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數(shù)控加工技術(shù)基礎(chǔ)教案-閱讀頁

2025-05-10 13:06本頁面
  

【正文】 教學過程單面加工余量:加工前后半徑之差,平面余量為單面余量 雙面加工余量:加工前后直徑之差影響加工余量的因素影響因素說 明加工前(或毛坯)的表面質(zhì)量(表面缺陷層深度H 和表面粗糙度)⑴ 鑄件的冷硬、氣孔和夾渣層,鍛件和熱處理件的氧化皮、脫碳層、表面裂紋等表面缺陷層,以及切削加工后的殘余應力層   ⑵ 前工序加工后的表面粗糙度前工序的尺寸公差 Ta⑴前工序加工后的尺寸誤差和形狀誤差,其總和不超過前工序的尺寸公差Ta  ?、飘敿庸ひ慌慵r,若不考慮其他誤差,本工序的加工余量不應小于Ta前工序的形狀與位置公差(如直線度、同軸度、垂直度公差等)ρa⑴前工序加工后產(chǎn)生的形狀和位置誤差,兩者之和一般小于前工序的形狀和位置公差  ?、飘敳豢紤]其他誤差的存在,本工序的加工余量不應小于ρa  ?、钱敶嬖趦煞N以上形狀與位置誤差時,其總誤差為各誤差的向量和本工序加工時的安裝誤差εa安裝誤差等于定位誤差和夾緊誤差的向量和(二)工序基準的選擇在工序圖上,用來確定本工序所加工表面加工后的尺寸、位置的基準,稱為工序基準。   圖 3 61a 所示為零件簡圖,在工件上銑缺口,加工尺寸為 A 、 B 。   加工尺寸 A 的設計基準是 F ,定位基準是 E ,兩者不重合。δ S /2 的影響,工序基準 F 的位置是變動的, F 的變動影響 A 的大小,給 A 造成誤差,這個誤差就是基準不重合誤差。當設計基準的變動方向與加工尺寸的方向相同時,基準不重合誤差就等于定位基準與設計基準間尺寸的公差,如圖 361 ,當 S 的公差為δ S ,即Δ B = δ S ( 32 )  當設計基準的變動方向與加工尺寸方向有一夾角(其夾角為β)時,基準不重合誤差等于定位基準與設計基準間距離尺寸公差在加工尺寸方向上的投影,即  Δ B = δ S cos β (33)   當定位基準與設計基準之間有幾個相關(guān)尺寸的組合,應將各相關(guān)連的尺寸公差在加工尺寸方向上投影取和,即      式中 δ i ——定位基準與工序基準之間各相關(guān)連尺寸的公差( mm );  β i ——δ i 的方向與加工尺寸方向之間的夾角( 0 )。 審閱簽名:理 論 課 教 案 2011 年 3 月 14 日第4周星期1第2節(jié) /星期二第4 節(jié) 第二章 數(shù)控加工的工藝基礎(chǔ)第3節(jié):工藝尺寸的計算授課方式講授作業(yè)無教學目的 了解工藝尺寸鏈的基本概念 掌握工藝尺寸鏈的基本計算公式 工藝尺寸鏈封閉環(huán)的選擇 工藝尺寸鏈的分析和計算選用教具掛圖無重點工藝尺寸鏈的基本公式工藝尺寸鏈的分析和計算難點工藝尺寸鏈封閉環(huán)的選擇工藝尺寸鏈的分析和計算教學回顧上次課我們了解了機床工序的設計,基本掌握了工序基準的選擇以及工序尺寸的確定,公差的確定等(5分鐘)說明 教學過程 檢查學生的到課情況,著裝是否符合上課要求,然后引入新課。當用零件的面1來定加工面2,得尺寸A1,仍以面1定位加工面3,保證尺寸A2,于是A A2和 A0就形成了一個封閉的圖形。由單個零件在工藝過程中的有關(guān)工藝尺寸所組成的尺寸鏈,稱為工藝尺寸鏈。工藝尺寸鏈的組成 我們把組成工藝尺寸鏈的各個尺寸稱為尺寸鏈的環(huán)。(1) 封閉環(huán):尺寸鏈中最終間接獲得或間接保證精度的那個環(huán)。(2)組成環(huán):除封閉環(huán)以外的其他環(huán)都稱為組成環(huán)。(i)增環(huán)(Ai):若其他組成環(huán)不變,某組成環(huán)的變動引起封閉環(huán)隨之同向變動,則該環(huán)為增環(huán)。工藝尺寸鏈一般都用工藝尺寸鏈圖表示。根據(jù)上述定義,利用尺寸鏈圖即可迅速判斷組成環(huán)的性質(zhì),凡與封閉環(huán)箭頭方向相同的環(huán)即為減環(huán),而凡與封閉環(huán)箭頭方向相反的環(huán)即為增環(huán)。所謂封閉性,是指尺寸鏈中各尺寸的排列呈封閉形式。所謂關(guān)聯(lián)性,是指尺寸鏈中任何一個直接獲得的尺寸及其的變化,都將影響間接獲得或間接保證的那個尺寸及其精度的變化。(2) 封閉環(huán)的極限尺寸:封閉環(huán)的最大極限尺寸等于所有增環(huán)的最大極限尺寸之和減去所有減環(huán)的最小極限尺寸之和;封閉環(huán)的最小極限尺寸等于所有增環(huán)的最小極限尺寸之和減去所有減環(huán)的最大極限尺寸之和。即 (3) 封閉環(huán)的上偏,與下偏差:封閉環(huán)的上偏差等于所有增環(huán)的上偏差之和減去所有減環(huán)的下偏差之和,即 封閉環(huán)的下偏差等于所有增環(huán)的下偏差之和減去所有減環(huán)的上偏差之和,即 (4)封閉環(huán)的公差:封閉環(huán)的公差等于所有組成環(huán)公差之和,即 工藝尺寸鏈的計算形式① 正計算形式:已知各組成環(huán)尺寸求封閉環(huán)尺寸。產(chǎn)品設計的校驗常用這種形式。由于組成環(huán)通常有若干個,所以反計算形式需將封閉環(huán)的公差值按照尺寸大小和精度要求合理地分配給各組成環(huán)。③ 中間計算形式:已知封閉環(huán)尺寸和部分組成環(huán)尺寸求某一組成環(huán)尺寸。提示:尺寸鏈計算多屬這種計算形式。例1 加工如下圖所示某零件,定位基準與設計基準不重合時工序尺寸計算。解: (1)畫出尺寸鏈并確定封閉環(huán)(如下圖)鏜孔時要調(diào)整的工序尺寸L1為軸線到定位基準間的距離,由加工保證。 (2)判斷增、減環(huán)按增減環(huán)的定義確定L1為增環(huán),L2為減環(huán) (3)根據(jù)上述公式,計算L1的基本尺寸和上、下偏差基本尺寸100=L1200 L1=300上偏差 +=ESL10 ESL1=下偏差 = EIL1=計算結(jié)果為:L1=(4)校核 按照封閉環(huán)的公差值是其他組成環(huán)的公差之和。不過,公式記憶起來有的人會感到有些困難,甚至容易弄混;如果尺寸鏈環(huán)數(shù)很多,利用尺寸鏈解算公式計算起來還會感到比較麻煩,并且容易出錯。這時就需要進行工藝尺寸的換算。因空深的設計基準為橫孔軸線,尺寸mm無法測量,問能否以直接測量孔深A來檢驗。(1) 畫出尺寸鏈圖,確定封閉環(huán)(2) 確定增減環(huán) A為減環(huán),其余兩個組成為增環(huán)。一方面,由于加工的需要,在工序圖以及工藝卡上要標注一些專供加工用的工藝尺寸,工藝尺寸往往不是直接采用零件圖上的尺寸,而是需要另行計算;另一方面,當零件加工時,有時需要多次轉(zhuǎn)換基準,因而引起工序基準、定位基準或測量基準與設計基準不重合。四、課堂小結(jié): 總結(jié)兩次課的內(nèi)容、提醒注意
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