【正文】 實施 改進過程 措施 研究 改進過程從而更好地理解 普通原因變差 減少普通原因變差 控制圖 上控制限 中心限 下控制限 收集 收集數(shù)據(jù)并畫在圖上 控制 根據(jù)過程數(shù)據(jù)計算實驗控制限 識別變差的特殊原因并采取措施 分析及改進 確定普通原因變差的大小并采取減小它的措施 重復這三個階段從而不斷改進過程 控制圖類型 計量型數(shù)據(jù) XR 均值和極差圖 計數(shù)型數(shù)據(jù) P chart 不合格品率控制圖 Xs均值和標準差圖 nP chart 不合格品數(shù)控制圖 X R 中位值極差圖 C chart 缺點數(shù)控制圖 XMR 單值移動極差圖 U chart 單位缺點數(shù)控制圖 控制圖的選擇方法 確定要制定控制圖的特性 是計量型數(shù)據(jù)嗎？ 否 關心的是不合格品率？ 否 關心的是不合格數(shù)嗎？ 是 樣本容量是否恒定？ 是 使用 np或 p圖 否 使用 p圖 樣本容量是否 桓定？ 否 使用 u圖 是 是 使用 c或 u圖 是 性質(zhì)上是否是均勻或不能按子組取樣 —例如：化學槽液、批量油漆等？ 否 子組均值是 否能很方便 地計算？ 否 使用中 位數(shù)圖 是 使用單值圖XMR 是 接上頁 子組容量是否大于或等于 9？ 是 否 是否能方便地計算每個子組的 S值？ 使用 X—R圖 是 否 使用 X—R圖 使用 X— s圖 注：本圖假設測量系統(tǒng)已經(jīng)過評價并且是適用的。 計量型數(shù)據(jù)控制圖 與過程有關的控制圖 計量單位：（ mm, kg等） 過程 人員 方法 材料 環(huán)境 設備 1 2 3 4 5 6 結果舉例 控制圖舉例 螺絲的外徑（ mm） 從基準面到孔的距離（ mm） 電阻（ Ω） 錫爐溫度（ 186。C ） 工程更改處理時間（ h） X圖 R圖 接上頁 測量方法必須保證始終產(chǎn)生準確和精密的結果 不精密 精密 準確 不準確 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 使用控制圖的準備 建立適合于實施的環(huán)境 a 排除阻礙人員公正的因素 b 提供相應的資源 c 管理者支持 定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關系，分析每個階段的影響 因素。 確定待控制的特性 應考慮到： 顧客的需求 當前及潛在的問題區(qū)域 特性間的相互關系 確定測量系統(tǒng) a 規(guī)定檢測的人員、環(huán)境、方法、數(shù)量、頻率、設備或量具。 b 確保檢測設備或量具本身的準確性和精密性。 接上頁 使不必要的變差最小 確保過程按預定的方式運行 確保輸入的材料符合要求 恒定的控制設定值 注： 應在過程記錄表上記錄所有的相關事件，如：刀具更新，新的材料批 次等，有利于下一步的過程分析。 均值和極差圖（ XR） 收集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組形式報告，子組通常包括 25件連續(xù)的產(chǎn)品，并周性期的抽取子組。 注： 應制定一個收集數(shù)據(jù)的計劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。 11 選擇子組大小，頻率和數(shù)據(jù) 111 子組大小 ：一般為 5件連續(xù)的產(chǎn)品，僅代表單一刀具 /沖頭 /過程 流等。（ 注： 數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生產(chǎn)流。） 112 子組頻率 ：在適當?shù)臅r間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù)，這樣子組才能 反映潛在的變化，這些變化原因可能是換班 /操作人 員更換 /材料批次不同等原因引起。對正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班 2次，或一小時一 次等。 接上頁 113 子組數(shù)： 子組越多，變差越有機會出現(xiàn)。一般為 25組，首次使 用控制圖選用 35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。 12 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) （見下圖） 烤紙“溫度” XR 圖記錄單位： 組立 濾紙材質(zhì)： 機油格 規(guī)范溫度： 170175癱 機器名稱： 烤爐 = 均值 = UCL= +A2R= LCL= A2R=173 UCL= +A2 = 175 LCL= +A2 = 170 = 均值 R = UCL=D4 = LCL=D3 = 0編號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29日期 / 時間9/68:009:009/69:0010:009/610:11:009/611:0012:009/613:3014:309/614:3015:309/615:3016:309/78:009:009/79:0010:009/710:0011:009/711:0012:009/713:3014:309/715:3016:309/810:3011:309/813:3014:309/814:3015:309/815:3016:309/118:009:009/119:0010:009/1110:0011:009/1111:0012:009/1113:3014:309/128:009:009/1213:3014:309/1214:3015:309/1215:3016:309/1216:3017:30138:009:009/139:0010:00讀數(shù) 1 174 175 175 173 171 172 173 176 171 172 174 176 173 176 174 172 170 175 172 176 171 175 173 169 170 175 175 175 174讀數(shù) 2 175 176 177 174 170 174 170 175 172 173 173 174 172 174 175 172 169 174 173 175 173 174 172 171 169 173 176 173 175讀數(shù) 3 174 175 176 175 172 173 169 173 173 174 170 172 170 171 176 173 171 172 175 174 173 175 170 173 171 170 174 171 175讀數(shù) 4 173 174 174 176 174 172 171 170 174 176 171 169 171 170 174 174 172 170 176 173 174 173 171 174 172 169 172 169 174讀數(shù) 5 173 173 172 175 175 173 172 169 175 175 172 170 173 171 171 175 173 171 174 170 175 172 172 175 173 171 170 170 173 讀數(shù)之和 讀數(shù)數(shù)量R= 最大值 最小值 2 3 5 3 5 2 4 7 4 4 4 7 3 6 5 3 4 5 4 6 4 3 3 6 4 6 6 6 2應記錄人員、材料、環(huán)境、方法、機器或測量系統(tǒng)的任何變化，當控制圖上出現(xiàn)信號時，這些記錄將有助于采取糾正措施 .日期 / 時間172 173 172 174172 171174 173 174 172173 171 172 174172 172 172 174173A2=D3=D4=172175 172備注日期 / 時間備注174 175 175 173 171 173 174XXCRXXRRX 圖1711721731741751 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1 系列 2R 圖0481 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1RR 1計算每個子組的均值（ X）和極差 R 對每個子組計算： X=（ X1+X2+…+Xn ） / n R=XmaxXmin 式中： X1 ， X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個測量值。 n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個控制圖的縱坐標分別用于 X 和 R 的測量值。 42 刻度選擇 ： 接上頁 對于 X 圖，坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應至少為子組均值（ X）的最大值與最小值的差的 2倍，對于 R圖坐標上的刻度值的最大值與最小值的差應為初始階段所遇到的最大極差（ R）的 2倍。 注： 一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設置為 X 圖刻度值的 2倍。