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正文內(nèi)容

spc培訓(xùn)資料——統(tǒng)計過程控制-wenkub

2023-03-10 11:57:07 本頁面
 

【正文】 14:309/814:3015:309/815:3016:309/118:009:009/119:0010:009/1110:0011:009/1111:0012:009/1113:3014:309/128:009:009/1213:3014:309/1214:3015:309/1215:3016:309/1216:3017:30138:009:009/139:0010:00讀數(shù) 1 174 175 175 173 171 172 173 176 171 172 174 176 173 176 174 172 170 175 172 176 171 175 173 169 170 175 175 175 174讀數(shù) 2 175 176 177 174 170 174 170 175 172 173 173 174 172 174 175 172 169 174 173 175 173 174 172 171 169 173 176 173 175讀數(shù) 3 174 175 176 175 172 173 169 173 173 174 170 172 170 171 176 173 171 172 175 174 173 175 170 173 171 170 174 171 175讀數(shù) 4 173 174 174 176 174 172 171 170 174 176 171 169 171 170 174 174 172 170 176 173 174 173 171 174 172 169 172 169 174讀數(shù) 5 173 173 172 175 175 173 172 169 175 175 172 170 173 171 171 175 173 171 174 170 175 172 172 175 173 171 170 170 173 讀數(shù)之和 讀數(shù)數(shù)量R= 最大值 最小值 2 3 5 3 5 2 4 7 4 4 4 7 3 6 5 3 4 5 4 6 4 3 3 6 4 6 6 6 2應(yīng)記錄人員、材料、環(huán)境、方法、機器或測量系統(tǒng)的任何變化,當(dāng)控制圖上出現(xiàn)信號時,這些記錄將有助于采取糾正措施 .日期 / 時間172 173 172 174172 171174 173 174 172173 171 172 174172 172 172 174173A2=D3=D4=172175 172備注日期 / 時間備注174 175 175 173 171 173 174XXCRXXRRX 圖1711721731741751 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1 系列 2R 圖0481 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 29 30系列 1RR 1計算每個子組的均值( X)和極差 R 對每個子組計算: X=( X1+X2+…+Xn ) / n R=XmaxXmin 式中: X1 , X2 ? ? ? ?為子組內(nèi)的每個測量值。) 112 子組頻率 :在適當(dāng)?shù)臅r間內(nèi)收集足夠的數(shù)據(jù),這樣子組才能 反映潛在的變化,這些變化原因可能是換班 /操作人 員更換 /材料批次不同等原因引起。 均值和極差圖( XR) 收集數(shù)據(jù) 以樣本容量恒定的子組形式報告,子組通常包括 25件連續(xù)的產(chǎn)品,并周性期的抽取子組。C ) 工程更改處理時間( h) X圖 R圖 接上頁 測量方法必須保證始終產(chǎn)生準(zhǔn)確和精密的結(jié)果 不精密 精密 準(zhǔn)確 不準(zhǔn)確 ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? 使用控制圖的準(zhǔn)備 建立適合于實施的環(huán)境 a 排除阻礙人員公正的因素 b 提供相應(yīng)的資源 c 管理者支持 定義過程 根據(jù)加工過程和上下使用者之間的關(guān)系,分析每個階段的影響 因素。 預(yù)測 時間 范圍 目標(biāo)值線 如果存在變差的特殊 原因,隨著時間的推 預(yù)測 移,過程的輸出不 穩(wěn)定。只有過程變差的普通原因存在且不 改變時,過程的輸出才可以預(yù)測。 過程能力 (Process Capability) 是指按標(biāo)準(zhǔn)偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格界限的距離,用 Z來表示。 變差( Variation) 過程的單個輸出之間 不可避免的差別 ;變差的原因可分為兩類:普通原因和特殊原因。 名稱 解釋 中心線 ( Central Line) 控制圖上的一條線,代表所給 數(shù)據(jù)平均值 。 SPC常用術(shù)語解釋 名稱 解釋 平均值( X) 一組測量值的 均值 極 差( Range) 一個子組、樣本或總體中 最大與最小值之差 σ( Sigma) 用于代表標(biāo)準(zhǔn)差的希臘字母 標(biāo)準(zhǔn)差 (Standard Deviation) 過程輸出的 分布寬度 或從過程中統(tǒng)計抽樣值(例如:子組均值)的分布寬度的 量度 ,用希臘字母 σ或字母 s(用于樣本標(biāo)準(zhǔn)差)表示。 SPC的作用 ? 確保過程持續(xù)穩(wěn)定、可預(yù)測。Statistical Process Control 統(tǒng)計過程控制 目錄 ? 1 SPC的產(chǎn)生 ? 2 SPC的作用 ? 3 SPC常用術(shù)語解釋 ? 4 持續(xù)改進及統(tǒng)計過程控制概述 ? a 過程控制系統(tǒng) ? b 變差的普通及特殊原因 ? c 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 ? d 過程控制和過程能力 ? e 過程改進循環(huán)及過程控制 ? f 控制圖 ? 5 控制圖的類型 ? 6 控制圖的選擇方法 ? 7 計量型數(shù)據(jù)控制圖 ? a 與過程有關(guān)的控制圖 ? b 使用控制圖的準(zhǔn)備 ? c XR 圖 ? d X s 圖 ? e ?X R圖 ? f XMR圖 ? 8 計數(shù)型數(shù)據(jù)控制圖 ? a p 圖 b np 圖 c c 圖 d u 圖 SPC的產(chǎn)生 ? 工業(yè)革命以后, 隨著生產(chǎn)力的進一步發(fā)展,大規(guī)模生產(chǎn)的形成, 如何控制大批量產(chǎn)品質(zhì)量 成為一個突出問題,單純依靠事后檢驗的質(zhì)量控制方法已不能適應(yīng)當(dāng)時經(jīng)濟發(fā)展的要求,必須改進質(zhì)量管理方式。 ? 提高產(chǎn)品質(zhì)量、生產(chǎn)能力、降低成本。 分布寬度( Spread) 一個分布中從 最小值到最大值之間的間距 中位數(shù) ?x 將一組測量值從小到大排列后, 中間的值 即為中位數(shù)。 過程均值( Process Average) 一個特定過程特性的測量值分布的位置即為過程均值,通常用 X 來表示。 特殊原因 ( Special Cause) 一種間斷性的,不可預(yù)計的,不穩(wěn)定的變差根源。 移動極差 ( Moving Range) 兩個或多個連續(xù)樣本值中最大值和最小值之差。 特殊原因: (通常也叫可查明原因)是指造成不是始終作用于過 程的變差的原因,即當(dāng)它們出現(xiàn)時將造成(整個) 過程的分布改變。 時間 范圍 局部措施和對系統(tǒng)采取措施 ? 局部措施 ? 通常用來消除變差的特殊原因 ? 通常由與過程直接相關(guān)的人員實施 ? 通??杉m正大約 15%的過程問題 ? 對系統(tǒng)采取措施 ? 通常用來消除變差的普通原因 ? 幾乎總是要求管理措施,以便糾正 ? 大約可糾正 85%的過程問題 過程控制 受控 (消除了特殊原因) 時間 范圍 不受控 (存在特殊原因) 過程能力 受控且有能力符合規(guī)范 (普通原因造成的變差已減少) 規(guī)范下限 規(guī)范上限 時間 范圍 受控但沒有能力符合規(guī)范 (普通原因造成的變差太大) 過程改進循環(huán) 分析過程 維護過程
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