【正文】 LCLx=X A2R LCLR=D3R （ XR） 注： 式中 A2,D3,D4為常系數(shù)，決定于子組樣本容量。 注： 對于還沒有計(jì)算控制限的初期操作的控制圖上應(yīng)清楚地注明“ 初始研究 ”字樣。 142 刻度選擇 ： （ XR） 對于 X 圖，坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值的差應(yīng)為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過程流等。 b 確保檢測設(shè)備或量具本身的準(zhǔn)確性和精密性。 檢討過程 目前過程存在問題 ? 監(jiān)控過程性能 確定能力 目前過程優(yōu)勢 ? 再改進(jìn)過程 針對過程不足之處再對策改善 將優(yōu)勢繼續(xù)保持 第五講 控制圖 上控制限 中心限 下控制限 收集 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計(jì)算實(shí)驗(yàn)控制限識別變差的特殊原因并 采取措施 分析及改進(jìn) 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施重復(fù)這三個(gè)階段從而不斷改進(jìn)過程 計(jì)量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計(jì) 數(shù) 型 數(shù) 據(jù) P chart 不良率管制圖 Xδ均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 nP chart 不良數(shù)管制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 XMR 單值移動(dòng)極差圖 U chart 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 （ 1） 計(jì)量值或 記數(shù)值 （ 2） 群的大小是 否大于 1 （ 3） 不良或是 缺陷 （ 3） 樣本大小是 否一致 （ 4） 中心值是平均值 還是中位值 記數(shù)值 記數(shù)值 N大于 1 N等于 1 X — R X — R ~ X — RM PN P C U 選擇控制圖方法 (流程 )圖 注：本圖假設(shè)測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價(jià)并且是適用的。只用特殊原因被查出且采取 措 施 ,否則它們將繼續(xù)不可預(yù)測的影響過程的輸出。 第三講 SPC常用術(shù)語解釋 第四講 制程控制系統(tǒng) 過程的呼聲 人 設(shè)備 材料 方法 產(chǎn)品或 環(huán)境 服務(wù) 輸入 過程 /系統(tǒng) 輸出 顧客的呼聲 我們工作的方式 /資源的融合 統(tǒng)計(jì)方法 顧客 識別不斷變化的需求量和期望 普通原因： 是指過程在受控的狀態(tài)下，出現(xiàn)的具有穩(wěn)定的且可重 復(fù)的分布過程的變差的原因。有時(shí)被稱為可查明原因，它存在的信號是：存在超過控制限的點(diǎn)或存在在控制限之內(nèi)的鏈或其它非隨機(jī)性的圖形。 鏈（ Run） 控制圖上一系列連續(xù)上升或下降，或在中心線之上或之下的 點(diǎn) 。如果數(shù)據(jù)的個(gè)數(shù)為偶數(shù)，一般將中間兩個(gè)數(shù)的平均值作為中位數(shù)。 ? 為制程分析提供依據(jù)。于是，英、美等國開始著手研究用統(tǒng)計(jì)方法代替事后檢驗(yàn)的質(zhì)量控制方法。 ? 1924年，美國的 休哈特博士 提出將 3Sigma原理運(yùn)用于生產(chǎn)過程當(dāng)中，并發(fā)表了著名的“控制圖法”，對過程變量進(jìn)行控制，為統(tǒng)計(jì)質(zhì)量管理奠定了理論和方法基礎(chǔ)。 ? 區(qū)分變差的特殊原因和普通原因，作為采取局部措施或?qū)ο到y(tǒng)采取措施的指南。 單值（ Individual） 一個(gè)單個(gè)的單位產(chǎn)品或一個(gè)特性的 一次測量 ，通常用符號 X 表示。它是分析是否存在造成變差的特殊原因的依據(jù)。 第三講 SPC常用術(shù)語解釋 名稱 解釋 普通原因（ Common Cause） 造成變差的一個(gè)原因，它影響被研究過程輸出的所有單值；在控制圖分析中，它表現(xiàn)為隨機(jī)過程變差的一部分。普通原因表現(xiàn)為一個(gè)穩(wěn)定系統(tǒng)的偶然原因。 每件產(chǎn)品的尺寸與別的都不同 范圍 范圍 范圍 范圍 但它們形成一個(gè)模型 ， 若穩(wěn)定 ， 可以描述為一個(gè)分布 范圍 范圍 范圍 分布可以通過以下因素來加以區(qū)分 位置 分布寬度 形狀 或這些因素的組合 常態(tài)分布模型 如果僅 存在變差的普通原因 ， 目標(biāo)值線 隨著時(shí)間的推移，過程的輸 出形成一個(gè)穩(wěn)定的分布并可 預(yù)測。 X — S 2. 計(jì)量型數(shù)據(jù)控制圖 與過程有關(guān)的控制圖 計(jì)量單位：（ mm, kg等） 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設(shè)備 1 2 3 4 5 6 結(jié)果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準(zhǔn)面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。 使不必要的變差最小 確保過程按預(yù)定的方式運(yùn)行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設(shè)定值 注： 應(yīng)在過程記錄表上記錄所有的相關(guān)事件，如：刀具更新，新的材料批次等，有利于下一步的過程分析。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等生產(chǎn)出來的零件，即一個(gè)單一的生產(chǎn)流。一般為 25組，首次使用管制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 注： 一個(gè)有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的 2倍。 （ XR） 2 計(jì)算控制限 首先計(jì)算極差的控制限，再計(jì)算均值的控制限 。其系數(shù)值見下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D4 D3 ? ? ? ? ? A2 注： 對于樣本容量小于 7的情況， LCLR可能技術(shù)上為一個(gè)負(fù)值。 ? 對各條線標(biāo)上記號（ UCLR ， LCLR ， UCLX ， LCLX） ? 注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗(yàn)控制限。 注 2： 因?yàn)樽咏M極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差，因此，首先應(yīng)分析 R圖。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小 ， 好狀態(tài) 。 （ XR） UCL LCL R UCL R LCL （存在高于和低于極差均值的兩種鏈） 不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈） 不受控制的過程的極差 313 明顯的非隨機(jī)圖形 a 非隨機(jī)圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點(diǎn)的分布在整個(gè)控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠(yuǎn)的幾個(gè)子組更改刪除） d 如果顯著少余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處（對于 25子組，如果有 40%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進(jìn)行調(diào)查： d1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò)。 33 重新計(jì)算控制限（極差圖） a 在進(jìn)行首次過程研究或重新評定過程能力時(shí)，失控的原因已 被識別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計(jì)算控制限，以排除失控 時(shí)期的影響，排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計(jì)算新的平均極差 R和控制限，并畫下 來 , 使所有點(diǎn)均處于受控狀態(tài)。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。 a3 測量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或 QC） 不受控制的過程的均值（ 有一點(diǎn)超過控制限 ） 受控制的過程的均值 UCL LCL X LCL UCL X 342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： 連續(xù) 7點(diǎn)在平均值一側(cè)或 7點(diǎn)連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者 。 c 如果顯著多余 2/3以上的描點(diǎn)落在離 R很近之處 （ 對于 25子組 ， 如果超過 90%的點(diǎn)落在控制限的 1/3區(qū)域 ） ， 則應(yīng)對下列情況的 一種或更多進(jìn)行調(diào)查： c1 控制限或描點(diǎn)計(jì)算錯(cuò)或描錯(cuò) c2 過程或取樣方法被分層 ， 每個(gè)子組系統(tǒng)化包含了從兩個(gè)或 多個(gè)具有完全不同的過程均值的過程流的測量值 （ 如：從 幾組軸中 ， 每組抽一根來測取數(shù)據(jù) 。 UCL X LCL UCL X LCL 均值失控的過程（點(diǎn)離過程均值太近） 均值失控的過程（點(diǎn)離控制限太近） 35 識別并標(biāo)注所有特殊原因（均值圖） a 對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個(gè)顯示處于失控狀態(tài)的條件進(jìn)行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 b 當(dāng)子組容量變化時(shí)，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。 n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 d2 42 計(jì)算過程能力 過程能力 是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格 界限的距離，用 Z來表示。 式中 : UCL 和 LCL為工程規(guī)范上、下， σ? 為過程標(biāo)準(zhǔn)偏差 注： Z 值為負(fù)值時(shí)說明過程均值超過規(guī)范。 1≤Cpk≤,說明制程能力可以 ， 但需改善 。 11 數(shù)據(jù)的收集（基本同 XR圖） 111 如果原始數(shù)據(jù)量大，常將他們記錄于單獨(dú)的數(shù)據(jù)表，計(jì)算 出 X 和 s 112 計(jì)算每一子組的標(biāo)準(zhǔn)差