【企業(yè)-標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范】汽車系統(tǒng)用電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范(word檔)-wenkub
2023-05-05 11:35:11 本頁(yè)面
【正文】 元器件，還必須通過(guò)對(duì)其電氣性能與技術(shù)參數(shù)的 測(cè)量，以確定其優(yōu)劣，剔除那些已經(jīng)失效的元器件。 常用的試驗(yàn) 項(xiàng)目一般有： 無(wú)載 溫 度 存貯； 有載溫度存貯；溫度交變 ； 濕熱；熱沖擊 試驗(yàn)；壽命；熱疲勞（也稱熱老化）等等 。這個(gè)規(guī)律，恰似一條浴盆曲線，人們稱它為電子元器件的效能曲線，如圖 1所示。所謂篩選，就是對(duì)電子元器件施加一種應(yīng)力或多種應(yīng)力試驗(yàn)，暴露元器件的固有缺陷而不破壞它的完整性。因電子元器件試驗(yàn)后的檢測(cè)方法和要求與試驗(yàn) 前的一致，參見 。 試驗(yàn)前的性能參數(shù)檢查 電子元器件的數(shù)據(jù)手冊(cè)均提供了各種電氣性能及熱性能參數(shù)。如三極管，看其外表有無(wú)破損，引腳有無(wú)折斷或銹蝕，還要檢查一下器件上的型號(hào)是否清晰可辨。 無(wú)源器件的目檢可參考 MILSTD883E 方法 ； 密封封裝器件的外部目檢依據(jù) MILSTD883E 方法 ； 對(duì)于組件（如遙控器的接收頭、傳感器等）的內(nèi)部目檢的實(shí) 施細(xì)則和判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)： MILSTD883E 方法 內(nèi)部目檢 (混合電路 )，此項(xiàng)試驗(yàn)帶有破壞性。如果仍找不到器件的專用試 驗(yàn)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，可參考其應(yīng)用的最終產(chǎn)品的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。 主要檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)有： GB/T 5729— 94 《電子設(shè)備固定電阻器第一部分：總規(guī)范》； GB/T 26932021《電子設(shè)備用固定電容器 第 1部分：總規(guī)范》； GB/T 8554— 1998 《變壓器和電感器測(cè)量方法及試驗(yàn)程序》； GB/T 4023－ 1997《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第 2部分：整流二級(jí)管》； GB/T 6571－ 1995《半導(dǎo)體器件分立器件 第 3 部分：信號(hào)（包括開關(guān)）和調(diào)整二級(jí)管》； GB/T 4587－ 94《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第 7部分：雙極型 晶體管》； GB/T 4586－ 94《半導(dǎo)體器件 分立器件 第 8部分：場(chǎng)效應(yīng)晶體管》； GB/T － 2021《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第 52部分：光電子器件基本額定值和特性》； GB/T15291－ 94《半導(dǎo)體器件 第 6部分 晶閘管》； GB 3442－ 86《半導(dǎo)體集成電路 運(yùn)算（電壓）放大器測(cè)試方法的基本原理》； GB/T 6798－ 1996《半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測(cè)試方法的基本原理》； GB/T 4377－ 1996《半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理 》； GB 343982《半導(dǎo)體集成電路 TTL電路測(cè)試方法的基本原理》； GB 383483《半導(dǎo)體集成電路 CMOS 電路測(cè)試方法的基本原理》； GB/T1402892《半導(dǎo)體集成電路模擬開關(guān)測(cè)試方法的基本原理》； GB 344382《半導(dǎo)體集成電路 MOS 隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理》； YD/T 7312021《通信用高頻開關(guān)整流器》； YD/T 10192021《數(shù)字通信用實(shí)心聚烯烴絕緣水平對(duì)絞電纜》； GJB128A97《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》； GJB150－ 86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 》； GJB 360A－ 96《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》； GJB 548A－ 96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》等。對(duì)于惡劣環(huán)境下的應(yīng)用，也可以參考本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)所用器件進(jìn)行試驗(yàn)和檢測(cè)。就安裝方式而言，目前可分為傳統(tǒng)安裝（又稱通孔裝即 DIP）和表面安裝兩大類（即又稱 SMT 或 SMD）。 電子元器件 檢驗(yàn)規(guī)范
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