【正文】 cm，寬34cm，數(shù)量約為估計刻槽取樣數(shù)的2倍，因為每件樣的起、止位置都應(yīng)打樁。確定編錄壁：有兩壁一底探槽，一般情況下，只作一壁一底展開圖。分層：分層單元視礦體復(fù)雜程度而定，復(fù)雜的礦體分層單元應(yīng)小于礦區(qū)填圖單元，一般礦體同礦區(qū)填圖單元一致，分層厚度及夾石剔除厚度按工業(yè)指標(biāo)或設(shè)計要求，不同礦（化）體層，不同礦石類型和工業(yè)品級、不同巖石類型和較大構(gòu)造應(yīng)分開。樣品布好后，及時打上編號的樣樁。㈡ 設(shè)置基線基線布置在編錄壁上。測量方位角及坡度角：組長及測手分別作為前、后測手，用羅盤測定皮尺的方位角和坡度角，二者的讀數(shù)誤差在3176。注意素描圖的真實性：作圖時須根據(jù)有限的特征點，參看地質(zhì)體實際形態(tài)勾繪成圖（如透鏡狀、波狀、分枝狀等）。時，采用裂開法素描（圖3－7）：a. 當(dāng)拐彎方向背離編錄壁時，裂開拐彎方向一側(cè)的槽底邊線、其裂開角度等于拐彎方位差，而槽壁連續(xù)。采用自動化系統(tǒng)繪圖的素描圖：不作手工素描圖，這時，槽壁繪成以基線為頂?shù)牡雀唛L條形，各地質(zhì)編錄要素均沿地質(zhì)走向投影到基線上、槽底為以基線為圖上方邊線的等寬正投影。② 標(biāo)注基點，畫出基線圖上確定的第一條基線起點，編號為0（基點位置畫2mm直徑的圓圈、圓心加點，下同）開始，用測出的坡度角在座標(biāo)紙上畫出基線并按比例尺確定基線在圖上的長度、該基線的終點為基點1。Y坐標(biāo)＝，據(jù)此即可在圖上確定a點位置，再依次確定出地表b點的位置。破碎帶控制點a、b及樣槽控制點c、d、e、f各點在基線上的投影點分別為a`、b`、c`、d`及f`，據(jù)其在導(dǎo)線上的讀數(shù)在圖上反投影到槽底上，然后根據(jù)走向素描成圖）。揭露礦化、蝕變帶，礦層（體）和物化探、重砂異常。組長一人全面負責(zé)編錄工作，安排并協(xié)調(diào)其他組員工作。淺井壁展開要求及方法按地質(zhì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，淺井素描圖繪兩壁及底（等距離或不等距離的井底掌子面）。以往地質(zhì)編錄工作，第一壁往往選擇平行勘查線方向（垂直巖層和礦體走向）的井壁。四壁展開作法，當(dāng)?shù)谝槐诖_定后，鄰壁（第一壁的左側(cè)壁）按反時針方向旋轉(zhuǎn)展開。如圖3－14投影方法1）編錄壁投影方法采用垂直投影方法，基線作鉛垂坐標(biāo)，鋼卷尺作水平坐標(biāo)進行投影作圖。b2位置投影，用鋼卷尺自b2點水平狀交于第一壁與第二壁交線上B1點，即b2坐標(biāo)（第二壁上）。最后將各點的鉛直坐標(biāo)，在展開圖每兩壁交線上分別找到A、B、C、D點的位置，隨手連接相鄰?fù)队包c構(gòu)成一條較圓滑的曲線（絕不能勾成折線），即為淺井展開圖上四個壁的地質(zhì)界線（圖3－16b）。如圖317a：淺井立體圖中：ABCD分層界面，界面之上為石灰?guī)r，界面之下為砂巖。② 界線投影與作圖：由淺井立體圖可見， A1B1C1D1與巖層分界面ABCD交于淺井2壁和4壁底線上F、E兩點，EF為井底分界線，如圖317b。素描圖內(nèi)容及要求1）野外繪制素描圖要求真實、準(zhǔn)確，內(nèi)容包括有巖性分層界線、礦層（體）界線、蝕變帶，斷層及破碎帶、樣品位置及編號、產(chǎn)狀等。在分段編錄的全過程中，要求每次編錄的基線布置都應(yīng)從井口基點處統(tǒng)一從零米開始懸掛皮尺，以保證上次編錄末端井深與這次編錄的開始井深數(shù)據(jù)完全吻合，避免重新布設(shè)基點出現(xiàn)井深誤差。在第一壁和第四壁交線井口處，打入編有淺井編號的木樁即為基點，基點亦是淺井的坐標(biāo)點。5）文字記錄采用坑探工程原始地質(zhì)記錄表（DZ／T0078－93）表5的格式進行記錄?！鸿F礦層。/8176。描述斷層，應(yīng)記錄斷層特征（含斷層面、破碎帶、兩盤相對移動方向等），達到反映斷層性質(zhì)和破壞程度等。但根據(jù)實際情況，樣槽也可布置在反映礦層傾斜的編錄壁上。有關(guān)要求參照坑道編錄細則執(zhí)行。四、室內(nèi)整理 ㈠ 素描圖整理完善素描草圖根據(jù)礦區(qū)統(tǒng)一圖示圖例，完善各巖性層花紋，代號和其它內(nèi)容，有圖名、比例尺、井口座標(biāo)、圖例，樣品分析結(jié)果表、編錄日期、編錄人、審核人等。檢查記錄中是否有漏、錯字現(xiàn)象，地質(zhì)用語是否恰當(dāng)、語言是否通順等。送樣在樣品清理、登記并檢查無誤后，分類填寫送樣單，待一段時間樣品有一定數(shù)量，派專人分送化驗、鑒定等實驗室?？犹焦こ谈艣r表A3。但在特殊情況下，視第四系的穩(wěn)定程度、井下充水情況，經(jīng)領(lǐng)導(dǎo)和有關(guān)部門實地查看批準(zhǔn)，有預(yù)防措施的條件下，小圓井深度可適當(dāng)加深施工。㈡ 小圓井地質(zhì)編錄 小圓井素描圖 按地質(zhì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求繪制兩壁及底。2）基點、基線布設(shè)小圓井基點設(shè)在勘查線與圓井輪廓交線的正北、北西、北東、正東端。3）投影作圖采用垂直投影方法以基線作鉛直坐標(biāo)、鋼卷尺作水平坐標(biāo)。作圖時。坑道原始地質(zhì)編錄是對坑道的兩壁一頂或一壁一頂進行綜合的（地層的、巖石的、礦產(chǎn)的、構(gòu)造的等）觀察研究，對研究過程和所提示的地質(zhì)現(xiàn)象進行真實、準(zhǔn)確、完善的素描和記錄。見插圖4－4－4－4－4二 坑道斷面規(guī)格～2m，～，由于掘進方式和用途不同可以增大或縮小。2 各種表格坑道施工通知書，坑道竣工通知書、坑道基點、基線記錄表、坑道工程地質(zhì)記錄表、坑道工程標(biāo)本記錄表、坑道工程樣品記錄表、標(biāo)本簽、樣簽、照相記錄表、坑道工程概況表（D2／0078－93表3）(三) 人員 坑道地質(zhì)編錄人員一般2－3人?？拥赖刭|(zhì)編錄要求及時、準(zhǔn)確、在現(xiàn)場進行?？拥谰蜻M質(zhì)量基本達到設(shè)計要求，方能驗收。如示意圖壓平法兩壁展開示意圖（4－5） 3）素描精度要求：按素描圖選用的比例尺，在素描圖上厚度大于1mm、長度大于3mm的地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象，均應(yīng)劃分并在圖上表示，如比例尺用1：200，地質(zhì)體厚度20cm、長60cm則素描圖上該地質(zhì)體厚1mm、長3mm。如示意圖（4－6）② 坑道方向轉(zhuǎn)變在15176。(三) 坑道編錄的操作1 操作前準(zhǔn)備坑道施工一段落或全部完工后經(jīng)驗收：1) 收集該段落或全部測量中線樁（點）的編號，每兩點間的方向及平距，有水準(zhǔn)的坑道還需收集高程數(shù)據(jù)，以便修正地質(zhì)編錄中的有關(guān)數(shù)據(jù)完全與測量數(shù)據(jù)吻合，避免產(chǎn)生系統(tǒng)誤差?；c定位一般要求測量儀器測定，在普查階段施工的坑道，基點也可由地質(zhì)人員用半儀器法測定?？涌诨c應(yīng)用羅盤進行三方交匯，交匯點在地形圖上位置還需與坑口實際地形（含微地貌特征）特征相符，才能保證坑口在地形圖上的正確性?；€數(shù)據(jù)則用測量提供的數(shù)據(jù)。如示意圖（4－9）。② 含礦層中分層要求要求對含礦巖層中劃分不同的礦體、不同的礦化類型、不同的含礦巖石、不同的工業(yè)品級。它們對采樣工作有側(cè)重，各有規(guī)定。特殊情況下可將樣品布置在坑道頂板，這樣將帶來采樣操作上的麻煩和困難。一般情況下，第一件化學(xué)樣用全稱外，其余樣品可以省略坑道號只寫化學(xué)樣代號和樣品順序號HH3．．．．．．，坑道素描圖由于內(nèi)容豐富，圖面較狹窄第一個樣品可省去坑道號，以后隔1個或隔5個樣品寫一個樣品順序號即可，但最后一件樣須標(biāo)樣號(4－10a) ④ 樣品布置原則坑道采樣方法用刻槽法，樣槽規(guī)格由于礦種不同，規(guī)格大小要求不相同，一般要按礦區(qū)設(shè)計執(zhí)行。 礦石中夾石厚度小于剔除厚度時，應(yīng)合并到相鄰低品級樣中自然貧化（圖414b）⑤ 樣槽數(shù)據(jù)樣槽數(shù)據(jù)包括樣品號、樣槽長度、方向坡度。樣槽坡度由編錄人員用羅盤測定，樣槽水平布置時，坡度角為0176。② 頂寬高規(guī)格與設(shè)計相差過大，則需按平均值繪制。時，頂寬仍用設(shè)計頂寬或平均值、高應(yīng)用沿壁斜面的高度。③ 坑道壁斜度≥75176。5 投影與作圖1) 坑道輪廓圖坑道素描圖一般用壓平法繪制，頂和壁多采用規(guī)則形態(tài)（除有特殊要求外）表示。編錄人員在編錄投影樣槽時進行檢查，不符者進行修正。如示意圖（4－11）。③ 樣品編號：采用樣號全稱，即坑道號＋化學(xué)樣代號＋化學(xué)樣順序號。一般是以化學(xué)分析樣為主，其次為物理取樣，加工技術(shù)取樣，礦物取樣等。如某礦區(qū)含銅層中上部Ⅰ號礦體內(nèi)分別有1品級和2品級礦石段，可選擇在礦體出露的適當(dāng)位置用（Ⅰ）表示礦體號，在1品級和2品級礦石范圍內(nèi)寫上Cu1和Cu2表示。2) 劃分不同性質(zhì)的巖性層① 無礦化巖層中分層要求要求按礦區(qū)填圖單元進行分層，并標(biāo)注分層的單元代號。基線應(yīng)測量距離（米）、方向（度）、坡度（正或負）。 2) 基線布置基線是用皮尺系在兩個相鄰中線樁（基點）上構(gòu)成。坑道中有測量測定的中線樁時，地質(zhì)編錄即可用作基點，編號應(yīng)一致。2 基點、基線布設(shè)1) 基點布設(shè)及定位要求坑道基點要求沿坑道頂板中心線布設(shè)，基點又稱中線樁。在沉積巖中編錄時，巖石成層性明顯，坑道方向改變后，坑道壁上的傾角線、頂板上的走向線在投影時，方向和角度都有變化，出現(xiàn)巖石花紋不連續(xù)，用直線在轉(zhuǎn)向處分開（圖4－8）。4）坑道轉(zhuǎn)彎時，素描圖制作要求① 坑道方向轉(zhuǎn)變在15176。2) 坑道素描圖：一般要求坑道素描圖用壓平法展開，繪制兩壁一頂。(二) 坑道地質(zhì)編錄要求1 坑道驗收坑道的掘進質(zhì)量要求較高，為滿足設(shè)計要求，掘進必須在測量密切配合下逐步地進行，不允許偏離設(shè)計方向，也不允許改變設(shè)計坡度。其余工作由組長協(xié)調(diào)，小組人員必須密切協(xié)作，方能完成整個編錄工作。2 技術(shù)準(zhǔn)備 坑道編錄人員應(yīng)熟悉、掌握坑道原始地質(zhì)編錄的有關(guān)規(guī)定、編錄程序、方法、質(zhì)量要求等。的為斜坑），若按坑道與礦層（脈）的關(guān)系，又可分為穿脈坑道、沿脈坑道。第四章 坑道工程原始地質(zhì)編錄一 目的任務(wù)坑道是礦產(chǎn)勘查的重要手段之一，坑道的布置和施工一般均在詳查階段以后，用以追索和圈定礦體，特別是礦體形態(tài)復(fù)雜、礦石組份極不均勻的礦床，目的是了解礦體埋藏條件和礦石質(zhì)量。在展開圖井壁上則呈水平直線定點。勘查線與圓井輪廓線相交A點，即基點。定值直徑或平均直徑是指，小圓井設(shè)計直徑與施工后的實際直徑相差不大時，可以采用設(shè)計直徑作為編錄用直徑，也可采用設(shè)計直徑和實際直徑的平均數(shù)作為編錄用直徑。當(dāng)施工條件有利而且礦層厚度較小，在允許施工深度可以揭穿礦層時，小園井也可起到淺井的探礦作用。小圓井掘進與要求1）橫截面為圓形?？犹焦こ虡?biāo)本樣品采樣記錄表（裝訂成冊）實物標(biāo)本（存列標(biāo)本、鑒定副樣）。㈢ 樣品清理、登記、送樣樣品清理：按樣品種類（化學(xué)樣、物理樣等）分類進行，核對樣品數(shù)量、重量、檢查樣簽，樣品包裝、編號等。㈡ 文字整理文、圖核對淺井編錄的文字記錄應(yīng)與素描圖進行核對，要求文圖完全一致。另外在編錄、采樣過程中，應(yīng)安排專人留守井口，防止掉塊、掉物傷人。當(dāng)?shù)V層薄，樣品數(shù)量少時，樣槽也可呈斜向（垂直礦層）布置。淺井樣槽一般布置在反映礦層走向的編錄壁上。作文字記錄，應(yīng)針對該段反映的主要地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象，有擇重的進行?！?。對不同的巖性層、含礦層（體）、蝕變帶、斷層及破碎帶等界線的井深以界線與基線交點的讀數(shù)為準(zhǔn)，井壁地質(zhì)現(xiàn)象以及樣品、標(biāo)本、產(chǎn)狀等位置，則以水平投影在基線上讀數(shù)為準(zhǔn)。3）繪制淺井空白圖作圖人員在進入井下之前，在方格米厘紙上照4壁的實際規(guī)格或平均規(guī)格，按比例尺依次展開，同時繪上基點，基線和第一壁方向，即為淺井空白圖，作井下編錄使用。1）確定第一壁：按照礦區(qū)的統(tǒng)一規(guī)定，在淺井工程實地位置確定第一壁及其方位，同時丈量淺井四壁規(guī)格。如素描圖是1：50，實際地質(zhì)體寬（厚）度≥5cm，長度≥15cm都要求反映到圖上。A1E、作圖方法：在淺井展開圖的井底圖中，連接EF即為井底面上分層界線。自b1點向一壁底邊A1B1垂直投影交點O1， 。淺井底呈水平的正方形或長方形，底上繪制的各類界線均為相關(guān)地質(zhì)體走向線。② 界線投影方法上圖的淺井立體圖中選擇第一壁是北西壁，它垂直勘查線方向，因此第一壁和第三壁上反映了地質(zhì)體的走向方向，第二壁和第四壁平行勘查線方向，壁上表現(xiàn)是地質(zhì)體傾斜方向。① 點的投影方法點的投影方法如圖3－15所示上圖示在淺井第一壁和第二壁上分別采了薄片標(biāo)本bb2兩塊。上圖選北壁作第一壁后，北壁不動，從北壁與西壁交線處斷開，西、南、東三個壁同時作逆時針旋轉(zhuǎn)，直至與第一壁構(gòu)成一個平面，則為四壁展開圖（圖3－13）基點、基線布設(shè)基點要求布設(shè)在第一壁的左上角處，基點又是淺井定位的坐標(biāo)點。勘查線方向呈北西—南東向時，可選擇北西壁為第一壁，也可選擇北東壁為第一壁；勘查線方向呈北東－南西向時，可選擇北西壁為第一壁，也可選擇北東壁為第一壁。1）確定首選壁（第一壁）：地質(zhì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，淺井素描的第一壁應(yīng)首選正北壁、北西壁、北東壁、正東壁。因此在施工過程中，編錄人員經(jīng)常與施工人員取得聯(lián)系，掌握工程進度，及時進行編錄和采樣。二、淺井地質(zhì)編錄前的準(zhǔn)備㈠ 物資：地質(zhì)錘、羅盤、放大鏡、圖夾、坐標(biāo)紙、圖包、照相機、膠卷、鐵夾、鉛筆、膠擦、三角板、量角器、皮尺、鋼卷尺、紅油漆、木樁、白色膠布卷、照明用燈具、刻槽采樣用各類工具（采樣工準(zhǔn)備、同坑道采樣）、標(biāo)本紙、樣品袋等。第二節(jié) 淺井（含小園井）編錄一、目的任務(wù)淺井工程與探槽、圓井、平坑、豎井、斜井、穿脈、沿脈等均屬于坑探工程大類。將c、d、e點相聯(lián)為基巖線；將f、g、j點相聯(lián)為槽底線；將k、I點相聯(lián)為鐵礦（Fe）頂界；將n、m點相聯(lián)為鐵礦底界。③測手測量并報出各地質(zhì)要素特征點的座標(biāo)位置A、槽壁：各導(dǎo)線起點讀數(shù)均為0m，設(shè)各點鉛垂投影到基線上的位置為Xm，即皮尺上的讀數(shù)，該點距基線的鉛垂距離為Y m（分基線上或基線下，用畫有長度的標(biāo)桿丈量出數(shù)據(jù)），作圖員便可據(jù)此將各點位置投到圖上，并分類聯(lián)接成圖（圖3－10），地表點a垂直投在導(dǎo)線上的點為a`、a`在皮尺（導(dǎo)線）。① 首先根據(jù)探槽的長度，高差等計劃好圖名、比例尺、基線起點、槽壁、槽底、責(zé)任表及樣品分析結(jié)果表在座標(biāo)紙上的相應(yīng)位置，要求布局合理，整齊美觀。大坡度探槽的槽壁可分段垂直上下移動成鋸齒狀（槽底仍然連續(xù)。時，在拐點處設(shè)基點，但槽壁及槽底均可連續(xù)素描。㈢ 繪制素描圖素描圖的基本原理：通過測量槽壁及槽底上的各地質(zhì)編錄要素（界線、產(chǎn)狀、標(biāo)本及樣品位置等）與基線的相對位置，按比例縮小后描繪到座標(biāo)紙上，成為一張真實地反映探槽