qcc改善sc312ft測(cè)試穩(wěn)定性(已修改)
2025-06-10 15:58 本頁面
【正文】 改善 SC312 FT 測(cè)試穩(wěn)定性 測(cè)試一廠 R340 成員介紹 R340 DOE IMPROVE TEAM OUTLINE 1. 現(xiàn)況分析 2. 要因分析 3. 第一階段實(shí)驗(yàn) 4. 第二階段實(shí)驗(yàn) 5. 第三階段再現(xiàn)性實(shí)驗(yàn) 6. 標(biāo)準(zhǔn)化 選題理由 ? SC312 TESTER FT 測(cè)試容易發(fā)生兩頭差異，使得機(jī)臺(tái)穩(wěn)定性不佳。 ? 因兩頭差異的產(chǎn)生，造成良率 loss，批結(jié)良率不高。 ? 利用 “ ” 手法 ， 找出 最佳生產(chǎn)條件 ，以提升測(cè)試效率 。 現(xiàn)況分析 R340 現(xiàn)況分析 (1) SC312 測(cè)試 FT 7/8/9 月各機(jī)臺(tái) MTBF 比較 05001000150020xx2500300035007/2 7/97/16 7/23 7/308/68/13 8/20 8/279/39/10 9/17 9/24 10/1 10/8 weeklyminutesSC_1 SC_2 SC_3 SC_4 Testing I / R340 現(xiàn)況分析 (2) Testing I / R340 SC4 7/8 月 測(cè) 試 狀 況%% %% % %%% %% % %0%20%40%60%80%100%正 常 生 產(chǎn) 批 完 直 接 重 測(cè) 兩 頭 差 異 CORR FAIL 連 續(xù) FAIL OPEN現(xiàn)況分析 (3) Testing I / R340 SC4 測(cè)試 SB5521 3/4/5/6/7/8 月平均良率 9 3 %9 4 %9 5 %9 6 %9 7 %9 8 %M a r c h A p r i l M a y J u n e J u l y A u g u e s t預(yù)期目標(biāo) ? 求穩(wěn) – 1. 機(jī) 臺(tái) MTBF 1500 分鐘 2. 兩頭差異當(dāng)機(jī) INDEX 貢獻(xiàn) % ? 求準(zhǔn) – 1. 正批測(cè)試良率 (批結(jié)不重測(cè) ) 97% Testing I / R340 要因分析 R340 特性要因圖 為何 FT測(cè)試會(huì)有兩頭差異 Tester 有問題 PE/card有問題 PE/card品質(zhì)不良 PE/card level shift Test head mount機(jī)不佳 Head與 handler mount機(jī)位置不佳 Tester位置不佳 head沒水平 Head水平位置不正 支撐架支撐不當(dāng) 太緊 太鬆 Contact不良 Contact壓力不當(dāng) 太大 太小 Socket不良 Socket阻 值太大 測(cè)太久 氧化 沾有異物 Socket損壞 壓 2顆 IC 測(cè)太久變形 Contact blade不良 壓痕太深 壓座損壞 Contact blade安裝不良 墊片厚度不當(dāng) 線貨有問題 包裝有問題 膠體太厚 膠體太薄 POGO pin有問題 凹陷 線貨 yield不佳 太厚 太薄 測(cè)太久 壓 2顆 IC Contact壓力太大 L/Board有問題 L/B上焊點(diǎn)不佳 L/B斷線 豐田原則 像話原則 特性要因圖 為何 FT測(cè)試會(huì)有兩頭差異 Test head mount機(jī)不佳 Head與 handler mount機(jī)位置不佳 Tester位置不佳 head沒水平 Head水平位置不正 支撐架支撐不當(dāng) 太緊 太鬆 Contact不良 Contact壓力不當(dāng) 太大 太小 Socket不良 Socket阻 值太大 測(cè)太久 氧化 沾有異物 Socket損壞 壓 2顆IC 測(cè)太久變形 Contact blade不良 壓痕太深 壓座損壞 Contact blade安裝不良 墊片厚度不當(dāng) 太厚 太薄 測(cè)太久 壓 2顆 IC Contact壓力太大 豐田原則 像話原則 要因分析 Testing I / R340 小 要 因 控制力 技術(shù)力 因子( 母數(shù) )*1 ( 強(qiáng) )*2 代號(hào)Supporter √ + ATest Head 水平角度 √ + BSocket 測(cè)試次數(shù) √ Δ CDrop In Test √ Δ DMachine Speed √ Δ FContact Pressure √ + G實(shí)驗(yàn)因子篩選表 因子選擇 步驟一 : 控制力篩選 步驟二 : 技術(shù)性篩選 母數(shù) 1. 水 準(zhǔn)可被指定 2. 指定之水準(zhǔn)有自主權(quán) ? 策略一 : 第一階段實(shí)驗(yàn) – 篩選主要因子 ? 策略二 : 第二階段實(shí)驗(yàn) – 找出最佳生產(chǎn)條件 ? 策略三 : 再現(xiàn)性實(shí)驗(yàn) 實(shí)驗(yàn)策略 有清楚的實(shí)驗(yàn)策略 比急著去做實(shí)驗(yàn)更重要 第一階段實(shí)驗(yàn) R340 直交配置 Testing I / R340 因子 代號(hào) 交互作用1 2Supporter A A1 A2Test Head 水平角度 B B1 B2Socket 測(cè)試次數(shù) C C1 C2Drop In Test D D1 D2Machine speed F F1 F2Contact Pressure G G1 G2水準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)因子篩選表 實(shí)驗(yàn)策略 :篩選主要因子 第一階段實(shí)驗(yàn) 目的 : 篩選因子 因子 : 多 水準(zhǔn) : 少 ANOVA 結(jié)果 : 顯著 建議配置 : 2N 型 (L16) 直交配列表 配 置 C D C F B A因 子 G C G D G D e e e F G B G G A1 2 3 4 5 6 7 8 9 1 0 1 1 1 2 1 3 1 4 1 51 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 12 1 1 1 1 1 1 1 2 2 2 2 2 2 2 23 1 1 1 2 2 2 2 1 1 1 1 2 2 2 24 1 1 1 2 2 2 2 2 2 2 2 1 1 1 15 1 2 2 1 1 2 2 1 1 2 2 1 1 2 26 1 2 2 1 1 2 2 2 2 1 1 2 2 1 17 1 2 2 2 2 1 1 1 1 2 2 2 2 1 18 1 2 2 2 2 1 1 2 2 1 1 1 1 2 29 2 1 2 1 2 1 2 1 2 1 2 1 2 1 21 0 2 1 2 1 2 1 2 2 1 2 1 2 1 2 11 1 2 1 2 2 1 2 1 1 2 1 2 2 1 2 11 2 2 1 2 2 1 2 1 2 1 2 1 1 2 1 21 3 2 2 1 1 2 2 1 1 2 2 1 1 2 2 11 4 2 2 1 1 2 2 1 2 1 1 2 2 1 1 21 5 2 2 1 2 1 1 2 1 2 2 1 2 1 1 21 6 2 2 1 2 1 1 2 2 1 1 2 1 2 2 1Testing I / R340 1 2 13 15 10 4 12 14 11 3 5 6 G B A F D C e 7 9 8 L16 2 點(diǎn)線圖 15 Experiment Plan 實(shí)驗(yàn)隨機(jī)編號(hào) 實(shí)驗(yàn)配置順序 ASupporter BTester 水平角度 CSocket測(cè)試次數(shù) DDrop In 測(cè)試 FMachine 速度 GContact 壓力 1 4 A1 B1 C1 D2 F2 G1 2 5 A2 B1 C2 D1 F2 G1 3 1
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