出現(xiàn)吸潮、腐蝕線路板等問題。二、 過 程控制要求:2采用這種方法,還可以通過噴霧前后稱重,計(jì)算重量變化以量化噴霧量,作為評判依據(jù)的參考。預(yù)熱:預(yù)熱的作用主要有u 使助焊劑緩慢揮發(fā)預(yù)熱不足,可能會導(dǎo)致助焊劑中的液體溶劑在到達(dá)波峰時劇烈汽化造成焊錫飛濺,產(chǎn)生錫渣;而預(yù)熱過度,會使助焊劑的活性成分過早揮發(fā),失去潤濕作用,導(dǎo)致焊接時造成橋接或拉尖。波峰焊控制要求 在進(jìn)入?yún)^(qū)與脫離區(qū)之間,電路板與焊錫直接接觸。第七部分 u 傳送速度脫離區(qū)的錫波要盡可能平穩(wěn),因此傳送帶速度不宜過高。~7176。波峰的高度會因焊接工作時間的推移而有一些變化,應(yīng)在焊接過程中進(jìn)行適當(dāng)?shù)男拚?。二?過 程控制要求:焊接:u 焊料波峰焊接中, 第七部分 IOFANDPUSHESITSOBSTACLES.BYFAITHREGARDLESSTOENTHUSIASMONEA二、 過 程控制要求:附:三種檢測方式的功能比較檢測方法 檢測能力 檢測強(qiáng)項(xiàng) 臨界檢測 檢測弱項(xiàng) ICTInCircuit Testing在線測試 開路、橋接元器件缺陷元器件參數(shù) 焊料不足焊接裂縫元件錯誤 引腳變形氣孔冷焊位置偏移 AOIAutomated OpticalInspection自動光學(xué)檢測 引腳變形位置偏移橋接元件缺損 開路元件數(shù)值(型號) 焊料不足冷焊遮蔽焊點(diǎn)氣孔XRayLaminography分層 X射線照相技術(shù) 遮蔽焊點(diǎn)橋接開路元件缺損焊料不足氣孔 極性冷焊助焊劑殘留焊點(diǎn)裂紋元器件缺陷元件參數(shù) ZhuHai FUROO Trading Co., LTD.謝謝觀看 /歡迎下載BY錫鉛焊料在高溫下( 250℃ )不斷氧化,使錫鍋中錫 鉛焊料含錫量不斷下降,偏離共晶點(diǎn),導(dǎo)致流動性差,出現(xiàn)連焊、虛焊、焊點(diǎn)強(qiáng)度不夠等質(zhì)量問題。第七部分 u 波峰高度波峰高度是指波峰焊接中 PCB吃錫高度,通??刂圃?PCB板厚度的 1/2~2/3。當(dāng)傾角太小時,較易出現(xiàn)橋接;而傾角過大,雖然有利于橋接的消除,但焊點(diǎn)吃錫量太小,容易產(chǎn)生虛焊。二、 過 程控制要求:焊接:焊接過程中,影響焊接質(zhì)量的因素很多,需要關(guān)注的參數(shù)包括焊接溫度、傳送速度、軌道角度、波峰高度等等。③ 脫離區(qū) PCB板以一定的角度和深度開始與波峰接觸。預(yù)熱過程控制得好,有助于防止虛焊、拉尖和橋接,減小焊料波峰對基板的熱沖擊,有效地解決焊接過程中 PCB板翹曲、分層、變形問題。波峰焊工藝 這些參數(shù)必須體現(xiàn)在首檢、點(diǎn)檢等項(xiàng)目中。第七部分 涂助焊劑:助焊劑的作用有以下幾點(diǎn)u 清潔待焊表面可能存在的氧化層u 防止金屬表面的再次氧化u 降低液態(tài)焊料的表面張力,提高擴(kuò)散能力現(xiàn)一般采用噴霧式系統(tǒng)進(jìn)行助焊劑噴涂,過程中需要重點(diǎn)管控的是 涂布量 和 均勻度, 即要求均勻涂布,且涂布的助焊劑的量要求適中。波峰焊治具 安裝治具:波峰焊接對 PCB板的平整度要求很高,而車用電器元件的 PCB板厚度一般只有 ,對其翹曲度的要求本身就很高,而在波峰焊過程中就更應(yīng)注意控制熱變形的程度。一、工 藝 概述:波峰焊過程,主要可以分為安裝治具、涂助焊劑、預(yù)熱、焊接、冷卻這幾個階段。第七部分 九、 ICT測試 中的常 見誤 判情況:1 ICT程序設(shè)置參數(shù)不合理。、 PCB定位不準(zhǔn),探針與 PCB測試點(diǎn)接觸不良,探針不良(如針頭鈍化、老化、阻抗過高……) 六、 評 價(jià) ICT治具參數(shù)要求:七、 ICT治具 驗(yàn) 收 審 核 標(biāo) 準(zhǔn): 測試針的選擇和分布是否合理 可測試零件數(shù) /總零件個數(shù) ≥85%外型尺寸是否和要求一致,即長,寬,高(行程)。ICT控制策略 探針的使用規(guī)定的型號與廠商;上下載板必須用 ESD的電木板材質(zhì)( ESD=107~109Ω針頭是鍍金的。如果做不到,則應(yīng)將該器件列入不可測元件表,提醒工程人員安排進(jìn)行目檢。因?yàn)?0即表示不做比較判定(不必?fù)?dān)心短路問題,因?yàn)槿绻龢O管短路,在開短測試時就已被測出),而如果三極管工作于放大狀態(tài),我們建議在驅(qū)動電流欄上設(shè)定其設(shè)計(jì)的靜態(tài)電流值(因?yàn)榉糯蟊稊?shù)受工作電流影響),然后測其放大倍數(shù),由于不同的電路對三極管的放大倍數(shù)的離散性要求不同,因此,放大倍數(shù)的上下限可設(shè)范圍很大。ICT的測量總誤差由以下三項(xiàng)構(gòu)成:機(jī)器本身的測量誤差;通道及接觸誤差;被測對象的誤差。ICT控制策略二、 ICT測試 的內(nèi)容:當(dāng)小電容與大電容并聯(lián)時,小電容無法準(zhǔn)確測量。如果 IC的接腳有開路情況系統(tǒng)會因偵測不到信號而得知其為開路。conditioningframe與感測板之間的電容耦合 (Coupling)到感測板上再經(jīng)過架在感測板上的放大器接到 64測試原理:利用放置在治具上模的感測板 (SensorICT控制策略 Lx=Vs/2πfIx 將電感作為跳線測量二極管,三極管測試A、利用二極管正向?qū)▔航担韫芗s ,鍺管約 ,反向截止電壓無窮大特性進(jìn)行測試B、對于穩(wěn)壓二極管可以測試其正向?qū)?PN結(jié)壓降,同時可以測試其反向穩(wěn)壓壓降C、把三極管兩個 PN結(jié)作為兩個二極管進(jìn)行測量 IC保護(hù)二極體測試原理:利用 IC各引腳對 IC地腳或電源腳存在的保護(hù)二極體對 IC得: Cx=Ix/2πfVsTest不同品牌 ICT的測試原理相同或相似。Schwar
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