超聲波檢測(cè)第三章ppt課件-wenkub
2023-05-18 18:28:44 本頁面
【正文】 NVpUg p?式中 P—— 施加在壓電晶片兩面的應(yīng)力 Ｕ p—— 晶片表面產(chǎn)生的電壓梯度，即電壓Ｕ與晶片厚度 t之比， Ｕ p ＝Ｕ／ｔ 壓電電壓常數(shù) g33是衡量壓電晶體材料接收靈敏度高低的重要參數(shù)。 ２）負(fù)壓電效應(yīng) 晶體材料在交變電場(chǎng)作用下，產(chǎn)生伸縮變形的效應(yīng)稱為負(fù)壓電效應(yīng)。 Ａ Ｂ － ＋ ＋ — a)石英晶體 b)正壓電效應(yīng) c)負(fù)壓電效應(yīng) 壓電材料的主要性能參數(shù) 1) 壓電應(yīng)變常數(shù) 壓電應(yīng)變常數(shù)表示在壓電晶體上施加單位電壓時(shí)所產(chǎn)生的應(yīng)變大小。 g33值越大，接收性能越好，接收靈敏度越高。 ?壓電材料的主要性能參數(shù) 4) 機(jī)電耦合系數(shù) 機(jī)電耦合系數(shù)Ｋ，表示壓電材料機(jī)械難（聲能）與電能之間的轉(zhuǎn)換效率 當(dāng)晶片振動(dòng)時(shí)，同時(shí)產(chǎn)生厚度和徑向兩個(gè)方向的變形，因此機(jī)電耦合系數(shù)分為厚度方向Ｋ t和徑向Ｋ p。 當(dāng)晶片振動(dòng)時(shí)，同時(shí)產(chǎn)生厚度和徑向兩個(gè)方向的變形，因此機(jī)電耦合系數(shù)分為厚度方向Ｋ t和徑向Ｋ p。使壓電材料的 壓電效應(yīng)消失的溫度稱為壓電材料的居里溫度，用Ｔ c表示。 探頭的種類和結(jié)構(gòu) 2) 斜探頭 接口 外殼 電纜線 阻尼塊 壓電晶片 斜楔 斜探頭可分為縱波斜探頭（ aLa1） ,橫波斜探頭（ aL=a1~aII）和表面波探頭 (aL≧ aII) 橫波斜探頭是利用橫波探傷，主要是用于檢測(cè)與探測(cè)面垂直或成一定角度的缺陷，如焊接汽輪機(jī)葉輪等。 根椐工件因選擇合適的工作頻率、晶 片尺寸和探測(cè)深度。 角度標(biāo)尺 接口 外殼 壓電晶片 旋轉(zhuǎn)桿 耦合劑 保護(hù)膜 探頭型號(hào)和規(guī)格 1) 探頭的標(biāo)識(shí) 探頭的型號(hào)標(biāo)識(shí)由以下幾部分組成： 基本頻率 晶片材料 晶片尺寸 探頭種類 特征 基本頻率：探頭的發(fā)射頻率，用阿拉伯?dāng)?shù)字表示，單位為ＭＨｚ 晶片材料：用化學(xué)元素縮寫符號(hào)表示 晶片尺寸：壓電晶片的大小，圓形晶片用直徑表示，矩形用長(zhǎng)乘寬表示，單位 mm 探頭種類：漢語拼音縮寫字母代表示 探頭特征：漢語拼音縮寫字母代表示 ２ ) 舉例 P 13 X13 K 2 5 B 14 Z K值為２ K值斜探頭 矩形晶片 13X13mm 鋯鈦酸鉛陶瓷 頻率 13 X13直探頭 圓形晶片直徑為 14mm 鈦酸鋇陶瓷 頻率 試塊的用途 超聲波檢測(cè)靈敏度是一個(gè)重要參數(shù)，因此在超聲波檢測(cè)前，常用試塊上某一特 定的人工反射體來調(diào)整檢測(cè)和校驗(yàn)靈敏度。特別是 3N以內(nèi)的缺陷，采用試塊比較法仍然 是最有效的定量方法。與IIW試塊相比 IIW2試塊體積小重量輕，形狀簡(jiǎn)單，易加工，便攜帶，但功能較IIW試塊要少。 5) CS CS2試塊 6) CSKIIIA 試塊 (參考試塊 ) 超聲波探傷儀 一、 超聲波探傷儀的概述 １、 超聲波探傷儀的作用 超聲波探傷儀是超聲波探作的主體設(shè)備，它的作用是產(chǎn)生電振蕩并加于換能器（探頭）上，激勵(lì)探頭發(fā)射超聲波，同時(shí)將探頭送回的電信號(hào)進(jìn)行放大，通過一定的方式顯示出來，從而得到被探工件內(nèi)部有無缺陷及缺陷位置大小等信息。但只適合檢查與探測(cè)面平行的缺陷，所以也大多被脈沖波探傷儀所代替。 二、 超聲波探傷儀的分類 二、 超聲波探傷儀的分類 按聲波通道分類 ① 單通道探傷儀：這種儀器由一個(gè)或一對(duì)探頭單獨(dú)工作，是目前超聲波探傷中應(yīng)用最廣泛
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