【正文】 。? 最差情形，可以 允許過程 中心， 偏差 177。通過 Cp、 Cpk值計算不良率? 當質量特性的分布呈正態(tài)分布時，一定的過程能力指數與一定的不良率相對應。c. 全檢 ,挑出不合格品 。b. 正常檢驗；? 三級a. 分析分散度大的原因 ,制定改進措施 。解：過程能力等級? 過程能力指數 Cpk值 評價標準一般原則Cpk在不同的等級時，有什么樣的管理措施？管理措施? 問題的答案 :? 特級a. 簡化檢驗工作 ,減少樣本量或抽樣頻率 。過程能力指數小結一、術語簡介：T： 技術規(guī)范的公差幅度， T=USLLSL；B： 過程能力； 其中： B=6σTa： 技術規(guī)范的目標值；M： 規(guī)格中心； ：分布中心。指 數 分 類指 數 分 類Cp,Cpk,CpmPp,Ppk,Ppm短期過程能力指數長期過程能力指數Cp,Cpk與 Pp,Ppk的區(qū)別? Cp指數 =? Cp（ Capability of process） 過程能力指數? Cp:“我們能做得多好 ”? Cpk:“我們真正能做得多好 ”規(guī)格寬度工序寬度Cp,Cpk與 Pp,Ppk的區(qū)別? Pp過程性能指數? Pp： “我們實際做到多好 ”? Ppk修正的過程性能指數? Ppk： “我們實際真正做到多好 ”指數分類一、過程能力指數 (Process Capability Index) Cp： 分布中心 無偏離 規(guī)格中心時衡量 過程能力的指數； Cpk: 分布中心 偏離 規(guī)格中心時衡量 過程能力的指數； Cpm： 目標值與規(guī)格中心 不一致 時衡量 過程能力的指數； Cpu： 上單側 過程能力指數； Cpl： 下單側 過程能力指數。3 σ內，包含了 %的數據 ,接近于 1,因此 ,以 177。（ 3）有多個樣本點連續(xù)出現在中心線一側 * 連續(xù) 7個點或 7點以上出現在中心線一側； * 連續(xù) 11點至少有 10點出現在中心線一側； * 連續(xù) 14點至少有 12點出現在中心線一側。 當過程只有普通原因影響時，過程的波動具有統(tǒng)計規(guī)律性，此時過程處于穩(wěn)定狀態(tài)。失控狀態(tài)。 6為了減少不必要的變異來源 , 要進行合理的分組 . 計數值控制圖的分組原則1過程作業(yè)應該在同一條件下 。 2定義過程系統(tǒng) , 以確定影響過程的因素 , 如 5M1E,或以特性要因圖分析 。 2如何定義能與品質績效獎金相掛鉤的過程系統(tǒng)良率 。 缺陷數控制圖作圖步驟2 計算平均缺陷數缺陷數控制圖作圖步驟3 計算中心線和控制界限 :例 14 作控制圖缺陷數控制圖華帝練習例：比克電池為了解激光焊接短路品質狀況 , 連續(xù)抽樣檢查 25批產品 , 其數據記錄如下表 , 試制作 C圖單位缺陷數控制圖(U圖 )單位缺陷數控制圖 (U圖 )單位缺陷數控制圖 (U圖 )216。 注意 : 1 要求樣本中大體含 1~5個不合格品 ,即 Pn=1~5。 足夠的樣本數以保證過程系統(tǒng)的主要變異有機會出現 . 25組以上的樣本以能證明過程的控制狀態(tài)及估計過程的不良率 . 不合格品數控制圖 (Pn圖 )? 樣本容量 n恒定；? 不合格品數是一個服從二項分布的隨機變量；? 當 Pn≥ 5時近似服從正態(tài)分布 N [np， np(1p)]；不合格品數控制圖作圖步驟1. 確定數據樣本容量 n的大小；–n常取 50以上的數? 例 8：某廠某產品不合格品數統(tǒng)計資料中以100為樣本大小。 不同組的樣本大小 n不一定相同 , 但最好相同 。5定義測量系統(tǒng) , 并進行測量系統(tǒng)分析 。n=2時 ,D4=,D3=0例 1：某制藥廠某種藥品堿的單耗數據如表，做單值 移動極差圖1) 收集數據XMR控制圖實例2）計算各組的統(tǒng)計量1) 計算樣本的平均值：2) 計算移動極差 Rsi及其平均值：XMR控制圖實例數據表如下：XMR控制圖實例3）計算控制界限? X控制圖? Rs控制圖4） 作控制圖XMR控制圖實例XMR控制圖實例XMR控制圖控制線計算比克練習例 2：比克電池為控制注液車間環(huán)境溫濕度對電池性能的影響 . 在生產穩(wěn)態(tài)下已取得 25組濕度數據 , 如下表 , 由于濕度測量每次只能獲取一個數據 , 試用 XMR控制圖對其加以控制 .計量值控制圖的合理分組控制圖是研判過程系統(tǒng)變異的原因是普通原因還是特殊原因的統(tǒng)計分析工具 . 如何達成此目的 , 取決與數據收集時合理分組與否 . 讓組內變異最小化 , 組間變異最大化是合理分組的原則 . 計量值控制圖的合理分組計量值控制圖的導入注意事項因計量值控制圖牽涉到較多的工程技術問題 , 因而在導入前要注意準備下列事項 :1建立一個適宜的矯正行動的管理制度 , 如在品質異常處理標準作業(yè)中規(guī)定 , 當現場數據顯示異常時 , 作業(yè)員如何處置 , 向誰報告 。 6) 剔除異常點。 d. 過程中心已經開始變動 . Rule2: X圖有連續(xù)點出現 , 其可能的原因如下 :a. 連續(xù)七點在中心線之上或下 。b. 連續(xù)七點超中心線之下 , 屬于過程作業(yè)條件的改變造成較小的差異 , 應該調查核實 , 若屬實則給予推廣 , 若有不真實數據 . 則立即查處 . Rule3: R圖有明顯的非隨機的現象 , 其可能的原因如下 : a. 超過 2/3的點集中與中間的 1/3區(qū)域 , 可能原因為計算錯誤或分組不合理 。（要按照一定的原則決定樣本的間隔時間、組數和樣本大小 n； n通常取 3， 4， 5；）2) 計算各組樣本統(tǒng)計量，如樣本平均值、極差及總平均值；3) 計算控制界限 ：1. 一新電池經試作一周后 , 初期過程控制能力足夠 , 量產時每天收集一組數據 , 每組 n=5, 共收集 20組 , 產品規(guī)格為 50+/5V, 請制作并解析 XbarR控制圖 . 均值 極差控制圖應用實例(1)計算控制線并描點 . 均值 極差控制圖應用實例均值 極差控制圖應用實例(2)解析控制圖 . R控制圖連續(xù) 7點在中心線之下 , 是一種好的異常8/118/15有顯著的異常 , 經查明發(fā)現某一零件由新供應商之物料 , 工程部發(fā)出通知 , 不再使用該零件直到供應商改善為止 , 將此五點刪除繼續(xù)收集五天數據 .控制圖解析注意點 :一般情況下先解析 R圖 , 因為 X圖的控制界限 , 其大小是由 Rbar決定的 , R的大小代表著組內變異的大小 , 常見R圖特殊原因的點分成三種形態(tài) :Rule1: R圖有點超出或低于控制界限 , 其可能的原因如下:a. 數據錄入錯誤 。 足夠的樣本數以保證過程系統(tǒng)的主要變異有機會出現 . 均值 極差控制圖作法重點1) 收集數據 （ 2025組以上） ；2) 計算各組樣本統(tǒng)計量 ,樣本平均值 ,極差 ,總平均值；3) 計算控制界限；4) 繪制控制圖 （分析用控制圖） 。 初期分析的過程系統(tǒng)盡量以較高的抽樣頻率連續(xù)取樣 , 穩(wěn) 定的過程系統(tǒng)頻率可以較低 。 關鍵產品或過程特性 。 單值 移動極差控制圖 ( XMR )均值 極差控制圖（ ）? 最常用；最基本；? 控制對象為計量值；? 適用于 n ≤10的情況；? 均值圖用于顯示子組間的波動 , 觀察和分析數據分布的均值的變化，即過程的集中趨勢 (穩(wěn)定趨勢 )；? 極差圖用于顯示子組內的波動 , 觀察和分析數據分布的分散情況，即過程的離散程度；? 精度尚可 , 使用方便 . 均值 極差控制圖作法重點 (1) 選擇控制特性 X, 決定樣本大小 n, 抽樣頻率及樣本組數 K； 1選擇控制特性 X 能測定的產品或過程特性 。課程內容 ： 控制圖的使用場地、特征、統(tǒng)計量所服從的分布、制作步驟。如果描點后發(fā)現有的點超出控制限，這表明工序可能處于失控狀態(tài)，首先應分析是否存在系統(tǒng)性原因，若找到了系統(tǒng)性原因，應將該數據點刪除，然后重新計算控制限?？刂茍D的應用步驟 5 繪制 R控制限 ◆ 在給定的 — R控制圖上，根據所計算出 的圖和R圖的控限，選定垂直軸上最小區(qū)間單位所表示數據量，并在垂直軸上標明數據。根據計算結果作成分析用控制圖，并確認是在 控制狀態(tài)下且過程能力尚可后 ，方可將其控制限應用在過程控制用控制圖上；收集數據繪制解析用控制圖控制用控制圖繪制直方圖穩(wěn)定狀態(tài)滿足規(guī)格去除異常原因檢討 5M1E各方面提升過程能力計算 Pp,Ppk(輔助參考變異是否常態(tài)分布 )控制圖繪制流程YesNoYesNo控制圖的應用步驟1. 選取要控制的質量特性值；2. 選擇合適的控制圖種類； (均值 極差）3. 確定樣本組數 k， 樣本量 n和抽樣間隔，一般樣本組數不少于 2025個；4. 收集生產條件比較穩(wěn)定和有代表性的一批數據（至少 100個以上）；5. 計算各組樣本統(tǒng)計量，如樣本均值、極差、標準差；6. 計算各統(tǒng)計量控制界限 (LCL,CL,UCL)；控制圖的應用7. 畫控制圖；并將計算出的統(tǒng)計量在控制圖上打點；8. 觀察分析控制圖；9. 決定下一步行動。? 控制圖的控制界限由分析階段確定 。 一般情況下 ,控制界限嚴于規(guī)格 。 規(guī)格線：由客戶或設計部門給出 。橫坐標：按時間順序抽樣的樣本編號216。計件如不合格品數 , 裁大片外觀不良數，服從二項分布；計點如電池激光焊接的氣密性 , 短路數等 , 服從泊松分布 .ONOFF控制圖的基本原理? 以 3σ原理為基礎： 管制圖是以常態(tài)分配中的 3 σ原理為理論依據，中心線為平均值，上下控制界限為以平均