《超聲波檢測第三章》ppt課件-文庫吧
2025-04-18 18:28 本頁面
【正文】 以便獲得較高的發(fā)射靈敏度和接收靈敏度 （ 4）頻率常數(shù)Ｎ較大，介電常數(shù)較小，以便獲得較高的頻率 （ 5）居里溫度Ｔ較高，聲阻抗Ｚ適當 壓電材料的主要性能參數(shù) 探頭的種類和結(jié)構(gòu) 1) 直探頭（縱波探頭） 接口 外殼 電纜線 阻尼塊 壓電晶片 保護膜 直探頭用于發(fā)射和接收縱波故又稱縱波探頭。主要用于探測與探測面平行的缺陷。如板材鍛件探傷等。 探頭的種類和結(jié)構(gòu) 2) 斜探頭 接口 外殼 電纜線 阻尼塊 壓電晶片 斜楔 斜探頭可分為縱波斜探頭（ aLa1） ,橫波斜探頭（ aL=a1~aII）和表面波探頭 (aL≧ aII) 橫波斜探頭是利用橫波探傷，主要是用于檢測與探測面垂直或成一定角度的缺陷，如焊接汽輪機葉輪等。 表面波探頭當入射角大于第二臨界角在工件中產(chǎn)生表面波，主要檢測工件表面缺陷 吸聲材料 探頭的種類和結(jié)構(gòu) 3) 雙晶探頭（分割探頭） 接口 外殼 電纜線 阻尼塊 壓電晶片 延時塊 隔聲層 探傷區(qū) 雙晶探頭有兩塊壓電晶片，一塊用于 發(fā)射聲波，一塊用于接收聲波。根據(jù) 入射角不同分為縱波雙晶探頭和橫波 雙晶探頭。 優(yōu)點： （ 1）靈敏度高 （ 2）雜波少盲區(qū)小 （ 3）工件中近場區(qū)小 （ 4）探測范圍可調(diào) 雙晶探頭主要用于檢測近表面缺陷。 根椐工件因選擇合適的工作頻率、晶 片尺寸和探測深度。 探頭的種類和結(jié)構(gòu) 3) 聚焦探頭 探傷區(qū) 接口 外殼 電纜線 阻尼塊 壓電晶片 斜楔 吸聲材料 聲透鏡 聚焦區(qū) 聚焦探頭分為點聚焦和線聚焦。點聚焦理想焦點為一點，其聲透鏡為球面；線 聚焦理想焦點為一條線，其聲透鏡為柱面。 探頭的種類和結(jié)構(gòu) ４ ) 可變角探頭 可變角探頭入射角可變，轉(zhuǎn)動壓電晶片可使入射角連續(xù)變化，從而實現(xiàn)縱波、橫波、表面波和板波探傷。 角度標尺 接口 外殼 壓電晶片 旋轉(zhuǎn)桿 耦合劑 保護膜 探頭型號和規(guī)格 1) 探頭的標識 探頭的型號標識由以下幾部分組成： 基本頻率 晶片材料 晶片尺寸 探頭種類 特征 基本頻率：探頭的發(fā)射頻率，用阿拉伯數(shù)字表示，單位為ＭＨｚ 晶片材料：用化學(xué)元素縮寫符號表示 晶片尺寸：壓電晶片的大小，圓形晶片用直徑表示，矩形用長乘寬表示，單位 mm 探頭種類：漢語拼音縮寫字母代表示 探頭特征：漢語拼音縮寫字母代表示 ２ ) 舉例 P 13 X13 K 2 5 B 14 Z K值為２ K值斜探頭 矩形晶片 13X13mm 鋯鈦酸鉛陶瓷 頻率 13 X13直探頭 圓形晶片直徑為 14mm 鈦酸鋇陶瓷 頻率 試塊的用途 超聲波檢測靈敏度是一個重要參數(shù)，因此在超聲波檢測前，常用試塊上某一特 定的人工反射體來調(diào)整檢測和校驗靈敏度。 超聲波探傷儀和探頭的一些重要性能，如垂直線性、水平線性、動態(tài)范圍、靈 敏度余量、分辨力、盲區(qū)、探頭的入射點、 K值等都是利用試塊來測試的。 利用試塊可以調(diào)整儀器示波屏上刻度值與實際聲程之間的比例關(guān)系，即掃描速 度，以便對缺陷進行定位。 利用某些試塊繪出的距離 ―― 波幅 ―― 當量曲線（即實用 AVG曲線）來對缺陷 定量是目前常用的定量方法之一。特別是 3N以內(nèi)的缺陷，采用試塊比較法仍然 是最有效的定量方法。 此外，還可利用試塊來測量
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