ts16949-spc統(tǒng)計過程控制培訓(xùn)-文庫吧
2025-02-11 14:06 本頁面
【正文】 小值（也就是極差）來評價一組數(shù)據(jù)的離散度。這一方法在日常生活中最為常見，比如比賽中去掉最高最低分就是極差的具體應(yīng)用。? 由於誤差的不可控性，因此只由兩個數(shù)據(jù)來評判一組數(shù)據(jù)是不科學(xué)的。所以人們在要求更高的領(lǐng)域不使用極差來評判。27練 習(xí)給定樣本： 10,16,18,20,27,15,14,8.求極差28三、 正態(tài)分佈統(tǒng)計過程控制Statistical Process ControlSPC29當(dāng)你測量了一定數(shù)量的產(chǎn)品後，就會形成一條曲線，這便是品質(zhì)特性 X的分佈：30什麼是正態(tài)分佈 ?一種用於計量型數(shù)據(jù)的 ,連續(xù)的 ,對稱的鐘型頻率分佈 ,它是計量型數(shù)據(jù)用控制圖的基礎(chǔ) .當(dāng)一組測量數(shù)據(jù)服從正態(tài)分佈時 ,有大約 %的測量值落在平均值處正負(fù)一個標(biāo)準(zhǔn)差的區(qū)間內(nèi) ,大約 %的測量值將落在平均值處正負(fù)兩個標(biāo)準(zhǔn)差的區(qū)間內(nèi) 。大約 %的值將落在平均值處正負(fù)三個標(biāo)準(zhǔn)差的區(qū)間內(nèi) .31LSL USL合格品缺陷品 缺陷品我們將正態(tài)曲線和橫軸之間的面積看作 1,可以計算出上下規(guī)格界限之外的面積 ,該面積就是出現(xiàn)缺陷的概率 ,如下圖 :32%%%μ +1σ +2σ +3σ1σ2σ3σ標(biāo)準(zhǔn) 正 態(tài)分佈正態(tài)分佈的特徵：中間高，兩邊低，左右對稱；兩邊伸向無窮遠。與橫坐標(biāo)所圍成區(qū)域的面積為 1； 33規(guī)格範(fàn)圍 合格概率 缺陷概率+/1%%+/2%%+/3%%+/4%%+/5%%+/6%%σ σ σ σ σ σ 下表為不同的標(biāo)準(zhǔn)差值對應(yīng)的合格概率和缺陷概率 :34如何計算正態(tài)分佈和“工序西格瑪 Z” ?35181。 USLLSL超出規(guī)范上限的缺陷率低于規(guī)范下限的缺陷率ZUSL=（ USL181。） / σZLSL=（ 181。LSL） / σ查 SIGMA水平表，得到下限缺陷率總?cè)毕萋? = 下限缺陷率 + 上限缺陷率查 SIGMA水平計算表得到 Z值查 SIGMA水平表，得到上限缺陷率雙邊規(guī)范限的 Z值計算法USL μσ USLZ規(guī)格上限的工序西格瑪值 平均值標(biāo)準(zhǔn)差37LSL μσ LSLZ規(guī)格下限的工序西格瑪值 平均值標(biāo)準(zhǔn)差38從上述公式可看出 ,工序西格瑪值是平均值與規(guī)格上下限之間包括的標(biāo)準(zhǔn)差的數(shù)量 ,表示如下圖 :LSL USL1σ 1σ 1σμ39通過計算出的 Z值 ,查正態(tài)分佈表 ,即得到對應(yīng)的缺陷概率 .練 習(xí)某公司加工了一批零件 ,其規(guī)格為 50+/ mm,某小組測量了 50 個部品，計算出該尺寸的平均值和標(biāo)準(zhǔn)差 X= ， S= ，分別計算 ZUSL ， ZLSL ，並求出相應(yīng)的缺陷概率。40LSL USLμ+/3σ +/4σ +/5σ 過程數(shù)據(jù)分佈 標(biāo)準(zhǔn)差σ過程能力西格瑪 Zσ=σ=σ=Z = 3Z = 4Z = 5標(biāo)
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