【正文】 C =Cp 立即檢討改善 D Cp 全面檢討 ,停產(chǎn) Ca (Capability of Accuracy)制程中心值 與期望中心值間的差異 . Ca = 制程中心值 – 規(guī)格中心值 (規(guī)格上限 – 規(guī)格下限 ) * X μ T / 2 SPC = 30 Ca 的規(guī)格 等級 Ca 值 說明 A Ca=% 續(xù)續(xù)維持現(xiàn)狀 B %Ca=25% 盡可能改善為 A級 C 25%Ca=50% 立即檢討改善 D 50%Ca 全面檢討 ,停產(chǎn) Cpk同時考慮精密度與準(zhǔn)確度 (通常稱為制程能力指數(shù) ) SPC 31 Cpk 的規(guī)格 Cpk =Cp(1｜ Ca ｜ )或 Cpk = ｜ Cp ｜ Cpk =(USL – X)/3 σ (單邊值計算 ) 等級 Cp 值 說明 A = Cpk 制程能力合格 B =Cpk 能力尚可 C Cpk 努力改善為 A SPC 32 X R 管 制 圖 廠名 : 管制圖編號： 製 品 R 圖名 稱 3管制項目測量單位 日 期 9/1 9/2 9/3 9/4 9/5 9/6 9/7 9/8 9/9 9/10 9/11 9/12 9/13 9/14 9/15 9/16 9/17 9/18 9/19 9/20 9/21 9/22 9/23 9/24 9/25 9/26 9/27 9/28 合　　　計批 號 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28 ΣＸ＝樣Ｘ１ ΣＲ＝本Ｘ２ 測Ｘ３ 定Ｘ４= USL 藍(lán)色值Ｘ５= LSL 紅色 Ｎ＝ΣＸ 平 　均Ｘ Ｘ＝R R=計 算 或 分 析x管 ＵＣＬX制 ＣＬ ＣＬx=圖 ＬＣＬＵＣＬ x=ＬＣＬ x=RＣＬ R=R ＵＣＬ R=管 ＵＣＬＬＣＬ R=制 ＣＬ .=圖 ＬＣＬＰＰＫ = PP = Ca =ＣＰＫ = CP =備註及原因追查 :量測數(shù)值的判定條件測定者 李 工 作 者 張 三cm 下限 LSL 下 限 LCL28機 別 F21e 抽樣方法 每小時 / 上限 USL 上 限 UCL 直徑 中心限 CL 中心限 CL總組數(shù)期 間 1998/9/1製造部門 製一課宇威科技股份有限公司~ 1998/9/28AE1012圓 棒規(guī) 格 標(biāo) 準(zhǔn) 群組數(shù)大小 管 制 X 圖1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 281 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 26 27 28XR 圖樣本 SPC 33 均值和標(biāo)準(zhǔn)差圖 (X – s) 象 XR圖一樣 ,Xs圖也是從測得的過程 輸出數(shù)據(jù)中發(fā)展來的 .由於極差圖容易計算且 對樣本容量較小的子組 (尤其是小于 9的 )較為 有效 .所以研究出了極差圖作為過程變差的度 量 .樣本的標(biāo)準(zhǔn)差 s是過程變異性更有效的指 標(biāo) ,尤其是對于樣本容量較大的情況 .一般來說 SPC 34 當(dāng)出現(xiàn)下列一種或多種情況時用 s 代替 R圖 : ★ 數(shù)據(jù)是由計算按實時時序記錄 /或描圖 的 .則 s 的計算程序易於集成化 。 ★ 使用的子組樣本容量較大 ,更有效的變差 量度是有效的 . SPC 35 除以下幾步驟計算有差異外 ,其它計算都 與 XR圖相同 : 利用下列公式之一計算每個子組的標(biāo)準(zhǔn)差 : s = Σ(Xi – X) 2 n 1 SPC 36 計算標(biāo)準(zhǔn)差和均值的上 ﹑ 下控制限 : UCLs=B4s UCLx=X+A3s 或 s = ΣXi – nX 2 n 1 2 X1+X2+…+Xn nX 2 n 1 2 2 2 式中 :X1 ﹑ X和 n 分別代表子組的單值 ,均值和樣本容量 . SPC 37 LCLs=B3s LCLx=X A3s 式中 s 為各子組樣本標(biāo)準(zhǔn)差擴均值 .B4 ﹑ B3 和 A3隨樣本容量變化的常數(shù) .如下表 : Xs控制限計算常數(shù)表 SPC 38 σ = s / c4=σs/c4 式中 : s 為各子組樣本標(biāo)準(zhǔn)差均值 ,C4為隨樣本 容量變化擴常數(shù) ,如下表 : 過程標(biāo)準(zhǔn)差常數(shù)表 估計過程標(biāo)準(zhǔn)差 : SPC 39 中位數(shù)圖 (X – R) 中位數(shù)圖可代替 XR圖用於於測量的數(shù) 據(jù)過程控制 .盡管中位數(shù)在統(tǒng)計意義上不如 均值那樣理想 ,但中位數(shù)可產(chǎn)生相同的結(jié)論 並具如下優(yōu)點 : ★ 中位數(shù)易于使用 ,並不要求很多計算 .這樣 可以使車間工人易于接受控制圖的方法 。 ★ 由于一張圖上可顯示中位數(shù)及分布寬度 , 所以它可用來對幾個過程的輸出或同一過 程的不同階段的輸出進(jìn)行比較 。 只要描一張圖 ,刻度的設(shè)置為下列的較 SPC 42 大者 (a)產(chǎn)品規(guī)範(fàn)容差加上允許的超出規(guī)範(fàn) 的讀數(shù)或 (b)測量值的最大值與最小值之差 的 2倍 .圖的刻度應(yīng)與量具一致 . 將每個子組的單值描在圖中一條垂直線 上 ,圈出每個子組的中位數(shù) (中間值 :如果樣本 容量為偶數(shù) ,中位數(shù)為中間兩個數(shù)值平均值 ). 為幫助解釋其趨勢 ,將各子組的中位數(shù)用直線 SPC 43 連接起來 。 ★ 計算極差的平均值 ,記為 R 。 ★ 如果過程的分佈不是對稱的 ,則在解釋