測量過程控制技術(shù)—統(tǒng)計過程控制—ok-閱讀頁
2024-12-23 10:39本頁面
【正文】 油”占第一位。為此廠方?jīng)Q定選擇核查標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用控制圖對機(jī)加工的孔徑測量過程進(jìn)行控制。 故接著再建立 Xbar圖： X2bar ＝ UCLX= X2bar +A2 ＊ Rbar =+*= LCLX= X2bar － A2 ＊ Rbar =*= XbarR例 因為第 13組 Xbar為 LCLX,故過程的均值失控，經(jīng)調(diào)查屬于某種突發(fā)原因，故將其數(shù)據(jù)剔除，重新計算 R圖與 Xbar的參數(shù)。 XbarR例 從 R圖可以看到第 17組數(shù)據(jù) R＝ 30出界。 ? 預(yù)備數(shù)據(jù)的取得： 1）在重復(fù)性條件下，對選擇好的核查標(biāo)準(zhǔn)做 n次的獨立重復(fù)測量，要求測量次數(shù) n≥10 。 控制圖的制作 ? 計算統(tǒng)計控制量： 當(dāng)采用“平均值 標(biāo)準(zhǔn)偏差控制圖”時，計算如下控制量： nxxxxx n++++? ..... .321 1)( 2??? ?nxxs ikxxxxx k++++? ..... .321 kkS...SSSS 321 ++++?均值 標(biāo)準(zhǔn)差圖 (XbarS) 控制圖的制作 均值 標(biāo)準(zhǔn)差圖 (XbarS) ? 計算控制界限： 作 Xbar 圖 上控制限 下控制限 作 S 圖 上控制限 下控制限 SA XU C L x 3+?SA XL C L x 3??SBU C L s 4 ??SBL C L s 3 ?? 控制圖的制作 均值 標(biāo)準(zhǔn)差圖 (XbarS) n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 B4 B3 * * * * A3 注： 在樣本容量低于 6 時，沒有標(biāo)準(zhǔn)差的 下 控制限。 縱坐標(biāo)為所采用的統(tǒng)計控制量，橫坐標(biāo)為時間坐標(biāo)。在圖上標(biāo)出測量點后將相臨的測量點連接成折線，即完成分析用控制圖。若測量點沒有異常，則表明測量過程處于統(tǒng)計控制狀態(tài)。 控制圖的制作 均值 標(biāo)準(zhǔn)差圖 (XbarS) 控制圖的制作 控制圖的判異標(biāo)準(zhǔn) ? 控制狀態(tài)的標(biāo)準(zhǔn)可歸納為二條： 第一條 , 控制圖上點不超過控制界限； 第二條 , 控制圖上點的排列分布沒有缺陷。 控制圖的判異標(biāo)準(zhǔn) UCL LCL CL A B C C B A ? 第一種模式： 1點落在 A區(qū)以外； 測量點出現(xiàn)在 A區(qū)之外的概率僅為 ％，因此任何測量點出現(xiàn)在 A區(qū)之外，均可立即判為測量過程異常，測量點超出上界，表明統(tǒng)計控制量的均值增大；而當(dāng)測量點超出下界，表明其均值減小 。 9點鏈出現(xiàn)的概率僅為 ％， 鏈的出現(xiàn)表明統(tǒng)計控制量分布的均值向出現(xiàn)鏈的一側(cè)偏移。計算表明， 6點趨勢出現(xiàn)的概率為 ％ .趨勢的出現(xiàn)表明統(tǒng)計控制量的均值隨時間增大或減小。 此時表明測量過程受到某種周期性效應(yīng)的影響。 當(dāng)出現(xiàn)該種情況時，則可以判定測量過程異常。 此時表明該控制圖所選用的統(tǒng)計控制量向該側(cè)偏移。 對于這種分布異常，不要認(rèn)為這是測量過程得到改進(jìn)的結(jié)果，這種情況的出現(xiàn)往往表明由于控制圖設(shè)計的錯誤而導(dǎo)致控制界限過寬而造成的。 連續(xù) 15個測量點出現(xiàn)在中心線兩側(cè)的 C區(qū)中 控制圖的判異標(biāo)準(zhǔn) ? 第八種模式：連續(xù) 8個測量點出現(xiàn)在中心線兩側(cè)并且全部不在 C區(qū) ? 出現(xiàn)這種請況往往表明：該統(tǒng)計控制量的分布是兩種不同分布的混合，并且其中一個分布的均值與另一個的均值有明顯的差異，同時在測量過程中兩種分布交替出現(xiàn)
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