【正文】 數(shù)） c1d1r1時(shí)作第二次抽樣 第二次抽取樣本 n2件，其中不良品數(shù)為 d2， 則： d1＋ d2≦ c2時(shí)，判斷該產(chǎn)品為合格 d1＋ d2≧ c2時(shí)，判斷該產(chǎn)品為不合格 （ r1＜ c2或 r1＝ c2或是檢驗(yàn)形式不同而定） 多次抽樣檢驗(yàn)形式 : 抽樣檢驗(yàn)的形式 單次、雙次、多次抽樣檢驗(yàn)之優(yōu)劣點(diǎn)比較： 項(xiàng)目 單次 雙次 多次 對(duì)產(chǎn)品品質(zhì)的保證 幾乎相同 對(duì)供應(yīng)者心理上的影響 最差 中間 最好 總檢驗(yàn)費(fèi)用 最少 中間 最多 行政費(fèi)用（含訓(xùn)練、人員、記錄及抽樣等） 最少 中間 最多 檢驗(yàn)負(fù)荷的變異性 不變 變動(dòng) 變動(dòng) 對(duì)每批製品品質(zhì)估計(jì)之準(zhǔn)確性 最差 中間 最好 對(duì)製程平均數(shù)估計(jì)之決策速度 最快 較慢 最慢 對(duì)檢驗(yàn)人員及設(shè)備之使用率 最佳 較差 較差 MILSTD105E樣本代碼表 s1 s2 s3 s4 Ⅰ Ⅱ ⅢA A A A A A BA A A A A B CA A B B B C D A B B C C D EB B C C C E FB B C D D F G B C D E E G HB C D E F H JC C E F G J KC D E G H K LC D F G J L MC D F H K M ND E G J L N PD E G J M P QD E H K N Q R特殊檢驗(yàn)水準(zhǔn) 一般檢驗(yàn)水準(zhǔn)1201 to 32003201 to 1000010001 to 35000151 to 280281 to 50026 to 5051 to 9091 to 150501 to 120035001 to 150000150001 to 500000500001 and over批 量2 to 89 to 1516 to 25電 性 採(cǎi) 用 外 觀 採(cǎi) 用 從左向右 ,樣本愈來(lái)愈大 MILSTD105E抽樣計(jì)劃表 1 4 Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac Re Ac ReA2 0 1B3 0 1C5 0 1D8 0 1 1 2E13 0 1 1 2 2 3F20 0 1 1 2 2 3 3 4G32 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6H50 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8J80 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11K125 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15L2000 11 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22M3150 11 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22N500 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22P800 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22Q1250 0 1 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22R2022 1 2 2 3 3 4 5 6 7 8 10 11 14 15 21 22樣本代碼樣本大小允收水準(zhǔn)（A Q L ） （普通）外觀 電性 從左向右 ,要求愈來(lái)愈嚴(yán) ! MILSTD105E之轉(zhuǎn)換程序 正常檢驗(yàn)轉(zhuǎn)換成加嚴(yán)檢驗(yàn)時(shí)：當(dāng)實(shí)行正常檢驗(yàn)時(shí) ， 如原來(lái)檢驗(yàn)之連續(xù) 4或 5批中有 2批被拒收 ， 即可改用加嚴(yán)檢驗(yàn) 。此方法須有連續(xù)批送驗(yàn)時(shí)方可應(yīng)用。因此，抽樣檢驗(yàn)方法在今日工商業(yè)界，實(shí)成為不可缺少的工具 。 (2)主要缺點(diǎn) (Major defect) 製品單位的使用性能不能達(dá)到所期望之目的，或顯著的減低其實(shí)用性 質(zhì)的缺點(diǎn)謂之主要缺點(diǎn)。 (判定批為合格時(shí)，樣本內(nèi)容許含有之最高不良品個(gè)數(shù)，以 AC或 C 表示之。 檢驗(yàn)批 檢驗(yàn)批構(gòu)成之目的乃是便利抽樣計(jì)劃之進(jìn)行，依其 [ 批量 ]大小照 [ 抽樣計(jì)劃 ] 抽出樣本加以檢驗(yàn)，再依照抽樣檢驗(yàn)的原則來(lái)判定這個(gè)檢驗(yàn)批是否允收 批量 批量是指每個(gè)檢驗(yàn)批內(nèi)製品單位的數(shù)量，其符號(hào)以 [ N ]表示。 樣本 樣本是從檢驗(yàn)批中所抽取一個(gè)以上的單位製品所組成的，樣本中的各個(gè)樣品 均須隨機(jī)且具代表性，而不考慮它的品質(zhì)好壞的情況抽出。 ) 不合格判定數(shù) (判定批為不合格時(shí)，樣本內(nèi)所含之最少不良品個(gè)數(shù)，以 Re表示之。 (3)次要缺點(diǎn) (Minor defect) 實(shí)際上不影響製品的使用目的之缺點(diǎn)謂之次要缺點(diǎn)。 抽樣檢驗(yàn)的由來(lái) 抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃的分類 計(jì)數(shù)值抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 規(guī)準(zhǔn)型、選別型、調(diào)整型 計(jì)數(shù)值抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 規(guī)準(zhǔn)型、調(diào)整型 三種抽樣檢驗(yàn)計(jì)劃 此種抽樣計(jì)劃的精神在兼顧買(mǎi)賣(mài)雙方之利益和損失即規(guī)定雙方的冒險(xiǎn)率 α及 β為一定之?dāng)?shù)字 (一般取 α =5%， β =10%) 。 (單獨(dú)批無(wú)法調(diào)整其檢驗(yàn)量 )。 ? 加嚴(yán)檢驗(yàn)轉(zhuǎn)換成正常檢驗(yàn)時(shí)：當(dāng)實(shí)施加嚴(yán)檢驗(yàn)時(shí) ， 如原來(lái)檢驗(yàn)之連續(xù) 5批中被允收時(shí) ， 即可開(kāi)始改用正常檢驗(yàn) 。 直到採(cǎi)取矯正措施後 ， 才能恢復(fù)檢驗(yàn) 。 查附表，得代字 F。 當(dāng)客戶未作特別 要求時(shí) ， 本標(biāo)準(zhǔn)即作為公司之通用 檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行 。 次要缺點(diǎn) : 不影響制品的使用目的之缺點(diǎn) ， 如 : 視覺(jué)上存在瑕玼 。 『 品質(zhì)記錄總覽表 』 。 文管單位進(jìn)行編號(hào) 、 受控發(fā)行本標(biāo)準(zhǔn) 。 檢驗(yàn)記錄填 檢驗(yàn)人員依照相關(guān)文件進(jìn)行外觀、尺寸、電性、破壞性試驗(yàn) 等檢 驗(yàn)或進(jìn)行實(shí)際裝配後，須將檢驗(yàn)結(jié)果填寫(xiě)在相應(yīng)表單上 (參閱【檢驗(yàn)與測(cè)試作業(yè)程序】 QPQT01)。 主要缺點(diǎn)： 、裝配之燒結(jié)不良點(diǎn)或附雜質(zhì)； ： ψ6 或以下的超過(guò) mm； ψ6 以上的超過(guò) mm； ： ψ6 或以下的超過(guò) mm； ψ6 以上的超過(guò) mm； 1個(gè) , 非兩端面有崩口。 ： ﹑ 髒污等外觀不良。 ﹑ 髒污等外觀不良。 ,掉漆 。 : 外表面 : ψ10 或以下的超過(guò) mm； ψ10 以上的超過(guò) mm； 內(nèi)表面 : ψ10 或以下的超過(guò) mm； ψ10 以上的超過(guò) mm 。 . SD等鍍銀品 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 、物理性能不合格； ； 、裂縫、破損、變形等嚴(yán)重不良； 主要缺點(diǎn) : 、裝配之燒結(jié)不良點(diǎn)、沙孔或附雜質(zhì)； : 外表面 : ψ6 或以下的超過(guò) mm； ψ6 以上的超過(guò) mm； 內(nèi)表面 : ψ6 或以下的超過(guò) mm； ψ6 以上的超過(guò) mm； ： ψ6 或以下的超過(guò) mm； ψ6 以上的超過(guò) mm； 1個(gè)； 品質(zhì)檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn) (產(chǎn)品焊錫點(diǎn)或面離開(kāi)水平面的最大距離大於 )； 1/4； .. : 超過(guò)電極分隔區(qū)之 1/5； ..：超過(guò)電極分隔區(qū)之 1/5； ..：超越其所在位置厚度之 1/2； .. ﹑ 磨損和發(fā)黑等超過(guò)其所在面凸處接觸面積的 10%； .. 95%可靠上錫。 ； 1個(gè)； : 外表面 尺寸超過(guò) , 內(nèi)表面 尺寸超過(guò) 。 TR磁芯 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 、物理性能不合格； ； 、裂縫、破損、變形、毛邊等嚴(yán)重不良。縮水處超過(guò)三個(gè) 。 SMD BASE可焊性檢測(cè)依 WIQT046. 次要缺點(diǎn) 。 : 、四周切割不平 。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 黑點(diǎn) ﹑ 斑痕等有色斑痕 。 。 。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 色澤不一致 ﹑ 有折皺 ﹑ 灰塵污物等外觀不良。 次要缺點(diǎn) : ﹑ 有折皺 ﹑ 灰塵污物等外觀不良。 主要缺點(diǎn) : ； ﹑ 披鋒 ﹑ 裂紋。 次要缺點(diǎn) : 、灰塵污物及刻畫(huà)等現(xiàn)象。 嚴(yán)重缺點(diǎn) : 型號(hào)不符或已失效。 主要缺點(diǎn) : 。 固定圈數(shù)產(chǎn)品圈數(shù)錯(cuò) 。 鐵芯表面有凹痕 : T30或以下規(guī)格超過(guò) mm， T30至 T50規(guī)格超過(guò) mm， T50至 T90規(guī)格超過(guò) ， T90或以上規(guī)格超過(guò) 。 產(chǎn)品 2根相鄰繞線爆皮 。 標(biāo)記顏色或標(biāo)簽內(nèi)容 、 位置 、 方向等不符合承認(rèn)書(shū)要求 。 引