測(cè)試分析報(bào)告v10-wenkub
2023-04-09 05:34:31 本頁面
【正文】 這部分用于過程度量的數(shù)據(jù)包括文檔生產(chǎn)率和測(cè)試執(zhí)行率。 P 表示部分通過， N/A 表示不可測(cè)試或者用例不適用。 缺陷匯總 被測(cè)系統(tǒng) 系統(tǒng)測(cè)試 回歸測(cè)試 總計(jì) 合計(jì) 按嚴(yán)重程度 嚴(yán)重 一般 微小 按缺陷類型 用戶界面 一致性 功能 算法 接口 文檔 用戶界面 其他 按功能分布 功能一 功能二 功能三 功能四 功能五 功能六 功能七 最好給出缺陷的餅狀圖和柱狀圖以便直觀查看。 測(cè)試結(jié)論 1． 測(cè)試執(zhí)行是否充分（可以增加對(duì)安全性、可靠性、可維護(hù)性和功能性描述） 2． 對(duì)測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)的控制措施和成效 3． 測(cè)試目標(biāo)是否完成 4． 測(cè)試是否通過 5． 是否可以進(jìn)入下一階段項(xiàng)目目標(biāo) 建議 1．對(duì)系統(tǒng)存在問題的說明，描述測(cè)試所揭露的軟件缺陷和不足，以及可能給軟件實(shí)施和運(yùn)行帶來的影響 2．可能存在的潛在缺陷和后續(xù)工作 3．對(duì)缺陷修改和產(chǎn)品設(shè)計(jì)的建議 4．對(duì)過程改進(jìn)方面的建議 。 圖例 缺陷分析 本部分對(duì)上述缺陷和其他收集數(shù)據(jù)進(jìn)行綜合分析 缺陷綜合分析 缺陷發(fā)現(xiàn)效率 ＝ 缺陷總數(shù) /執(zhí)行測(cè)試用時(shí) 可到具體人員得出平均指標(biāo) 用例質(zhì)量 ＝ 缺陷總數(shù) /測(cè)試用例總數(shù) 100％ 缺陷密度 ＝ 缺陷總數(shù) /功能點(diǎn)總數(shù) 缺陷密度可以得出系統(tǒng)各功能或各需求的缺陷分布情況，開發(fā)人員可以在此分析基礎(chǔ)上得出那部分功能 /需求缺陷最多，從而在今后開發(fā)注意避免并注意在實(shí)施時(shí)予與關(guān)注，測(cè)試經(jīng)驗(yàn)表明，測(cè)試缺陷越多的部分，其隱藏的缺陷也越多。需求覆蓋率計(jì)算 Y 項(xiàng) /需求總數(shù) 100％ 測(cè)試覆蓋 需求 /功能（或編號(hào)） 用例個(gè)數(shù) 執(zhí)行總數(shù) 未執(zhí)行 未 /漏測(cè)分析和原因 實(shí)際上，測(cè)試用例已經(jīng)記載了預(yù)期結(jié)果數(shù)據(jù)，測(cè)試缺陷上說明了實(shí)測(cè)結(jié)果數(shù)據(jù)和與預(yù)期結(jié)果數(shù)據(jù)的偏差；因此沒有必要對(duì)每個(gè)編號(hào)在此包含更詳細(xì)的說明的缺陷記錄與偏差，列表的目的僅在于更好的查看測(cè)試結(jié)果。列出表格清單則便于知道那個(gè)子系統(tǒng) /子模塊的測(cè)試頻度，對(duì)于多次回歸的子系統(tǒng) /子模塊將引起開發(fā)者關(guān)注 覆蓋分析 需求覆蓋 需求覆蓋率是指經(jīng)過測(cè)試的需求 /功能和需求規(guī)格說明書中所有需求 /功能的比值，通常情況下要達(dá)到 100％的目標(biāo)。 例如 XXX 子系統(tǒng) /子功能 實(shí)際開始時(shí)間－實(shí)際結(jié)束時(shí)間 總工時(shí) /總工作日 任務(wù) 開始時(shí)間 結(jié)束時(shí)間 總計(jì) 合計(jì) 對(duì)于大系統(tǒng) /項(xiàng)目來說最終要統(tǒng)計(jì)資源的總投入，必要時(shí)要增加成本一欄，以便管理者清楚的知道究竟花費(fèi)了多少人力去完成測(cè)試。對(duì)于不需要過程度量或者相對(duì)較小的項(xiàng)目，例如用于驗(yàn)收時(shí)提交用戶的測(cè)試報(bào)告、小型項(xiàng)目的測(cè)試報(bào)告，可省略過程方面的度量部分；而采用了 CMM/ISO 或者其他工程標(biāo)準(zhǔn)過程的，需要提供過程改進(jìn)建議和參考的測(cè)試報(bào)告－主要用于公司內(nèi)部測(cè)試改進(jìn)和缺陷預(yù)防機(jī)制－則過程度量需要列出。 提示：主要是黑盒測(cè)試，測(cè)試方法可以寫上測(cè)試的重點(diǎn)和采用的測(cè)試模式，這樣可以一目了然的知道是否遺漏了重要的測(cè)試點(diǎn)和關(guān)鍵塊。 提示：如果能夠具體對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行說明，在其他開發(fā)人員、測(cè)試經(jīng)理閱
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