【正文】 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22樣本代碼樣本大小允收水準(zhǔn)（A Q L ） （普通）外觀 電性 從左向右 ,要求愈來愈嚴(yán) ! MILSTD105E之轉(zhuǎn)換程序 正常檢驗轉(zhuǎn)換成加嚴(yán)檢驗時：當(dāng)實行正常檢驗時 ， 如原來檢驗之連續(xù) 4或 5批中有 2批被拒收 ， 即可改用加嚴(yán)檢驗 。 ? 加嚴(yán)檢驗轉(zhuǎn)換成正常檢驗時：當(dāng)實施加嚴(yán)檢驗時 ， 如原來檢驗之連續(xù) 5批中被允收時 ， 即可開始改用正常檢驗 。 ? 正常檢驗改用減量檢驗時：正常檢驗之前 10批 ， 在正常檢驗時均已被允收 ，而且這 10批中其不良品 （ 或缺點 ） 之總數(shù) ， 等於或小於抽樣表所列之?dāng)?shù)目者 。 ? 減量檢驗轉(zhuǎn)換成正常檢驗：當(dāng)施行減量檢驗時 ， 如在原來檢驗中有一批被拒收 ， 及改為正常檢驗 。 ? 檢驗的終止：在原來加嚴(yán)檢驗時 ， 如果沒有允收的連續(xù)批數(shù) ， 累積到 5批 ，則本標(biāo)準(zhǔn)之允收程序即告終止 。 直到採取矯正措施後 ， 才能恢復(fù)檢驗 。 例 已知 N=150， 允收水準(zhǔn) AQL= ， 一般檢驗水準(zhǔn) Ⅱ 。 求在多次 、 雙次 、單次抽樣計劃下必須的平均抽樣檢驗數(shù)量 。 amp。 查附表，得代字 F。 單次抽樣查出樣本大小 n=20， 允收數(shù) Ac=2， 拒收數(shù)Rc=3 雙次抽樣查出樣本大小 n1=13， Ac1=0， Rc1=3； n2=13， Ac2=3， Rc2=4 多次抽樣略 （ 最多七次 ） 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) 1. 目的 2. 適用範(fàn)圍 3. 定義 4. 參考資料 5. 權(quán)責(zé)單位及職責(zé) 6. 作業(yè)內(nèi)容 7. 作業(yè)流程圖 8. 附件 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) 目的 建立公司品質(zhì)標(biāo)準(zhǔn) ， 為相關(guān)單位 、 人員提供作業(yè)指南 ， 確保產(chǎn) 品標(biāo)準(zhǔn)切實有效地執(zhí)行 。 適用範(fàn)圍 本標(biāo)準(zhǔn)適用於公司內(nèi)所有物料 、 半成品 、 成品檢驗 。 ， 則遵循客戶要求作業(yè) 。 當(dāng)客戶未作特別 要求時 ， 本標(biāo)準(zhǔn)即作為公司之通用 檢驗標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行 。 當(dāng)缺失無法用文字表達清楚時 ， 可製作界限樣本及參照執(zhí)行 。 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) 定義 嚴(yán)重缺點 : 凡是有危害制品使用者或攜帶者的生命或安全之缺點 。 主要缺點 : 制品單位的使用性能不能達到所期望之目的 ， 或顯著的減低其實用性質(zhì)的缺點 。 次要缺點 : 不影響制品的使用目的之缺點 ， 如 : 視覺上存在瑕玼 。 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) 參考資料 【 檢驗與測試作業(yè)程序 】 QPQT01。 【 不合格品管制作業(yè)程序 】 QPQT03。 【 MIL STD105E抽樣計劃 】 WIQT021。 『 品質(zhì)記錄總覽表 』 。 產(chǎn)品規(guī)格書 、 零組件承認(rèn)書 、 SIP、 SOP。 權(quán)責(zé)單位及職責(zé) 品質(zhì)單位制定本標(biāo)準(zhǔn) 。 品質(zhì)主管核準(zhǔn)及督導(dǎo)執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn) 。 文管單位進行編號 、 受控發(fā)行本標(biāo)準(zhǔn) 。 檢驗單位負(fù)責(zé)執(zhí)行本標(biāo)準(zhǔn) 。 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) 作業(yè)內(nèi)容 作業(yè)內(nèi)容 進料檢驗及判定 ：采用 MILSTD105E LEVELⅡAQL %單次抽樣計劃之 標(biāo)準(zhǔn)進行檢驗及判定 ? ：采用 MILSTD105E LEVEL S3 %單次抽樣計劃之標(biāo)準(zhǔn)進行檢驗及判定 ． ：采用 MILSTD105E LEVEL S4 %單次抽樣計劃之標(biāo)準(zhǔn)進行檢驗及判定 ． ：采用 10 pcs /批進行抽樣檢驗 ， Ac=0． 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) 製程檢驗及判定 ： 100%全檢 Ac=0 Re=1 執(zhí)行． ：采用 MILSTD105E LEVEL S4 %單次抽樣計劃之標(biāo) 準(zhǔn)進行抽樣檢驗及判定． ：依【成品測試項目及抽樣標(biāo)準(zhǔn)】 WIEA238 進行抽樣檢驗 , Ac=0 Re=1 進行判定． 出貨檢驗及判定 ：采用 MILSTD105E LEVELⅡ Ac=0 Re=1 單次抽樣 174。計劃之標(biāo)準(zhǔn)進行抽樣檢驗及判定 ? ：采用 MILSTD105E LEVEL S4 Ac=0 Re=1單次抽樣計劃之標(biāo)準(zhǔn)進行抽樣檢驗及判定． ：采用 MILSTD105E LEVEL S4 Ac=0 Re=1單次抽樣計劃之標(biāo)準(zhǔn)進行抽樣檢驗及判定． ：采用 5 pcs /批， Ac=0 Re=1進行抽樣檢驗及判定． 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) 檢驗狀態(tài)標(biāo)示 檢驗前、中、後須作好狀態(tài)標(biāo)示及隔離安全放置。 檢驗記錄填 檢驗人員依照相關(guān)文件進行外觀、尺寸、電性、破壞性試驗 等檢 驗或進行實際裝配後，須將檢驗結(jié)果填寫在相應(yīng)表單上 (參閱【檢驗與測試作業(yè)程序】 QPQT01)。 外觀檢驗時，在表單之外觀檢查項目欄中填寫檢驗內(nèi)容和數(shù)量． 尺寸 ﹑ 電性 ﹑ 破壞性試驗等檢測時，若無不良各任選 10pcs測試數(shù)據(jù)填寫在表單之相應(yīng)欄位中，當(dāng)有不良且不良個數(shù)小于或等于 10pcs時，將不良數(shù)據(jù)全數(shù)填于表單之相應(yīng)欄位中，當(dāng)不良個數(shù)大 10pcs時，則選 10pcs數(shù)值偏差較大的填于表單之相應(yīng)欄位中，并在表單之相應(yīng)項目欄中填寫不良內(nèi)容和數(shù)量． 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) 檢驗記錄簽核 檢驗記錄在填寫完成后交上級主管簽核，在檢驗中發(fā)現(xiàn)有異常狀況 時，其簽核須參照【不合格品管制作業(yè)程序】 QPQT03執(zhí)行。 檢驗記錄管理 檢驗記錄須作好標(biāo)識、儲存、保護，并在超過保存期限進行處理 ,檢驗記錄之保存期限參照『品質(zhì)記錄總覽表』。 不良判定標(biāo) 原物料方面 (詳見附件一 ) 半成品及成品方面 (詳見附件二 ) 作業(yè)流程圖 : 無 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) 附件 : 不良判定標(biāo)準(zhǔn)之附件一 : 原物料方面 嚴(yán)重缺點： ﹑ 物理性能不合格； ； 、裂縫、破損、彎曲、變形等嚴(yán)重不良。 主要缺點： 、裝配之燒結(jié)不良點或附雜質(zhì)； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 1個 , 非兩端面有崩口。 次要缺點： ﹑ 髒污等外觀不良。 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) RH磁芯 ： 、物理性能不合格； ； 斷裂、裂縫、破損、彎曲、變形、孔位、孔數(shù)不符、孔堵塞等嚴(yán)重不良。 ： 、裝配燒結(jié)不良點、沙孔或附雜質(zhì)； mm， 或線孔處崩口延至外邊緣； ； 1個。 ： ﹑ 髒污等外觀不良。 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) 磁環(huán) ： 、物理性能不合格； ； ； 、裂縫、破損、變形、露鐵芯、涂裝翻翹等嚴(yán)重不良； 。 主要缺點： 、裝配之燒結(jié)不良、表面沙孔或附雜質(zhì)； 未塗裝品外表面崩口尺寸 : T30或以下規(guī)格超過 mm， T30至 T50規(guī)格超 過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 ； 未塗裝品內(nèi)表面崩口尺寸 :T50或以下規(guī)格超過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 ； 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) ； 1個； 、裝配之表面脫漆、毛刺等塗裝不良； : T50或以下規(guī)格超過 mm， T50至 T90規(guī)格超過 ， T90或以上規(guī)格超過 ； ； 1個； 。 次要缺點： 。 ﹑ 髒污等外觀不良。 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) DR、 SCH、 BF、 BL磁芯 嚴(yán)重缺點： 、物理性能不合格； ； 、裂縫、破損、變形、缺腳、反腳、腳鬆等嚴(yán)重不良； 主要缺點： 、裝配之燒結(jié)不良點、沙孔或附雜質(zhì)； 外表面 : ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； 內(nèi)表面 : ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； ： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 ； 1個； 磁芯表面凹痕 (塗裝良好 ): ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 mm； (塗裝良好 )： ψ6 或以下的超過 mm； ψ6 以上的超過 ； 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn) 1個 。 、針腳基部嚴(yán)重彎曲等； ，或 ψ6( 或以下的 )有孔徑、深度超過 ，或 ψ6 以上的有孔徑、深度超過 ； ； 。 DR涂裝品外表成毛刺 ,雜質(zhì) 。 ,掉漆 。 (膠低於接腳處平面 ) 。 (膠高度大於本身引腳線徑 ). 次要缺點 : ,有色斑 ,引腳彎曲等外觀不良。 品質(zhì)檢驗標(biāo)準(zhǔn)