【正文】 和礦化均勻程度及礦區(qū)最低可采度和夾石剔除厚度。當?shù)V體與圍巖有明顯區(qū)別，礦體厚度較大，礦石類型較簡單，礦化均勻，則樣長可放大。樣品編號原則：化學樣編號為工程編號＋化學分析樣代號(H)＋該工程中本類樣品順序號組成（其它手標本、薄片、光片、大小體重等樣品編號原則類似）。樣樁布設(shè)方法：打樣樁時注意每一段樣可能是一件，也可以是幾件連續(xù)樣，起、止端都應(yīng)有樣樁，但幾件樣首尾相連時，其中間各樣起止編號可共用一個樣樁，兩面各編寫樣號（如圖3－3）?；€位置宜選擇在基巖與浮土的分界線附近，但工程起、止兩個端點宜布在地表以便定測及照顧素描。操作方法：在基點處打上編好號的基線樁，然后用皮尺拉緊固定在兩個基線樁上部就成為基線，第一條基線起點為零。之內(nèi)時，取平均值作為基線的方位角和坡角。槽壁、槽底在素描圖上的位置：編錄壁按比例縮小后繪于素描圖的上方，槽底繪于圖的下方，與槽壁之間應(yīng)留1cm以上間隔（以便標注產(chǎn)狀、樣號等），槽底按正投影繪成等寬的條帶狀，；局部地段遇特殊情況，需加繪另一槽壁時則展開投繪在槽底的下方，如圖3－5。地質(zhì)體的取舍：按比例縮小后的寬度大于1mm的地質(zhì)體均應(yīng)素描到圖上；有特殊意義的小礦體或地質(zhì)現(xiàn)象雖不足1mm，也應(yīng)適當放大比例尺表示，其方法一般是從該點引出圖外作一小幅放大的素描圖（圖3－6）探槽拐點的處理：①探槽方向變化的方位差小于15176。②探槽方向變化的方位差大于等于15176。b. 當拐彎方向向編錄壁彎轉(zhuǎn)時，槽底與槽壁都要裂開，槽底裂開的夾角等于拐彎方位差，槽壁底部裂開寬度與槽底一致。這時要注意各段之間的地質(zhì)要素應(yīng)嚴格扣合）（圖3－8）。（圖3－9）作圖基本步驟作圖員面向編錄壁操作。使用礦區(qū)統(tǒng)一圖例。文字記錄：在地質(zhì)記錄表上依次記錄。a點距導線的垂距aa`（），則a點的X坐標＝。這樣依次連接0、a、b點即成地形線（地表線）。：測手將槽底上的各編錄要素點先按地質(zhì)走向投到槽底與槽壁交界處，然后再垂直投到基線上報出該點在基線上的一個讀數(shù)點（X坐標），作圖員即可將該點自基線上投影到槽底圖上將地質(zhì)體、樣品等繪出(因槽底為平面圖，故無Y坐標點)（示意圖3－11）。c. 測量產(chǎn)狀、采集標本、揀塊樣的位置應(yīng)用符號標注在圖上，方法同前。淺井工程施工的主要目的與坑探工程一致。淺井原始地質(zhì)編錄，要求仔細觀察研究地質(zhì)觀象（地層、巖石、構(gòu)造等）與礦化及富集作用的關(guān)系；采取系統(tǒng)標本和樣品；研究收集礦層及頂、底板圍巖的工程地質(zhì)現(xiàn)象和構(gòu)造、斷裂的破壞作用和影響；要充分考慮礦床存在共生或伴生礦產(chǎn)的可能性。㈡ 表格坑探工程概況表（DZ／T0078－93）表A3坑探工程基點基線記錄表（DZ／T0078－93）表A4坑探工程原始地質(zhì)記錄表（DZ／T0078－93）表A5坑探工程標本樣品采樣記錄表（DZ／T0078－93）表A6坑探工程地質(zhì)綜合表（DZ／T0078－93）表A7標本簽樣品簽㈢ 人員一個編錄組一般由2－3人組成。三、淺井地質(zhì)編錄㈠ 地質(zhì)編錄要求編錄及時性：由于淺井施工中常常需要進行井壁支護，從而遮蓋了所揭露的地質(zhì)現(xiàn)象。素描圖比例尺：按地質(zhì)行業(yè)標準規(guī)定，淺井用于揭露礦層（體）或地質(zhì)界線時，素描圖比例尺為1：100，而對某些有特殊要求的礦種和地質(zhì)現(xiàn)象，可在設(shè)計書中規(guī)定放大到1：50。目前地勘單位在實際操作時，多繪制淺井四壁素描圖。各礦區(qū)應(yīng)作統(tǒng)一規(guī)定。勘查線方向呈南北向時，可選擇正北壁為第一壁，也可選擇正東壁為第一壁；勘查線方向呈東西向時，可選擇正北壁為第一壁，也可選擇正東壁為第一壁。2）淺井壁展開方法淺井形態(tài)有正方形和長方形兩種，～，四壁展開應(yīng)根據(jù)淺井長，寬規(guī)格作展開輪廓圖。如圖3－12?；€自基點0點（起點）呈鉛直布設(shè)。井底素描按正投影繪制。b1位置投影， A點處。 最后利用bb2坐標數(shù)值展繪于淺井展開圖的第一壁和第二壁上。淺井立體圖中，ABCD是巖層分界面，投影素描分層界線時，只需要投影A、B、C、D四個點垂直坐標即可，因為A、B、C、D四點分別位于淺井四壁的交線上，它們的水平坐標均可視為零值（圖3－16a）用點的投影方法，A、B、C、D四點的坐標為：；；；。2）淺井底的投影作圖方法：淺井底按正投影繪制。① 點投影方法與作圖：淺井底面任一投影點，可向井底任意一邊作垂直投影交于底邊上一點，則該交點到底邊端點距離和該交點到投影點距離即為投影點的兩個平面座標數(shù)值。b1為井底一投影點。，（A1點位置） O1點。從立體圖可見，求E、F兩點位置無須投影，直接丈量A1－E和B1－F距離即可。也可從E點或F點按界線走向直接繪制。2）素描的精度要求是：凡地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象在不同比例尺的素描圖上寬（厚）度≥1mm，長度≥3mm者，都屬于素描對象，圖上必須反映。㈡ 淺井原始地質(zhì)編錄分段編錄要求淺井在施工進程中為防止松散層垮塌，往往需要架箱支護，因此地質(zhì)編錄應(yīng)隨著施工進度分段進行。野外編錄步驟。2）布設(shè)基點（木樁）、基線?；€是用皮尺的零米點固定在木樁（基點）上，并沿第一壁和第四壁鉛垂懸掛而成。4）投影作圖――編繪淺井素描草圖按照點投影、線投影的方法和要求，對淺井編錄壁（兩壁或四壁）上各分層界線、礦層（體）界線，斷層線等以及樣品、標本、產(chǎn)狀位置等地質(zhì)現(xiàn)象進行投影，同時將投影點展繪到空白圖相應(yīng)位置上，然后連接相同性質(zhì)投影點構(gòu)成各類界線，標注樣品標本號、產(chǎn)狀數(shù)據(jù)等。文字記錄的內(nèi)容應(yīng)與素描圖上的內(nèi)容完全一致，因此在編錄 過程中記錄人員和作圖者應(yīng)經(jīng)常聯(lián)系、核對，如發(fā)現(xiàn)問題便于現(xiàn)場修正。0～：第四系浮土碎石層～：紫紅色中厚層狀長石細砂巖．．．．．?！５谝槐诳滩蹣親1（～）H2 （～）第二壁標本b1（）b2（）產(chǎn)狀130176。（礦層底板）～5m：淺灰色中厚層狀石灰?guī)r。例如描述礦層（體），要抓住礦石特征，重點記錄反映礦石成因的特征和現(xiàn)象。㈢ 采樣工作化學采樣：采用刻槽法樣槽布置原則、方法，刻槽要求，樣槽規(guī)格檢查以及樣品收集、重量檢查，填寫樣品簽、裝袋等均與坑道編錄細則中化學采樣工作內(nèi)容基本一致，可參照執(zhí)行。當即第一壁方向垂直勘查線時，樣槽布置在第一壁和第三壁上；若第一壁方向平行勘查線時，樣槽布置在第二壁和第四壁上。樣槽在編錄壁上一般呈鉛直狀連續(xù)布置。物理樣：在探礦工程中采物理樣，常有巖礦石標本、薄片樣、光片樣，小體重樣、光譜樣等。㈣ 安全工作淺井施工及編錄，采樣過程中的安全工作應(yīng)引起足夠的重視，其中防垮塌，防掉塊尤其重要，因此及時編錄、采樣和及時架箱支護是防止井壁垮塌的主要措施。配齊井下作業(yè)所需的安全裝備如安全帽等。素描圖上墨對完善后的淺井素描圖，編錄人員首先自檢，再交編錄小組互檢，用防水墨汁全部上墨。核對內(nèi)容應(yīng)從井口開始逐層進行，有界線井深、礦層井深、斷層井深、巖性與花紋、樣品井深及編號，產(chǎn)狀位置及數(shù)據(jù)等是否吻合，如有差錯，及時查找原因進行修正。對記錄中所有數(shù)據(jù)全部上墨。登記：對采集的各類樣品，分類登記在“坑探工程標本、樣品采樣記錄表（DZ／T0078－93）”表A6上。五、提交資料淺井素描圖淺井文字記錄冊（坑探工程原始地質(zhì)記錄表裝訂成冊）。樣品成果報告冊（分化學樣、鑒定樣、小體重樣等）。六、小圓井地質(zhì)編錄 ㈠ 小圓井布設(shè)與要求小圓井布設(shè)：小圓井布設(shè)比較靈活，在地質(zhì)填圖中起到地質(zhì)觀察點的作用；在探礦中小圓井應(yīng)布置在勘查線上，起到探索第四紀厚度及了解下伏基巖巖性的作用。施工深度不得超過5m。2）要求：。這時，小園井也要求取樣（刻槽樣）。1）小圓井展開圖：取定值直徑或平均直徑徑基線作逆時針展開。圓井展開圖中AB壁、BC壁長度是由AB、BC弧經(jīng)過計算得到?；€自基點鉛直布設(shè)。自A點（零米）鉛直懸掛皮尺（AA`）即為基線。量水平坐標時，鋼卷尺不能呈水平直線，應(yīng)貼井壁呈弧形水平狀丈量。b1點為圓井壁上采的薄片樣。小圓井編錄的其他內(nèi)容、方法、要求均與淺井地質(zhì)編錄一致，參照“淺井原始地質(zhì)編錄”細則執(zhí)行。有時在礦產(chǎn)普查階段也布置坑道，進行邊探邊采。在礦產(chǎn)勘查中通常設(shè)計的坑道有平坑和斜坑（坑道坡度水平者為平坑、坡度小于45176。穿脈坑道常與礦層傾向一致，沿脈坑道常與礦層走向一致。三 坑道地質(zhì)編錄的準備(一) 資料及技術(shù)準備1 資料準備坑道地質(zhì)編錄人員應(yīng)了解和熟悉礦區(qū)，特別是坑道附近的地層、巖石、礦產(chǎn)、構(gòu)造以及巖性分層、礦層、巖礦石特征等。(二) 物資準備1 工具、材料 羅盤、地質(zhì)錘、放大鏡、小圖板、講義夾、三角板、量角器、鉛筆、鋼卷尺、皮尺、木樁、鐵釘、垂球、照明設(shè)備、紅白油漆、毛筆、作圖用計算紙、樣品袋、包裝紙等。組長主要負責綜合地質(zhì)觀察和投影工作，一名助手主要負責繪制坑道素描圖，另一名助手主要負責文字記錄。四 坑道地質(zhì)編錄方法和要求(一) 編錄程序坑道施工和地質(zhì)編錄一般可照以下順序反復進行：坑道掘進→地質(zhì)綜合觀察、分層、布樣、標本采集→刻槽采樣→投影作圖、文字記錄→繼續(xù)掘進。一般視掘進進度、頂、壁穩(wěn)固程度、地質(zhì)構(gòu)造復雜程度及礦區(qū)設(shè)計要求可以分段進行編錄，也可以施工結(jié)束后一次性編錄。在驗收中還應(yīng)檢查坑道規(guī)格是否與設(shè)計相符，檢查頂和壁是否平整，以便及時處理。2 坑道編錄要求1) 比例尺：一般用于揭露礦層（體）或地質(zhì)界線的坑道編錄，常用1：50～1：200，其它用途的坑道編錄比例尺可采用1：200或更小。若礦體形態(tài)簡單、組份均勻、兩壁變化不大時，也可只繪制一壁一頂，沿脈坑道要按設(shè)計要求，按一定間距制作掌子面素描圖。如遇特殊地質(zhì)現(xiàn)象，應(yīng)放大比例尺作素描。之內(nèi)時，素描圖繪制不作特殊要求，連續(xù)繪制，在導線起點標明方向即可。以上時，要求分段編錄，編錄時在頂板上留出叉口，彎壁上留出空白，叉口的夾角即方向改變的角度差值（圖4－7）。5) 坑道施工坡度改變時，也要分段編錄，如平坑改為斜坑或斜坑改為平坑，編錄只需在變化的位置注明坡度角即可。2) 清洗坑壁（由施工人員承擔）施工中坑壁往往被巖石粉塵掩蓋，一般需用水沖洗，露出完整的基巖，必要時還用鋼刷進行刷洗，以確保觀察的清晰和準確?？涌诘幕c，是坑道的起點，又是坑道的坐標點?？涌诨c測量應(yīng)提供Z、Y、Z坐標數(shù)據(jù)，坑內(nèi)的基點，只要求與前點的方向平距，必要時應(yīng)有高程數(shù)據(jù)?？拥乐袥]有測量測定的中線樁時，地質(zhì)人員則自行設(shè)定?；c編號，一般是從坑口向坑內(nèi)按順序依次編號，即坑口基點編號0點（站）、（前面應(yīng)代上坑道編號）、坑內(nèi)第一個中線樁編1點（站）、第二個中線樁編2點（站）、依次類推。布置基線時要求：① 有測量儀器測定的中線樁時，基線（皮尺距離）距離與兩中線樁測定的距離相符若有差異可以拉緊或放松皮尺來吻合。② 編錄人員自行設(shè)定的中線樁，在系皮尺（基線）時不可拉得太緊，也不可放得太松，以避免造成太大的累計誤差，皮尺還應(yīng)經(jīng)常用鋼尺來檢查校正。每段基線編錄應(yīng)分段進行，通常從坑口基點往坑內(nèi)第一個中線樁之間，作為第一段首先編錄，記錄成0－1站；從第一中線樁至第二中線樁之間，作為第二段（基線），記錄1－2站；第二中線樁至第三中線樁之間，作為第三段，記錄2－3站；依次類推。3 綜合觀察和分層1) 綜合地質(zhì)觀察要求對坑道兩壁基巖進行系統(tǒng)地敲打和觀察，運用沉積巖、巖漿巖理論，觀察巖石中礦物組分、結(jié)構(gòu)、構(gòu)造及其變化，確定巖石名稱；觀察巖石的蝕變情況、蝕變礦物、蝕變程度、蝕變帶范圍等以及礦化種類、強弱、與蝕變的關(guān)系、礦體厚度、礦石自然類型及工業(yè)品級（目測含量）等；觀察斷裂、裂隙分布位置、斷層破碎帶特征及寬度、斷層性質(zhì)、切割礦體程度等，目的就是詳細劃分不同的巖性層、掌握蝕變或礦化（體）賦存位置、成礦有利因素、礦體破壞情況等等。在具體編錄中無論是文字記錄或是作圖，都要求對單元地層中出現(xiàn)的不同巖性的巖層，厚度只要在圖上大于1mm，長度大于3mm，都要進行劃分。在分層確認的基礎(chǔ)上，對坑道兩壁及頂板上基巖出露的各種巖性或礦體分界線，以及斷層、裂隙等界線，都要求在地質(zhì)觀察分層同時用毛筆沾油漆標注，尤其是要求對含礦層中劃分的不同礦體、不同類型、不同品級的礦石出露范圍，用自行擬定的代號仍用油漆明顯標出，使其醒目，便于作圖投影時方便迅速。4 坑道地質(zhì)編錄中的布樣由于坑道施工的目的不同，有追索控制礦體而施工的坑道，有檢查鉆孔質(zhì)量而施工的坑道、也有專為采集大樣的坑道．．．．．等。主要介紹追索控制礦體施工的坑道中的采樣工作。1) 化學分析樣布樣① 采樣目的層a. 含礦層或礦層全段連續(xù)取樣b. 礦層（含礦層）頂?shù)装逡话愀鞑?－2件樣品② 布樣位置坑道中的化學分析樣要求用刻槽法取樣，因此要求化學樣品的布置一般應(yīng)布置在主編錄壁上，樣品距底板高度以采樣操作方便為原則。樣品通常連續(xù)布置呈一水平直線，有時也可垂直礦體斜向布置。如1號穿脈坑道中第5號化學樣編號為CM1H5?？滩蹣釉诳颖谏喜贾靡笥糜推嵩跇悠穼嶋H位置上劃線分樣、編號，便于采樣時依照樣品界線逐個采取。考慮到樣品代表性及不同礦石的可采厚度，布樣時一般應(yīng)遵循以下原則：a. 同一件樣不得跨越不同礦種或不同礦層（圖4－12）b. 同一件樣不得跨越不同礦石自然類型及工業(yè)品級（圖4－13） c. 礦石中夾石剔除原則：礦石中夾石厚度≥剔除厚度時，單獨采樣（圖4－14a）。樣槽長度由采樣工刻槽后用鋼卷尺直接丈量。樣槽方向由編錄人員用羅盤測定，當坑道壁平整時，樣槽方向與基線方向一致，如樣品段出現(xiàn)凸出石包或凹形洼坑時，樣槽方向與所在基線方向出現(xiàn)差異。樣槽傾斜時，向上為正坡度角、向下為負坡度角。在繪制坑道輪廓前，先應(yīng)丈量坑道規(guī)格和測定坑壁的傾斜角度，有下面四種情況：① 頂寬和高的規(guī)格與設(shè)計一致或相差不大時，輪廓圖按設(shè)計規(guī)格繪制。高2m，則繪制輪廓時應(yīng)采用頂寬（+），高用（+2m）。時，按鉛直面繪制，即頂寬為設(shè)計頂寬或平均值，高為設(shè)計高或平均值④ 坑道壁斜度＜75176。2) 投影作圖① 投影方法：以基線作水平標尺，鋼卷