【正文】 atomic absorption spectrometry 原子吸收光譜 AES atomic emission spectrometry 原子發(fā)射光譜 AES Auger electron spectroscopy 俄歇電子譜 AFM atomic force microscope 原子力顯微鏡 AFS atomic fluorescence spectrometry 原子熒光光譜 AP－ FIM atomprobefield emission microscope 原子探針－場(chǎng)離子顯微鏡 CL cathodoluminescence 陰極熒光 DMA dynamic mechanical analysis 動(dòng)態(tài)熱機(jī)械法 DSC differential scanning calorimetry 差示掃描量熱法 DTA differential thermal analysis 差熱分析 EAES electron AES 電子引發(fā)俄歇能譜 EDS energy dispersive spectroscopy 能量色散譜（能譜） EDXFS energy dispersive XFS X射線熒光能譜 EELS electron energy loss spectroscopy 電子能量損失譜 EPMA electron probe mcroanalysis 電子探針顯微分析 ESCA ESCA electron spectroscopy for chemical analysis 化學(xué)分析電子譜（ X射線光電子能譜） ESD electron stimulated desorption 電子受激解吸／脫附 FEM field emission microscope 場(chǎng)發(fā)射顯微鏡 FIM field ion microscope 場(chǎng)離子顯微鏡 FS fluorescence spectrometry