fpc測試技術(shù)材料(編輯修改稿)
2025-03-01 08:19 本頁面
【文章內(nèi)容簡介】 的探討 一般而言 ,基本上測試方法有兩大方向 ,一則利用電流源當(dāng)信號源 ,量測電壓值 ,以應(yīng)用在電阻量測最普遍 。二則以電壓源當(dāng)信號源 ,量測電流值 ,以應(yīng)用在電容、電感量測最普遍 隔離效果原理的探討 ICT與電表的差異就是 :ICT可對旁路元件進(jìn)行隔離 (Guarding),而電表不可以 . 在 TR518FR的內(nèi)部電路中 ,是利用一顆 OP當(dāng)做一個(gè)隔離點(diǎn) (最多可有五個(gè)隔離點(diǎn) ),若是 :以電流源當(dāng)信號源輸入時(shí) ,則在相接元件一之另一腳加上一等高電位能 (Guarding Point),以防止電流流放與被測元件相接之旁路元件 ,確保量測的精確性 . 開路 短路量測原理探討 (一 ) 在開路 短路自我學(xué)習(xí) (openshort learning)時(shí) ,系統(tǒng)會自動(dòng)將量測點(diǎn)之間阻抗 小于 25Ω 的點(diǎn)聚集成不同的短路群 (short groups) 開路 短路量測原理探討 (二 ) 於開路測試 (open test)時(shí) ,在任一短路群(short groups)中任何兩點(diǎn)之阻抗不得大於 55 Ω, 反之即是開路測試不良 (open fail) 短路測試 (short test)時(shí)分成三種情況 ,若有其中以下的情況發(fā)生 ,則判定短路測試不良(short test) ?在短路群 (short groups)中任何一點(diǎn)與非短路群中任一點(diǎn)之阻抗一點(diǎn)阻抗小於 5Ω. ?不同短路群中任兩點(diǎn)之阻抗小於 5Ω. ?非短路群中任兩點(diǎn)之阻抗小於 5Ω. 開路 短路量測原理探討 (三 ) ? 實(shí)例說明 Short group 1 : 1 2 3 4 11 12 13 Short group 2 : 7 8 9 10 18 19 20 以上為 078料號短路群資料 ,在某次生產(chǎn)中 ,2與 7 兩個(gè)不同短路群點(diǎn)其外部 (conn、排線 )阻抗超出系統(tǒng)默認(rèn)值 (5Ω), 導(dǎo)致 30%短路產(chǎn)品誤判為良品 . 電容之 Debugging(一 ) ?在編輯電容測試資料時(shí)其高低點(diǎn)通常選定一較少元件相接的腳為低點(diǎn) ,以減少幹?jǐn)_程度 . ?300pF以下之電容 ,一般使用較高的信號做量 測 .
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