fpc測(cè)試技術(shù)材料-在線瀏覽
2025-03-15 08:19本頁面
【正文】 討 (一 ) 在開路 短路自我學(xué)習(xí) (openshort learning)時(shí) ,系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)將量測(cè)點(diǎn)之間阻抗 小于 25Ω 的點(diǎn)聚集成不同的短路群 (short groups) 開路 短路量測(cè)原理探討 (二 ) 於開路測(cè)試 (open test)時(shí) ,在任一短路群(short groups)中任何兩點(diǎn)之阻抗不得大於 55 Ω, 反之即是開路測(cè)試不良 (open fail) 短路測(cè)試 (short test)時(shí)分成三種情況 ,若有其中以下的情況發(fā)生 ,則判定短路測(cè)試不良(short test) ?在短路群 (short groups)中任何一點(diǎn)與非短路群中任一點(diǎn)之阻抗一點(diǎn)阻抗小於 5Ω. ?不同短路群中任兩點(diǎn)之阻抗小於 5Ω. ?非短路群中任兩點(diǎn)之阻抗小於 5Ω. 開路 短路量測(cè)原理探討 (三 ) ? 實(shí)例說明 Short group 1 : 1 2 3 4 11 12 13 Short group 2 : 7 8 9 10 18 19 20 以上為 078料號(hào)短路群資料 ,在某次生產(chǎn)中 ,2與 7 兩個(gè)不同短路群點(diǎn)其外部 (conn、排線 )阻抗超出系統(tǒng)默認(rèn)值 (5Ω), 導(dǎo)致 30%短路產(chǎn)品誤判為良品 . 電容之 Debugging(一 ) ?在編輯電容測(cè)試資料時(shí)其高低點(diǎn)通常選定一較少元件相接的腳為低點(diǎn) ,以減少幹?jǐn)_程度 . ?300pF以下之電容 ,一般使用較高的信號(hào)做量 測(cè) . ?大於 Mode 0(電流源測(cè)試 ) 方式量測(cè) . ?當(dāng)測(cè)量測(cè)值與標(biāo)準(zhǔn)值偏差太大時(shí) ,可適當(dāng)選用 不同模式測(cè)試 (保證產(chǎn)品 OK)直到穩(wěn)定為止 . 電容之 Debugging(二 ) 實(shí)例說明 : 175客戶反應(yīng)電容測(cè)試出現(xiàn)不穩(wěn)定現(xiàn)象 ,據(jù)分析為 隨著新產(chǎn)品 (P59系列 )的不斷開發(fā) ,相應(yīng)線 路越細(xì)、點(diǎn)數(shù)越來越多、電氣原件越來越多 . 現(xiàn)有的電測(cè)機(jī)已存在著誤判的隱患 ,出現(xiàn)點(diǎn)數(shù) 不夠的尷尬 ,IC無法測(cè)試的難堪 .電測(cè)系統(tǒng) 的完善已是迫在眉捷 .多功能的電測(cè)機(jī)準(zhǔn)系統(tǒng) 導(dǎo)入勢(shì)在必行 . 靜夜四無鄰，荒居舊業(yè)貧。
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