【正文】 。? 最差情形，可以 允許過程 中心， 偏差 177。通過 Cp、 Cpk值計算不良率? 當質(zhì)量特性的分布呈正態(tài)分布時，一定的過程能力指數(shù)與一定的不良率相對應(yīng)。c. 全檢 ,挑出不合格品 。b. 正常檢驗；? 三級a. 分析分散度大的原因 ,制定改進措施 。解：過程能力等級? 過程能力指數(shù) Cpk值 評價標準一般原則Cpk在不同的等級時，有什么樣的管理措施？管理措施? 問題的答案 :? 特級a. 簡化檢驗工作 ,減少樣本量或抽樣頻率 。過程能力指數(shù)小結(jié)一、術(shù)語簡介：T： 技術(shù)規(guī)范的公差幅度， T=USLLSL；B： 過程能力； 其中： B=6σTa： 技術(shù)規(guī)范的目標值；M： 規(guī)格中心； ：分布中心。指 數(shù) 分 類指 數(shù) 分 類Cp,Cpk,CpmPp,Ppk,Ppm短期過程能力指數(shù)長期過程能力指數(shù)Cp,Cpk與 Pp,Ppk的區(qū)別? Cp指數(shù) =? Cp（ Capability of process） 過程能力指數(shù)? Cp:“我們能做得多好 ”? Cpk:“我們真正能做得多好 ”規(guī)格寬度工序?qū)挾菴p,Cpk與 Pp,Ppk的區(qū)別? Pp過程性能指數(shù)? Pp： “我們實際做到多好 ”? Ppk修正的過程性能指數(shù)? Ppk： “我們實際真正做到多好 ”指數(shù)分類一、過程能力指數(shù) (Process Capability Index) Cp： 分布中心 無偏離 規(guī)格中心時衡量 過程能力的指數(shù)； Cpk: 分布中心 偏離 規(guī)格中心時衡量 過程能力的指數(shù)； Cpm： 目標值與規(guī)格中心 不一致 時衡量 過程能力的指數(shù)； Cpu： 上單側(cè) 過程能力指數(shù)； Cpl： 下單側(cè) 過程能力指數(shù)。3 σ內(nèi)，包含了 %的數(shù)據(jù) ,接近于 1,因此 ,以 177。（ 3）有多個樣本點連續(xù)出現(xiàn)在中心線一側(cè) * 連續(xù) 7個點或 7點以上出現(xiàn)在中心線一側(cè)； * 連續(xù) 11點至少有 10點出現(xiàn)在中心線一側(cè)； * 連續(xù) 14點至少有 12點出現(xiàn)在中心線一側(cè)。 當過程只有普通原因影響時，過程的波動具有統(tǒng)計規(guī)律性，此時過程處于穩(wěn)定狀態(tài)。失控狀態(tài)。 6為了減少不必要的變異來源 , 要進行合理的分組 . 計數(shù)值控制圖的分組原則1過程作業(yè)應(yīng)該在同一條件下 。 2定義過程系統(tǒng) , 以確定影響過程的因素 , 如 5M1E,或以特性要因圖分析 。 2如何定義能與品質(zhì)績效獎金相掛鉤的過程系統(tǒng)良率 。 缺陷數(shù)控制圖作圖步驟2 計算平均缺陷數(shù)缺陷數(shù)控制圖作圖步驟3 計算中心線和控制界限 :例 14 作控制圖缺陷數(shù)控制圖華帝練習(xí)例：比克電池為了解激光焊接短路品質(zhì)狀況 , 連續(xù)抽樣檢查 25批產(chǎn)品 , 其數(shù)據(jù)記錄如下表 , 試制作 C圖單位缺陷數(shù)控制圖(U圖 )單位缺陷數(shù)控制圖 (U圖 )單位缺陷數(shù)控制圖 (U圖 )216。 注意 : 1 要求樣本中大體含 1~5個不合格品 ,即 Pn=1~5。 足夠的樣本數(shù)以保證過程系統(tǒng)的主要變異有機會出現(xiàn) . 25組以上的樣本以能證明過程的控制狀態(tài)及估計過程的不良率 . 不合格品數(shù)控制圖 (Pn圖 )? 樣本容量 n恒定；? 不合格品數(shù)是一個服從二項分布的隨機變量；? 當 Pn≥ 5時近似服從正態(tài)分布 N [np， np(1p)]；不合格品數(shù)控制圖作圖步驟1. 確定數(shù)據(jù)樣本容量 n的大小；–n常取 50以上的數(shù)? 例 8：某廠某產(chǎn)品不合格品數(shù)統(tǒng)計資料中以100為樣本大小。 不同組的樣本大小 n不一定相同 , 但最好相同 。5定義測量系統(tǒng) , 并進行測量系統(tǒng)分析 。n=2時 ,D4=,D3=0例 1：某制藥廠某種藥品堿的單耗數(shù)據(jù)如表，做單值 移動極差圖1) 收集數(shù)據(jù)XMR控制圖實例2）計算各組的統(tǒng)計量1) 計算樣本的平均值：2) 計算移動極差 Rsi及其平均值：XMR控制圖實例數(shù)據(jù)表如下：XMR控制圖實例3）計算控制界限? X控制圖? Rs控制圖4） 作控制圖XMR控制圖實例XMR控制圖實例XMR控制圖控制線計算比克練習(xí)例 2：比克電池為控制注液車間環(huán)境溫濕度對電池性能的影響 . 在生產(chǎn)穩(wěn)態(tài)下已取得 25組濕度數(shù)據(jù) , 如下表 , 由于濕度測量每次只能獲取一個數(shù)據(jù) , 試用 XMR控制圖對其加以控制 .計量值控制圖的合理分組控制圖是研判過程系統(tǒng)變異的原因是普通原因還是特殊原因的統(tǒng)計分析工具 . 如何達成此目的 , 取決與數(shù)據(jù)收集時合理分組與否 . 讓組內(nèi)變異最小化 , 組間變異最大化是合理分組的原則 . 計量值控制圖的合理分組計量值控制圖的導(dǎo)入注意事項因計量值控制圖牽涉到較多的工程技術(shù)問題 , 因而在導(dǎo)入前要注意準備下列事項 :1建立一個適宜的矯正行動的管理制度 , 如在品質(zhì)異常處理標準作業(yè)中規(guī)定 , 當現(xiàn)場數(shù)據(jù)顯示異常時 , 作業(yè)員如何處置 , 向誰報告 。 6) 剔除異常點。 d. 過程中心已經(jīng)開始變動 . Rule2: X圖有連續(xù)點出現(xiàn) , 其可能的原因如下 :a. 連續(xù)七點在中心線之上或下 。b. 連續(xù)七點超中心線之下 , 屬于過程作業(yè)條件的改變造成較小的差異 , 應(yīng)該調(diào)查核實 , 若屬實則給予推廣 , 若有不真實數(shù)據(jù) . 則立即查處 . Rule3: R圖有明顯的非隨機的現(xiàn)象 , 其可能的原因如下 : a. 超過 2/3的點集中與中間的 1/3區(qū)域 , 可能原因為計算錯誤或分組不合理 。（要按照一定的原則決定樣本的間隔時間、組數(shù)和樣本大小 n； n通常取 3， 4， 5；）2) 計算各組樣本統(tǒng)計量，如樣本平均值、極差及總平均值；3) 計算控制界限 ：1. 一新電池經(jīng)試作一周后 , 初期過程控制能力足夠 , 量產(chǎn)時每天收集一組數(shù)據(jù) , 每組 n=5, 共收集 20組 , 產(chǎn)品規(guī)格為 50+/5V, 請制作并解析 XbarR控制圖 . 均值 極差控制圖應(yīng)用實例(1)計算控制線并描點 . 均值 極差控制圖應(yīng)用實例均值 極差控制圖應(yīng)用實例(2)解析控制圖 . R控制圖連續(xù) 7點在中心線之下 , 是一種好的異常8/118/15有顯著的異常 , 經(jīng)查明發(fā)現(xiàn)某一零件由新供應(yīng)商之物料 , 工程部發(fā)出通知 , 不再使用該零件直到供應(yīng)商改善為止 , 將此五點刪除繼續(xù)收集五天數(shù)據(jù) .控制圖解析注意點 :一般情況下先解析 R圖 , 因為 X圖的控制界限 , 其大小是由 Rbar決定的 , R的大小代表著組內(nèi)變異的大小 , 常見R圖特殊原因的點分成三種形態(tài) :Rule1: R圖有點超出或低于控制界限 , 其可能的原因如下:a. 數(shù)據(jù)錄入錯誤 。 足夠的樣本數(shù)以保證過程系統(tǒng)的主要變異有機會出現(xiàn) . 均值 極差控制圖作法重點1) 收集數(shù)據(jù) （ 2025組以上） ；2) 計算各組樣本統(tǒng)計量 ,樣本平均值 ,極差 ,總平均值；3) 計算控制界限；4) 繪制控制圖 （分析用控制圖） 。 初期分析的過程系統(tǒng)盡量以較高的抽樣頻率連續(xù)取樣 , 穩(wěn) 定的過程系統(tǒng)頻率可以較低 。 關(guān)鍵產(chǎn)品或過程特性 。 單值 移動極差控制圖 ( XMR )均值 極差控制圖（ ）? 最常用；最基本；? 控制對象為計量值；? 適用于 n ≤10的情況；? 均值圖用于顯示子組間的波動 , 觀察和分析數(shù)據(jù)分布的均值的變化，即過程的集中趨勢 (穩(wěn)定趨勢 )；? 極差圖用于顯示子組內(nèi)的波動 , 觀察和分析數(shù)據(jù)分布的分散情況，即過程的離散程度；? 精度尚可 , 使用方便 . 均值 極差控制圖作法重點 (1) 選擇控制特性 X, 決定樣本大小 n, 抽樣頻率及樣本組數(shù) K； 1選擇控制特性 X 能測定的產(chǎn)品或過程特性 。課程內(nèi)容 ： 控制圖的使用場地、特征、統(tǒng)計量所服從的分布、制作步驟。如果描點后發(fā)現(xiàn)有的點超出控制限，這表明工序可能處于失控狀態(tài)，首先應(yīng)分析是否存在系統(tǒng)性原因，若找到了系統(tǒng)性原因，應(yīng)將該數(shù)據(jù)點刪除，然后重新計算控制限?？刂茍D的應(yīng)用步驟 5 繪制 R控制限 ◆ 在給定的 — R控制圖上，根據(jù)所計算出 的圖和R圖的控限，選定垂直軸上最小區(qū)間單位所表示數(shù)據(jù)量，并在垂直軸上標明數(shù)據(jù)。根據(jù)計算結(jié)果作成分析用控制圖，并確認是在 控制狀態(tài)下且過程能力尚可后 ，方可將其控制限應(yīng)用在過程控制用控制圖上；收集數(shù)據(jù)繪制解析用控制圖控制用控制圖繪制直方圖穩(wěn)定狀態(tài)滿足規(guī)格去除異常原因檢討 5M1E各方面提升過程能力計算 Pp,Ppk(輔助參考變異是否常態(tài)分布 )控制圖繪制流程YesNoYesNo控制圖的應(yīng)用步驟1. 選取要控制的質(zhì)量特性值；2. 選擇合適的控制圖種類； (均值 極差）3. 確定樣本組數(shù) k， 樣本量 n和抽樣間隔，一般樣本組數(shù)不少于 2025個；4. 收集生產(chǎn)條件比較穩(wěn)定和有代表性的一批數(shù)據(jù)（至少 100個以上）；5. 計算各組樣本統(tǒng)計量，如樣本均值、極差、標準差；6. 計算各統(tǒng)計量控制界限 (LCL,CL,UCL)；控制圖的應(yīng)用7. 畫控制圖；并將計算出的統(tǒng)計量在控制圖上打點；8. 觀察分析控制圖；9. 決定下一步行動。? 控制圖的控制界限由分析階段確定 。 一般情況下 ,控制界限嚴于規(guī)格 。 規(guī)格線：由客戶或設(shè)計部門給出 。橫坐標：按時間順序抽樣的樣本編號216。計件如不合格品數(shù) , 裁大片外觀不良數(shù)，服從二項分布；計點如電池激光焊接的氣密性 , 短路數(shù)等 , 服從泊松分布 .ONOFF控制圖的基本原理? 以 3σ原理為基礎(chǔ)： 管制圖是以常態(tài)分配中的 3 σ原理為理論依據(jù)，中心線為平均值，上下控制界限為以平均