【正文】 下一步的過程分析。 注：應(yīng)制定一個收集數(shù)據(jù)的計劃，將其作為收集、記錄及描圖的依據(jù)。（注：數(shù)據(jù)僅代表單一刀具、沖頭、模具等 生產(chǎn)出來的零件，即一個單一的生產(chǎn)流。對正在生產(chǎn)的產(chǎn) 品進行監(jiān)測的子組頻率可以是每班2次，或一小時一 次等。一般為25組，首次使 用管制圖選用35 組數(shù)據(jù)，以便調(diào)整。n 表示子組 的樣本容量 1選擇控制圖的刻度 41 兩個控制圖的縱坐標分別用于 X 和 R 的測量值。 注：一個有用的建議是將 R 圖的刻度值設(shè)置為 X 圖刻度值的2倍。 52 確保所畫的X 和R點在縱向是對應(yīng)的。,?,計算控制限 首先計算極差的控制限，再計算均值的控制限 ?？刂葡奘怯勺咏M的樣本容量以及反 映在極差上的子組內(nèi)的變差的量來決定的。其系數(shù)值 見下表 ：,注： 對于樣本容量小于7的情況，LCLR可能技術(shù)上為一個負值。,?,23 在控制圖上作出均值和極差控制限的控制線,平均極差和過程均值用畫成實線。 對各條線標上記號（UCLR ，LCLR ，UCLX ，LCLX） 注：在初始研究階段，應(yīng)注明試驗控制限。 （即其中之一或兩者均不受控）進而采取適當?shù)拇胧?注2：因為子組極差或子組均值的能力都取決于零件間的變差， 因此，首先應(yīng)分析R圖。 b 超出極差上控制限的點通常說明存在下列情況中的一種或幾種： b.1 控制限計算錯誤或描點時描錯 b.2 零件間的變化性或分布的寬度已增大(即變壞） b.3 測量系統(tǒng)變化（如：不同的檢驗員或量具） c 有一點位于控制限之下，說明存在下列情況的一種或多種 c.1 控制限或描點時描錯 c.2 分布的寬度變小（變好） c.3 測量系統(tǒng)已改變（包括數(shù)據(jù)編輯或變換）,?,不受控制的過程的極差（有超過控制限的點）,UCL,LCL,UCL,LCL,R,R,受控制的過程的極差,?,312 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： ? 連續(xù) 7點在平均值一側(cè)； ? 連續(xù)7點連續(xù)上升或下降； a 高于平均極差的鏈或上升鏈說明存在下列情況之一或全部： a1 輸出值的分布寬度增加，原因可能是無規(guī)律的（例如：設(shè)備工作不正?；蚬潭ㄋ蓜樱┗蚴怯捎谶^程中的某要素變化（如使用新 的不一致的原材料），這些問題都是常見的問題，需要糾正。 b 低于平均極差的鏈或下降鏈說明存在下列情況之一或全部： b1 輸出值的分布寬度減小，好狀態(tài) 。 注1：當子組數(shù)（n）變得更小（5或更?。r，出現(xiàn)低于 R 的鏈的可能 性增加，則8點或更多點組成的鏈才能表明過程變差減小。,?,UCL,LCL,R,UCL,R,LCL,不受控制的過程的極差 （存在高于和低于極差均值的兩種鏈）,不受控制的過程的極差（存在長的上升鏈）,?,313 明顯的非隨機圖形,a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 C 如果顯著多余2/3以上的描點落在離 R 很近之處（對于25子組，如果超過90%的點落在控制限的1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的一種或更多進行調(diào)查： c1 控制限或描點已計算錯描錯 。 c3 數(shù)據(jù)已經(jīng)過編輯（極差和均值相差太遠的幾個子組更改刪除）。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個具有 明顯不同的變化性的過程流的測量值（如：輸入材料批次混 淆）。 32 識別并標注所有特殊原因（極差圖） a 對于極差數(shù)據(jù)內(nèi)每一個特殊原因進行標注，作一個過程操作 分析，從而確定該原因并改進，防止再發(fā)生。,?,33 重新計算控制限（極差圖）,a 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，失控的原因已 被識別和消除或制度化，然后應(yīng)重新計算控制限，以排除失控 時期的影響，排除所有已被識別并解決或固定下來的特殊原因 影響的子組，然后重新計算新的平均極差R和控制限，并畫下來， 使所有點均處于受控狀態(tài)。 修改后的 R 和 X 可用于重新計算均值的試驗控制限，X 177。 注：排除代表不穩(wěn)定條件的子組并不僅是“丟棄壞數(shù)據(jù)”。并且一定要改變過程，以使特殊原因不會作為過程的一部分重現(xiàn)。 a3 測量系統(tǒng)發(fā)生變化（例如：不同的量具或QC）,?,不受控制的過程的均值（有一點超過控制限）,受控制的過程的均值,UCL,LCL,X,LCL,UCL,X,?,342 鏈 有下列現(xiàn)象之表明過程已改變或出現(xiàn)某種趨勢： 連續(xù) 7點在平均值一側(cè)或7點連續(xù)上升或下降 a 與過程均值有關(guān)的鏈通常表明出現(xiàn)下列情況之一或兩者。,?,不受控制的過程的均值（長的上升鏈）,不受控制的過程的均值（出現(xiàn)兩條高于和低于均值的長鏈）,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,?,343 明顯的非隨機圖形,a 非隨機圖形例子：明顯的趨勢；周期性；數(shù)據(jù)點的分布在整個 控制限內(nèi)，或子組內(nèi)數(shù)據(jù)間有規(guī)律的關(guān)系等。 c 如果顯著多余2/3以上的描點落在離R很近之處（對于25子組， 如果超過90%的點落在控制限的1/3區(qū)域），則應(yīng)對下列情況的 一種或更多進行調(diào)查： c1 控制限或描點計算錯描錯 c2 過程或取樣方法被分層，每個子組系統(tǒng)化包含了從兩個或 多個具有完全不 同的過程均值的過程流的測量值（如：從 幾組軸中，每組抽一根來測取數(shù)據(jù)。 d2 過程或取樣方法造成連續(xù)的分組中包含了從兩個或多個不 同的過程流的測量值（這可能是由于對可調(diào)整的過程進行 過度 控制造成的，這里過程改變是對過程數(shù)據(jù)中隨機波 動的響應(yīng)）。,?,UCL,X,LCL,UCL,X,LCL,均值失控的過程（點離過程均值太近）,均值失控的過程（點離控制限太近）,?,35 識別并標注所有特殊原因（均值圖）,a 對于均值數(shù)據(jù)內(nèi)每一個顯示處于失控狀態(tài)的條件進行一次過 程操作分析，從而確定產(chǎn)生特殊原因的理由，糾正該狀態(tài)， 防止再發(fā)生。 36 重新計算控制限（均值圖） 在進行首次過程研究或重新評定過程能力時，要排除已發(fā)現(xiàn) 并解決了的特殊原因的任何失控點，然后重新計算并描畫過程 均值 X 和控制限，使所有點均處于受控狀態(tài)。 b 當子組容量變化時，（例如：減少樣本容量，增加抽樣頻率） 應(yīng)調(diào)整中心限和控制限 。,?,4 過程能力分析,如果已經(jīng)確定一個過程已處于統(tǒng)計控制狀態(tài)，還存在過程是 否有能力滿足顧客需求的問題時； 一般講，控制狀態(tài)穩(wěn)定， 說明不存在特殊原因引起的變差，而能力反映普通原因引起 的變差，并且?guī)缀蹩傄獙ο到y(tǒng)采取措施來提高能力，過程能 力通過標準偏差來評價。,?,42 計算過程能力,過程能力是指按標準偏差為單位來描述的過程均值和規(guī)格 界限的距離，用Z來表示。,?,422 對于雙向容差，計算：,Zusl=(USLX) / σ Zlsl=(XLSL) / σ Z=Min{ Zusl。 式中: UCL 和 LCL為工程規(guī)范上、下， σ? 為過程標準偏差 注：Z 值為負值時說明過程均值超過規(guī)范。 b 對于雙邊容差，根據(jù)Zusl 和 Zlsl 的值查標準正態(tài)分布表， 分別算出Pzusl 和 Pzlsl 的百分比，再將其相加。 1≤Cpk≤1.33,說明制程能力可以，但需改善。,?,均值和標準差圖（Xs圖）,一般來講，當出現(xiàn)下列一種或多種情況時用S圖代替R圖： a 數(shù)據(jù)由計算機按設(shè)定時序記錄和/或描圖的，因s的計算程序 容易集成化。 11 數(shù)據(jù)的收集（基本同XR圖）