【企業(yè)-標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范】汽車系統(tǒng)用電子元器件檢驗(yàn)規(guī)范(word檔)-展示頁(yè)
2025-05-06 11:35本頁(yè)面
【正文】 子元器件的種類繁多。 電子元器件 檢驗(yàn)規(guī)范 1 范圍 電子元器件、器件和組件，在本規(guī)范中，均統(tǒng)稱為電子元器件。 本規(guī)范主要針對(duì)汽車系統(tǒng)中所使用的電子元器件。就安裝方式而言，目前可分為傳統(tǒng)安裝（又稱通孔裝即 DIP）和表面安裝兩大類（即又稱 SMT 或 SMD）。由于器件的種類繁多，應(yīng)用目的不同，適用的試驗(yàn)方法上也有區(qū)別，具體可查閱相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。對(duì)于惡劣環(huán)境下的應(yīng)用，也可以參考本標(biāo)準(zhǔn)對(duì)所用器件進(jìn)行試驗(yàn)和檢測(cè)。 GMW3172： 2021 通用工程標(biāo)準(zhǔn) 汽車電子 器件 的環(huán)境、可靠性、及性能要求符合性分析、開(kāi)發(fā)及驗(yàn)證總規(guī)范。 主要檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)有： GB/T 5729— 94 《電子設(shè)備固定電阻器第一部分：總規(guī)范》； GB/T 26932021《電子設(shè)備用固定電容器 第 1部分：總規(guī)范》； GB/T 8554— 1998 《變壓器和電感器測(cè)量方法及試驗(yàn)程序》； GB/T 4023－ 1997《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第 2部分：整流二級(jí)管》； GB/T 6571－ 1995《半導(dǎo)體器件分立器件 第 3 部分：信號(hào)（包括開(kāi)關(guān)）和調(diào)整二級(jí)管》； GB/T 4587－ 94《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第 7部分：雙極型 晶體管》； GB/T 4586－ 94《半導(dǎo)體器件 分立器件 第 8部分：場(chǎng)效應(yīng)晶體管》； GB/T － 2021《半導(dǎo)體器件分立器件和集成電路 第 52部分：光電子器件基本額定值和特性》； GB/T15291－ 94《半導(dǎo)體器件 第 6部分 晶閘管》； GB 3442－ 86《半導(dǎo)體集成電路 運(yùn)算（電壓）放大器測(cè)試方法的基本原理》； GB/T 6798－ 1996《半導(dǎo)體集成電路 電壓比較器測(cè)試方法的基本原理》； GB/T 4377－ 1996《半導(dǎo)體集成電路 電壓調(diào)整器測(cè)試方法的基本原理 》； GB 343982《半導(dǎo)體集成電路 TTL電路測(cè)試方法的基本原理》； GB 383483《半導(dǎo)體集成電路 CMOS 電路測(cè)試方法的基本原理》； GB/T1402892《半導(dǎo)體集成電路模擬開(kāi)關(guān)測(cè)試方法的基本原理》； GB 344382《半導(dǎo)體集成電路 MOS 隨機(jī)存儲(chǔ)器測(cè)試方法的基本原理》； YD/T 7312021《通信用高頻開(kāi)關(guān)整流器》； YD/T 10192021《數(shù)字通信用實(shí)心聚烯烴絕緣水平對(duì)絞電纜》； GJB128A97《半導(dǎo)體分立器件試驗(yàn)方法》； GJB150－ 86《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 》； GJB 360A－ 96《電子及電氣元件試驗(yàn)方法》； GJB 548A－ 96《微電子器件試驗(yàn)方法和程序》等。 在收到器件時(shí)，首先應(yīng)根據(jù)器件的特性、應(yīng)用的產(chǎn)品類別，選擇相應(yīng)的試驗(yàn)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)。如果仍找不到器件的專用試 驗(yàn)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)，可參考其應(yīng)用的最終產(chǎn)品的試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。具體的試驗(yàn)條件可參考器件的數(shù)據(jù)手冊(cè)所提供的存貯溫度，操作溫度，和其它相關(guān)試驗(yàn)檢測(cè)條件參數(shù)。 無(wú)源器件的目檢可參考 MILSTD883E 方法 ； 密封封裝器件的外部目檢依據(jù) MILSTD883E 方法 ； 對(duì)于組件（如遙控器的接收頭、傳感器等）的內(nèi)部目檢的實(shí) 施細(xì)則和判據(jù)標(biāo)準(zhǔn)依據(jù)： MILSTD883E 方法 內(nèi)部目檢 (混合電路 )，此項(xiàng)試驗(yàn)帶有破壞性。此項(xiàng)試驗(yàn)帶有破壞性。如三極管，看其外表有無(wú)破損，引腳有無(wú)折斷或銹蝕，還要檢查一下器件上的型號(hào)是否清晰可辨。
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