結(jié)構(gòu)元器件來料檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)(結(jié)構(gòu)件)-文庫吧
2025-06-30 22:24 本頁面
【正文】 GB/T 282887完成． d) 抽樣批次數(shù):為5000只,或雙方約定的抽樣要求. (這一條稍有疑問!)e) 抽樣時(shí)間: 所有結(jié)構(gòu)件均在產(chǎn)品到XX指定工廠后一周內(nèi)完成來料檢驗(yàn)。f) 檢驗(yàn)地點(diǎn)：在XX指定的代工廠或倉庫 三、部品外觀驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及缺陷判據(jù)1. 標(biāo)準(zhǔn)：檢測標(biāo)準(zhǔn)：按部品設(shè)計(jì)要求和雙方所封樣品。檢測距離：在使用放大鏡條件下檢測。推薦使用下列附表部品驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)條件表,部品檢驗(yàn)的放大鏡使用規(guī)定 檢測角度：眼睛與被測物成45176?！?0176。視角。 檢測光度：40W2冷白熒光燈，光源與被測物的距離：500mm～550mm,光照度為10002000克勒絲。檢測時(shí)間：每面檢驗(yàn)時(shí)間不超過10秒鐘。輔助檢測工具: 放大鏡(5X10X),透明誤點(diǎn)規(guī),PANTONE色卡等作為產(chǎn)品檢驗(yàn)工具2. 區(qū)域定義： 依照定義：AA面 外顯示屏窗A面 上翻蓋組件、下翻蓋組件和前殼組件的正面B面 后殼組件的正面,側(cè)面。 C面 后殼與電池接觸面（標(biāo)貼區(qū)除外）。3. 驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn)及缺陷判據(jù)1． AA面不良項(xiàng)目測試工具缺陷說明缺陷等級重缺陷輕缺陷污點(diǎn)、雜質(zhì)、氣泡目測，使用透明污點(diǎn)規(guī)色點(diǎn)≥V一個(gè)色點(diǎn)≤V指紋/臟污目測表面臟污需用清潔劑清除V裂痕/缺口目測裂痕、缺口可見V背膠外露邊框平行目視外露V緩沖墊片目測(正視)從LENS外可見墊片外露(或影響到LCM可視區(qū)域)V墊片粘貼不平整V外觀曲面尺寸卡尺超出曲面的公差范圍或其他相關(guān)限制要求V毛邊目視可見、觸摸有凹凸感VV劃痕目測，使用透明污點(diǎn)規(guī)細(xì)碎劃傷V一條細(xì)碎劃傷≤V有2條或2條以上細(xì)碎劃傷V流水痕/熔接痕目測標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)條件下可見V凹痕縮水目測標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)條件下可見V2． A面不良項(xiàng)目測試工具缺陷說明缺陷等級重缺陷輕缺陷錯(cuò)漏裝目測標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)條件下可見V污點(diǎn)雜質(zhì)氣泡目測，使用透明污點(diǎn)規(guī)色點(diǎn)≥V一個(gè)色點(diǎn)≤V色點(diǎn)≤，但兩個(gè)點(diǎn)間隔＜10mm，V色點(diǎn)≤，但兩個(gè)點(diǎn)間隔＞10mm，V指紋/臟污目測表面臟污需用清潔劑清除V裂痕/缺口目測裂痕、缺口可見V尺寸卡尺超出圓面公差范圍V毛邊目視可見、觸摸有凹凸感V劃痕目測，使用透明污點(diǎn)規(guī)細(xì)碎劃傷 V一條細(xì)碎劃傷≤V2條的細(xì)碎劃傷≤，但間距小于10mmV只有2條細(xì)碎劃傷≤ V流水痕/熔接痕目測標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)條件下可見V印文目測,放大鏡下目測漏印、錯(cuò)印、錯(cuò)字、模糊、絲印字體不可辨認(rèn)V凹痕縮水目測標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)條件下可見V顏色分離目測標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)條件下可見V3． B面不良項(xiàng)目測試工具缺陷說明缺陷等級重缺陷輕缺陷錯(cuò)漏裝目測標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)條件下可見V污點(diǎn)雜質(zhì)氣泡目測，使用透明污點(diǎn)規(guī)色點(diǎn)≥V一個(gè)色點(diǎn)≤V色點(diǎn)≤，但兩個(gè)點(diǎn)間隔＜10mm，V色點(diǎn)≤，但兩個(gè)點(diǎn)間隔＞10mm，V指紋/臟污目測表面臟污需用清潔劑清除,V裂痕/缺口目測裂痕、缺口可見V尺寸卡尺超出圓面公差范圍V毛邊目視可見、觸摸有凹凸感V劃痕目測，使用透明污點(diǎn)規(guī)細(xì)碎劃傷 V一條細(xì)碎劃傷≤V2條的細(xì)碎劃傷≤，但間距小于10mmV只有2條細(xì)碎劃傷≤ V
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