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正文內(nèi)容

固體礦產(chǎn)勘查原始地質(zhì)編錄細(xì)則-文庫吧資料

2025-04-24 04:06本頁面
  

【正文】 層單元應(yīng)小于礦區(qū)填圖單元,一般礦體同礦區(qū)填圖單元一致,分層厚度及夾石剔除厚度按工業(yè)指標(biāo)或設(shè)計要求,不同礦(化)體層,不同礦石類型和工業(yè)品級、不同巖石類型和較大構(gòu)造應(yīng)分開。但由于地形及地質(zhì)現(xiàn)象突變等原因造成首選壁的基巖露頭不理想時,可選擇對應(yīng)的另一壁,或者視其情況,多數(shù)導(dǎo)線取首選壁、個別導(dǎo)線加繪對應(yīng)壁。確定編錄壁:有兩壁一底探槽,一般情況下,只作一壁一底展開圖。采樣工準(zhǔn)備:樣品袋(一般用白布縫制,可裝5-10公斤礦樣)、圓釬頭(常備5支)、扁釬頭(常備3支)、手錘、刷子、采樣布(一般準(zhǔn)備22m的兩塊、11m的兩塊;油布或編織布)、稱、鋼卷尺、羅盤、樣簽、采樣登記表、鋼筆、毛筆、紅油漆??滩蹣訕叮耗举|(zhì)或竹質(zhì),一般規(guī)格長1520cm,寬34cm,數(shù)量約為估計刻槽取樣數(shù)的2倍,因為每件樣的起、止位置都應(yīng)打樁。提前一天用紅油漆在木樁上端寫上基線點號(起點為“0”)。=將備用的全部座標(biāo)紙用圖釘固定在圖板上,準(zhǔn)備好三角板、量角器、三棱尺、文具盒、2H鉛筆數(shù)支、鉛筆刀、橡皮擦等。作圖員準(zhǔn)備:小圖版(一般規(guī)格6045cm)、座標(biāo)紙(一般規(guī)格5035cm)用量按下列辦法計劃:繪圖坐標(biāo)紙張數(shù)=擬編錄探槽長度(m)作圖比例尺247。職責(zé):主要分工刻槽取樣,人工重砂,大體重采樣工作。職責(zé):主要分工編號、打樁,基線布置、測量各類數(shù)據(jù)、采集標(biāo)本及各種揀塊樣(有時可由組長或作圖員、采樣工兼任)。職責(zé):協(xié)助組長工作,主要分工素描圖及其它適合兼任的工作。要求掌握有關(guān)規(guī)范,設(shè)計及工作細(xì)則,熟悉探槽周圍地質(zhì)情況。組長:一般由工程師或熟悉探槽工作的技術(shù)人員擔(dān)任。圖例應(yīng)符合有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)及地勘單位根據(jù)礦區(qū)特點作出的規(guī)定。編錄時采用行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的方法和表格。載質(zhì)材料優(yōu)良,圖表用80克以上的紙張,幅面尺寸185260mm或2n倍(n=0、2......)。測量、繪圖工具和量具的精度、質(zhì)量必須符合要求,計量單位名稱和符號須符合規(guī)定,數(shù)值要反映其精確程度,寫出全部有效數(shù)位。現(xiàn)場編錄應(yīng)隨施工進(jìn)展及時進(jìn)行。二、現(xiàn)場編錄必須真實客觀編錄人員要認(rèn)真、細(xì)致、全面地研究地質(zhì)現(xiàn)象,聯(lián)系認(rèn)識,準(zhǔn)確地判斷和記錄。第一節(jié) 槽探編錄一、現(xiàn)場編錄的基本內(nèi)容觀察研究并記錄探槽所揭示的地質(zhì)現(xiàn)象。井探原始地質(zhì)編錄的對象是經(jīng)地質(zhì)、施工管理及施工人員三方現(xiàn)場驗收,施工質(zhì)量符合要求并已達(dá)到地質(zhì)目的的淺井及小園井等。㈡ 地質(zhì)填圖工作總結(jié)內(nèi)容概況1)目的任務(wù)2)交通位置及自然地理3)以往地質(zhì)工作評述4)完成實物工作量工作方法及質(zhì)量評述測區(qū)地質(zhì)1)地層2)構(gòu)造3)變質(zhì)巖4)巖漿巖5)礦床結(jié)語1)主要成果2)存在問題3)下步工作意見第三章 槽井探工程原始地質(zhì)記錄本章僅介紹槽井探原始地質(zhì)編錄工作的內(nèi)容、要求、方法、質(zhì)量檢查及資料管理。鑒定及測試成果。照相記錄表、照片集。地質(zhì)觀察線記錄表;標(biāo)本、樣品采樣登記表。第三由于手圖經(jīng)野外使用、折疊,難免出現(xiàn)圖紙的收縮誤差,在展點丈量坐標(biāo)時,要平差處理,將誤差消除在每個方格網(wǎng)中,避免累計誤差產(chǎn)生。在展繪過程中,第一按坐標(biāo)方格網(wǎng)依一定順序逐個進(jìn)行。3)圖面整飾:圖框、圖名、比例尺、圖簽(責(zé)任簽)。實際材料圖內(nèi)容:1)用與填圖手圖同版的、未折疊、無皺紋、無缺損的地形圖作為底圖,將填圖手圖中填繪的全部內(nèi)容(觀察點、路線、標(biāo)本、樣品、產(chǎn)狀、已施工工程、各種地質(zhì)界線、斷層線等等的位置、編號、代號)展繪到新的地形圖上。同時核對實物、標(biāo)(樣)簽、送樣單三者無誤后,派專人分別送化驗室和鑒定室。用DZ/T0078-93“照相記錄表”作照相登記。對潮濕的樣品及時安排烘烤或曬樣,以免樣袋發(fā)霉損壞,同時稱重,填寫樣簽。 標(biāo)本、樣品整理:1)清理當(dāng)天采集的標(biāo)本、樣品數(shù)量。在填圖完成一定面積到填圖結(jié)束的全過程中,要求作一系列圖切剖面,對巖層層序、構(gòu)造形態(tài)特征、礦體賦存部位、形態(tài)、規(guī)模等進(jìn)行了解和解釋,使對礦區(qū)地質(zhì)構(gòu)造特征的認(rèn)識隨填圖進(jìn)展而逐步深化。對文字記錄中的各類數(shù)據(jù)和素描圖用防水墨汁上墨。地質(zhì)觀察點路線記錄表或野外記錄本整理;表格中內(nèi)容是否填寫齊全,文字是否通順、錯漏字、專業(yè)術(shù)語準(zhǔn)確與否。資料整理要求是完成當(dāng)天填圖取得的文字、圖、實物等資料,不允許累計幾天資料作一次性整理。填圖中采樣要求作素描圖或剖面圖,圖上要表示地質(zhì)點位置和樣溝位置。也可用刻線法代替刻槽法采樣。填圖中采樣的數(shù)量很有限,要求在觀察點或路線上出現(xiàn)的零星小礦體露頭或其它礦種的礦化點進(jìn)行采樣。對有特殊地質(zhì)意義的標(biāo)本,要作素描圖(包括采集點地質(zhì)素描圖和標(biāo)本素描圖),表示標(biāo)本所在地的地質(zhì)位置和具有的地質(zhì)意義。標(biāo)本采集后,要進(jìn)行編號、填寫標(biāo)本簽,在地質(zhì)觀察點路線記錄表中作好記錄。標(biāo)本規(guī)格以能反映實際情況和滿足切制光、薄片及標(biāo)本觀察的需要為原則,一般陳列標(biāo)本為369cm或3612cm。標(biāo)本、樣品采集1)標(biāo)本采集:要求在觀察點或觀察線上采集,目的是彌補(bǔ)實測地質(zhì)剖面的系統(tǒng)標(biāo)本或者是為了解決新出現(xiàn)的特殊巖(礦)石、化石的命名,因此,采集數(shù)量不應(yīng)太多,也不要求系統(tǒng)。同一界線(斷層線)勾繪連接后,應(yīng)為一條較圓滑的自然曲線而不應(yīng)勾繪成一條折線。一般來講,大比例尺填圖(如:1:2000等),由于相鄰兩觀察點距離較近,在產(chǎn)狀無明顯變化和無斷層切割的情況下。具體操作:將控制同一地質(zhì)界線(斷層線)上相鄰兩個觀察點連接而成。如D1H1為1號地質(zhì)點1號揀塊分析樣。標(biāo)本(樣品)順序號按填圖工作統(tǒng)一的順次排列。6)巖礦石標(biāo)本、樣品編號:觀察點采集的標(biāo)本、樣品,要求在露頭和手圖的相應(yīng)位置上標(biāo)注和編號。5)觀察地質(zhì)描述:由于觀察點所具有的地質(zhì)意義不完全相同,在描述時必須有擇重,切忌千篇一律或平淡敘述。第四,要求每條路線的觀察記錄具有連續(xù)性。第二,應(yīng)記錄地質(zhì)現(xiàn)象性質(zhì)和特征并說明與已知觀察點有無差異或變化。記錄內(nèi)容主要是描述兩點間先后觀察到的地質(zhì)現(xiàn)象。3)位置:指觀察點在手圖上的具體位置,可以是X、Y座標(biāo)交點,或者是地形圖上兩個或三個明顯地物地貌的方位角交匯點,也可以是地形圖上明顯地物地貌的特定位置等。如果多個填圖組,則可分號段使用。地質(zhì)點順序號可以不連續(xù)、允許缺號,但不允許有重號。地質(zhì)點編號方法是:地質(zhì)點代號加地質(zhì)點順序號。2)點號:指地質(zhì)點編號。記錄內(nèi)容作以下說明:1)礦區(qū)名稱:用礦區(qū)代號表示。地質(zhì)觀察點記錄一般野外要求用2H鉛筆作文字記錄和手圖勾繪,也可用防水墨汁記錄。又如某含銅砂巖,沿該層往往生長有“銅草”。推測的依據(jù)應(yīng)根據(jù)基本地質(zhì)理論,有:利用巖石風(fēng)化后碎塊巖性推測;巖石風(fēng)化后土壤顏色推測;利用巖石中含特殊礦物而生長的特定草木植物來推測等等。實測地質(zhì)點就是在露頭上布置控制地質(zhì)界線、斷層線、巖性的觀察點??傊顖D觀察點定位精度應(yīng)按照填圖設(shè)計執(zhí)行。一般地講,填圖比例尺越大,填圖精度越高,一類或二類觀察點的定位精度要求就越高。精度一般。精度一般。2)觀察點定位:① 定位方法:a. 儀器法:觀察點定位用經(jīng)緯儀視距法測量,提交觀察點的X、Y座標(biāo)數(shù)據(jù)的精度最高,一般適用于重要或勘查程度高的礦區(qū);用GPS全球衛(wèi)星定位儀測量精度也較高,適用于預(yù)查-普查礦區(qū)。② 手圖上標(biāo)記:手圖上地質(zhì)點用2mm直徑的實心小園(地質(zhì)觀察點定位1)觀察點標(biāo)記① 野外標(biāo)記:用寫有地質(zhì)觀察點編號的木樁(竹樁)打入觀察點處的基巖裂縫中,或者用紅油漆在基巖上劃一小圓中心一點“”以示點位,并在小園旁邊寫點號。在具體工作過程中,觀察點布置應(yīng)在含礦巖層或礦層頂板和構(gòu)造(褶皺、斷層等)附近密集些,反之在非礦層附近和構(gòu)造簡單地段可放稀的原則。觀察點密度及數(shù)量一般要求見下表。對該類觀察點只要求記錄巖層產(chǎn)狀和巖性特征。該類觀察點要求只作簡要的文字記錄。該類觀察點要求作詳細(xì)的文字記錄,必要時加作放大素描(剖面或平面圖等)。① 一類:基本觀察點:是控制測區(qū)地質(zhì)界線和基本構(gòu)造形態(tài)而布置的觀察點。地質(zhì)觀察點布置1)觀察點布置要求觀察點布置一般要求布置在觀察線上,是地質(zhì)填圖貫徹點、線結(jié)合觀察地質(zhì)現(xiàn)象的一項重要原則。觀察路線一般采用“之”字形布置,以便控制其頂?shù)捉缇€和了解變化情況。在布置觀察線時應(yīng)著重強(qiáng)調(diào)的是,不僅僅是考慮觀察線之間的距離,還要考慮基巖出露的良好地段,若出現(xiàn)布置的兩條觀察線距大于規(guī)定的線距,則可在其間布置短觀察線彌補(bǔ)。然后將剖面上確定的填圖單元界線,斷層線、侵入體界線、礦層頂?shù)装褰缇€、產(chǎn)狀等的位置,繪到手圖上。實測地質(zhì)剖面是一條已知的觀察路線,因此,填圖工作應(yīng)從實測地質(zhì)剖面兩側(cè)逐漸展開。填圖所用的地形底圖(手圖)的精度應(yīng)符合礦區(qū)設(shè)計要求,比例尺應(yīng)大于或等于填圖比例尺,還要防止野外手圖和清圖的圖紙在工作過程中伸縮變形而影響精度。㈡ 填圖方法根據(jù)礦區(qū)確定的填圖單元,采用穿越法、追索法或者二者相結(jié)合的方法填圖。填圖人員一般根據(jù)填圖面積、精度要求、時間、定額等因素,確定填圖小組個數(shù)。關(guān)于實測地質(zhì)剖面操作細(xì)則及要求,在固體礦產(chǎn)勘查地質(zhì)剖面規(guī)定實施細(xì)則中有詳細(xì)敘述。實測剖面完成后,應(yīng)編制代表填圖范圍內(nèi)的綜合地層柱狀圖,同時明確填圖單元,作為填圖區(qū)統(tǒng)一的分層和對比依據(jù)。應(yīng)強(qiáng)調(diào)要做到四個統(tǒng)一,即統(tǒng)一地層劃分和巖性分層、統(tǒng)一野外巖石命名、統(tǒng)一填圖方法和要求、統(tǒng)一圖式圖例。踏勘過程中要勤敲打、勤觀察,并作好記錄和路線地質(zhì)剖面圖。地質(zhì)踏勘工作由礦區(qū)技術(shù)負(fù)責(zé)(主任工程師)組織地質(zhì)、水文、物化探、測量等工種的主要人員參加,一般選擇1-2條路線,若礦區(qū)地質(zhì)構(gòu)造復(fù)雜時可增加1條踏勘路線。資料收集后,礦區(qū)技術(shù)負(fù)責(zé)應(yīng)組織有關(guān)人員對資料進(jìn)行認(rèn)真研究,分析,擬定工作重點和需要解決的問題。收集測區(qū)地形圖(應(yīng)與填圖比例尺相同或更大的比例尺),收集測區(qū)內(nèi)測量控制點等資料。測區(qū)內(nèi)發(fā)現(xiàn)的礦產(chǎn)種類、賦存層位、礦體規(guī)模、礦物成分、礦石類型、品位等。測區(qū)內(nèi)沉積巖、巖漿巖、變質(zhì)巖方面的資料,如地層、巖石類型特征等。測區(qū)范圍通常局限于礦體和近礦圍巖分布地段,但應(yīng)包括探礦工程布置范圍。㈣ 1:5000-1:1000地質(zhì)填圖是在礦床(區(qū))普詳查或勘探階段進(jìn)行,主要任務(wù)是:全面而詳細(xì)研究礦床(區(qū))地層、巖石、構(gòu)造、礦體形態(tài)、規(guī)模、產(chǎn)狀、礦石質(zhì)量、礦石類型及其空間分布;研究礦體與圍巖的關(guān)系及圍巖蝕變等。㈢ 布置1:25000、1:10000比例尺地質(zhì)填圖的目的,在于闡明測區(qū)地質(zhì)構(gòu)造和成礦地質(zhì)條件,用以找礦和擴(kuò)大礦床(區(qū))遠(yuǎn)景。在物化探及重砂異常找礦中、在礦床(區(qū))勘探期間的礦區(qū)外圍找礦時,常使用1:25000、1:10000比例尺地質(zhì)填圖;在礦床(區(qū))詳查、勘探階段,常進(jìn)行1:5000~1:1000比例尺地質(zhì)填圖。㈡ 地質(zhì)填圖礦產(chǎn)勘查全過程中,常采用的比例尺有1:25000、1:10000、1:5000、1:2000、1:1000五種。第二章 地質(zhì)填圖一、地質(zhì)填圖的目的任務(wù)㈠ 地質(zhì)填圖又稱地質(zhì)測量。新發(fā)現(xiàn)、新進(jìn)展及新認(rèn)識。構(gòu)造(斷裂、褶皺)分別描述類型、性質(zhì)、規(guī)模、形態(tài)、產(chǎn)狀、對地層或礦層破壞,以及控礦特征等。每一時代中地層可按地層結(jié)合單位總述其組合特征,再按不巖性層分層或填圖單元詳述巖性特征、接觸關(guān)系特別是不整合接觸或斷層接觸關(guān)系。㈡ 地質(zhì)成果簡述剖面測區(qū)的區(qū)域構(gòu)造部位、地層、構(gòu)造特征。工作起止時間、工作單位、主要工作人員。八、實測地質(zhì)剖面小結(jié)(總結(jié))內(nèi)容㈠ 前言目的。在右邊相對應(yīng)的位置寫上巖層厚度和簡單文字描述,并注明有代表性的化石和礦產(chǎn);在左邊表示地層系統(tǒng)、地層名稱和時代符號。各時代地層和各填圖單位。七、綜合地層柱狀圖㈠ 要求在實測地質(zhì)剖面工作(野外測繪、作圖、地層厚度計算、測試成果、文字整理及修正等)全部完成后,經(jīng)剖面相互對比、綜合分析的基礎(chǔ)上繪制測區(qū)綜合地層柱狀圖。如圖1-9圖中:A2A2′為平移方位和距離地質(zhì)剖面圖平移后,按平移的二點(圖中A2和A2′)高差決定起算標(biāo)高,二點間水平方向酌情斷1-2厘米,以作圖方便互不重疊為準(zhǔn)。剖面平移一定要沿標(biāo)志層、界線或順層追索,平移距離一般不宜過大,否則另測剖面。㈣ 如果實測地質(zhì)剖面同時進(jìn)行了物化探工作,物化探曲線圖視具體情況,可以放在在剖面圖上方,也可另外單獨(dú)作圖。巖性(花紋表示)、產(chǎn)狀(數(shù)字表示傾向、傾角),如有放大素描圖應(yīng)在剖面上方繪制并用箭頭指示位置等。圖名、比例尺、各地質(zhì)內(nèi)容編號及代號。同一向斜或背斜,地層厚度用地層較發(fā)育的一翼進(jìn)行計算;對斷層重復(fù)的部份,不予計算厚度。巖脈:巖脈在圖上顯示的寬度小于1mm者,可不必剔除,大于或等于1mm者則應(yīng)剔除。﹚=㈡ 厚度計算應(yīng)注意的問題地層厚度數(shù)值取舍,按比例尺大小確定,當(dāng)剖面比例尺小于1:1000時,取整數(shù);當(dāng)比例尺大于或等于1:1000時,厚度值取小數(shù)點后一位。Sin75176。Cos10176。代入公式D=18﹙Sin60176。γ=走向110176。(20米處)23-25米:泥巖計算白云質(zhì)灰?guī)r層厚度:L=23-5=18米σ=60176。0-5米:砂巖5-23米:白云質(zhì)灰?guī)r 產(chǎn)狀200176。例如:某實測剖面中某段導(dǎo)線記錄如下:A2-3,斜距25米,方向35176。conσ.sinβ)式中D地層真厚度(米)L導(dǎo)線斜距(米)σ?guī)r層真傾角(度)β地形坡度角(度)γ剖面導(dǎo)線與地層走向線的夾角(度)注:當(dāng)坡向與巖層傾向相反時,公式中用加號計算。2)導(dǎo)線起止點連線成投影基線,但導(dǎo)線必須較均勻的分布在投影基線兩側(cè),如圖1-7,圖中A0、A4點連接為投影基線,導(dǎo)線較均勻分布在基線兩側(cè)。1)投影基線通過主要導(dǎo)線,如圖1-6。一次或二次投影法繪制剖面圖較復(fù)雜,優(yōu)點是成圖后剖面圖上地層厚度基本反映了地層的真厚度,地質(zhì)體和構(gòu)造形態(tài)基本符合實際,缺點是剖面地形輪廓線有所歪曲。首先將平面圖各導(dǎo)線上的界線,地質(zhì)內(nèi)容等位置(交點),沿巖層走向方向投影到投影基線上(交點),再從投影基線上的交點處向上方投影交于剖面地形線上,按各自地質(zhì)內(nèi)容的圖示圖
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