【正文】 ─ 它所管制的參數(shù)，真的對產(chǎn)品品質(zhì)有舉足輕重的影響嗎？ ─ 管制界限訂的有意義嗎？ ─ 這張管制圖，是否受到應(yīng)有的重視？是否已遵照規(guī)定，實(shí)施追蹤與研判？ SPC 的迷思 ? 迷思二：有了 Cpk / Ppk 等計(jì)算就是在推動 SPC ？ ─ Cpk / Ppk 有定期審查嗎？ ─ 是否已用 Cpk / Ppk 作訂單分派給不同生產(chǎn)線，作為生產(chǎn)的依據(jù) ？ SPC 的迷思 ? 迷思三：有了可控制的制程參數(shù) (Process Parameter)， 就是 SPC ？ ─ 為什麼挑出這些制程參數(shù)？ ─ 這些制程參數(shù)的控制條件，是如何決定的？ ─ 這些制程參數(shù)與產(chǎn)品品質(zhì)之間，有因果關(guān)係可循嗎？ SPC 的焦點(diǎn) → 制程 ( Process ) ? SPC 與傳統(tǒng) SQC 的最大不同點(diǎn)，就是由 Q → P 的轉(zhuǎn)變 ? SQC： 強(qiáng)調(diào) Quality → 產(chǎn)品的品質(zhì)，換言之，它是著重於買賣雙方可共同評斷、鑑定的一種『既成事實(shí)』。因?yàn)橹瞥痰钠鸱兓攀窃斐善焚|(zhì) 變異 ( Variation ) 的主要根源。並藉由 制程能力分析 與 標(biāo)準(zhǔn)化 ，以不斷提昇 制程能力 。 隨著時(shí)間的推移，具有穩(wěn)定的且可重複的分佈 制程中的許多 『全距』 的原因。 所造成之分佈與時(shí)間的關(guān)係，是不穩(wěn)定且不無法預(yù)期的。一般分佈有下列之不同情形： 位置 分佈寬度 形狀 大小 → 大小 → 大小 → ……. 或是以上這些的不同組合 如果制程中， 只有 機(jī)遇原因 的變異存在， 則其成品將形成依各很穩(wěn)定的分佈，而且是 可以預(yù)測的 如果制程中， 有非機(jī)遇原因 的變異存在， 則其成品將為不穩(wěn)定的分佈，而且 無法預(yù)測的 範(fàn)圍 → 可預(yù)測 範(fàn)圍 → 無法預(yù)測 ? 大量之微小原因所引起 ? 原料在一定範(fàn)圍內(nèi)之微小變異 ? 機(jī)械之微小振動 ? 儀器測定時(shí)，不十分精確之做法 ? 依據(jù)作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行作業(yè)的變化 ? 實(shí)際上，要除去制程上之機(jī)遇原因，是件非常不經(jīng)濟(jì)之處置 ? 一個(gè)或少數(shù)幾個(gè)較大原因所引起 ? 使用規(guī)格外的原物料 ? 新手之操作人員 ? 不完全之機(jī)械調(diào)整 ? 未依據(jù)作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行作業(yè) ? 所制訂之作業(yè)標(biāo)準(zhǔn)不合理 ? 非機(jī)遇原因之變異，不但可以找出其原因，並且除去這些原因之處置，在經(jīng)濟(jì)觀點(diǎn)上來說，是正確的 機(jī)遇原因 非機(jī)遇原因 非機(jī)遇原因的變異 簡單的統(tǒng)計(jì)分 析可發(fā)現(xiàn) 如管制圖 直接負(fù)責(zé)制程的人員去改善 局部措施改善對策 局部措施 → 改善非機(jī)遇原因 ? 牽涉到消除產(chǎn)生變異的非機(jī)遇原因 ? 可由製程人員直接加以改善 ? 大約可以解決 15%之制程上的問題 系統(tǒng)措施 → 改善機(jī)遇原因 共同原因的變異 製程能力分析 可發(fā)現(xiàn) 如 Ca， Cp，Cpk， 及管制圖上點(diǎn)的變化 管理當(dāng)局參與及製程人員合作去改善 系統(tǒng)改善對策 ?必須改善造成變異的機(jī)遇原因 ?經(jīng)常需要管理階層的努力與對策 ?大約可以解決 85%之制程上的問題 Time 1 Time 2 Time 3 Time 4 ? 稱為 ? 漂移 (平均值漂移了多遠(yuǎn)的真正 sigma 測量 ) ? 顯示過程控制 ? 重要的少數(shù) ? 稱為 ? 短期 (?st) ? 我們的潛在能力 能做得最好的情況 ? 所有 6 sigma公司用 ? 報(bào)告 ? 價(jià)值不高的多數(shù) 顯示散佈原因 組內(nèi)變異 (Within) 組間變異 (Between) ST + shift = LT ? ? ? 能力對實(shí)績 5 04 03 02 01 01 41 31 21 11 0I n d e xCO2ShrtC O 2 L e v e l s f o r 5 5 T i m e P o i n t s過程實(shí)績 : 全部散布包括 Shifts 和 Short Term (Pp Ppk) 能力 : 只有隨機(jī)的或 短期的散布 (Cp Cpk) 制程控制與制程能力 ? 首先應(yīng)通過 『檢查』 ，消除 『全距』 所產(chǎn)生之非機(jī)遇原因，使制程處於 『受控』 的狀態(tài) ? 接下來，就可依顧客的 『要求 ( 規(guī)格 )』 ，來評定 『制程能力』 ，以使顧客滿意，這就是持續(xù)改善的基礎(chǔ)。 ● 監(jiān)控制程的能力指數(shù) ● 查出『非機(jī)遇原因』的變異，並採取有效的措施 ： ● 使制程穩(wěn)定，並以維持制程的能力指數(shù) ● 充分理解『機(jī)遇原因』造成的變異 ● 減少『機(jī)遇原因』造成變異的發(fā)生 第二章 : 基本統(tǒng)計(jì)概念 N 母體數(shù) (批量數(shù) ) USL 規(guī)格上限 n 樣本數(shù) (抽樣數(shù) ) SL 規(guī)格中心限 (u=規(guī)格中心值 ) X 平均數(shù) LSL 規(guī)格下限 R 全距 Ca 準(zhǔn)確度 (偏移度 ) σ (s ) 方差 Cp 精密度 (離散度 ) σ (S) 標(biāo)準(zhǔn)差 (S=母體標(biāo)準(zhǔn)差 , s=樣本標(biāo)準(zhǔn)差 ) Cpk 制程能力指數(shù) P 不良率 σ 估計(jì)標(biāo)準(zhǔn)差 NP 不良數(shù) T 規(guī)格公差 T=USLLSL C 缺點(diǎn)數(shù) 其他 U 每單位缺點(diǎn) XUCL 平均數(shù)管制上限 DPPM 百萬分之不良 Xbar (X) 平均數(shù)中心限 UCL 控制上限 XLCL 平均數(shù)管制下限 CL 控制中心限 RUCL 全距管制上限 LCL 控制下限 Rbar (R) 全距中心限 M (X)中位數(shù) RLCL 全距管制下限 2 2 ^ 1. N=母體數(shù) (批量數(shù) ): 指母體 (批量 )數(shù)多少的個(gè)數(shù) .(例 : 共了 50個(gè)數(shù) ,N=50) 2. n=樣本數(shù) (抽樣數(shù) ): 指樣本 (抽樣 )多少的個(gè)數(shù) .(例 : 抽了 7個(gè)樣品 ,n=7) 3. X=平均數(shù) : 所有數(shù)的平均值 ,計(jì)算公式 : X=(X1+X2+……Xn) / n n= 樣本數(shù) , X1,X2….. 表示各個(gè)數(shù)值 例有數(shù)值 : X=(++++) / 5= 4. R=全距 : 該組最大值 最小值的得數(shù) ,計(jì)算公式 : R=MAX(該組最大值 )MIN(該組最小值 ) 例 有數(shù)值 : R== 2 5. 方差 σ =s = 6. 標(biāo)準(zhǔn)差 σ=S= σ=s= ?(XiX) n ?(XiX) 2 n1 部份計(jì)算公式 ?(XiX) n1 2 2 2 7. 中位數(shù) M,該組數(shù)據(jù)數(shù)值大小的中間一位 ,若該組數(shù)是偶數(shù) ,取中間兩個(gè)數(shù)的合進(jìn)行平均 ,例如 A: 1 3 4 5 8 M=X=4 B: 2 3 4 7 M=X=(3+4) / 2= 8. XbarR常數(shù)表 N 2 3 4 5 6 7 8 9 10 A2 d2 D3 D4 σ = R / d2 ^ 9. 制程中心沒有偏移 σ良品率表 σ 水平 良品率 % 1 % 2 % 3 % 4 % 5 % 6 % 10. 制程中心偏移 σ 水平 良品率 % 1 % 2 % 3 % 4 % 5 % 6 % % % % μ +1σ +2σ +3σ 1σ 2σ 3σ 正態(tài)分佈概率 第三章 : 管制圖類別 1. 計(jì)量型數(shù)據(jù) 所謂計(jì)量型數(shù)據(jù) ,就是均由量具實(shí)際量測出來的數(shù)據(jù) ,如長度 .重量 .電流值 .尺寸等具有連續(xù)性的數(shù)據(jù) . 2. 計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) 所謂計(jì)數(shù)型數(shù)據(jù) ,就是均屬於以單位個(gè)數(shù)或次數(shù)來計(jì)算的數(shù)據(jù) ,如不良數(shù) .不良率 .缺點(diǎn)數(shù) .缺點(diǎn)率等 . 3. SPC管制圖種類 計(jì)量型 計(jì)數(shù)型 XR chart 平均值與全距管制圖 Pchart 不良率管制圖 X σ chart 平均值與標(biāo)準(zhǔn)差管制圖 NPchart 不良數(shù)管制圖 XRm chart 個(gè)別值與移動全距管制圖 Cchart 缺點(diǎn)數(shù)管制圖 XR chart 中位值與全距管制圖 Uchart 單位缺點(diǎn)數(shù)管制圖 直方圖 推移圖 ,柏拉圖 計(jì)量值管制圖之優(yōu)缺點(diǎn) ? 優(yōu)點(diǎn) : ＊ 用于制程之管制 ,甚靈敏 ,很容易調(diào)查事故發(fā)生的原因 ,因此可以預(yù)測將發(fā)生之不良狀況 。依 Cp值大小一般分為以下六級： ^ 等級 起始值 終點(diǎn)值 建 議 說 明 A 3 制程穩(wěn)定性太好 ,為理想狀態(tài) B 3 制程理想的狀態(tài) ,與 C級無較大成本變化 ,則繼續(xù)維持 C 制程穩(wěn)定性與成品比較理想級 ,產(chǎn)品變異較少 ,符合客戶要求 D 1 確實(shí)進(jìn)行制程管理 ,使其能保持在管制狀態(tài) ,當(dāng) Cp接近 1時(shí) ,可能會產(chǎn)生不良 ,盡可能改善為 C級 E 1 產(chǎn)生不良品 ,產(chǎn)品必須全數(shù)選別 ,並管理改善制程 F 0 須進(jìn)行品質(zhì)的改善 ,探求原因 ,需要采取緊要對策 ,並討檢規(guī)范 3