spc統(tǒng)計(jì)方法與控制圖的應(yīng)用(文件)
【正文】 率降低,要用S圖來代替R圖。中位數(shù)的計(jì)算比均值簡(jiǎn)單,多用于現(xiàn)場(chǎng)需要把測(cè)定數(shù)據(jù)直接記入控制圖進(jìn)行控制的場(chǎng)合,為了簡(jiǎn)便,規(guī)定用奇數(shù)個(gè)數(shù)據(jù)。僅僅供掌握測(cè)量值的變化曲線。不合格品率圖由數(shù)據(jù)點(diǎn)、數(shù)據(jù)線、控制線、判異線均可通過屬性菜單選擇。不合格數(shù)圖由數(shù)據(jù)點(diǎn)、數(shù)據(jù)線、控制線、判異線均可通過屬性菜單選擇。計(jì)數(shù)和計(jì)量類參數(shù)都可以做直方圖。直方圖可以顯示控制線（需設(shè)定）、規(guī)范線、合理線、目標(biāo)線等信息。直方圖可以顯示控制線（需設(shè)定）、規(guī)范線、合理線、目標(biāo)線等信息。 措施排列圖——將各類糾正措施出現(xiàn)的次數(shù)從高到低排列的柱狀圖。 DPTO圖——將各類缺陷信息的占質(zhì)量特性的總數(shù)的百分比值從高到低排列的柱狀圖。只有缺陷類型的計(jì)數(shù)參數(shù)可做DPMO圖。可以設(shè)置的顏色有：數(shù)據(jù)線的顏色、正常點(diǎn)的顏色、異常點(diǎn)的顏色、 控制線(UCL,CL,LCL)、規(guī)范線、合理限、目標(biāo)線、判異線顏色、柱狀條、柱狀條標(biāo)記顏色。當(dāng)選為所有數(shù)據(jù)可見時(shí)，則只有圖形數(shù)據(jù)點(diǎn)范圍內(nèi)的數(shù)據(jù)可見。通過右側(cè)的可選按鈕可以控制某些數(shù)據(jù)線的顯示與不顯示。用戶基于這八種基本情況進(jìn)行任意延伸形成符合用戶需求的判異規(guī)則。各異常信息會(huì)在點(diǎn)的拾取界面中顯示出來。指定控制線有兩種方式：在系統(tǒng)管理中指定，即在參數(shù)設(shè)定時(shí)指定。對(duì)于不同的圖形，其相關(guān)的理論參數(shù)也不同。通常將中心線與上控線之間分為三等分，分別稱之為C區(qū)、B區(qū)、A區(qū)。點(diǎn)的拾取界面由點(diǎn)的本身數(shù)據(jù)信息、關(guān)聯(lián)數(shù)據(jù)信息、控制線信息、標(biāo)簽信息、異常信息組成，同時(shí)還提供數(shù)據(jù)異常時(shí)，異常原因、糾正措施的選擇備注信息的登記和點(diǎn)的剔除功能。6 控制線的計(jì)算公式 （按理論值計(jì)算/按樣本計(jì)算） 計(jì)量類的控制線符號(hào)說明：Xi:I=1,2,3,…n為樣本數(shù)據(jù)μ：期望值σ：方差：均值 =∑Xi/n：各子組均值的均值：各子組標(biāo)準(zhǔn)差的平均值：各子組極差的平均值：各子組中位數(shù)的平均值：各子組移動(dòng)極差的平均值λ：EWMA因子（0λ1）SQRT：開平方運(yùn)算 均值標(biāo)準(zhǔn)差圖 按理論值計(jì)算均值圖： UCL=μ+Nσ/3*A1*σ CL=μ LCL=μN(yùn) /3*A1*σ標(biāo)準(zhǔn)差圖：UCL=(C4+Nσ*SQRT(1C4))* σ CL=C4*σ LCL=(C4Nσ*SQRT(1C4))* σ按樣本計(jì)算均值圖： UCL=+Nσ/3*A3* CL= LCL=Nσ/3*A3*標(biāo)準(zhǔn)差圖：UCL=+* Nσ/3 *(B41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(B31) 均值極差圖 按理論值計(jì)算均值圖： UCL=μ+Nσ/3*A1*σ CL=μ LCL=μN(yùn)σ/3*A1*σ極差圖： UCL=(d2+Nσ*d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ*d3)* σ 按樣本計(jì)算均值圖： UCL=+Nσ/3*A2* CL= LCL=Nσ/3*A2*極差圖： UCL=+* Nσ/3 *(D41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(D31) 位數(shù)極差圖按理論值計(jì)算中位數(shù)圖：UCL=μ+Nσ/3*d2*m3A2*σ CL=μ LCL=μN(yùn)σ/3*d2*m3A2*σ極差圖： UCL=(d2+Nσ*d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ*d3)* σ按樣本計(jì)算中位數(shù)圖：UCL=+Nσ/3*m3A2* CL= LCL=Nσ/3*m3A2*極差圖： UCL=+* Nσ/3 *(D41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(D31) 單值移動(dòng)極差圖按理論值計(jì)算單值圖： UCL=μ+Nσ*σ CL=μ LCL=μN(yùn)σ*σ移動(dòng)極差：UCL=(d2+Nσ*d3)* σ CL=d2*σ LCL=( d2Nσ*d3)* σ按樣本計(jì)算單值圖： UCL=+Nσ/d2* CL= LCL=Nσ/d2*移動(dòng)極差：UCL=+* Nσ/3 *(D41) CL= LCL=+* Nσ/3 *(D31)其中：MRi=Max(Xi,Xi+1,..Xi+k) Min(Xi,Xi+1,..Xi+k) .k為移動(dòng)子組大小 EWMA圖UCL=μ+3*SQRT(λ/(2λ))* σ CL=μLCL=μ3*SQRT(λ/(2λ))* σ 合格數(shù)據(jù)類的控制線設(shè)數(shù)據(jù)Ki,Di表示第I批的批量為Di,不合格數(shù)為Ki p:不合格率q:合格率 q=1p P圖 按理論值計(jì)算UCL=p+Nσ*SQRT(p*(1p)/Di)CL=p LCL= pNσ*SQRT(p*(1p)/Di)按樣本計(jì)算UCL=+Nσ*SQRT(*(1)/Di) CL= LCL= Nσ*SQRT(*(1)/Di)其中=∑Ki/ ∑Di Pn圖對(duì)于Pn圖,Di=D,I=1,2,3….按理論值計(jì)算UCL=p*D+Nσ*SQRT(p*(1p)*D) CL=p*D LCL= p*DNσ*SQRT(p*(1p)*D)按樣本計(jì)算UCL=*D+Nσ*SQRT(*(1)*D) CL=*D LCL= *D Nσ*SQRT(*(1)*D)其中=∑Ki/ ∑Di Q圖按理論值計(jì)算 UCL=q+Nσ*SQRT(q*(1q)/Di) CL=q LCL= qNσ*SQRT(q*(1q)/Di)按樣本計(jì)算UCL=+Nσ*SQRT(*(1)/Di) CL= LCL= Nσ*SQRT(*(1)/Di)其中=∑(DiKi)/ ∑D Qn圖對(duì)于Qn圖,Di=D,I=1,2,3….按理論值計(jì)算 UCL=q*D+Nσ*SQRT(q*(1q)*D) CL=q*D LCL= q*DNσ*SQRT(q*(1q)*D)按樣本計(jì)算UCL=*D+Nσ*SQRT(*(1)*D) CL=*D LCL= *D Nσ*SQRT(*(1)*D) 其中=∑(DiKi)/ ∑Di 缺陷數(shù)據(jù)類的控制線設(shè)數(shù)據(jù)Ki,Di表示第I批的批量為Di,缺陷個(gè)數(shù)為Ki C圖對(duì)于C圖,Di=D,I=1,2,3…n.按理論值計(jì)算 UCL=p*D+Nσ*SQRT(p*D) CL=p*D LCL= p*DNσ*SQRT(p*D)按樣本計(jì)算UCL=*D+Nσ*SQRT(*D) CL=*D LCL= *DNσ*SQRT(*D)其中=∑Ki/ ∑Di U圖單位缺陷數(shù)圖按理論值計(jì)算 UCL=p +Nσ*SQRT(p/Di) CL=p LCL= p Nσ*SQRT(p/Di)按樣本計(jì)算UCLi=+Nσ*SQRT(/Di) CL= LCLi= Nσ*SQRT(/Di)其中=∑Ki/ ∑Di7 分析工具 過程能力分析——過程能力是指過程的加工質(zhì)量滿足技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)的能力決定于質(zhì)量因素4M
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