【正文】 標本及產狀位置等）不在導線上時，則需要先在平面圖的相應位置標注，并按巖層走向投影到導線上，再由導線交點向上方投影交于剖面地形線上。第三步，完善剖面圖和整飾二次投影法：在繪制路線地質圖的基礎上，選擇投影基線方向，要求投影基線方向與剖面圖方向一致。具體操作：第一步：繪制剖面地形線。將平面圖上每條導線端點正投影到投影基線上（交點），再從基線上交點處向上方投影，根據計算的每條導線點高差，在各條投影線上分別標出各點投影位置，連接各投影點而成剖面地形線。第二步：界線及各地質要素投影。首先將平面圖各導線上的界線，地質內容等位置（交點），沿巖層走向方向投影到投影基線上（交點），再從投影基線上的交點處向上方投影交于剖面地形線上，按各自地質內容的圖示圖例標注繪制。第三步：整飾成圖。一次或二次投影法繪制剖面圖較復雜，優(yōu)點是成圖后剖面圖上地層厚度基本反映了地層的真厚度，地質體和構造形態(tài)基本符合實際，缺點是剖面地形輪廓線有所歪曲。投影基線方向的確定：當投影基線方向與剖面總方向一致時，即剖面線垂直或基本垂直地層走向的情況下，常采用以下方法。1）投影基線通過主要導線，如圖1－6。 圖中投影基線通過或基本通過A1－A2－A3－A4－A5－導線。2）導線起止點連線成投影基線，但導線必須較均勻的分布在投影基線兩側，如圖1－7，圖中A0、A4點連接為投影基線，導線較均勻分布在基線兩側。五、地層厚度計算㈠ 按各導線分層進行計算厚度計算公式：D=L（sinσ．sinβ．sinγ177。conσ．sinβ）式中D地層真厚度（米）L導線斜距（米）σ?guī)r層真傾角（度）β地形坡度角（度）γ剖面導線與地層走向線的夾角（度）注：當坡向與巖層傾向相反時，公式中用加號計算。當坡向與巖層傾向相同時，公式中用減號計算。例如：某實測剖面中某段導線記錄如下：A2－3，斜距25米，方向35176。，坡度+10176。0－5米：砂巖5－23米：白云質灰?guī)r 產狀200176。／60176。（20米處）23－25米：泥巖計算白云質灰?guī)r層厚度：L＝23－5＝18米σ＝60176。，β＝10176。，γ＝走向110176。－方向35176。代入公式D＝18﹙Sin60176。Cos10176。Sin75176。Cos60176。Sin10176。﹚＝㈡ 厚度計算應注意的問題地層厚度數值取舍，按比例尺大小確定，當剖面比例尺小于1：1000時，取整數；當比例尺大于或等于1：1000時，厚度值取小數點后一位。巖層產狀的有效控制距離，要求在野外實測過程中根據實際情況確定，以便室內計算時使用。巖脈：巖脈在圖上顯示的寬度小于1mm者，可不必剔除，大于或等于1mm者則應剔除。若某段地層中巖脈雖?。ㄐ∮?mm），但量較多，且對該段地層厚度影響較大，可依據巖脈在地層中的含量比（厚度比），按比值算出地層厚度。同一向斜或背斜，地層厚度用地層較發(fā)育的一翼進行計算；對斷層重復的部份，不予計算厚度。六、實測地質剖面圖中表示的主要內容及要求實測地質剖面圖主要內容如圖1－8所示： ㈠ 導線平面圖上表示的主要內容：正北方位線，導線（長度以平距計）、地層界線、地質點、地層代號、巖漿巖代號、礦層（體）、蝕變帶、斷層、采樣點、探礦工程、地質產狀（選擇表示），主要地物等。圖名、比例尺、各地質內容編號及代號。㈡ 剖面圖上表示的內容圖名：比例尺、水平比例尺、高程或高差座標、導線平面圖中全部地質內容。巖性（花紋表示）、產狀（數字表示傾向、傾角），如有放大素描圖應在剖面上方繪制并用箭頭指示位置等。㈢ 剖面圖方向應與投影基線平行；剖面圖的西、北西、南西、南端應放置在剖面圖的左邊，而東、北東、南東、北端放在剖面圖的右邊。㈣ 如果實測地質剖面同時進行了物化探工作，物化探曲線圖視具體情況，可以放在在剖面圖上方，也可另外單獨作圖。㈤ 剖面平移及表示剖面測制過程中，如遇大片浮土掩蓋、天然障礙或構造等造成測制意義不大的地段、則需平移。剖面平移一定要沿標志層、界線或順層追索，平移距離一般不宜過大，否則另測剖面。導線平面圖上按平移方向、平移實際距離（平距）另作起點。如圖1－9圖中：A2A2′為平移方位和距離地質剖面圖平移后，按平移的二點（圖中A2和A2′）高差決定起算標高，二點間水平方向酌情斷1－2厘米，以作圖方便互不重疊為準。如圖1－10圖中A2和A2′兩點實際高差確定。七、綜合地層柱狀圖㈠ 要求在實測地質剖面工作（野外測繪、作圖、地層厚度計算、測試成果、文字整理及修正等）全部完成后，經剖面相互對比、綜合分析的基礎上繪制測區(qū)綜合地層柱狀圖。㈡ 綜合地層柱狀圖上主要內容：比例尺：比例尺選擇應以能表達地層結構的基本特征為原則。各時代地層和各填圖單位。圖中用統(tǒng)一圖示圖例規(guī)定的線條、花紋符號表示不同的巖層及其接觸關系。在右邊相對應的位置寫上巖層厚度和簡單文字描述，并注明有代表性的化石和礦產；在左邊表示地層系統(tǒng)、地層名稱和時代符號。有物化探工作的，可在柱狀圖右側表示物化探曲線。八、實測地質剖面小結（總結）內容㈠ 前言目的。剖面線位置、方向、座標、測量方法。工作起止時間、工作單位、主要工作人員。完成主要工作量：剖面長度、工程工作量、標本及樣品數量。㈡ 地質成果簡述剖面測區(qū)的區(qū)域構造部位、地層、構造特征。依地層時代由新至老對剖面進行分層敘述。每一時代中地層可按地層結合單位總述其組合特征，再按不巖性層分層或填圖單元詳述巖性特征、接觸關系特別是不整合接觸或斷層接觸關系。巖漿巖及巖脈。構造（斷裂、褶皺）分別描述類型、性質、規(guī)模、形態(tài)、產狀、對地層或礦層破壞，以及控礦特征等。礦產及礦化線索作詳細敘述。新發(fā)現、新進展及新認識。㈢ 存在問題。第二章 地質填圖一、地質填圖的目的任務㈠ 地質填圖又稱地質測量。地質填圖在固體礦產普查找礦工作中和礦床（區(qū)）評價工作中，是一項基本的，又是必不可少的重要工作手段。㈡ 地質填圖礦產勘查全過程中，常采用的比例尺有1：25000、1：10000、1：5000、1：2000、1：1000五種。從使用的范圍和目的出發(fā)，一般在普查找礦階段。在物化探及重砂異常找礦中、在礦床（區(qū)）勘探期間的礦區(qū)外圍找礦時，常使用1：25000、1：10000比例尺地質填圖；在礦床（區(qū)）詳查、勘探階段，常進行1：5000～1：1000比例尺地質填圖。在確定礦區(qū)地質填圖比例尺時，還必須綜合考慮礦區(qū)范圍的大小、礦體形態(tài)復雜程度、礦石質量或礦化均勻程度等因素，通常是當礦體形態(tài)較復雜、礦層厚度或礦石質量變化較大、礦化不均勻時，地質填圖比例尺應適當放大。㈢ 布置1：25000、1：10000比例尺地質填圖的目的，在于闡明測區(qū)地質構造和成礦地質條件，用以找礦和擴大礦床（區(qū)）遠景。測區(qū)范圍一般應包括：與已知礦床有地質聯(lián)系的礦（化）點；找礦標志明顯地段；各種找礦手段（包括地質、物化探、重砂等）的綜合異常地段。㈣ 1：5000－1：1000地質填圖是在礦床（區(qū)）普詳查或勘探階段進行，主要任務是：全面而詳細研究礦床（區(qū)）地層、巖石、構造、礦體形態(tài)、規(guī)模、產狀、礦石質量、礦石類型及其空間分布；研究礦體與圍巖的關系及圍巖蝕變等。為探礦工程布置、儲量計算，為礦山設計和建設提供地表地質資料。測區(qū)范圍通常局限于礦體和近礦圍巖分布地段，但應包括探礦工程布置范圍。二、地質填圖準備工作㈠ 資料收集：收集工作區(qū)內或大一些范圍內有關前人工作成果資料。測區(qū)內沉積巖、巖漿巖、變質巖方面的資料，如地層、巖石類型特征等。如果有包括測區(qū)的小比例尺地質圖（1：10萬 或 1：20萬等）也應收集。測區(qū)內發(fā)現的礦產種類、賦存層位、礦體規(guī)模、礦物成分、礦石類型、品位等。測區(qū)內褶皺、斷裂的分布、形態(tài)特征、規(guī)模、性質、產狀以及對巖（礦）層的破壞和影響程度。收集測區(qū)地形圖（應與填圖比例尺相同或更大的比例尺），收集測區(qū)內測量控制點等資料。收集測區(qū)內物化探、重砂、航片等資料。資料收集后，礦區(qū)技術負責應組織有關人員對資料進行認真研究，分析，擬定工作重點和需要解決的問題。㈡ 地質踏勘針對擬定的工作重點和需要解決的問題，選擇路線對 測區(qū)進行踏勘調查。地質踏勘工作由礦區(qū)技術負責（主任工程師）組織地質、水文、物化探、測量等工種的主要人員參加，一般選擇1－2條路線，若礦區(qū)地質構造復雜時可增加1條踏勘路線。踏勘路線選擇盡可能通過測區(qū)主要地層、主要構造（褶皺、斷層）、巖體、礦體（層）。踏勘過程中要勤敲打、勤觀察，并作好記錄和路線地質剖面圖。踏勘結束后，組織認真分析討論，寫出路線踏勘小結。應強調要做到四個統(tǒng)一，即統(tǒng)一地層劃分和巖性分層、統(tǒng)一野外巖石命名、統(tǒng)一填圖方法和要求、統(tǒng)一圖式圖例。㈢ 實測地質剖面正式填圖前必須實測礦區(qū)完整地質剖面1－3條，目的是查明礦區(qū)內地層層序、接觸關系、巖石類型、厚度、巖性、化石、礦產、標志層、變質作用、侵入體等。實測剖面完成后，應編制代表填圖范圍內的綜合地層柱狀圖，同時明確填圖單元，作為填圖區(qū)統(tǒng)一的分層和對比依據。實測地質剖面比例尺的選定，應根據礦區(qū)地質、構造等因素的復雜程度來確定，一般有1：2000－1：100幾種。關于實測地質剖面操作細則及要求，在固體礦產勘查地質剖面規(guī)定實施細則中有詳細敘述。三、地質填圖程序和方法㈠ 填圖所需的工具、用品及人員組織工具、用品；填圖一般應配備的工具及用品有：觀察點路線記錄表或野外記錄本、手圖（與填圖比例尺相同或更大的地形圖）、標本簽、樣品簽、地質包、文件夾、釘錘、羅盤、放大鏡、照相機、文具盒、鉛筆、三角板、量角器、鋼卷尺、木樁或竹樁、三角形小紅旗、紅油漆、白色膠布卷、棉紙、標本袋等。填圖人員一般根據填圖面積、精度要求、時間、定額等因素，確定填圖小組個數。通常是一個填圖小組由二名地質人員和一名地質工組成。㈡ 填圖方法根據礦區(qū)確定的填圖單元，采用穿越法、追索法或者二者相結合的方法填圖。要求用地質觀察點和觀察線相結合的形式編錄，必要時輔以少量探礦工程（如剝土、槽探、圓井等）揭露，將地質界線等要素填繪在填圖手圖（地形圖）上。填圖所用的地形底圖（手圖）的精度應符合礦區(qū)設計要求，比例尺應大于或等于填圖比例尺，還要防止野外手圖和清圖的圖紙在工作過程中伸縮變形而影響精度。觀察路線布置填圖工作應貫徹從已知到未知的原則。實測地質剖面是一條已知的觀察路線，因此，填圖工作應從實測地質剖面兩側逐漸展開。1）實測地質剖面展繪在手圖上，展繪方法：將剖面起點確定在手圖上，再根據剖面的每一條基線的方位角、平距逐條繪出，最后形成一條折線，這條折線就是實測剖面導線(基線)在手圖上的水平投影線。然后將剖面上確定的填圖單元界線，斷層線、侵入體界線、礦層頂底板界線、產狀等的位置，繪到手圖上。2）穿越法：穿越路線布置，以手圖上實測剖面線為起點，按照填圖精度要求的觀察線距離，垂直巖層走向或大致垂直巖層走向布置觀察線。在布置觀察線時應著重強調的是，不僅僅是考慮觀察線之間的距離，還要考慮基巖出露的良好地段，若出現布置的兩條觀察線距大于規(guī)定的線距，則可在其間布置短觀察線彌補。見下圖（2－1）：3）追索法選擇標志層、含礦層或礦體、蝕變帶，主要斷裂帶等采用沿走向追索填圖。觀察路線一般采用“之”字形布置，以便控制其頂底界線和了解變化情況。如圖2－2。地質觀察點布置1）觀察點布置要求觀察點布置一般要求布置在觀察線上，是地質填圖貫徹點、線結合觀察地質現象的一項重要原則。2）地質觀察點分類：根據觀察點所具有的地質意義，分為三類。① 一類：基本觀察點：是控制測區(qū)地質界線和基本構造形態(tài)而布置的觀察點。應布置在測區(qū)填圖單元的界線、含礦層或礦體界線、蝕變帶界線、巖體界線、斷層面及折皺軸等位置上。該類觀察點要求作詳細的文字記錄，必要時加作放大素描（剖面或平面圖等）。② 二類：加密觀察點：為進一步控制地質界線和構造形態(tài)的變化，同時滿足觀察點密度要求，在基本觀察點之間沿地質界線加密布置的觀察點。該類觀察點要求只作簡要的文字記錄。③ 三類：巖性或產狀觀察點：為控制和了解地質界線之間巖層產狀變化及巖性特征、滿足觀察密度和數量而布置的觀察點。對該類觀察點只要求記錄巖層產狀和巖性特征。3）觀察點密度及數量① 觀察點布置的密度及數量是根據填圖比例尺大小、構造復雜程度、基巖出露情況、自然地理條件等因素確定。觀察點密度及數量一般要求見下表。填 圖比例尺地質界線上的點距（米）每平方公里觀察點數（個）構造簡單構造中等構造復雜1：10000100－2005060801：500050－100100120150② 三類觀察點數量要求：保證填圖精度，提高觀察點對各類地質體控制程度，要求基本觀察點與加密觀察點數之和，應大于觀察點總數的70％。在具體工作過程中，觀察點布置應在含礦巖層或礦層頂板和構造（褶皺、斷層等）附近密集些，反之在非礦層附近和構造簡單地段可放稀的原則。切忌機械地等距離布置觀察點。地質觀察點定位1）觀察點標記① 野外標記：用寫有地質觀察點編號的木樁（竹樁）打入觀察點處的基巖裂縫中，或者用紅油漆在基巖上劃一小圓中心一點“”以示點位，并在小園旁邊寫點號。若需要儀器測定點位時，還應在觀察點附近掛上小紅旗以便找點方便。② 手圖上標記：手圖上地質點用2mm直徑的實心小園（）和空心小園（○）分別表示實測和推測的地質點。2）觀察點定位：① 定位方法：a. 儀器法：觀察點定位用經緯儀視距法測量，提交觀察點的X、Y座標數據的精度最高，一般適用于重要或勘查程度高的礦區(qū)；用GPS全球衛(wèi)星定位儀測量精度也較高，適用于預查－普查礦區(qū)。：利用羅盤、皮尺采用交匯法定位。精度一般。c. 地物地貌定位：利用地形圖（手圖）和實地能對應的房屋、道路、獨立樹，斷崖、沖溝等地物地貌特征定位方法。精度一