六西格瑪培訓(xùn)教材(ppt44頁)-在線瀏覽
2025-04-09 02:10本頁面
【正文】 四、 Y的定義 五、缺陷定義 缺陷類型 定 義 標(biāo) 準(zhǔn) 檢測手段 六、目標(biāo)確定 ? 為了項目的成功進(jìn)行必須正確地定義現(xiàn)水準(zhǔn)，目標(biāo)水準(zhǔn)和先進(jìn)水準(zhǔn)（極限水準(zhǔn)或理想水準(zhǔn)）。 ? 各項目中要明確對變量的測量方法。 ? 過程可以充分滿足目標(biāo)嗎？ ? 過程是處于可接受的水平波動嗎？ ? 過程能力分析 ? 要求過程是在可控制狀態(tài) ? 明確反映當(dāng)前流程的短期及長期過程能力的報告書 ?過程能力分析 SIPOC ? 理解流程和系統(tǒng)的概念 ? 理解 SIPOC的要素，并能應(yīng)用到您自己的流程中 ? 理解宏觀流程的價值 ? 了解如何利用流程各步驟的結(jié)果來確定改進(jìn)會在哪里產(chǎn)生最大的影響。 U C C C C C 判斷每個輸入的類型： C為可控； U為不可控 缺陷 1 缺陷 2 缺陷 3 …… CE矩陣 對顧客的重要度等級 a b c …… 總分 序號 1 2 3 …… 缺陷 1 缺陷 2 缺陷 3 …… 流程步驟 流程輸入 1 X1 X2 X3 2 3 4 5 6 …… 關(guān)聯(lián)分 ： 不超過 3個等級水平 1， 3， 9或者 1， 5， 9 賦分標(biāo)準(zhǔn)： 0 = 流程的輸入對缺陷沒有任何影響 1 = 流程的輸入會輕微地導(dǎo)致缺陷的發(fā)生 3（ 5） = 流程的輸入中等程度影響缺陷的發(fā)生 9 = 流程的輸入嚴(yán)重地導(dǎo)致缺陷的發(fā)生 總分 = aX1+bX2+cX3 FMEA 過程步驟 過程輸入 潛在失效 模式 失效影響 SEV 失效原因 OCC 當(dāng)前控制方法 DET RPN 序號 研究的工序 /輸入是什么 關(guān)鍵輸入如何出錯 對關(guān)鍵輸出變量（顧客要求或內(nèi)部顧客）的影響是什么 對顧客影響的嚴(yán)重程度 什么導(dǎo)致關(guān)鍵輸入出錯 探測不良或失敗模式難易度 現(xiàn)有的預(yù)防原因或失效模式的控制方法和程序（檢查和檢驗）是什么？應(yīng)該包括 SOP等 探測不良或失敗模式難易度 RPN= SEV X OCCX DET 嚴(yán)重度 （ SEV）加重值范圍 :1~10分（ 1分 =不嚴(yán)重， 10分 =非常嚴(yán)重） 發(fā)生頻率（ OCC）加重值范圍 :1~10分（ 1分 =發(fā)生頻率很低， 10分 =發(fā)生頻率很高） 探測力 （ DET）加重值范圍 :1~10分（ 1分 =很容易探測出來， 10分 =根本不可能探測出來） ?分析（ analyze） 運(yùn)用多種統(tǒng)計技術(shù)方法找出存在問題的根本原因 主要工作任務(wù)： ? 數(shù)據(jù)收集 ? 數(shù)據(jù)確認(rèn) ? 圖表分析 ? 統(tǒng)計分析 ? 流程分析 ? 找出少數(shù)重要因子（ vital few x’s ） ? 風(fēng)險評價及經(jīng)濟(jì)性評價 一、目的： 對 Y有影響的因子，并通過假設(shè)檢驗?zāi)男?X對 Y有顯著影響 二、方法： ： ： ?分析（ analyze） 假設(shè)檢驗的基本思想 假設(shè)檢驗是利用小概率事件在一次抽樣中幾乎不會發(fā)生的原理，對原假設(shè) H0作出否定或不否定的判斷。假設(shè)檢驗的實質(zhì)是想否定原假設(shè)而接受備擇假設(shè)，因為否定原假設(shè)的理由是充分的，而不否定（接受）原假設(shè)的理由是不充分的，一般還要作進(jìn)一步的驗證。但用手工計算 p，有時會很煩雜，故一般將概率檢驗改為距離檢驗，即構(gòu)造一個統(tǒng)計檢驗量。 對總體的分布函數(shù)或數(shù)值特征作出某種假設(shè)，然后抽取樣本，構(gòu)建適當(dāng)?shù)慕y(tǒng)計量，利用“小概率事件”原理，在一定的概率把握程度下，檢驗所作出的假設(shè)是否合理，從而作出接受或拒絕假設(shè)的判斷。 備擇假設(shè)（ Ha）：研究假設(shè)“變化沒有差異”或者“有效果”“不同”的主張
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