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統(tǒng)計(jì)過程控制spc簡(jiǎn)介-文庫(kù)吧

2025-01-27 06:30 本頁(yè)面


【正文】 的。過程的初期研究中,通常是連續(xù)進(jìn)行分組或很短的時(shí)間間隔進(jìn)行分組,以檢查過程在很短的時(shí)間間隔內(nèi)是否有其他不穩(wěn)定的因素存在。 從過程的角度來看,收集越多的子組可以確保變差的主要原因有機(jī)會(huì)出現(xiàn)。一般情況下,包含 100或更多單值數(shù)的 25或更多個(gè)子組可以很好地用來檢驗(yàn)穩(wěn)定性,如果過程已穩(wěn)定,則可以得到過程位置和分布寬度的有效的估計(jì)值。 陳瑞泉 13 均值和極差圖( Χ – R圖) 建立控制圖及記錄原始數(shù)據(jù) 通常將均值圖畫在極差圖上方。均值和極差的值為縱坐標(biāo),按時(shí)間先后的子組為橫坐標(biāo)。數(shù)據(jù)以及極差和均值點(diǎn)應(yīng)縱向?qū)R。 計(jì)算每個(gè)子組的均值和極差 式中: X1, X2 ……… 為子組內(nèi)的每個(gè)測(cè)量值。 n為子組的樣本容量。 陳瑞泉 14 均值和極差圖( Χ – R圖) 選擇控制圖的刻度 對(duì)于 Χ圖,坐標(biāo)上的刻度值的最大值與最小值之差應(yīng)至少為子組均值的最大值與最小值差的 2倍。 對(duì)于 R圖,刻度值應(yīng)從最低值為 0開始到最大值之間的差值為初始階段所遇到的最大極差( R) 的 2倍。 建議將 R圖的刻度值設(shè)置為均值圖的刻度值的 2倍。 將均值和極差畫到控制圖上。 陳瑞泉 15 陳瑞泉 16 均值和極差圖( Χ – R圖) 首先計(jì)算極差圖的控制界限,再計(jì)算均值圖 的控制界限。 ( )及過程平均值( ) kxxxxx k++++= ?321kRRRRR k++++= ?321陳瑞泉 17 均值和極差圖( Χ – R圖) 計(jì)算控制界限是為了顯示僅存在變差的普通原因時(shí),子組的均值和極差的變化和范圍。 式中: D D A2為常數(shù),它們隨樣本容量的不同而不同。 RDU CL R 4? DLCL R 3? RAUC L 2??? RA 2?? ??陳瑞泉 18 控制圖系數(shù)表 系數(shù) d 2 1/d 2 d 3 m 3 A 2 A 3 m 3 A 2 D 3 D 4 A 10 C 2 C 4 1/C 4 C 5 E 2 B 3 B 4 B 7 B 8 A 9 2 3 4 5 6 7 8 9 10 n 以上數(shù)據(jù)是根據(jù) 3σ 控制原理,運(yùn)用數(shù)理推論而得到的系數(shù),你只需會(huì)查表即可。 陳瑞泉 19 均值和極差圖( Χ – R圖) 線。將平均極差和過程均值畫成水平實(shí)線,各控制界限畫成水平虛線,把線標(biāo)上記號(hào)。 陳瑞泉 20 陳瑞泉 21 變差:普通原因和特殊原因 陳瑞泉 22 導(dǎo)致變差的普通原因與特殊原因 過程與產(chǎn)品的特性存在大量的波動(dòng)源。把這些波動(dòng)源分成兩類是很自然的,即普通原因波動(dòng)和特殊原因波動(dòng)。普通原因波動(dòng)是過程內(nèi)在的波動(dòng),而且除非改變過程或產(chǎn)品的設(shè)計(jì)極難消除,許多很小的波動(dòng)源導(dǎo)致這類波動(dòng)的產(chǎn)生。特殊原因是指那些異常因素,是非隨機(jī)的,相對(duì)較少,在時(shí)間與效果上產(chǎn)生不可預(yù)料并且相對(duì)較大的波動(dòng)。 對(duì)過程與產(chǎn)品的變差進(jìn)行改進(jìn),首先要區(qū)分波動(dòng)源是特殊原因還是普通原因。 陳瑞泉 23 導(dǎo)致變差的普通原因和特殊原因 普通原因指的是那些始終作用于過程的多種的變差來源。隨著時(shí)間的推移,一個(gè)過程中的普通原因會(huì)產(chǎn)生一個(gè)穩(wěn)定的且可重復(fù)的分布,我們稱之為 “ 統(tǒng)計(jì)上受控制的狀態(tài) ” 、 “ 統(tǒng)計(jì)受控 ” 。普通原因產(chǎn)生的是一個(gè)處于偶然原因下的 穩(wěn)定 系統(tǒng),如果一個(gè)過程只存在變差的普通原因且不改變時(shí),該過程的輸出是可以預(yù)測(cè)的。 陳瑞泉 24 特殊原因(通常也稱可查明的原因)指的是這樣的因素,它們引起的變差僅影響某些過程輸出。這些因素通常是間歇發(fā)生的、不可預(yù)測(cè)的。特殊原因的信號(hào)是:一個(gè)或多個(gè)點(diǎn)超出控制界限,或在控制界限內(nèi)的點(diǎn)出現(xiàn)非隨機(jī)的模式。除非變差的所有特殊原因都被識(shí)別出來并且采取了措施,否則它們將繼續(xù)以
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