質(zhì)量管理統(tǒng)計技術(shù)與方法-wenkub
2023-03-12 14:15:48 本頁面
【正文】 Shanghai Normal University 缺陷位置調(diào)查表宜與措施相聯(lián)系，能充分反映缺陷發(fā)生的位置，便于研究缺陷為什么集中在那里，有助于進(jìn)一步觀察、探討發(fā)生的原因。進(jìn)而分析其原因并提出解決方案。即把產(chǎn)品可能出現(xiàn)的情況及其分類預(yù)先列成調(diào)查表，則檢查產(chǎn)品時只需在相應(yīng)分類中進(jìn)行統(tǒng)計。（ 4）盡可能用數(shù)據(jù)反映、說明問題。（ 2）主要、關(guān)鍵原因越具體，改進(jìn)措施的針對性就越強。（ 5）注明本因果圖的名稱、日期、參加分析的人員、繪制人和參考查詢事項。 如此展開下去，越具體越細(xì)致，就越好。（ 2）確定造成這個結(jié)果和質(zhì)量問題的因素分類項目。 收集各種信息，比較原因大小和主次，找出產(chǎn)生問題的主要原因；也就是根據(jù)反映出來的主要問題（最終結(jié)果），找出影響它的大原因、中原因、小原因、更小原因等等。3/16/2023 3Dept Chem Shanghai Normal Universityn 主干箭頭所指的為質(zhì)量問題，主干上的大枝表示大原因，中枝、小枝芽表示原因的依此展開。影響工序質(zhì)量的因素分為 人員、設(shè)備、材料、工藝方法、環(huán)境 等；再依次細(xì)分，畫大枝，箭頭指向主干，箭尾端記上分類項目，并用方框框上。 3/16/2023 8Dept Chem Shanghai Normal University（ 4）確定因果圖中的主要、關(guān)鍵原因，并用符號明顯的標(biāo)出，再去現(xiàn)場調(diào)查研究，驗證所確定的主要、關(guān)鍵原因是否找對、找準(zhǔn)。 做因果圖的一個重要內(nèi)容就是要收集大量的信息，而許多信息是靠人們主觀想象和思維得到的。主要、關(guān)鍵原因初步確定后，應(yīng)到現(xiàn)場去落實、驗證主要原因，在訂出切實可行的措施去解決。（ 5）作完因果圖后，應(yīng)檢查下列幾項：圖名、應(yīng)標(biāo)明主要原因是哪些等、文字是否簡便通俗、編譯是否明確、定性是否準(zhǔn)確、應(yīng)盡可能地定量化、改進(jìn)措施不宜畫在圖上。 3/16/2023 12Dept Chem Shanghai Normal University統(tǒng)計分析表的編制原則n 為了能夠獲得良好的效果、可比性、全面性和準(zhǔn)確性，調(diào)查表格設(shè)計應(yīng) :n 簡單明了，突出重點；n 應(yīng)填寫方便，符號好記；n 調(diào)查、加工和檢查程序與調(diào)查表填寫次序應(yīng)基本一致n 填寫好的調(diào)查表要定時、準(zhǔn)時更換并保存；n 數(shù)據(jù)要便于加工整理，分析整理后及時反饋。3/16/2023 14Dept Chem Shanghai Normal University 質(zhì)量管理中 “ 合格 ” 與 “ 不合格 ” ，是相對于標(biāo)準(zhǔn)、規(guī)格、公差而言的。缺陷位置調(diào)查表可根據(jù)具體情況畫出各種不同的缺陷位置調(diào)查表，圖上可以劃區(qū)，以便進(jìn)行分層研究和對比分析。年 填號者： 03/16/2023 19Dept Chem Shanghai Normal University過程質(zhì)量分析統(tǒng)計表n 為了能夠測量產(chǎn)品的尺寸、重量、純度登記量數(shù)據(jù)的過程中，為了掌握這些過程的產(chǎn)品質(zhì)量狀況，可用這種統(tǒng)計分析表。他發(fā)現(xiàn)少數(shù)人占有大部分財富，而大多數(shù)人卻只有少量財富，即所謂 “ 關(guān)鍵的少數(shù)與次要的多數(shù) ” 這一相當(dāng)普遍的社會現(xiàn)象。(2) 收集與整理數(shù)據(jù) ? 可按廢品項目、缺陷項目，不同操作者等進(jìn)行分類。左邊的縱坐標(biāo)表示頻數(shù) fi，右邊的縱坐標(biāo)表示累計頻率 Fi；橫坐標(biāo)表示質(zhì)量項目，按其頻數(shù)大小從左向右排列；各矩形的底邊相等，其高度表示對應(yīng)項目的頻數(shù)。其個數(shù)為 1~2個，最多 3個。它們對產(chǎn)品質(zhì)量僅有輕微影響，又稱為 C類因素 3/16/2023 26Dept Chem Shanghai Normal University排列圖的形式 ●●●● ●●問題（項目）B類C類頻數(shù)（件）頻率（ %）A類㈠ ㈡ ㈢ ㈣ ㈥㈤3/16/2023 27Dept Chem Shanghai Normal University4序 號項 目 返修工時 fi 頻率 Pi 找出主要因素。如果前 1~2項難度較大，而第 3項簡易可行，馬上可見效果，也可先對第 3項進(jìn)行改進(jìn)。解決工作質(zhì)量問題也可用排列圖。如果確有效果，則改進(jìn)后的排列圖中，橫坐標(biāo)上因素排列順序或頻數(shù)矩形高度應(yīng)有變化。表5—6 是收集到的某產(chǎn)品數(shù)據(jù)，其樣本大小用 n=100表示。 區(qū)間 [xmax, xmin]稱為數(shù)據(jù)的散布范圍3/16/2023 35Dept Chem Shanghai Normal University(3)確定組數(shù) k和組距 h。 例 58中 100個數(shù)據(jù)，常分為 10組左右。3/16/2023 36Dept Chem Shanghai Normal University51015201 2 3 4 5 6 7 8 943圖 4—2 ? (3)? 計算工序能力，估算并了解工序能力對產(chǎn)品質(zhì)量保證情況。其它都屬非正常型。正常型3/16/2023 41Dept Chem Shanghai Normal University (2) 偏向型? 圖形有偏左、偏右兩種情形，原因是： (a)一些形位公差要求的特性值是偏向分布。偏向型 (右 )3/16/2023 42Dept Chem Shanghai Normal University (3) 雙峰型 ? 圖形出現(xiàn)兩個頂峰極可能是由于把不同加工者或不同材料、不同加工方法、不同設(shè)備生產(chǎn)的兩批產(chǎn)品混在一起形成的。雙峰型3/16/2023 43Dept Chem Shanghai Normal University (4) 鋸齒型 圖形呈鋸齒狀參差不齊，多半是由于分組不當(dāng)或檢測數(shù)據(jù)不準(zhǔn)而造成。鋸齒型3/16/2023 44Dept Chem Shanghai Normal University (5) 平頂型 ? 無突出頂峰，通常由于生產(chǎn)過程中緩慢變化因素影響 (如刀具磨損 )造成。
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