【正文】 時(shí)，頂寬仍用設(shè)計(jì)頂寬或平均值、高應(yīng)用沿壁斜面的高度。③ 坑道壁斜度≥75176。② 頂寬高規(guī)格與設(shè)計(jì)相差過大，則需按平均值繪制。5 投影與作圖1) 坑道輪廓圖坑道素描圖一般用壓平法繪制，頂和壁多采用規(guī)則形態(tài)（除有特殊要求外）表示。樣槽坡度由編錄人員用羅盤測定，樣槽水平布置時(shí)，坡度角為0176。編錄人員在編錄投影樣槽時(shí)進(jìn)行檢查，不符者進(jìn)行修正。 礦石中夾石厚度小于剔除厚度時(shí)，應(yīng)合并到相鄰低品級(jí)樣中自然貧化（圖414b）⑤ 樣槽數(shù)據(jù)樣槽數(shù)據(jù)包括樣品號(hào)、樣槽長度、方向坡度。如示意圖（4－11）。一般情況下，第一件化學(xué)樣用全稱外，其余樣品可以省略坑道號(hào)只寫化學(xué)樣代號(hào)和樣品順序號(hào)HH3．．．．．．，坑道素描圖由于內(nèi)容豐富，圖面較狹窄第一個(gè)樣品可省去坑道號(hào)，以后隔1個(gè)或隔5個(gè)樣品寫一個(gè)樣品順序號(hào)即可，但最后一件樣須標(biāo)樣號(hào)(4－10a) ④ 樣品布置原則坑道采樣方法用刻槽法，樣槽規(guī)格由于礦種不同，規(guī)格大小要求不相同，一般要按礦區(qū)設(shè)計(jì)執(zhí)行。③ 樣品編號(hào)：采用樣號(hào)全稱，即坑道號(hào)＋化學(xué)樣代號(hào)＋化學(xué)樣順序號(hào)。特殊情況下可將樣品布置在坑道頂板，這樣將帶來采樣操作上的麻煩和困難。一般是以化學(xué)分析樣為主，其次為物理取樣，加工技術(shù)取樣，礦物取樣等。它們對(duì)采樣工作有側(cè)重，各有規(guī)定。如某礦區(qū)含銅層中上部Ⅰ號(hào)礦體內(nèi)分別有1品級(jí)和2品級(jí)礦石段，可選擇在礦體出露的適當(dāng)位置用（Ⅰ）表示礦體號(hào)，在1品級(jí)和2品級(jí)礦石范圍內(nèi)寫上Cu1和Cu2表示。② 含礦層中分層要求要求對(duì)含礦巖層中劃分不同的礦體、不同的礦化類型、不同的含礦巖石、不同的工業(yè)品級(jí)。2) 劃分不同性質(zhì)的巖性層① 無礦化巖層中分層要求要求按礦區(qū)填圖單元進(jìn)行分層，并標(biāo)注分層的單元代號(hào)。如示意圖（4－9）?；€應(yīng)測量距離（米）、方向（度）、坡度（正或負(fù)）。基線數(shù)據(jù)則用測量提供的數(shù)據(jù)。 2) 基線布置基線是用皮尺系在兩個(gè)相鄰中線樁（基點(diǎn)）上構(gòu)成?？涌诨c(diǎn)應(yīng)用羅盤進(jìn)行三方交匯，交匯點(diǎn)在地形圖上位置還需與坑口實(shí)際地形（含微地貌特征）特征相符，才能保證坑口在地形圖上的正確性。坑道中有測量測定的中線樁時(shí)，地質(zhì)編錄即可用作基點(diǎn)，編號(hào)應(yīng)一致?；c(diǎn)定位一般要求測量儀器測定，在普查階段施工的坑道，基點(diǎn)也可由地質(zhì)人員用半儀器法測定。2 基點(diǎn)、基線布設(shè)1) 基點(diǎn)布設(shè)及定位要求坑道基點(diǎn)要求沿坑道頂板中心線布設(shè)，基點(diǎn)又稱中線樁。(三) 坑道編錄的操作1 操作前準(zhǔn)備坑道施工一段落或全部完工后經(jīng)驗(yàn)收：1) 收集該段落或全部測量中線樁（點(diǎn)）的編號(hào)，每兩點(diǎn)間的方向及平距，有水準(zhǔn)的坑道還需收集高程數(shù)據(jù)，以便修正地質(zhì)編錄中的有關(guān)數(shù)據(jù)完全與測量數(shù)據(jù)吻合，避免產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。在沉積巖中編錄時(shí)，巖石成層性明顯，坑道方向改變后，坑道壁上的傾角線、頂板上的走向線在投影時(shí)，方向和角度都有變化，出現(xiàn)巖石花紋不連續(xù)，用直線在轉(zhuǎn)向處分開（圖4－8）。如示意圖（4－6）② 坑道方向轉(zhuǎn)變?cè)?5176。4）坑道轉(zhuǎn)彎時(shí)，素描圖制作要求① 坑道方向轉(zhuǎn)變?cè)?5176。如示意圖壓平法兩壁展開示意圖（4－5） 3）素描精度要求：按素描圖選用的比例尺，在素描圖上厚度大于1mm、長度大于3mm的地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象，均應(yīng)劃分并在圖上表示，如比例尺用1：200，地質(zhì)體厚度20cm、長60cm則素描圖上該地質(zhì)體厚1mm、長3mm。2) 坑道素描圖：一般要求坑道素描圖用壓平法展開，繪制兩壁一頂?？拥谰蜻M(jìn)質(zhì)量基本達(dá)到設(shè)計(jì)要求，方能驗(yàn)收。(二) 坑道地質(zhì)編錄要求1 坑道驗(yàn)收坑道的掘進(jìn)質(zhì)量要求較高，為滿足設(shè)計(jì)要求，掘進(jìn)必須在測量密切配合下逐步地進(jìn)行，不允許偏離設(shè)計(jì)方向，也不允許改變?cè)O(shè)計(jì)坡度?？拥赖刭|(zhì)編錄要求及時(shí)、準(zhǔn)確、在現(xiàn)場進(jìn)行。其余工作由組長協(xié)調(diào)，小組人員必須密切協(xié)作，方能完成整個(gè)編錄工作。2 各種表格坑道施工通知書，坑道竣工通知書、坑道基點(diǎn)、基線記錄表、坑道工程地質(zhì)記錄表、坑道工程標(biāo)本記錄表、坑道工程樣品記錄表、標(biāo)本簽、樣簽、照相記錄表、坑道工程概況表（D2／0078－93表3）(三) 人員 坑道地質(zhì)編錄人員一般2－3人。2 技術(shù)準(zhǔn)備 坑道編錄人員應(yīng)熟悉、掌握坑道原始地質(zhì)編錄的有關(guān)規(guī)定、編錄程序、方法、質(zhì)量要求等。見插圖4－4－4－4－4二 坑道斷面規(guī)格～2m，～，由于掘進(jìn)方式和用途不同可以增大或縮小。的為斜坑），若按坑道與礦層（脈）的關(guān)系，又可分為穿脈坑道、沿脈坑道。坑道原始地質(zhì)編錄是對(duì)坑道的兩壁一頂或一壁一頂進(jìn)行綜合的（地層的、巖石的、礦產(chǎn)的、構(gòu)造的等）觀察研究，對(duì)研究過程和所提示的地質(zhì)現(xiàn)象進(jìn)行真實(shí)、準(zhǔn)確、完善的素描和記錄。第四章 坑道工程原始地質(zhì)編錄一 目的任務(wù)坑道是礦產(chǎn)勘查的重要手段之一，坑道的布置和施工一般均在詳查階段以后，用以追索和圈定礦體，特別是礦體形態(tài)復(fù)雜、礦石組份極不均勻的礦床，目的是了解礦體埋藏條件和礦石質(zhì)量。作圖時(shí)。在展開圖井壁上則呈水平直線定點(diǎn)。3）投影作圖采用垂直投影方法以基線作鉛直坐標(biāo)、鋼卷尺作水平坐標(biāo)?？辈榫€與圓井輪廓線相交A點(diǎn)，即基點(diǎn)。2）基點(diǎn)、基線布設(shè)小圓井基點(diǎn)設(shè)在勘查線與圓井輪廓交線的正北、北西、北東、正東端。定值直徑或平均直徑是指，小圓井設(shè)計(jì)直徑與施工后的實(shí)際直徑相差不大時(shí)，可以采用設(shè)計(jì)直徑作為編錄用直徑，也可采用設(shè)計(jì)直徑和實(shí)際直徑的平均數(shù)作為編錄用直徑。㈡ 小圓井地質(zhì)編錄 小圓井素描圖 按地質(zhì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求繪制兩壁及底。當(dāng)施工條件有利而且礦層厚度較小，在允許施工深度可以揭穿礦層時(shí)，小園井也可起到淺井的探礦作用。但在特殊情況下，視第四系的穩(wěn)定程度、井下充水情況，經(jīng)領(lǐng)導(dǎo)和有關(guān)部門實(shí)地查看批準(zhǔn)，有預(yù)防措施的條件下，小圓井深度可適當(dāng)加深施工。小圓井掘進(jìn)與要求1）橫截面為圓形。坑探工程概況表A3?？犹焦こ虡?biāo)本樣品采樣記錄表（裝訂成冊(cè)）實(shí)物標(biāo)本（存列標(biāo)本、鑒定副樣）。送樣在樣品清理、登記并檢查無誤后，分類填寫送樣單，待一段時(shí)間樣品有一定數(shù)量，派專人分送化驗(yàn)、鑒定等實(shí)驗(yàn)室。㈢ 樣品清理、登記、送樣樣品清理：按樣品種類（化學(xué)樣、物理樣等）分類進(jìn)行，核對(duì)樣品數(shù)量、重量、檢查樣簽，樣品包裝、編號(hào)等。檢查記錄中是否有漏、錯(cuò)字現(xiàn)象，地質(zhì)用語是否恰當(dāng)、語言是否通順等。㈡ 文字整理文、圖核對(duì)淺井編錄的文字記錄應(yīng)與素描圖進(jìn)行核對(duì)，要求文圖完全一致。四、室內(nèi)整理 ㈠ 素描圖整理完善素描草圖根據(jù)礦區(qū)統(tǒng)一圖示圖例，完善各巖性層花紋，代號(hào)和其它內(nèi)容，有圖名、比例尺、井口座標(biāo)、圖例，樣品分析結(jié)果表、編錄日期、編錄人、審核人等。另外在編錄、采樣過程中，應(yīng)安排專人留守井口，防止掉塊、掉物傷人。有關(guān)要求參照坑道編錄細(xì)則執(zhí)行。當(dāng)?shù)V層薄，樣品數(shù)量少時(shí)，樣槽也可呈斜向（垂直礦層）布置。但根據(jù)實(shí)際情況，樣槽也可布置在反映礦層傾斜的編錄壁上。淺井樣槽一般布置在反映礦層走向的編錄壁上。描述斷層，應(yīng)記錄斷層特征（含斷層面、破碎帶、兩盤相對(duì)移動(dòng)方向等），達(dá)到反映斷層性質(zhì)和破壞程度等。作文字記錄，應(yīng)針對(duì)該段反映的主要地質(zhì)體或地質(zhì)現(xiàn)象，有擇重的進(jìn)行。/8176。～，．．．．．?！鸿F礦層。對(duì)不同的巖性層、含礦層（體）、蝕變帶、斷層及破碎帶等界線的井深以界線與基線交點(diǎn)的讀數(shù)為準(zhǔn)，井壁地質(zhì)現(xiàn)象以及樣品、標(biāo)本、產(chǎn)狀等位置，則以水平投影在基線上讀數(shù)為準(zhǔn)。5）文字記錄采用坑探工程原始地質(zhì)記錄表（DZ／T0078－93）表5的格式進(jìn)行記錄。3）繪制淺井空白圖作圖人員在進(jìn)入井下之前，在方格米厘紙上照4壁的實(shí)際規(guī)格或平均規(guī)格，按比例尺依次展開，同時(shí)繪上基點(diǎn)，基線和第一壁方向，即為淺井空白圖，作井下編錄使用。在第一壁和第四壁交線井口處，打入編有淺井編號(hào)的木樁即為基點(diǎn)，基點(diǎn)亦是淺井的坐標(biāo)點(diǎn)。1）確定第一壁：按照礦區(qū)的統(tǒng)一規(guī)定，在淺井工程實(shí)地位置確定第一壁及其方位，同時(shí)丈量淺井四壁規(guī)格。在分段編錄的全過程中，要求每次編錄的基線布置都應(yīng)從井口基點(diǎn)處統(tǒng)一從零米開始懸掛皮尺，以保證上次編錄末端井深與這次編錄的開始井深數(shù)據(jù)完全吻合，避免重新布設(shè)基點(diǎn)出現(xiàn)井深誤差。如素描圖是1：50，實(shí)際地質(zhì)體寬（厚）度≥5cm，長度≥15cm都要求反映到圖上。素描圖內(nèi)容及要求1）野外繪制素描圖要求真實(shí)、準(zhǔn)確，內(nèi)容包括有巖性分層界線、礦層（體）界線、蝕變帶，斷層及破碎帶、樣品位置及編號(hào)、產(chǎn)狀等。A1E、作圖方法：在淺井展開圖的井底圖中，連接EF即為井底面上分層界線。② 界線投影與作圖：由淺井立體圖可見， A1B1C1D1與巖層分界面ABCD交于淺井2壁和4壁底線上F、E兩點(diǎn)，EF為井底分界線，如圖317b。自b1點(diǎn)向一壁底邊A1B1垂直投影交點(diǎn)O1， 。如圖317a：淺井立體圖中：ABCD分層界面，界面之上為石灰?guī)r，界面之下為砂巖。淺井底呈水平的正方形或長方形，底上繪制的各類界線均為相關(guān)地質(zhì)體走向線。最后將各點(diǎn)的鉛直坐標(biāo)，在展開圖每兩壁交線上分別找到A、B、C、D點(diǎn)的位置，隨手連接相鄰?fù)队包c(diǎn)構(gòu)成一條較圓滑的曲線（絕不能勾成折線），即為淺井展開圖上四個(gè)壁的地質(zhì)界線（圖3－16b）。② 界線投影方法上圖的淺井立體圖中選擇第一壁是北西壁，它垂直勘查線方向，因此第一壁和第三壁上反映了地質(zhì)體的走向方向，第二壁和第四壁平行勘查線方向，壁上表現(xiàn)是地質(zhì)體傾斜方向。b2位置投影，用鋼卷尺自b2點(diǎn)水平狀交于第一壁與第二壁交線上B1點(diǎn)，即b2坐標(biāo)（第二壁上）。① 點(diǎn)的投影方法點(diǎn)的投影方法如圖3－15所示上圖示在淺井第一壁和第二壁上分別采了薄片標(biāo)本bb2兩塊。如圖3－14投影方法1）編錄壁投影方法采用垂直投影方法，基線作鉛垂坐標(biāo)，鋼卷尺作水平坐標(biāo)進(jìn)行投影作圖。上圖選北壁作第一壁后，北壁不動(dòng)，從北壁與西壁交線處斷開，西、南、東三個(gè)壁同時(shí)作逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)，直至與第一壁構(gòu)成一個(gè)平面，則為四壁展開圖（圖3－13）基點(diǎn)、基線布設(shè)基點(diǎn)要求布設(shè)在第一壁的左上角處，基點(diǎn)又是淺井定位的坐標(biāo)點(diǎn)。四壁展開作法，當(dāng)?shù)谝槐诖_定后，鄰壁（第一壁的左側(cè)壁）按反時(shí)針方向旋轉(zhuǎn)展開?？辈榫€方向呈北西—南東向時(shí)，可選擇北西壁為第一壁，也可選擇北東壁為第一壁；勘查線方向呈北東－南西向時(shí)，可選擇北西壁為第一壁，也可選擇北東壁為第一壁。以往地質(zhì)編錄工作，第一壁往往選擇平行勘查線方向（垂直巖層和礦體走向）的井壁。1）確定首選壁（第一壁）：地質(zhì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，淺井素描的第一壁應(yīng)首選正北壁、北西壁、北東壁、正東壁。淺井壁展開要求及方法按地質(zhì)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，淺井素描圖繪兩壁及底（等距離或不等距離的井底掌子面）。因此在施工過程中，編錄人員經(jīng)常與施工人員取得聯(lián)系，掌握工程進(jìn)度，及時(shí)進(jìn)行編錄和采樣。組長一人全面負(fù)責(zé)編錄工作，安排并協(xié)調(diào)其他組員工作。二、淺井地質(zhì)編錄前的準(zhǔn)備㈠ 物資：地質(zhì)錘、羅盤、放大鏡、圖夾、坐標(biāo)紙、圖包、照相機(jī)、膠卷、鐵夾、鉛筆、膠擦、三角板、量角器、皮尺、鋼卷尺、紅油漆、木樁、白色膠布卷、照明用燈具、刻槽采樣用各類工具（采樣工準(zhǔn)備、同坑道采樣）、標(biāo)本紙、樣品袋等。揭露礦化、蝕變帶，礦層（體）和物化探、重砂異常。第二節(jié) 淺井（含小園井）編錄一、目的任務(wù)淺井工程與探槽、圓井、平坑、豎井、斜井、穿脈、沿脈等均屬于坑探工程大類。破碎帶控制點(diǎn)a、b及樣槽控制點(diǎn)c、d、e、f各點(diǎn)在基線上的投影點(diǎn)分別為a`、b`、c`、d`及f`，據(jù)其在導(dǎo)線上的讀數(shù)在圖上反投影到槽底上，然后根據(jù)走向素描成圖）。將c、d、e點(diǎn)相聯(lián)為基巖線；將f、g、j點(diǎn)相聯(lián)為槽底線；將k、I點(diǎn)相聯(lián)為鐵礦（Fe）頂界；將n、m點(diǎn)相聯(lián)為鐵礦底界。Y坐標(biāo)＝，據(jù)此即可在圖上確定a點(diǎn)位置，再依次確定出地表b點(diǎn)的位置。③測手測量并報(bào)出各地質(zhì)要素特征點(diǎn)的座標(biāo)位置A、槽壁：各導(dǎo)線起點(diǎn)讀數(shù)均為0m，設(shè)各點(diǎn)鉛垂投影到基線上的位置為Xm，即皮尺上的讀數(shù)，該點(diǎn)距基線的鉛垂距離為Y m（分基線上或基線下，用畫有長度的標(biāo)桿丈量出數(shù)據(jù)），作圖員便可據(jù)此將各點(diǎn)位置投到圖上，并分類聯(lián)接成圖（圖3－10），地表點(diǎn)a垂直投在導(dǎo)線上的點(diǎn)為a`、a`在皮尺（導(dǎo)線）。② 標(biāo)注基點(diǎn)，畫出基線圖上確定的第一條基線起點(diǎn)，編號(hào)為0（基點(diǎn)位置畫2mm直徑的圓圈、圓心加點(diǎn)，下同）開始，用測出的坡度角在座標(biāo)紙上畫出基線并按比例尺確定基線在圖上的長度、該基線的終點(diǎn)為基點(diǎn)1。① 首先根據(jù)探槽的長度，高差等計(jì)劃好圖名、比例尺、基線起點(diǎn)、槽壁、槽底、責(zé)任表及樣品分析結(jié)果表在座標(biāo)紙上的相應(yīng)位置，要求布局合理，整齊美觀。采用自動(dòng)化系統(tǒng)繪圖的素描圖：不作手工素描圖，這時(shí)，槽壁繪成以基線為頂?shù)牡雀唛L條形，各地質(zhì)編錄要素均沿地質(zhì)走向投影到基線上、槽底為以基線為圖上方邊線的等寬正投影。大坡度探槽的槽壁可分段垂直上下移動(dòng)成鋸齒狀（槽底仍然連續(xù)。時(shí)，采用裂開法素描（圖3－7）：a. 當(dāng)拐彎方向背離編錄壁時(shí)，裂開拐彎方向一側(cè)的槽底邊線、其裂開角度等于拐彎方位差，而槽壁連續(xù)。時(shí)，在拐點(diǎn)處設(shè)基點(diǎn)，但槽壁及槽底均可連續(xù)素描。注意素描圖的真實(shí)性：作圖時(shí)須根據(jù)有限的特征點(diǎn)，參看地質(zhì)體實(shí)際形態(tài)勾繪成圖（如透鏡狀、波狀、分枝狀等）。㈢ 繪制素描圖素描圖的基本原理：通過測量槽壁及槽底上的各地質(zhì)編錄要素（界線、產(chǎn)狀、標(biāo)本及樣品位置等）與基線的相對(duì)位置，按比例縮小后描繪到座標(biāo)紙上，成為一張真實(shí)地反映探槽中各種地質(zhì)現(xiàn)象的槽壁、槽底展開圖。測量方位角及坡度角：組長及測手分別作為前、后測手，用羅盤測定皮尺的方位角和坡度角，二者的讀數(shù)誤差在3176。當(dāng)探槽過長或有拐彎時(shí)，應(yīng)分段設(shè)置基點(diǎn)及基線（如圖3－4）。㈡ 設(shè)置基線基線布置在編錄壁上。但在實(shí)際工作時(shí)，同一探槽中，第一件樣及最后一件樣編號(hào)保持完整，如圖3－2中的TC01H1，而中間的樣品編號(hào)可省略工程號(hào)，如圖3－。樣品布好后，及時(shí)打上編號(hào)的樣樁。當(dāng)?shù)V體厚度不大或礦石類型復(fù)雜或礦化不均勻時(shí)，樣長不宜過長，一般不應(yīng)大于可采厚度或夾石剔除厚度。分層：分層單元視礦體復(fù)雜程度而定，復(fù)雜的礦體分