【正文】 陷分別評定級別 ， 將兩者級別之和減一作為綜合評級的質(zhì)量級別。 當(dāng)缺陷的尺寸小于表 14的規(guī)定時，分級評 定時不計該缺陷的點數(shù)。 對由于 材質(zhì)或結(jié)構(gòu)等原因，進(jìn)行返修可能會產(chǎn)生不利后果的焊接接頭，各級別的圓形缺陷點數(shù) 可放寬 12點。 圓形缺陷的分級評定 圓形缺陷用圓形缺陷 評定區(qū)進(jìn)行質(zhì)量分級評定，圓形缺陷評定區(qū)為一個與焊縫平行的矩形，其 尺寸見表 11。 質(zhì)量分級一般規(guī)定 l級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透、夾銅和條形缺陷。 綜臺評級 在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)同時存在圓形缺陷和條形缺陷時，應(yīng)進(jìn)行綜合評級。 質(zhì) 量等級為 Ⅰ 級的對接焊接接頭和母材公稱厚度 T≤ 5mm的 Ⅱ 級對接焊接接頭，不計點數(shù)的 缺陷在圓形缺陷評點區(qū)內(nèi)不得多于 10個，超過時，對接焊接接頭質(zhì)量等級應(yīng)降低一級。 10 10179。 20 在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)或與圓形 缺 陷評定區(qū)邊界線相割的缺陷均應(yīng)劃入評定區(qū)內(nèi)。 圓形缺陷的質(zhì)量分級 圓形缺陷用圓形缺陷評定區(qū)進(jìn)行質(zhì)量分級 評定，圓形缺陷評定區(qū)為一個與焊縫平行的矩形，其尺寸見表 6。 質(zhì)量分級的一般規(guī)定 I級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和條形缺陷。 底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠清楚 地看到長度不小于 10mm的連續(xù)金屬絲影像時，則認(rèn)為該絲是可識別的。 9 底片質(zhì)量 底片上，定位和識別標(biāo)記影像應(yīng)顯示完整、位置正確。 由于結(jié)構(gòu)原因不能進(jìn)行多次透照時 ， 可采用橢圓成像或重疊成像方式透照一次 。 透照 3次。 小徑管環(huán)向?qū)咏宇^的透照次數(shù) 小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^ 100%檢測的透照次數(shù) ： 采用傾斜透照橢圓成像時，當(dāng) T/Do≤ ，相隔 90176。 Do小于等于 100mm小徑管環(huán)向?qū)雍附咏宇^的透照布置 小徑管采用雙壁雙影透照布置 ， 當(dāng)同時滿足下列兩 條件時應(yīng)采用 傾斜透照方式橢圓成像： a)T（壁厚）≤ 8mm。 縱縫透照 縱縫透照厚度比 K≤ ， f≥ 2L3，當(dāng)膠片長 300㎜ 時，一次透照長度 L3=300mm。 曝光曲線 對每臺在用射線設(shè)備均應(yīng)作出經(jīng) 常檢測材料的曝光曲線，依據(jù)曝光曲線確定曝光、參 數(shù)。 f源至工件表面距離 d有效焦 點尺寸 b工件至膠片距離 采用源在內(nèi)中心透照方 式周向曝光時，只要得到的底片質(zhì)量符合黑度、靈敏度要求，f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的 50%。 6 檢測時機(jī) 除非另有規(guī)定 ， 射線檢測應(yīng)在焊后進(jìn)行 。 5 檢測部位表面要求 在 射線檢測之前，對接焊接接頭的表面應(yīng)經(jīng)外觀檢查并合格。 黑度計 黑度計可測的最大黑度應(yīng)不小于 ，測量值的誤差應(yīng)不超過177。 評片室與觀片燈及黑度計 評片室 評片一般應(yīng)在專用的評片室內(nèi)進(jìn)行。如工件上不允許打鋼印的 ,可用記號筆標(biāo)出，并在探傷工件排版圖上標(biāo)出尺寸。） 定位標(biāo)記 焊縫 透照部位的中心定位標(biāo)記 ，由“ + ” 表示 ， 焊縫透照部位的搭接標(biāo)記 ，由 “↑ ”表示。 標(biāo)記一般應(yīng)放置在距焊縫邊緣至少 5㎜以外部位。中心標(biāo)記指示透照 部位區(qū)段的中心位置和 分段編號的方向，一 般用十字箭頭“ ”表示。 小徑管可選用通用下線型像質(zhì)計或規(guī)定的專用（等徑金屬絲）像質(zhì)計，金屬絲應(yīng)橫跨焊縫放置。對比試 驗方法是在射線源側(cè)和 膠片側(cè)各放一個像質(zhì)計，用與工件相同的條件透照，測定出像質(zhì)計放置在源側(cè)和膠 片側(cè)的靈敏度差異，以此修正應(yīng)識別像質(zhì)計絲號，以保證實際透照的底片靈敏度符 合要求。雙壁單影透照規(guī)定像質(zhì)計放置 在膠片側(cè)。 膠片與增感屏在透照過程中應(yīng)始終緊密接觸。膠片的本底霧度應(yīng)不大于 。 240 周向 X射線照相應(yīng)盡量選用較低的管電壓 。 從事射線檢測人員上崗前，應(yīng)進(jìn)行輻射安全知識的培訓(xùn)，并取得放射工作人員證。滿足《壓力容器安全技術(shù)監(jiān)察規(guī)程》和 GB1502020的要求。企業(yè)無損檢測通用工藝文件 內(nèi)容與適用范圍 引用標(biāo)準(zhǔn) 檢測人員資格及防護(hù) 檢測設(shè)備、器材和材料 檢測部位表面準(zhǔn)備 檢測時機(jī) 檢測工藝及技術(shù) 暗室處理 底片質(zhì)量 檢測結(jié)果的評定和質(zhì)量等級分類 1檢測記錄、報告和資料存檔 1 內(nèi)容與適用范圍 本規(guī)程規(guī)定了焊縫射線檢測 人員應(yīng)具備的資格、所用器材、檢測工藝和驗收標(biāo)等。 檢測工藝是本規(guī)程的補(bǔ)充，由 II級人員按要求編寫，其參數(shù)有具體規(guī)定。 射線防護(hù)應(yīng)符合 GB163571996。 在采用較高管電壓時 ， 應(yīng)保證適當(dāng)?shù)钠毓饬?。 采用金屬增感屏。 像質(zhì)計 采用線型像質(zhì)計，其型號和規(guī)格應(yīng)符合 JB/T7902的規(guī)定。雙壁雙 影透照規(guī)定像質(zhì)計可放置在源側(cè)，也可放置在膠片側(cè)。 d)當(dāng)像質(zhì)計放置在膠片側(cè)時 ， 應(yīng)在像質(zhì)計上適當(dāng)位置放置鉛 字 “ F” 作為標(biāo)記 ， “ F” 標(biāo)記的影像應(yīng)與像質(zhì)計的標(biāo)記同時出現(xiàn)在底片上，且應(yīng)在檢測報告中注明。 如底片黑度均勻部位（一般是鄰近焊縫的母材金屬區(qū)）能夠 清晰地看到長度不小于10mm的連續(xù)金屬絲影像時，則認(rèn)為該絲是可識別的。搭接標(biāo)記是連續(xù)檢測時的透照分段標(biāo)記，可用符號“↑”或其他能顯示搭接情況的方法表示。 所有標(biāo)記的影像不應(yīng)重疊，不應(yīng)干擾有效評定范圍內(nèi)的影像。 標(biāo)記帶的使用 當(dāng)焊縫透照比例為 100%時，可用標(biāo)記帶做搭接標(biāo)記。 局部射線探傷的焊縫標(biāo)記 對局部探傷焊縫 ， 應(yīng)在透照部位作出定位中心標(biāo)記 ， 拍片部位編號標(biāo)記等 。 評片室應(yīng)整潔、安靜，溫度適宜，光線應(yīng)暗且 柔和。 。表面不規(guī)則狀態(tài)在底 片上的影像不得掩蓋或干擾缺陷影像，否則應(yīng)對表面作適當(dāng)修理。 對有延遲裂紋傾向的材料 ， 至少應(yīng)在焊接完成 24小時后進(jìn)行射線檢測。 采用源在內(nèi)單壁透照方式時，只要得 到的底片質(zhì)量符合黑度、靈敏度要求， f值可以減小，但減小值不應(yīng)超過規(guī)定值的 20%。 對使用中的曝光曲線，每年至少應(yīng)校驗一次。 環(huán)縫單壁外透照（如圖 D． 3） 厚度 比 K≤ l． 1根據(jù)源至工件表面距離 f與筒體直徑 Do來決定透照次數(shù) N。 b)g（焊縫寬度）≤ Do/4。透照 2次。垂直透照重疊成像時，一般應(yīng)相隔 120176。鑒于透照一次不能實現(xiàn)焊縫全長的 100％檢測 ， 此時應(yīng)采取有效措施擴(kuò)大缺陷可檢出范圍，并保證底片評定范圍內(nèi)黑度和靈敏度滿足要求。 底片評定范圍內(nèi) 的黑度。專用像質(zhì)計至少應(yīng)能識 別兩 根金屬絲。 Ⅱ 級和 Ⅲ 級對接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合和未焊透。圓形缺陷評定區(qū)應(yīng)選在缺陷最嚴(yán)重的區(qū)域。 將評定區(qū)內(nèi)的缺陷按表 7的規(guī)定換算為點數(shù) ，按表 8的規(guī)定評定對接焊接接頭的質(zhì)量級別。 20 母材公稱厚度 T（㎜） ≤ 10 1015 1525 2550 50100 l級 1 2 3 4 5 lI級 3 6 9 12 15 Ⅲ 級 6 12 18 24 30 Ⅳ級 缺陷點數(shù)大干Ⅲ級或缺陷長徑大于 T/2 注：當(dāng)母材公稱厚度不同時，取較薄板的厚度。 表 9 不 計點數(shù)的缺陷尺寸 母材公稱厚度 T（㎜） 缺陷長徑（㎜） ≤ 25 ≤ 2550 ≤ 條形缺陷的質(zhì)量分級 條形缺陷按表 0的規(guī)定進(jìn)行分級評定 。 綜合評級的級別如下確定 ：對圓形缺陷和條形缺陷分別評定級別，將兩者級別之 和減一作為綜合評級的質(zhì)量級別。 Ⅱ級和Ⅲ級蓼接焊接接頭內(nèi)不允許存在裂紋、未熔合、未焊透和夾銅缺陷。圓形缺陷評定區(qū)應(yīng)選在缺陷最嚴(yán)重的區(qū)域。 表 12 圓形缺陷點數(shù)換 算 ㎜ 缺陷長徑， mm ≤ 1 1— 2 23 3— 4 46 6— 8 8— 10 缺陷點數(shù) l 2 3 6 10 15 25 表 13 各 級別對接接頭允許的圓形缺 陷最多點數(shù) ㎜ 評定區(qū)， mmxmm 10 x 10 10 x 20 母材公稱厚度， Tmm ≤ 3 35 51O 1O20 2040 4080 I級 1 2 3 4 6 7 Ⅱ 級 3 7 lO 14 21 24 Ⅲ 級 6 14 2l 28 42 49 Ⅳ級 缺陷點數(shù)大于 Ⅲ 級或缺陷長徑大于 2T/3或缺陷長徑大于 10mm 注：當(dāng)母材公稱厚度不同時，取較薄板的厚度。但對于 I級對接焊接接頭 和母材公稱厚度丁≤ 5mm的Ⅱ級對接焊接接頭 ， 不計點數(shù)的缺陷在圓形缺陷評定區(qū)內(nèi)不得多于 10個 ， 超過時對接焊接接頭質(zhì)量應(yīng)降低一級。 鋼制承壓設(shè)備管子及壓力管道熔化焊環(huán)向?qū)雍附咏宇^射線檢測質(zhì)量分級 缺陷類型 對接焊接接頭中存在的缺陷按性質(zhì)可分為裂紋、未熔合、未焊透、條形缺陷、圓 形 缺陷、根部內(nèi)凹、根部咬邊共七類。 對接焊接接頭中缺陷超過 Ⅲ 級者為Ⅳ級。 條形皺陷的分級評定 按 。 表 l6 外徑 Do≤ 100mm時根部內(nèi)凹 和根部咬邊的分級 根部內(nèi)凹和根部咬邊最大深度， mm 根部內(nèi)凹和根部咬邊最大總長度與 焊 級 別 與壁厚的比 最大值 焊縫總長度的比 I 不 允 許 Ⅱ ≤ 15% ≤ ≤ 30% Ⅲ ≤ 20% ≤ ≤ 30% Ⅳ 大 于 Ⅲ 級 者 注：對斷續(xù)根部內(nèi)凹和根郭咬邊，以根部內(nèi)凹和根部咬邊本身的長度累計計算總長度。 表 18 管外徑 D。 11. 檢測記錄、報告和資料存檔 記錄 評片記錄由 Ⅱ 級人員 按 “工藝卡 ”在 “評片原始記錄 ” 格式上填寫 ， 檢測部位圖由 Ⅱ 級 人員按實際焊縫位置繪制，復(fù)評由 Ⅱ 級以上人員進(jìn)行。 本規(guī)程采用 A型脈沖反射式超聲儀器對 鋼板、鍛件、螺柱和焊縫進(jìn)行檢測。檢測有 Ⅱ 級人員進(jìn)行， I級人員作檢測的輔助工作。探傷儀應(yīng)具備有 80dB以上的連續(xù)可調(diào) 衰減器，步進(jìn)級每檔不大于 2dB，其精度為任意相鄰 12dB的誤差在177。 單斜探頭聲束軸線水平偏離角不應(yīng) 大于 2。 直探頭的遠(yuǎn)場 分辨力應(yīng)不小于 30dB，斜探頭的遠(yuǎn)場分辨力應(yīng)不小于 6dB。所有影響超聲檢測的銹蝕、飛濺 和污物等都 應(yīng)予以清除，其表面粗糙度應(yīng)符合檢測要求。當(dāng)采用自動報警裝置掃查時，不受此限。在檢測和缺陷定量時，應(yīng)對由表面粗糙度引起的耦合損失進(jìn)行補(bǔ)償。對檢測面是曲面的工件，應(yīng)采取曲率半徑與工件相同或相近的試塊， 通過對比試驗進(jìn)行曲率補(bǔ)償。 檢測前儀器和探頭系統(tǒng)測定 使用儀器一斜探頭系統(tǒng)，檢測前應(yīng)測定前沿距離、 K值和主聲束偏離 ，調(diào)節(jié)或 復(fù) 核掃描 量程和掃描靈敏度。如果任意一 點在掃描線上的偏移超過 掃描線讀數(shù)的 10%，則掃描量程應(yīng)重新調(diào)整，并對上一次復(fù)核以來所有的檢 測部 位進(jìn)行復(fù)檢。 校準(zhǔn)、復(fù)核的有關(guān)注意事項 校準(zhǔn)、復(fù)核和對儀器進(jìn)行線性檢測時，任何影響儀器線性的控制器（如抑制或濾波開 關(guān)等）都應(yīng)放在“關(guān)”的位置或處于最低水平上。 標(biāo)準(zhǔn)試塊尺寸精度應(yīng)符合要求，并經(jīng) 計量部門檢定合格。如果涉及到兩種或兩種以上不同厚度部件焊接接頭的檢測，試塊的厚度應(yīng) 由其最大厚度確定。 2 承壓設(shè)備用鋼板超聲檢測和質(zhì)量分級 范圍 本條適用于板厚為 650mm的碳素鋼 、 低合金鋼制承壓設(shè)備用板材的超聲檢測和質(zhì)量分級。14mm216。 用單直探頭檢測厚度大于 20mm的鋼板時 ， CBⅡ標(biāo)準(zhǔn)試塊應(yīng)符合圖 2和表 2的規(guī)定 。5平底孔第 一次反射渡高調(diào)整到滿刻度的50%作 為基準(zhǔn)靈敏度。 掃查方式 a)探頭沿垂直于鋼板壓延方向，間距不大于 100mm的平行線進(jìn)行掃 查。 b)當(dāng)?shù)酌娴谝淮畏瓷洳ǜ?(B1)波高未達(dá)到滿刻度，此時，缺陷第一次反射波 (Fl)波高與底面第一次反射波 (B1)波高之比大于或等于 50%，即 Bl100%，而 Fl/Bl≥ 50%。此時，探頭中心的移動距離即為缺陷的指示長度 ， 探頭中心即為缺陷的邊界點 。兩種方法測得的結(jié)果以較為嚴(yán)重者為準(zhǔn)。 缺陷的評定方法